KR100397183B1

KR100397183B1 - 티에프티 엘시디 전극패턴 검사방법 및 장치

Info

Publication number: KR100397183B1
Application number: KR10-2001-0025583A
Authority: KR
Inventors: 이종욱; 김영래; 김경칠
Original assignee: 케이 이엔지(주)
Priority date: 2001-05-10
Filing date: 2001-05-10
Publication date: 2003-09-06
Also published as: KR20010092466A

Abstract

본 발명은 TFT LCD(thin film transistor liquid crystal display) 생산과정의 초기공정에서 형성되는 여러 가지 다양한 전극패턴의 불량여부를 검사할 수 있는 검사장치를 구성시켜 보다 신속하고 안전하면서 정확하게 검사할 수 있도록 한 TFT LCD 전극패턴 검사방법 및 장치에 관한 것이다.

즉 TFT LCD 글라스(L) 상부의 전극패턴(P)의 단락 및 형상의 불량여부를 보다 신속하고 안전하면서 정확하게 검사하여 선별할 수 있도록 다양한 전극패턴(P)의 모델을 PCB(인쇄회로기판)(42)에 입력시킨 다음 변경스위치(51)에 연결시키고 진공척(10)에 TFT LCD 글라스(L)를 안착시킨 후 안내핀(12)과 안내홀(21)에 의해 정확한 위치에 장착되는 검사치구(2)전체를 하강하여 측정부(30)에 장착된 측정구(31)의 검사핀(32)이 TFT LCD 글라스(L)상부에 형성된 전극패턴(P)에 접촉되게 하고 검사하고자 하는 전극패턴(P)이 입력된 변경스위치(51)를 지정하면 전류의 흐름이 PCB(42)에 의해 측정값으로 변환되어 전극패턴(P)의 단락여부 등에 의한 불량여부를 확인할 수 있도록 하는 검사방범 및 장치에 관한 것이다.

Description

티에프티 엘시디 전극패턴 검사방법 및 장치 {a inspection method and system of thin film transistor liquid crystal display electrode pattern}

본 발명은 TFT LCD (thin film transistor liquid crystal display) 전극패턴 검사방법 및 장치에 관한 것으로서 더욱 상세히는 TFT LCD 생산과정의 초기공정인 TFT 생산공정에서 필요로 하는 모델에 따라 TFT 글라스 상부에 형성되는 여러 가지 다양한 전극패턴이 요구하는 형태로 올바르게 형성되었는지 혹은 정전기 등으로 인한 전극패턴의 단락여부를 검사할 수 있는 검사장치를 구성시켜 전극패턴 검사공정을 추가하여 보다 신속하고 안전하면서 정확하게 검사할 수 있도록 한 TFTLCD 전극패턴 검사방법 및 장치에 관한 것이다.

통상의 TFT LCD 생산공정에서는 TFT 공정과 칼라필터 공정과 셀 공정을 거처 모듈 공정을 지나면서 생산 완료된 TFT LCD를 측정기로 불량여부를 측정하므로 이는 모든 생산 공정을 지나 생산 완료된 TFT LCD를 최종 수요자(PC 및 TV 제작업체)에게 납품하기 직전에 불량여부를 검사하게 되는 것이므로 생산공정 도중에 불량이 발생되더라도 감지하지 못하게 되므로 불량상태에서 계속적으로 생산하게 되어 결국은 불량품을 생산하게 되는 문제점이 있어 왔다.

이러한 문제점으로 인하여 생산공정 도중에 불량품이 된 상태에서도 후 공정작업을 계속하게 되므로 후 공정작업이 불필요한 작업이 되어 불필요한 시간이 투입될 뿐 아니라 각 공정별로 부착 투입되는 부품이나 원료 등이 소모되므로 시간적인 손실은 물론 금전적인 손실까지 감수해야 하는 등의 문제점들이 있으나 관련분야에서는 지금까지 이의 적절한 해결방안이 제시되지 못하여 그 손실을 감수하면서도 TFT LCD를 생산하고 있는 실정에 있다.

