JP2000329825A - 導通状態検知機能付き集積回路 - Google Patents

導通状態検知機能付き集積回路

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JP2000329825A
JP2000329825A JP11140448A JP14044899A JP2000329825A JP 2000329825 A JP2000329825 A JP 2000329825A JP 11140448 A JP11140448 A JP 11140448A JP 14044899 A JP14044899 A JP 14044899A JP 2000329825 A JP2000329825 A JP 2000329825A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】集積回路の出力ラインの電圧がHiレベル時に
該出力ラインに流れる電流を測定して断線や短絡または
正常の状態を検出して半田付け不良を検出するととも
に、検出した情報を外部へ出力することが可能な集積回
路を提供する。 【解決手段】他の回路と接続されている集積回路の出力
ラインに電流測定部30を備え、測定した電流値と予め
定められた前記出力ラインの、導通不良を判断する閾値
LTと短絡を判断する閾値HTとをそれぞれ比較して導
通不良又は短絡又は正常であることを判定し、判定結果
の情報を他の集積回路14に出力するようにしたので、
各集積回路の端子間どうしの短絡や半田付け不良や経年
劣化等による導通不良、断線を集積回路を実装してある
状態で常に観測し続けることが可能となり、容易に短絡
と断線の場所を特定することが可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半田付けした集積
回路の導通状態検査装置に係り、特に集積回路自身が導
通状態を検知する機能を備えた、導通状態検知機能付き
集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】電子製品の機能を満たすために回路基板
に半田付けしたICやLSI等の集積回路は常に正常に
半田付けされた状態で出荷しなくてはならない。しか
し、プリント基板表面に残った汚れや、リフロー半田付
け法を用いた場合の素子が傾いて付く不具合のために半
田付けの不良が発生する。更に、近年のLSIに代表さ
れる高密度の集積回路では半田付けする端子の数が多く
密集しているのと、半田付けするLSI自体の数が多く
なっており、その半田付けする端子の数量に比例して発
生する端子と基板のパターン間の半田付けの導通不良
や、端子間どうしのショートによる不具合が増加してい
る。
【0003】従来は、基板半田付け終了後に該基板用の
専用テスターを用いて機能のチェックを行うと同時に前
記半田付け状態の良否検査を行っていた。また、出荷後
の回路基板の動作を保証するために、製品に振動や温度
ストレスを所定の方法に従って印加した後に前記専用テ
スターを用いて機能のチェックを行うスクリーニング試
験を実施していた。
【0004】また、論理集積回路における短絡検出方法
として特開平4−184271号の広報に示されている
とおり、ハイレベルとローレベルの2つの論理値で動作
する論理集積回路における入力の電圧を観測して、前記
ハイレベルとローレベルとの中間の電圧を検出して短絡
状態を検出する方法が知られている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の専
用テスターを用いる方法では、正常であるか否かは検出
できるものの、不具合の内容や不良箇所の特定は知るこ
とができなかった。したがって、不具合の内容や不良箇
所の特定を行うためには、測定された不良情報をもとに
熟練者が多数の集積回路で構成された回路を上流側へ逆
上って徐々に調査しなくてはならないという困難が伴っ
ていた。
【0006】また、特開平4−184271号の公報に
示されている方法ではハイレベルとローレベルの2つの
論理値で動作する論理回路における信号線間のショート
(短絡)にしか対応できないという不具合があった。ま
た、半田付けの不良で、集積回路の端子と基板のパター
ンとが接触はしているものの機械的に半田が溶着してい
ない場合には、組み立て後の検査では合格したが出荷後
の使用中に環境の変化により接触不良となる不具合が発
生する。この発生したり発生しなかったりという不具合
は、事象の特定に困難をきわめるとともにたいへん危険
