KR970062714A - 처리기 접촉 불량을 확인할 수 있는 접촉 점검 장치 및 이를 내장한 집적회로 소자 검사 시스템 - Google Patents

처리기 접촉 불량을 확인할 수 있는 접촉 점검 장치 및 이를 내장한 집적회로 소자 검사 시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명은 집적회로 소자를 검사하는 과정에서 처리기의 핀과 집적회로 소자, 특히 고주파 소자의 단자 간의 접촉에 불량이 발생한 경우 신속하게 불량의 원인을 진단하여 불량에 대한 신속한 조치가 가능하고 검사 공정의 시간을 감축하여 생산성 향상에 기여하기 위한 것으로서, A) 집적회로 소자의 전기적 특성을 검사하기 위한 검사 장비와, B) 상기 집적회로 소자의 단자와 직접 접촉하는 핀을 가지며 상기 검사 장비와 집적회로 소자 간의 전기적 신호 전달을 중계하는 처리기를 구비하는 검사 시스템에 있어서, 상기 처리기 핀과 집적회로 소자의 단자 간의 접촉 상태를 점검하기 위한 회로가 형성되어 있는 접촉 점검 기판과, 상기 접촉 점검 기판과 직류 및 교류의 전기적 신호를 주고 받으며, 상기 접촉 상태를 점검하기 위한 패키지 집적회로를 구비하는 접촉점검 장치가 상기 검사 장비와 상기 처리시 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 검사 시스템이 개시되어 있다.

Description

처리기 접촉 불량을 확인할 수 있는 접촉 점검 장치 및 이를 내장한 집적회로 소자 검사 시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 처리기 접촉 불량이 발생한 경우 본 발명에 따른 처리를 보여주는 흐름도.
제3도는 본 발명에 따른 처리기 점검 장치를 사용하여 처리기를 점검하는 동작을 설명하기 위한 개략도.

Claims (3)

  1. A) 집적회로 소자의 전기적 특성을 검사하기 위한 검사 장비와, B)상기 집적회로 소자의 단자와 직접 접촉하는 핀을 가지며 상기 검사 장비와 집적회로 소자간의 전기적 신호 전달을 중계하는 처리기를 구비하는 검사 시스템에 있어서,상기 처리기 핀과 집적회로 소자의 단자간의 접촉 상태를 점검하기 위한 회로가 형성되어 있는 접촉 점검 기판과, 상기 접촉 점검 기판과 직류 및 교류의 전기적 신호를 주고 받으며, 상기 접촉 상태를 점검하기 위한 패키지 집적회로를 구비하는 접촉 점검 장치가 상기 검사 장비와 상기 처리기 사이에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 접촉 점검 장치는 상기 처리기 핀과 집적회로 소자의 단자 간의 전기 저항값을 측정하여 상기 접촉 상태를 점검하는 것을 특징으로 하는 검사 시스템.
  3. 처리기 핀과 집적회로 소자의 단자 간의 접촉 상태를 점검하기 위한 회로가 형성되어 있는 접촉 점검 기판과, 상기 접촉 점검 기판과 직류 및 교류의 전기적 신호를 주고 받으며, 상기 접촉 상태를 점검하기 위한 패키지 집적회로를 구비하는 접촉 점검장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990025709A (ko) * 1997-09-13 1999-04-06 윤종용 번 인 테스트 시스템 및 이를 통한 번 인 테스트 방법
CN102346225A (zh) * 2010-08-02 2012-02-08 百硕电脑(苏州)有限公司 连接状况快速检测方法