이에 본 발명에서는 상기와 같은 제반 문제점을 없애기 위하여 창안한 것으로서, LCD 글라스 상부에 형성된 전극패턴의 단락 및 형상의 불량여부를 생성직후 선별할 수 있도록 하고 모델변경 스위치 조작만으로 여러 가지 다양하게 변화되는모든 전극패턴의 모델을 검사할 수 있도록 검사장치를 구성하여, 보다 신속하고 안전하면서 정확하게 검사할 수 있도록 하고, 선별된 불량품을 불량직후에 수리 및 폐기 처리가 가능토록 하여 추가공정에서 불필요하게 투입되는 부품 및 자재를 절감시켜 생산원가를 절감할 수 있도록 한 것에 주안점을 두고 그 기술적 과제로서 완성시킨 것이다.

도 1은 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 구성 및 작동도

도 2는 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 검사치구의 배면도

도 3의 (가)는 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 검사치구의 측면도

(나)는 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 검사치구의 단면도

도 4는 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 측정부의 일부 발취 분해 사시도

도 5는 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 진공척의 평면도

■ 도면의 주요부분에 사용된 주요부호의 설명 ■

L:글라스 B:볼트

P:전극패턴 10:진공척

11:리프트 12:안내핀

13:보조블록 2:검사치구

20:본체 21:안내홀

22:안내블록 23:위치결정블록

24:전선안내홈 25:박판

30:측정부 31:측정구

32:검사핀 33,43:노이즈방지판

40:고정블록 41:덮개

42:PCB 44:연결구

45:연결편 50:콘트롤박스

51:변경스위치 52:착탈구

53:전선

도 1은 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 구성 및 작동도 이고, 도 2는 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 검사치구의 배면도이며, 도 3의 (가)는 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 검사치구의 측면도이고, (나)는 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 검사치구의 단면도이며, 도 4는 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 측정부의 일부 발취 분해 사시도 이고, 도 5는 본 발명의 바람직한 일실시 예를 보인 진공척의 평면도로서 이를 통하여 본 발명에서 제공하는 TFT LCD 전극패턴 검사방법 및 장치에 대한 상세한 구성 및 작용을 설명키로 한다,

TFT 공정과 칼라필터 공정과 셀 공정을 각각 순서대로 거친 후 모듈 공정을 지나서야 생산 완료되는 통상의 TFT LCD 생산공정에서;

TFT 공정에서 형성된 TFT LCD 글라스(L) 상부의 전극패턴(P)의 단락 및 형상의 불량여부를 생성직후 보다 신속하고 안전하면서 정확하게 검사하여 선별할 수 있도록 여러 가지 다양하게 변화되는 모든 전극패턴(P)의 모델을 PCB(인쇄회로기판)(42)에 각각 프로그램으로 입력시킨 다음 변경스위치(51)에 각각 연결시키고 진공척(10)에 TFT LCD 글라스(L)를 안착시킨 후 안내핀(12)과 안내홀(21)에 의해 정확한 위치에 장착되는 검사치구(2)전체를 하강하여 측정부(30)에 장착된 측정구(31)의 검사핀(32)이 TFT LCD 글라스(L)상부에 형성된 전극패턴(P)에 접촉되게 하고 검사하고자 하는 전극패턴(P)이 입력된 변경스위치(51)를 지정하면 전류의 흐름이 PCB(42)에 의해 측정값으로 변환되어 전극패턴(P)의 단락여부 등에 의한 불량여부를 확인할 수 있도록 한 것으로서 하기의 TFT LCD 전극패턴 검사장치를 통하여 수행한다.