な結果を生じる可能性が高かった。
【0007】本発明はこのような事情に鑑みて成された
もので、集積回路内部に設けられた導通状態検知機能を
用いて集積回路の出力端子の電流値を観測することによ
り、端子間どうしの短絡はもとより半田付け不良や経年
劣化等による導通不良、断線を、集積回路を実装してあ
る状態で常に観測し続けることが可能となり、前述の不
良内容を集中管理することによって容易に短絡と断線の
場所を特定することが可能となる。
【0008】
【課題を解決する為の手段】前記目的を達成するために
請求項1に記載の発明は、他の回路と接続されている集
積回路の出力ラインにおける出力電流を測定する電流測
定手段と、前記測定した電流値と前記出力ラインの導通
状態を判断する閾値とを比較する比較手段と、前記比較
の結果に基づいて導通状態を判定する判定手段とを備え
たことを特徴としている。
【0009】また、前記目的を達成するために請求項2
に記載の発明は、請求項1の発明に加えて、前記比較の
結果に基づいて前記出力ラインの短絡と断線と正常との
少なくともいずれか1つの導通状態を判定することを特
徴としている。また、前記目的を達成するために請求項
3に記載の発明は、請求項1又は2の発明に加えて、前
記判定手段で判定した前記出力ラインの導通不良と短絡
と正常との少なくともいずれか1つの情報を、他の集積
回路に出力する出力手段を備えたことを特徴としてい
る。
【0010】また、前記目的を達成するために請求項4
に記載の発明は、請求項1、2又は3の発明に加えて、
前記集積回路の出力ラインの出力電圧が変化すると所定
の時間幅を有するパルスを発生するパルス発生手段と、
他の回路と接続されている集積回路の出力ラインにおけ
る出力電流を測定する電流測定手段と、前記測定した電
流値を、前記パルスのタイミングで保持する保持器と、
前記保持した電流値と、予め記憶されている閾値とを比
較する比較手段と、を備えたことを特徴としている。
【0011】本発明によれば、他の回路と接続されてい
る集積回路の出力ラインにおける出力電流を測定し、該
測定した電流値と前記出力ラインの導通状態を判断する
閾値とを比較し、前記比較の結果に基づいて導通状態を
判定する判定手段とを備え、該判定結果の情報を他の集
積回路に出力する出力手段を備えたので、集積回路の端
子間どうしの短絡や半田付け不良や経年劣化等による導
通不良、断線を集積回路を実装してある状態で常に観測
し続けることが可能となり、容易に短絡と断線の場所を
特定することが可能となる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
る導通不良検知機能付き集積回路の好ましい実施の形態
について詳説する。図1は本発明に係る導通不良検知機
能付き集積回路を実装した実施の形態を示す図である。
【0013】同図によれば、本発明に係る導通状態検知
機能付き集積回路10が端子12を介して他の集積回路
14、14と配線パターン18、18…によって電気的
に接続されている。集積回路10の内部は、導通状態検
知機能付き集積回路10の本来の機能を果たす回路部で
ある集積回路部20と、集積回路出力ラインの導通不具
合を検知する機能を備えた導通検知部22、22、…
と、導通検知の判定を行う際の判断基準となる閾値を生
成する閾値生成部24と、前記導通検知部22で検知し
た結果を集計して正常であることや異常であることの情
報に加えて事象が発生している場所及び詳細な内容情報
を外部に伝達する伝達手段26とから構成されている。
集積回路部20の出力ラインには論理回路のバッファア
ンプや3ステートのバッファアンプ等が備えられてい
る。
【0014】また、導通検知部22の内部には、集積回
路出力ラインに流れる出力電流値のみを測定して測定結
果を出力する電流測定部30と、集積回路出力ラインが
短絡状態であるか否かを判断する短絡判断部34と、短
絡状態を判断したら短絡状態を記憶する(ラッチする)
とともに伝達手段等からの信号でリセットすることが可
能なフリップフロップ36と、断線であるか否かを判断
する断線判断部38と、集積回路出力ラインの電圧の立
ち上がりを検出した後に所定の時間が経過したことを示
す信号を出力するタイマー40と、断線判定部42と、
断線状態を記憶するとともにリセットすることが可能な
フリップフロップ44と、正常判定部46と、断線状態
を記憶するとともにリセットすることが可能なフリップ
フロップ48とから構成されている。
【0015】なお、短絡判断部34は、閾値生成部24
