KR960014947A - 멀티플렉서를 이용한 입력전류 측정회로 - Google Patents

멀티플렉서를 이용한 입력전류 측정회로 Download PDF

Info

Publication number
KR960014947A
KR960014947A KR1019940025969A KR19940025969A KR960014947A KR 960014947 A KR960014947 A KR 960014947A KR 1019940025969 A KR1019940025969 A KR 1019940025969A KR 19940025969 A KR19940025969 A KR 19940025969A KR 960014947 A KR960014947 A KR 960014947A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
multiplexer
terminal
measurement method
current
terminal measurement
Prior art date
Application number
KR1019940025969A
Other languages
English (en)
Other versions
KR960016136B1 (ko
Inventor
손보형
Original Assignee
배순훈
대우전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 배순훈, 대우전자 주식회사 filed Critical 배순훈
Priority to KR1019940025969A priority Critical patent/KR960016136B1/ko
Publication of KR960014947A publication Critical patent/KR960014947A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR960016136B1 publication Critical patent/KR960016136B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2813—Checking the presence, location, orientation or value, e.g. resistance, of components or conductors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/08—Measuring resistance by measuring both voltage and current

Abstract

본 발명은 PCB기판에 구성된 부품의 전류/전압 특성을 측정하는 회로에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 2터이날로 전류/전압 측정원리와 선로에서 발생하는 선로오차를 줄이기 위한 4터미날로 전류/전압 측정원리로 PCB기판상에 전류/전압 특성을 측정할때 사용되는 멀플렉서를 2터미날 측정원리와 4터미날 측정원리를 부품특성에 따라 선택적로 사용할 수 있도록 한 멀티플렉서를 이용한 입력전류 측정회로에 관한 것으로, 본 발명은 예시도면 제5도에서와 같이 측정장치(500)와 멀티플렉서 보오드(610)(620)간에는 측정장치(500)내부에 구성된 마이콤의 제어로 구동하여 2터미날 측정방식과 4터미날 측정방식을 선택하는 스위칭부(600)와, 측정하고자하는 PCB기판과 연결된 상기 멀티플렉서 보오드(610)(620)의 일단에는 2터미날 측정방식과 4터미날 측정방식을 선택하는 콘넥터(710)(720)를 연결하여 하나의 측정장치로 측정하고자 하는 부품에 따라 2터미날 측정방식과 4터미날 측정방식으로 전류/전압값을 측정할 수 있도록 한 것이다.

Description

멀티플렉서를 이용한 입력전류 측정회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 ICT(In Circuit Tester)측정시 2터미날 측정원리를 설명하기 위한 개략도,
제2도는 ICT(In Chcuit Tester)측정시 2터미날 측정원리를 설명하기 위한 일실시예를 나타낸 회로도,
제5도는 본 발명 멀티폴렉서를 이용한 입력전류 측정회로에 따른 회로도이다.

Claims (1)

  1. 측정장치(500)와 멀티플렉서 보오드(610)(620)간에는 측정장치(500)내부에 구성된 마이콤의 제어로 구동하여 2터미날 측정방식과 4터미날 측정방식을 선택하는 스위칭부(600)와, 측정하고자하는 PCB기판과 연결된 상기 멀티플렉서 보오드(610)(620)의 일단에는 2터미날 측정방식과 4터미날 측정방식을 선택하는 콘넥터(710)(720)를 연결하여 하나의 측정장치로 측정하고자 하는 부품에 따라 2터미날 측정방식과 4터미날 측정방식으로 전류/전압값을 측정할 수 있도록 함을 특징으로 하는 멀티플렉서를 이용한 입력전류 측정회로,
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940025969A 1994-10-11 1994-10-11 멀티플렉서를 이용한 입력전류 측정회로. KR960016136B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940025969A KR960016136B1 (ko) 1994-10-11 1994-10-11 멀티플렉서를 이용한 입력전류 측정회로.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940025969A KR960016136B1 (ko) 1994-10-11 1994-10-11 멀티플렉서를 이용한 입력전류 측정회로.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960014947A true KR960014947A (ko) 1996-05-22
KR960016136B1 KR960016136B1 (ko) 1996-12-04

Family

ID=19394842

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940025969A KR960016136B1 (ko) 1994-10-11 1994-10-11 멀티플렉서를 이용한 입력전류 측정회로.

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR960016136B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR960016136B1 (ko) 1996-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970062714A (ko) 처리기 접촉 불량을 확인할 수 있는 접촉 점검 장치 및 이를 내장한 집적회로 소자 검사 시스템
EP1758436A1 (en) Electronic package and circuit board having segmented contact pads
MY112140A (en) Jig for measuring the characteristics of a semiconductor, manufacturing method for the same, and usage of the same
KR890007082A (ko) 자동쇼트회로 테스터 제어장치
HUP9901931A2 (hu) Berendezés nyomtatott áramköri lapok áramköreinek villamos vizsgálatára
KR960014947A (ko) 멀티플렉서를 이용한 입력전류 측정회로
JPS57161560A (en) Test equipment for wiring
JPS63119216A (ja) 電解コンデンサの極性判別方法及びその装置
SU1551979A1 (ru) Имитатор дискретного приращени сопротивлени тензорезистора
SU1688194A1 (ru) Устройство дл контрол сопротивлени изол ции электрических цепей
SU1510112A1 (ru) Устройство дл контрол печатных плат
SU1734054A1 (ru) Устройство дл контрол соединений многослойных печатных плат
SU1396095A1 (ru) Устройство дл контрол сопротивлени изол ции разобщенных цепей
KR200183616Y1 (ko) 저항기및커패시터의시험용장치
KR960009898Y1 (ko) 테스트장비의 검사장치
SU1379841A1 (ru) Устройство контрол подключени кабелей
KR20030088896A (ko) 릴레이 테스트 장치
JPH0523143U (ja) 信号レベルモニタ治具
JPS60113165A (ja) 半導体素子のバ−ンイン装置
KR20070082667A (ko) 다이오드를 이용한 회로내의 전류측정 장치
JPS55160866A (en) Device for deciding short-circuit and disconnection
JPS6421375A (en) In-circuit testing apparatus
JPH0554939A (ja) 負荷変換ソケツト
JPH02302678A (ja) 電子回路部品の温度特性測定装置
JPS57150015A (en) Power supply application method of electronic device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20001128

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee