JPS6193965A - フアインパタ−ン基板の検査方法とその装置 - Google Patents
フアインパタ−ン基板の検査方法とその装置Info
- Publication number
- JPS6193965A JPS6193965A JP59214837A JP21483784A JPS6193965A JP S6193965 A JPS6193965 A JP S6193965A JP 59214837 A JP59214837 A JP 59214837A JP 21483784 A JP21483784 A JP 21483784A JP S6193965 A JPS6193965 A JP S6193965A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pad
- contact
- pattern
- conductive rubber
- fine pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はプリント配線板、特に液晶ディスプレイ基板の
ようなファインパターンよりなる配線板のパターンの断
線、及び短絡を検査する方法並びにその方法に使用する
位置に関する。
ようなファインパターンよりなる配線板のパターンの断
線、及び短絡を検査する方法並びにその方法に使用する
位置に関する。
（従来の技術〕
一般にプリント配線板のパターンの断線及びパターン間
の短絡の有無を検査するには、プリント配線板のパター
ン両端（以下パッドともいう）に制御器に接続されたプ
ローブピンをｉ触させ、プローブピンを介し通電し、あ
らかじめ制御器に記憶しである正確なパターンの導通情
報と比較検査する方法が採用されている。しかしファイ
ンパターン基板のような巾、及び間隔とも非常に狭いパ
ッド（たとえばパッド間隔０．３ ｆｆ程度）を有する
プリント配線板の断線及び短絡の有無の検査にはプロー
グピンの直径が、９．９ｍｍ〜２．Ｏｆｆ程度であるた
め上記方法は使用不可能である。そこで従来は顕微鏡に
よる目視、又は前記パッドからパターンを引きのばしプ
ローブピンを接触させて検査を行なっていた。しかし前
者は時間と労力を要するにかかわらず見落としが多く、
後者においては引きのばしたパターン上に断線又は短絡
がある場合もあり、又プリント配線板の形状等によりパ
ターンを引きのばせない部分もあり、確実な検査は行な
えないという問題があった。
の短絡の有無を検査するには、プリント配線板のパター
ン両端（以下パッドともいう）に制御器に接続されたプ
ローブピンをｉ触させ、プローブピンを介し通電し、あ
らかじめ制御器に記憶しである正確なパターンの導通情
報と比較検査する方法が採用されている。しかしファイ
ンパターン基板のような巾、及び間隔とも非常に狭いパ
ッド（たとえばパッド間隔０．３ ｆｆ程度）を有する
プリント配線板の断線及び短絡の有無の検査にはプロー
グピンの直径が、９．９ｍｍ〜２．Ｏｆｆ程度であるた
め上記方法は使用不可能である。そこで従来は顕微鏡に
よる目視、又は前記パッドからパターンを引きのばしプ
ローブピンを接触させて検査を行なっていた。しかし前
者は時間と労力を要するにかかわらず見落としが多く、
後者においては引きのばしたパターン上に断線又は短絡
がある場合もあり、又プリント配線板の形状等によりパ
ターンを引きのばせない部分もあり、確実な検査は行な
えないという問題があった。
本発明は前記問題点を解決するために、一方のパターン
端（フラットＩＣ用のパッド）にのみ制御器に接続され
たプローブピンを接触させ、プロ・−プピンが接触出来
ない他端（ＬＣＤ用のパッド）を全て導電ゴムで短絡さ
せて断線を検出させるか、又は導電ゴムをパッドに接触
させてパターンの短絡の有無を検出することを特徴とす
る方法を提供することを目的とするものである。
端（フラットＩＣ用のパッド）にのみ制御器に接続され
たプローブピンを接触させ、プロ・−プピンが接触出来
ない他端（ＬＣＤ用のパッド）を全て導電ゴムで短絡さ
せて断線を検出させるか、又は導電ゴムをパッドに接触
させてパターンの短絡の有無を検出することを特徴とす
る方法を提供することを目的とするものである。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕ＬＣＤ基板を
例にとって説明する。第１図にＬＣＤＣＤ基板用食用置
の概要断面図を示す。プローブピン（４）をＬＣＤ基板
のフラットＩＣ用パッド（２）に接触させ、同時にＬＣ
Ｄ用パッド（３）を導電ゴム（７）に押圧しプローブピ
ン（４）を介して制御器（９）でパターン間の導通状態
をあらかじめ記憶しておいた正確なパターン情報と比較
検査する。絶縁用シート（６）は容易に取りはずしが出
来、ＬＣＤ用パッド（３）と導電ゴム（７）との接触又
は非接触の状態を作る。
例にとって説明する。第１図にＬＣＤＣＤ基板用食用置
の概要断面図を示す。プローブピン（４）をＬＣＤ基板
のフラットＩＣ用パッド（２）に接触させ、同時にＬＣ
Ｄ用パッド（３）を導電ゴム（７）に押圧しプローブピ
ン（４）を介して制御器（９）でパターン間の導通状態
をあらかじめ記憶しておいた正確なパターン情報と比較
検査する。絶縁用シート（６）は容易に取りはずしが出
来、ＬＣＤ用パッド（３）と導電ゴム（７）との接触又
は非接触の状態を作る。
前記装置を用いて第２図の平面図に示すようなＬＣＤ基
板のファインパターンを有する被検査体のパターンの断
線及び短絡の検査を行なう。そのためには全てのパッド
にプローブピンを接触させ各々のプローブピン間の導通
状態を調べれば良いのだがＬＣＤ用パッド部分はパッド
間隔が狭くプローブピンの接触が不可能である。そこで
フラットＩＣ用のパッドのみにプローブピンを接触させ
。
板のファインパターンを有する被検査体のパターンの断
線及び短絡の検査を行なう。そのためには全てのパッド
にプローブピンを接触させ各々のプローブピン間の導通
状態を調べれば良いのだがＬＣＤ用パッド部分はパッド
間隔が狭くプローブピンの接触が不可能である。そこで
フラットＩＣ用のパッドのみにプローブピンを接触させ
。
各々の導通を調べることによりプローブピン■−０間に
は本来導通がないがそれを検出することにより短絡を見
つけることが出来る。その際断 （線について
の検出は不可能である。しかし第３図に示すようにＬＣ
Ｄ用パッド部分を導電ゴムにより全て短絡すると、これ
により■〜■のプローブピンは全て導通状態となるはず
だが３だけは導通がないことが検出できる。よって断線
を見つけることができる。以上のようにパターンの一端
にプローブピンを接触させ他端を全て導電ゴムにより短
絡させて断線を検出するか、又は接触させないで被検査
体であるパターンの短絡を検出することができる。
は本来導通がないがそれを検出することにより短絡を見
つけることが出来る。その際断 （線について
の検出は不可能である。しかし第３図に示すようにＬＣ
Ｄ用パッド部分を導電ゴムにより全て短絡すると、これ
により■〜■のプローブピンは全て導通状態となるはず
だが３だけは導通がないことが検出できる。よって断線
を見つけることができる。以上のようにパターンの一端
にプローブピンを接触させ他端を全て導電ゴムにより短
絡させて断線を検出するか、又は接触させないで被検査
体であるパターンの短絡を検出することができる。
本発明の実施例として基板サイズ２７０Ｘ１５０ｆｌの
ファインパターン基板を用いた。ＬＣＤＣＤ用パラ４・
ドは一列に約６００個、０．３６ ｊｆｆ間隔に並んで
いて。
ファインパターン基板を用いた。ＬＣＤＣＤ用パラ４・
ドは一列に約６００個、０．３６ ｊｆｆ間隔に並んで
いて。
それに対しフラットＩＣ用パッドは０．６５１１間隔と
なっている。ｍ１図に示す装置を用いてフラットＩＣ用
パッドとプローブピン、ＬＣＤ用ノｆ、ドと導電ゴムを
接触°させ、各プローブピン間の導通状態を調べ断線を
検出する。次に絶縁シートをＬＣＤ用パッドと導電ゴム
の間にはさみ同様にプローブピン間の導通状態を調べ短
絡を検出する。
なっている。ｍ１図に示す装置を用いてフラットＩＣ用
パッドとプローブピン、ＬＣＤ用ノｆ、ドと導電ゴムを
接触°させ、各プローブピン間の導通状態を調べ断線を
検出する。次に絶縁シートをＬＣＤ用パッドと導電ゴム
の間にはさみ同様にプローブピン間の導通状態を調べ短
絡を検出する。
このようにしてファインパターン基板の検査を行なった
。
。
本発明により誤りのない正確な検査が迅速に行なえるよ
うになった。それに付随してプローブピンを接触するた
めのパターンの引きのばしが必要なくなり、パターン設
計が楽になった。又基板の面積も減少し価格を下げるこ
とが可能となった。
うになった。それに付随してプローブピンを接触するた
めのパターンの引きのばしが必要なくなり、パターン設
計が楽になった。又基板の面積も減少し価格を下げるこ
とが可能となった。
チェック用の治具はプリント配線板一種類に付−セット
必要だがプローブピンが約半数に減ったことにより大巾
に治具の費用を削減出来た。
必要だがプローブピンが約半数に減ったことにより大巾
に治具の費用を削減出来た。
第１図は本発明の実施例を示す検査装置の概要断面図、
第２図及び第３図はファインパターン基板の一部平面図
である。 １・・・ＬＣＤ基板、２・−７ラフトＩＣ用パツド。 ３・・・ＬＣＤ用パッド、４・・・プローブピン、５・
・・プローブピン固定台、６・・・絶縁用シート、７・