から得ている短絡を判定する閾値HTと電流測定部30
の出力値とを比較して前記電流測定部30からの出力値
の方が大きい場合に短絡と判断して、集積回路出力ライ
ンが短絡状態であることを示す信号をフリップフロップ
36を介して伝達手段26に出力する機能を備えてい
る。この場合短絡判断部34は短絡を判断しているとと
もに、短絡を判定している。
【0016】また、断線判断部38は、閾値生成部24
から得ている断線を判定する閾値LTと電流測定部30
の出力値とを比較して前記電流測定部30からの出力値
の方が小さい場合に断線の可能性があると判断して、集
積回路出力ラインが断線の疑いがあることを示す信号を
断線判定部42とフリップフロップ44とを介して伝達
手段26に出力する機能を備えている。
【0017】断線判定部42はタイマー40の信号と断
線判断部38の信号との論理積をとっており、集積回路
出力ラインの電圧レベルがLoからHiに上昇した時点
から所定の時刻(ΔT秒)経過した場合において、断線
判断部38からの出力が断線の疑いを示す状態である場
合に、集積回路出力ラインが断線していると判断する。
【0018】正常判定部46はタイマー40の信号と短
絡判断部34の出力信号を反転器50によって反転した
反転信号と断線判断部38の反転信号との論理積をとっ
ており、集積回路出力ラインの電圧レベルがLoからH
iに上昇した時点から所定の時刻(ΔT秒)経過した場
合において短絡判断部34からの出力が短絡を示してい
ない場合と断線判断部38からの出力が断線の疑いを示
す状態でない場合に、集積回路出力ラインが正常である
と判断する。
【0019】上記のとおり構成された導通不良検出機能
付き集積回路の動作について説明する。図2は、図1に
示した導通状態検知機能付き集積回路10の動作を示す
タイミングチャートである。同図は、集積回路出力ライ
ンの導通状態が正常時の場合と、該出力ラインが断線時
(オープン)の場合と、該出力ラインが短絡(ショー
ト)時の場合に於ける「集積回路出力電圧」と、「電流
測定部出力値」と、「タイマー出力」と、「短絡判定」
と、「断線判定」と、「正常判定」の状態遷移とタイミ
ングを示している。
【0020】図2によれば、時刻T1で「集積回路出力
電圧」がLoレベルからHiレベルに変化し始めると集
積回路出力ラインに電流が流れる。この時の電流値I
(A)は、集積回路出力ライン上の容量CS(F)と、
接続されている他の集積回路14の内部に備えられてい
る負荷抵抗RSとによって定まり、下式(1)にて求め
ることができる。
【0021】
【数1】 I=CS×dV/dt+V/RS (A) …(1) CS:集積回路出力ライン上の全容量 (F) V:集積回路出力電圧 (V) RS:集積回路出力ラインの負荷抵抗 (Ω) 時刻T2になるとタイマー40は集積回路出力ラインの
出力がHiレベルになったことを検知するとともにΔT
秒のタイマーを起動する。T3でΔT秒のタイマーが N
on Active の状態からオーバータイムの状態になると、
短絡判断部34と断線判定部42と正常判定部46は以
下の判定を行う。
【0022】短絡判断部34は、閾値HTと電流測定部
30の出力値とを比較するが、電流測定部出力値の電圧
は閾値HT以下であるので短絡状態とは判断しない。し
たがって、短絡状態を示す出力を行わない。また、断線
判断部38は、閾値LTと電流測定部出力値の電圧とを
比較しており、判定する時刻T3では電流測定部30か
らの出力値の方が大きいので断線状態とは判断しない。
したがって、断線状態を示す出力は行わない。
【0023】断線判定部42では、タイマー40の信号
と断線判断部38の出力信号との論理積をとるが、この
場合には断線判断部38からの断線信号が出力されてい
ないので断線判定部42は断線を示す信号を出力しな
い。正常判定部46では、タイマー40の信号と断線判
断部38の反転信号と短絡判断部34の反転信号との論
理積をとる。この場合にはタイマー40の出力と断線判
断部38からの断線信号の反転信号が出力されていると
ともに、短絡判断部34からの短絡信号の反転出力が出
力されており、正常判定部46は正常を判断する条件を
満たしているので、正常を示す出力をT3からT4にか
けて行う。フリップフロップ48は正常判定部46の正
常出力を記憶するが、伝達手段26が前記正常を認知し
たらリセットを行う。このようにして伝達手段26は集
積回路出力ラインが正常であることを知ることが可能と
なる。
【0024】もし、集積回路出力ラインが断線している