즉 TFT LCD 전극패턴 검사장치는 대각으로 부착되는 안내핀(12)과 상하로 이동되는 리프트(11)와 보조블록(13)이 각각 장착된 진공척(10)을 구성시키고 그 상부로 사각의 테두리로 형성되는 본체(20)의 일측 하부에 PCB(42)와 노이즈 방지판(43)이 장착되고 연결구(44)가 연결편(45)에 의해 부착되는 고정블록(40)을 볼트(B)로 고정시키고 덮개(41)를 부착하며, 본체(20) 테두리 양측 내부로 측정부(30)를 각각 형성시켜서 검사핀(32)이 다수 장착되는 측정구(31)를 결착시키고 그 상부로 노이즈 방지판(33)을 장착하고 하부에 전선안내홈(24)을 서로 연결되도록 형성하여 박판(25)으로 덮어서 고정시키며, 일정위치에 위치결정블록(23)을 일정간격으로 다수 부착시키고 또한 대각선이 되는 위치로 안내홀(21)이 형성된 안내블록(22)을 본체(20)에 삽입하여 고정시키며, 검사핀(32)으로부터 전선(53)을 각각 연결시켜서 전선안내홈(24) 내부를 통해 PCB(42)에 연결되도록 한 후 다시 연결구(44)까지 연결시켜서 검사치구(2)를 구성시키고, 콘트롤박스(50)에 변경스위치(51)를 부착하고 전선을 인출하여 착탈구(52)로 연결구(44)에 끼워서 구성시킨 구조이다.

이와 같이 구성되는 TFT LCD 전극패턴 검사장치는 검사치구(2)가 리프트(11)에 의해 상승된 상태에서 TFT LCD 글라스(L)를 진공척(10)상부에 안착시키면 진공척(10)이 진공압력으로 TFT LCD 글라스(L)를 고정하고 리프트(11)를 하강시켜서 검사치구(2)전체가 하강하여 측정부(30)에 장착된 측정구(31)의 검사핀(32)이 TFT LCD 글라스(L)상부에 형성된 전극패턴(P)에 접촉되도록 하며, 검사치구(2)의 본체(20)에 내장되는 안내홀(21)에 진공척(10)에 부착된 안내핀(12)이 끼워진 상태에서 검사치구(2)가 상하 이송을 하므로 검사핀(32)은 항상 동일한 위치의 전극패턴(P)에 접촉되고, 검사핀(32)의 하강위치는 보조블록(13)과 위치결정블록(23)에 의해 높이위치가 결정되고 자체에 스프링을 이용한 쿠션장치가 내장된 검사핀(32)을 장착하므로 검사핀(32)에 의해 TFT LCD 글라스(L)의 파손 및 손상을 예방할 수 있다.

또한 전극패턴(P)에 검사핀(32)이 접촉되면 전류가 콘트롤박스(50)에서부터 연결구(44)와 PCB(42)를 지나 검사핀(32)으로 통하여 전극패턴(P)을 지나가게 되고 전류의 흐름이 PCB(42)에 의해 측정값으로 변환되므로 검사하고자 하는 전극패턴(P)이 지정된 변경스위치(51)를 선택하면 미리 PCB(42)에 입력된 모델과비교 측정하여 전극패턴(P)의 단락여부 등에 의한 불량여부를 측정하게 되므로 검사하고자 하는 전극패턴(P)이 변경되면 이에 맞는 변경스위치(51)만 선택 해주면 모든 검사기준이 변경되어 전극패턴(P)의 검사가 완료되므로 검사하고자 하는 전극패턴(P)의 변화에도 검사장치를 수정하지 않고 쉽고 편리하게 대응할 수 있는 것이다

이때 검사핀(32) 상부와 PCB(42) 일측에 각각 노이즈 방지판(33,43)을 설치한 것은 보다 정밀한 측정을 위한 것으로서 미세한 전류의 방전 및 외부에서 발생되는 정전기 등에 의해 측정값의 변화에 따른 측정오차를 예방하기 위한 것이고, 전선안내홈(24)을 형성시킨 것은 여러 가닥의 전선들을 본 체 내부로 숨김으로서 측정장치의 작동에 의한 전선의 손상을 예방할 수 있어 측정의 오류를 방지할 수 있고 전기누전에 의한 안전사고도 방지할 수 있을 뿐만 아니라 TFT LCD 전극패턴 검사장치의 전체적인 미관이 수려해지는 이점도 동반된다.

또 콘트롤박스(50)에 변경스위치(51)를 부착하고 전선(53)을 인출하여 착탈구(52)로 연결구(44)에 착탈 할 수 있도록 구성시킨 것은 TFT LCD의 사양(화면크기)에 따라 검사치구(2)의 크기가 변경되므로 검사치구(2) 변경 시에도 전기장치를 이용할 수 있고 전기장치의 고장이나 검사치구(2)의 문제 발생시 문제시되는 장비만 교체하여 사용할 수 있으므로 긴급상황 발생에 대해 손쉽게 대응 할 수 있도록 한 것이다.