・・導電ゴム、８・・・導電ゴム取り付合、９・・・制
御器、ｌＯ・・・パターン、１１・・・断線不良、１２
−・・短絡不良、■〜の・・・プローブビン番号。
第２図及び第３図はファインパターン基板の一部平面図
である。 １・・・ＬＣＤ基板、２・−７ラフトＩＣ用パツド。 ３・・・ＬＣＤ用パッド、４・・・プローブピン、５・
・・プローブピン固定台、６・・・絶縁用シート、７・
・・導電ゴム、８・・・導電ゴム取り付合、９・・・制
御器、ｌＯ・・・パターン、１１・・・断線不良、１２
−・・短絡不良、■〜の・・・プローブビン番号。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、ファインパターン基板に形成されているフラットＩ
Ｃ用のパッドに制御器が接続されているプローブピンを
接触させ、前記パッドと導体パターンで導通する液晶デ
ィスプレイ（ＬＣＤ）用のパッドに導電ゴムを接触させ
て断線を検出し、さらに前記液晶ディスプレイ用のパッ
ドに導電ゴムを接触させずに導体パターンの短絡を検出
することを特徴とするファインパターン基板の検査方法
。 ２、ファインパターン基板におけるフラットＩＣ用のパ
ッドに対応する位置にプローブピンが装着され、前記パ
ッドと導体パターンを介して導通する液晶ディスプレイ
用のパッドに対する位置に導電ゴムが装着され、必要に
応じてその表面を絶縁シート状物で被覆することのでき
る検査用治具板を備えたファインパターン基板の検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59214837A JPS6193965A (ja) | 1984-10-13 | 1984-10-13 | フアインパタ−ン基板の検査方法とその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59214837A JPS6193965A (ja) | 1984-10-13 | 1984-10-13 | フアインパタ−ン基板の検査方法とその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6193965A true JPS6193965A (ja) | 1986-05-12 |
Family
ID=16662356
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59214837A Pending JPS6193965A (ja) | 1984-10-13 | 1984-10-13 | フアインパタ−ン基板の検査方法とその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6193965A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020024162A (ja) * | 2018-08-08 | 2020-02-13 | 日東電工株式会社 | 配線回路基板の検査方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56110060A (en) * | 1980-02-06 | 1981-09-01 | Nec Corp | Inspecting method and device for base plate of circuit |
| JPS6161066A (ja) * | 1984-08-31 | 1986-03-28 | Hitachi Condenser Co Ltd | プリント配線板の不良検出方法 |
-
1984
- 1984-10-13 JP JP59214837A patent/JPS6193965A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56110060A (en) * | 1980-02-06 | 1981-09-01 | Nec Corp | Inspecting method and device for base plate of circuit |
| JPS6161066A (ja) * | 1984-08-31 | 1986-03-28 | Hitachi Condenser Co Ltd | プリント配線板の不良検出方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020024162A (ja) * | 2018-08-08 | 2020-02-13 | 日東電工株式会社 | 配線回路基板の検査方法 |
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