場合には以下に示す結果が得られる。時刻T6で「集積
回路出力電圧」がLoレベルからHiレベルに変化し始
めると時刻T7でタイマー40が起動し、時刻T8でタ
イマー40がオーバータイムとなる。
【0025】短絡判断部34は、電流測定部出力値が閾
値HTを超えていないので前述の正常の場合と同様に短
絡状態を示す出力を行わない。電流Iは、集積回路出力
ラインが断線していることにより上記式(1)のCSが
零であるとともにRSの値が無限大であるので流れな
い。したがって、断線判断部38は閾値LTと電流測定
部出力値とを比較の結果、時刻T8において電流測定部
出力値の方が閾値LTよりも小さいので断線状態と判断
する。
【0026】断線判定部42では、タイマー40の信号
と断線判断部38の信号との論理積をとる。この場合に
は判定する全ての条件が成立しているので断線判定部4
2は断線を示す信号を出力する。フリップフロップ44
は、リセット信号を受け取るまで断線状態を示す信号を
保持する。このようにして伝達手段26は集積回路出力
ラインが断線状態であることを知ることが可能となる。
そして伝達手段26は通信等の手段を用いて他の集積回
路や図示しないCPU等に該集積回路の該集積回路出力
ラインが断線していることを知らせる。CPU等の処理
装置は不具合の箇所と内容から対処内容を判断して図示
しない表示手段にエラーメッセージの表示を行うととも
に、該集積回路の該集積回路出力ラインの断線の影響で
何らかの危険性のある箇所の動作を停止させる処理を行
う。
【0027】もし、集積回路出力ラインが短絡して、負
荷抵抗RS≒0(Ω)になっている場合には以下に示す
結果が得られる。時刻T11で「集積回路出力電圧」が
LoレベルからHiレベルに変化し始めると電流測定部
の出力値は急増し、短絡判断部34は、電流値測定部出
力値が閾値HTを超えていることから短絡状態を示す出
力を行う。フリップフロップ36は、リセット信号を受
け取るまで短絡状態を示す信号を保持する。このように
して伝達手段26は集積回路出力ラインが短絡状態であ
ることを知ることが可能となる。そして伝達手段26は
通信等の手段を用いて他の集積回路や図示しないCPU
等に該集積回路の該集積回路出力ラインが短絡している
ことを知らせる。CPU等の処理装置は、不具合の箇所
と内容から対処内容を判断して図示しない表示手段にエ
ラーメッセージの表示を行うとともに、該集積回路の該
集積回路出力ラインの短絡の影響で何らかの危険性のあ
る箇所の動作を停止させる処理を行う。
【0028】また、断線判断部38は、閾値LTと電流
測定部30の出力値とを比較しており、判定する時刻T
13では電流測定部30からの出力値の方が大きいので
断線状態とは判断しない。したがって、断線状態を示す
出力は行わない。断線判定部42では、タイマー40の
信号と断線判断部38の信号との論理積をとるが、この
場合には断線判断部38からの信号が出力されていない
ので断線判定部42は断線を示す信号を出力しない。
【0029】正常判定部46では、タイマー40の信号
と断線判断部38の反転信号と短絡判断部34との論理
積をとるが、この場合にも短絡判断部34からの反転出
力が出力されていないので正常を示す出力を行わない。
上述のようにして導通状態検知機能付き集積回路の短絡
や断線状態を検出して他の集積回路にその情報を出力す
ることが可能となるので、回路基板の組み立て工程後に
半田不良等の不具合チェックを特別なテスターを必要と
せずに実施することが可能となる。また、経年辺変化に
よる導通不良や断線を、集積回路を実装してある状態で
常に観測し続けることが可能となり、上記の不良内容を
集中管理することによって短絡と断線の場所を容易に特
定できるので、該集積回路を使用した装置の保守点検が
正確且つ容易に実施することが可能となる。
【0030】以下に本発明に係る導通不良検知機能付き
集積回路の他の実施の形態を示す。図3にサンプルホー
ルド機能を用いた導通状態検知機能付き集積回路の他の
実施の形態を示す。同図によれば、本発明に係る導通状
態検知機能付き集積回路51が端子12を介して他の集
積回路14、14と配線パターン18、18…によって
電気的に接続されている。集積回路51の内部は、導通
状態検知機能付き集積回路51の本来の機能を果たす回
路部である集積回路部20と、集積回路出力ラインの導
通不具合を検知する機能を備えた導通検知部52、5
2、…と、導通検知の判定を行う際の判断基準となる閾
値を生成する閾値生成部24と、前記導通検知部52で
検知した結果を集計して正常であることや異常であるこ
