KR970062701A - 인서키트테스터의 병렬접속회로 테스트방법 및 그 장치 - Google Patents
인서키트테스터의 병렬접속회로 테스트방법 및 그 장치 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 인서키트테스터의 병렬접속회로 테스트 방법 및 그 장치에 관한 것으로, 특히 인서키트 테스터(In Circuit Tester; 回路計)에서 병렬로 연결된 부품에 관한 회로를 테스트하는 것에 관한 것이다.
즉, 병렬로 연결된 부품에 대한 테스트포인트를 다수로 선정하고, 상기 테스트포인트에 부합되게 픽스쳐(10)에 다수의 테스트핀(11-13)을 구성하며, 상기 테스트핀 (11-13)에 저항성분(Ra)(Rb)을 부가하여 부가된 하나의 테스트 포인트를 가딤핀(B)으로 사용하고, 테스트핀(11-13)에 부가된 저항성분(Ra)(Rb)을 부가하여 부가된 하나의 테스트 포인트를 가딩핀(B)으로 사용하고, 테스트핀(11-13)에 부가된 저항성분(Ra)(Rb)을 고려하여 계산되도록 프로그램을 내장하여 부품간의 상호간섭이 제거되게 병렬접속된 부품을 테스트하여 인서키트테스터의 신뢰성을 향상시킨 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 일실시예로 병렬접속된 회로의 테스트장치의 블록도.
제3도는 본 발명에 따른 다른 실시예로 병렬접속된 회로를 테스트하는 테스트포인트의 선정을 도시한 도면.
Claims (4)
- 병렬로 연결된 부품에 대한 테스트포인트를 다수로 선정하고, 상기 테스트포인트에 부합되게 픽스쳐에 다수의 테스트핀을 구성하며, 상기 테스트핀에 저항성분을 부가하여 부가된 하나의 테스트포인트를 가딩핀으로 사용하고, 테스트핀에 부착된 저항성분을 고려하여 계산되도록 프로그램을 내장하여 부품간의 상호간섭이 제거되게 병렬접속된 부품을 테스트하는 인서키트테스터의 병렬접속회로 테스트 방법.
- 픽스쳐에 테스트포인트로 이루어진 하이핀 및 로우핀이 구성된 인서키트테스터에 있어서, 입력측 테스트포인트인 하이핀과, 일정크기의 저항성분을 갖는 제1출력측의 테스트포인트인 로우핀과, 일정크기의 저항성분을 갖는 제2출력측의 테스트포인트인 가딩핀이 구성된 픽스쳐가 접속된 것을 특징으로 하는 인서키트테스터의 병렬접속회로 테스트 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 가딩핀을 접지로 구성한 것을 특징으로 하는 인서키트테스터의 병렬접속회로 테스트장치.
- 제2항에 있어서, 병렬로 접속된 부품중에 측정하고자 하는 부품의 선단에 하이핀을 접속하고, 후단에는 로우핀을 접속한 것을 특징으로 하는 인서키트테스터의 병력접속회로 테스트장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960005213A KR970062701A (ko) | 1996-02-29 | 1996-02-29 | 인서키트테스터의 병렬접속회로 테스트방법 및 그 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960005213A KR970062701A (ko) | 1996-02-29 | 1996-02-29 | 인서키트테스터의 병렬접속회로 테스트방법 및 그 장치 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970062701A true KR970062701A (ko) | 1997-09-12 |
Family
ID=66221935
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019960005213A KR970062701A (ko) | 1996-02-29 | 1996-02-29 | 인서키트테스터의 병렬접속회로 테스트방법 및 그 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR970062701A (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100476740B1 (ko) * | 2001-06-09 | 2005-03-16 | 고윤석 | 인쇄회로기판상의 rlc 병렬 회로 검사 방법 |
-
1996
- 1996-02-29 KR KR1019960005213A patent/KR970062701A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100476740B1 (ko) * | 2001-06-09 | 2005-03-16 | 고윤석 | 인쇄회로기판상의 rlc 병렬 회로 검사 방법 |
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