KR970002368A - 측정용 신호의 전파 지연 시간 측정 회로 및 측정 방법 - Google Patents

측정용 신호의 전파 지연 시간 측정 회로 및 측정 방법 Download PDF

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KR970002368A
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유하치 모리카와
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오우라 히로시
가부시키가이샤 아드반테스트
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Abstract

본 발명은 IC 테스터에 있어서의 IC 디바이스 인터페이스부의 복수의 측정용 신호 전파 경로에 있어서, 각각의 전파 지연 시간을 평이하게 고정밀도로 측정하기 위한 회로구조 및 측정 방법을 제공한다. 이를 위해서 IC 테스터의 IC 디바이스 인터페이스부(33)의 측정용 신호의 전파 경로에 있어서, IC 디바이스 인터페이스부(33)의 IC 소켓보드 A(1)를 커넥터(34)로 착탈 가능한 구조로서, IC 소켓보드 A(1)와 동일 로트중에서 스루홀부의 도체를 제거한 IC 소켓보드 B(31)를 설치하여, 그것을 IC 디바이스 인터페이스부(33)에 장착하여 목적의 TPDA(11)만을 직접적으로 측정한 후 IC 소켓보드 B(31)를 떼어내어 IC 소켓보드 B(31)를 대신하여 IC 소켓보드 A(1)를 장착하여 대체하는 구조로 하여 측정한다.

Description

측정용 신호의 전파 지연 시간 측정 회로 및 측정 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 실시예에 의한 측정용 신호의 전파 지연 시간 측정 회로의 구성을 나타내는 개념도, 제3도는 본 발명에 의한 측정용 신호의 전파 지연 시간 측정 방법을 나타내는 흐름도.

Claims (2)

  1. IC 테스터의 IC 디바이스 인터페이스부(33)의 측정용 신호의 전파 경로에 있어서, IC 디바이스 인터페이스부(33)아 커넥터(34)를 이용하여 착탈 가능한 구조로 한 IC 소켓보드 A(1)의 동일 제조 로트중에서 스루홀 A(3)의 도체를 제거한 측정 회로용 IC 소켓보드 B(31)를 구비하여, 고정밀도로 측정하는 것을 특징으로 하는 측정용 신호의 전파 지연 시간 측정 회로.
  2. IC 테스터의 IC 디바이스 인터페이스부(33)의 측정용 신호의 전파 지연 시간 측정 방법에 있어서, 스루홀의 도체를 제거한 소켓보드(31)를 사용하여 IC 디바이스 인터페이스부(33)의 지연 시간을 측정하는 단계와(단계110); 상기의 지연 시간 데이타를 IC 테스터에 피드백하여 IC 디바이스 인터베이스부(33)의 지연 시간차를 보정하는 단계와(단계 120); 스루홀의 도체를 접속한 본래의 소켓보드(1)를 사용하여 IC 디바이스(2)를 측정하는 단계(단계 130)를 포함하여, 고정밀도로 측정하는 것을 특징으로 하는 측정용 신호의 전파 지연 시간 측정 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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