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ITTO980567A1 (it) * 1998-06-30 1999-12-30 St Microelectronics Srl Campione di involucro di circuito integrato utilizzato per la veri- fica dell'allineamento geometrico e della funzionalita' elettrica di
JP3407192B2 (ja) * 1998-12-31 2003-05-19 株式会社ダイトー テストハンドの制御方法及び計測制御システム
US6504378B1 (en) * 1999-11-24 2003-01-07 Micron Technology, Inc. Apparatus for evaluating contact pin integrity of electronic components having multiple contact pins
US6990387B1 (en) * 2000-05-18 2006-01-24 Intel Corporation Test system for identification and sorting of integrated circuit devices
CN100399038C (zh) * 2002-12-25 2008-07-02 株式会社理光 集成电路传送装置
JP2005091041A (ja) * 2003-09-12 2005-04-07 Advantest Corp 半導体試験装置
US7151388B2 (en) * 2004-09-30 2006-12-19 Kes Systems, Inc. Method for testing semiconductor devices and an apparatus therefor
DE102004061549A1 (de) * 2004-12-21 2006-07-06 Infineon Technologies Ag System zum Testen von Halbleiter-Bauelementen
CN100419452C (zh) * 2006-07-11 2008-09-17 中国船舶重工集团公司第七○九研究所 微电子标准物质制备技术
CN101452030B (zh) * 2007-11-28 2012-07-04 京元电子股份有限公司 插座基板上具有开关元件的测试装置
CN102053223B (zh) * 2009-11-06 2012-12-12 福建联迪商用设备有限公司 电子设备中硅胶触点可靠性的测试方法
CN102478624A (zh) * 2010-11-26 2012-05-30 迈普通信技术股份有限公司 电路板测试分析报告自动生成系统及方法
KR20140114766A (ko) 2013-03-19 2014-09-29 퀵소 코 터치 입력을 감지하기 위한 방법 및 장치
US9612689B2 (en) 2015-02-02 2017-04-04 Qeexo, Co. Method and apparatus for classifying a touch event on a touchscreen as related to one of multiple function generating interaction layers and activating a function in the selected interaction layer
US9013452B2 (en) 2013-03-25 2015-04-21 Qeexo, Co. Method and system for activating different interactive functions using different types of finger contacts
TWI472778B (zh) * 2013-08-30 2015-02-11 Chroma Ate Inc System - level IC test machine automatic retest method and the test machine
US10712858B2 (en) * 2014-09-25 2020-07-14 Qeexo, Co. Method and apparatus for classifying contacts with a touch sensitive device
CN104732832B (zh) * 2015-03-31 2018-01-30 南通理工学院 自测学习系统及学习方法
CN105301476B (zh) 2015-10-14 2018-06-22 京东方科技集团股份有限公司 用于印刷电路板的信号测试装置
KR102642193B1 (ko) * 2018-10-24 2024-03-05 삼성전자주식회사 반도체 소자 테스트 장치, 방법 및 테스트 핸들러
WO2020157921A1 (ja) * 2019-01-31 2020-08-06 山一電機株式会社 検査用ソケット
US11493549B2 (en) * 2020-06-16 2022-11-08 Hewlett Packard Enterprise Development Lp System and method for performing loopback test on PCIe interface

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3541440A (en) * 1967-08-22 1970-11-17 Rca Corp Use in an automatic testing system of a simulator of an article being tested for testing the testing system
US3599092A (en) * 1970-03-12 1971-08-10 Rca Corp Kinescope simulator used in checking an automatic testing system
US3716786A (en) * 1970-10-02 1973-02-13 Cogar Corp Module tester and sorter for use in a module test system
US3662881A (en) * 1971-01-29 1972-05-16 Ibm Module handling apparatus
US3896935A (en) * 1973-11-26 1975-07-29 Ramsey Eng Co Integrated circuit handler
JPS57120869A (en) * 1981-01-20 1982-07-28 Toshiba Corp Voltage resistance testing device
US4639664A (en) * 1984-05-31 1987-01-27 Texas Instruments Incorporated Apparatus for testing a plurality of integrated circuits in parallel
US4918374A (en) * 1988-10-05 1990-04-17 Applied Precision, Inc. Method and apparatus for inspecting integrated circuit probe cards
US5057772A (en) * 1990-05-29 1991-10-15 Electro Scientific Industries, Inc. Method and system for concurrent electronic component testing and lead verification
JPH04148542A (ja) * 1990-10-12 1992-05-21 Toshiba Corp ハンドラ装置
US5313156A (en) * 1991-12-04 1994-05-17 Advantest Corporation Apparatus for automatic handling
JPH05256897A (ja) * 1992-03-11 1993-10-08 Nec Corp Icテストシステム
US5657394A (en) * 1993-06-04 1997-08-12 Integrated Technology Corporation Integrated circuit probe card inspection system
WO1996009556A1 (fr) * 1994-09-22 1996-03-28 Advantest Corporation Procede et appareil d'inspection automatique de dispositifs semiconducteurs
US5539305A (en) * 1994-10-03 1996-07-23 Botka; Julius K. Calibration board for an electronic circuit tester
US5865319A (en) * 1994-12-28 1999-02-02 Advantest Corp. Automatic test handler system for IC tester
JPH08220172A (ja) * 1995-02-14 1996-08-30 Sharp Corp 検査装置
US5561377A (en) * 1995-04-14 1996-10-01 Cascade Microtech, Inc. System for evaluating probing networks

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990025709A (ko) * 1997-09-13 1999-04-06 윤종용 번 인 테스트 시스템 및 이를 통한 번 인 테스트 방법
CN102346225A (zh) * 2010-08-02 2012-02-08 百硕电脑(苏州)有限公司 连接状况快速检测方法

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