との情報に加えて事象が発生している場所と詳細な内容
情報を外部に伝達する伝達手段26とから構成されてい
る。
【0031】導通検知部52の内部には、集積回路出力
ラインに流れる出力電流値のみを測定して測定結果を出
力する電流測定部30と、集積回路部のバッファ出力が
LoからHiに変化し始めたことを検出して、この時刻
から所定の時間の幅を持ったパルスを出力するタイミン
グ発生器54と、測定した電流値を積分するとともに一
定期間データを保持する保持器であるサンプルホールド
56と、正常と断線と短絡とを判断する比較器58とか
ら構成されている。なお、本実施の形態では測定した電
流値を積分して一定期間データを保持しているが、本発
明はこれに限定されるものではなく測定した電流値を積
分せずに一定期間データを保持しても本発明の目的は達
成される。
【0032】図4は、図3に示した導通状態検知機能付
き集積回路51の動作を示すタイミングチャートであ
る。同図は、集積回路出力ラインの導通状態が正常時の
場合と、該出力ラインが断線時(オープン)の場合と、
該出力ラインが短絡(ショート)時の場合に於ける「集
積回路出力電圧」と、「タイミング発生器出力値」と、
「電流測定部出力値」と、「サンプルホールド電圧」
と、「短絡判定」と、「断線判定」と、「正常判定」の
状態遷移とタイミングを示している。
【0033】図4によれば、時刻T21で「集積回路出
力電圧」がLoレベルからHiレベルに変化し始めると
集積回路出力ラインには式(1)に示した電流が流れ、
タイミング発生器54は時間幅t(秒)のタイミングパ
ルスを発生する。そしてサンプルホールド56内の積分
電圧は電流検出部出力値を積分して徐々に増加してゆ
く。
【0034】時刻T22になるとタイミングパルスがL
oになり、このダウンエッジを捕らえてサンプルホール
ド56内の積分電圧を入力から切り離して電圧値を保持
する。この時の保持電圧VS(V)を比較器58内部に
て判断し、下記の式に示される場合分けを行うことによ
って事象を判定できる。
【0035】
【数2】VS<LT 判定:断線 …(2) HT≧VS≧LT 判定:正常 …(3) HT<VS 判定:短絡 …(4) VS:サンプルホールド保持電圧 (V) HT:短絡を判定する閾値 (V) LT:断線を判定する閾値 (V) 上記の式(2)〜(4)の判断によって伝達手段26は
集積回路出力ラインの異常とその状態を知ることが可能
となる。そして伝達手段26は通信等の手段を用いて他
の集積回路や図示しないCPU等に該集積回路の該集積
回路出力ラインが異常であることを知らせる。CPU等
の処理装置は不具合の箇所と内容から対処内容を判断し
て図示しない表示手段にエラーメッセージの表示を行う
とともに、該集積回路の該集積回路出力ラインの異常の
影響で何らかの危険性のある箇所の動作を停止させる指
令を出力する。
【0036】なお、本発明の導通状態検知機能付集積回
路の実施の形態では、本発明をLSI等の集積回路の出
力ラインの導通検知に用いた例で説明したが、本発明は
これに限定されるものではなく、回路基板の入出力部に
導通状態検知機能を設けるか又は導通状態検知専用の素
子を設けて他の回路基板との導通状態を検知してもよい
し、複数の機器間の通信インターフェースの導通検知に
用いても、また、一般に使用されているバスバッファ素
子に導通検知機能を設けても、バスのコネクタに導通状
態検知機能を備えても本発明の目的は達成される。
【0037】また、本発明の導通状態検知機能付集積回
路の実施の形態では、短絡を判断する閾値及び断線する
閾値を可変することについて言及していないが、集積回
路の集積回路出力ラインの出力電圧に応じて前記閾値を
変化させることによってアナログ出力回路の導通状態を
検出することも可能となる。更に、断線、短絡又は正常
の状態を出力することに加えて該出力手段を情報の入出
力が可能な構成として、集積回路実装後に該情報の入出
力手段を用いて外部の素子から集積回路の出力ラインの
負荷インピーダンス(上記式(1)のCS値やRS値に
相当)に応じて短絡又は断線を判断する閾値の設定を変
更自在又はプログラミング可能にしておくと汎用性が拡
大する。そして、各集積回路の導通状態を集中管理する
ことで各素子の導通状態が常時観測可能になるとともに
履歴を記憶して修理時に役立てることができる。なお、
前記情報の入出力手段はI/Oポートを用いてもよい
し、パラレル又はシリアルの通信手段を用いてもよい。
回路基板上の配線スペースを有効に活用するためには、