이상 상기한 각 장치에서 행해지는 연속적인 작동은 각 부분에 각종의 감지 센스들과 리밋 스위치 등의 신호를 전기밸브로 전기적/전자적 제어 체계를 통하여 자동으로, 연속적으로 진행될 수 있도록 하는 것인데, 이는 자동화 시스템 등에 통상적으로 사용될 수 있는 제어 방법을 응용하여 별도의 제어장치를 구비시켜서 사용하는 것임으로 구체적인 설명은 생략하기로 한다. (미도시)

이상에서 상세히 살펴 본 바와 같이 본 발명의 TFT LCD 글라스 전극패턴 검사방법 및 장치는 LCD 글라스(L) 상부에 형성된 전극패턴(P)의 단락 및 형상의 불량여부를 생성직후 선별하여 불량품을 수리 및 사전 폐기 처리가 가능토록 하여 추가공정에서 불필요하게 투입되는 부품 및 자재를 절감시켜 생산원가를 절감할 수 있고, 또한 변경스위치(51) 조작만으로 여러 가지 다양하게 변화되는 모든 전극패턴(P)의 모델을 검사할 수 있도록 함으로서 보다 신속하고 안전하면서 정확한 검사가 가능하게 하여 TFT LCD 생산에 따른 품질향상과 생산성의 극대화로 국제적 경쟁력에서 우위를 선점하여 수출 확대로 인한 외화 획득에도 크게 일조 할 수 있는 등 그 기대되는 효과가 실로 다대한 발명이다

Claims

TFT 공정에서 형성된 TFT LCD 글라스(L) 상부의 전극패턴(P)의 단락 및 형상의 불량여부를 생성직후 보다 신속하고 안전하면서 정확하게 검사하여 선별할 수 있도록 여러 가지 다양하게 변화되는 모든 전극패턴(P)의 모델을 PCB(인쇄회로기판)(42)에 각각 프로그램으로 입력시킨 다음 변경스위치(51)에 각각 연결시키고 진공척(10)에 TFT LCD 글라스(L)를 안착시킨 후 안내핀(12)과 안내홀(21)에 의해 정확한 위치에 장착되는 검사치구(2)전체를 하강하여 측정부(30)에 장착된 측정구(31)의 검사핀(32)이 TFT LCD 글라스(L)상부에 형성된 전극패턴(P)에 접촉되게 하고 검사하고자 하는 전극패턴(P)이 입력된 변경스위치(51)를 지정하면 전류의 흐름이 PCB(42)에 의해 측정값으로 변환되어 전극패턴(P)의 단락여부 등에 의한 불량여부를 확인할 수 있도록 한 TFT LCD 글라스 전극패턴 검사방법.
대각으로 고정되는 안내핀(12)과 상하로 이동되는 리프트(11)와 보조블록(13)이 각각 장착된 진공척(10)을 구성시키고 그 상부로 사각의 테두리로 형성되는 본체(20)의 일측 하부에 PCB(42)와 노이즈 방지판(43)이 장착되고 연결구(44)가 부착되는 고정블록(40)을 고정시켜 덮개(41)를 부착하며, 본체(20) 테두리 양측 내부로 측정부(30)를 각각 형성시켜서 검사핀(32)이 다수 장착되는 측정구(31)를 결착시키고 그 상부로 노이즈 방지판(33)을 장착하며 하부에 전선안내홈(24)을 서로 연결되도록 형성하여 박판(25)으로 덮어서 고정시키고, 일정위치에 위치결정블록(23)을 일정간격으로 다수 부착시키고 또한 대각선이 되는 위치로 안내홀(21)이 형성된 안내블록(22)을 본체(20)에 고정시켜서 검사치구(2)를 구성시키고, 콘트롤박스(50)에 변경스위치(51)를 부착하고 전선(53)을 인출하여 착탈구(52)로 연결구(44)에 끼워서 구성시킨 TFT LCD 전극패턴 검사장치.