シリアルのパケット転送手段等を用い、各素子間の接続
方法もデージーチェイン等の接続方法を用いるとよい。
各集積回路の集中管理は、集中管理専用の情報処理装置
を用いてもよいし装置に備えられている情報処理装置を
用いてもよいが、ユーザーが容易に前記閾値や情報管理
方法、情報表示出力方法をプログラミング可能にしてお
くことにより、更に汎用性が増す。また、集積回路部の
バッファアンプの入力部と出力部との状態を検知して前
記情報の入出力手段を用いて外部の素子に集積回路部の
バッファアンプのトラブルを外部に伝達してもよい。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る導通不
良検知機能付き集積回路によれば、他の回路と接続され
ている集積回路の出力ラインにおける出力電流を測定
し、該測定した電流値と前記出力ラインの導通状態を判
断する閾値とを比較し、前記比較の結果に基づいて導通
状態を判定する判定手段とを備え、該判定結果の情報を
他の集積回路に出力する出力手段を備えたので、集積回
路の端子間どうしの短絡や半田付け不良や経年劣化等に
よる導通不良、断線を集積回路を実装してある状態で常
に観測し続けることが可能となり、容易に短絡と断線の
場所を特定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る導通不良検知機能付き集積回路を
実装した実施の形態を示す図
【図2】図1に示した導通状態検知機能付き集積回路の
動作を示すタイミングチャート
【図3】本発明に係るサンプルホールド機能を用いた導
通状態検知機能付き集積回路の実施の形態を示す図
【図4】図3に示した導通状態検知機能付き集積回路の
動作を示すタイミングチャート
【符号の説明】
10…導通状態検知機能付き集積回路、12…端子、1
4…他の集積回路、20…集積回路部、22…導通検知
部、24…閾値生成部、26…伝達手段、30…電流測
定部、34…短絡判断部、38…断線判断部、42…断
線判定部、46…正常判定部、52…導通検知部、54
…タイミング発生器、56…サンプルホールド、58…
比較器

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 他の回路と接続されている集積回路の出
    力ラインにおける出力電流を測定する電流測定手段と、 前記測定した電流値と、前記出力ラインの導通状態を判
    断する閾値とを比較する比較手段と、 前記比較の結果に基づいて導通状態を判定する判定手段
    と、 を備えたことを特徴とする導通状態検知機能付き集積回
    路。
  2. 【請求項2】 前記比較の結果に基づいて前記出力ライ
    ンの短絡、断線又は正常の少なくともいずれか1つの導
    通状態を判定することを特徴とする請求項1に記載の導
    通状態検知機能付き集積回路。
  3. 【請求項3】 前記判定手段で判定した前記出力ライン
    の短絡、断線又は正常の少なくともいずれか1つの情報
    を、他の集積回路に出力する出力手段を備えたことを特
    徴とする請求項1又は2に記載の導通状態検知機能付き
    集積回路。
  4. 【請求項4】 前記集積回路の出力ラインの出力電圧が
    変化すると所定の時間幅を有するパルスを発生するパル
    ス発生手段と、 他の回路と接続されている集積回路の出力ラインにおけ
    る出力電流を測定する電流測定手段と、 前記測定した電流値を、前記パルスのタイミングで保持
    する保持器と、 前記保持した電流値と、予め記憶されている閾値とを比
    較する比較手段と、 を備えたことを特徴とする請求項1、2又は3に記載の
    導通状態検知機能付き集積回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2003255020A (ja) * 2002-03-01 2003-09-10 Advantest Corp 基板異常検出回路付き装置
JP2018105676A (ja) * 2016-12-26 2018-07-05 富士通株式会社 半導体装置、電子装置および電子装置の試験方法
JP2021026135A (ja) * 2019-08-06 2021-02-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 表示装置および検査方法

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