KR940009136B1 - 액정표시소자의 패턴전극 검사방법 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

액정표시소자의 패턴전극 검사방법

제1도는 액정표시소자의 구조를 개략적으로 설명하기 위한 단면도.

제2도는 본 발명에 따른 검사방법을 설명하기 위하여 소자제조공정 가운데 패턴형성과정을 도시한 설명도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 상부유리기판 2 : 절단홈

3 : 공통전극 4 : 공통라인

5 : 하부유리기판 6 : 절단홈

7 : 화소전극 8 : 절단홈

9 : 공통패턴 10 : 전압계

11,12 : 리드선 13,14 : 터미널

본 발명은 액정표시소자에 관한 것으로, 특히 유리기판상에 형성되는 패턴전극의 단선 및 합선을 용이하게 검사하고 이러한 검사과정에서 형성된 검사패턴을 의사패턴(dummy pattern)으로 사용할 수 있도록된 액정표시소자의 패턴전극 검사방법에 관한 것이다.

일반적인 구조의 액정표시소자는 제1도에 도시된 바와 같이, 도전성을 띈 전극패턴을 입힌 유리기판 2매를 일정간격을 두고 대향되게 마주 겹치고, 그 사이에 액정분자를 주입시켜 소자본체를 구성하게 되는데, 상기 유리기판 2매를 대향되게 하기 위해서는 기판 모서리부에 실드수지를 주입해 스페이서를 형성하게 된다.

또한, 상기 유리기판중 상부유리기판에 형성되는 전극패턴은 화소전극을 구성하게 되고, 하부유리기관의 전극패턴은 공통전극을 이루게 된다.

이러한 액정표시소자에 있어서 화소전극 및 공통전극의 보다 구체적인 구조를 설명하면 다음과 같다.

즉, 제2도에 도시된 바와같이 상부유리기판에 형성되는 공통전극은 행을 이루며 위에서 아래로 다수개 형성되며, 하부유리기판에 형성되는 화소전극은 좌에서 우로 열을 지우며 다수개 형성되고, 이들의 갯수는 용량에 따라 정하여 지게된다.

상기와 같이 패턴전극은 화소전극(Xm)과 공통전극(Yn)으로 구성되고 이들 화소전극과 공통전극으로 되는 임의의 교점에 선택적으로 전압을 인가함으로써 화소를 얻게된다. 이와같은 패턴전극은 마스크를 이용한 프린트기법을 사용하여 유리기판상에 형성시키게 되며, 형성후 상기 패턴전극은 단선 및 합선여부를 검사하는 테스트공정을 거치게 된다.

그러나 상기 패턴전극의 검사방법에 있어 종래에는 유리기판상에 형성된 패턴전극자체에다 탐침핀을 꽂은 다음 전압을 인가하는 방식으로 패턴전극의 단선 및 합선여부를 검사하였다.

즉, 패턴전극의 하나에 탐침핀을 꽂은다음 그 좌측 또는 우측에 인접해있는 패턴전극에 또다른 탐침핀을 꽂아 전압을 인가하여 전류계의 바늘이 움직일 경우 합선임을 판단하게 되고, 인접해 있는 패턴전극을 연결하고 전압을 인가할때 전류계의 바늘이 움직이지 않을때 단선임을 확인하여 불량기판을 판별하는 방법을 사용하여 왔다.

그러나 이러한 종래 검사방법은 용량이 적은 표시소자를 제조할때는 용이하게 실시될 수 있다고 볼 수 있으나, 표시정보량이 증가하는 현추세에서 용량이 큰 표시소자를 제조하게 될때는 패턴전극은 더욱 미세하게 형성하게 되므로 상기 탐침핀을 꽂은 방식으로는 검사시간이 지체되어 제조공정중 패턴검사 공정상에서 피검사 제품의 적체를 초래하게 되며, 또한 패턴검사시 탐침핀을 패턴전극상에 정확히 위치하여야 하나 오차범위를 고려하여 볼때 패턴전극이 더욱 미세하게 된다고 보면 상기 탐침핀이 피검사 패턴전극에 인접해있는 또다른 패턴전극에 닿게되어 불량품으로 오판할 염려가 있다는 문제점을 갖고 있다.

한편, 유리기판상에는 상기와 같은 패턴전극을 형성하게 되나 이들 패턴전극의 터미널에는 화소구동회로의 각 단자들이 연결되게 되므로 기판의 상부나 하부 또는 좌·우측부에 상기 구동회로의 각 단자들이 설계상 미처 연결되지 못하는 공백부분이 남게되어 이렇게 제조된 표시소자를 외부에 볼때 짜임새가 없거나 저가품으로 보이게되는 문제점이 있었다.

이에 본 발명은 상기와 같은 종래 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 유리기판상에 형성되는 패턴전극의 단선 및 합선을 보다 용이하게 검사할 수 있도록 하여 점검시간을 단축할 수 있을뿐만 아니라 보다 정확한 검사가 이루어지도록 하고 또한 이러한 검사과정에서 형성되는 검사패턴을 패턴전극으로 보이도록 하는 의사패턴으로 사용할 수 있도록 된 액정표시소자의 패턴전극 검사방법을 제공하는 데 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 상부 유기기판상에 형성되는 공통전극중 기수번째 패턴전극(X2m－₁)을 좌측으로 인출한 다음 공통라인에 연결하고, 우수번째 패턴전극(X2m)은 우측으로 인출하여 터미널(13, 14)을 구성하며, 하부 유리기판상에 형성되는 화소전극중 기수번째 패턴전극(Y2n₁)을 하단으로 인출하여 터미널을 구성하고 우수번째 패턴전극(Y2n)은 상부유리기판의 하단부위까지 연장하여 형성한 다음 이들 연장된 패턴전극(Y2n)을 하나의 공통패턴전극에 연결하고 상기 상부유리기판의 공통라인과 터미널 또는 하부유리기판의 공통패턴전극과 터미널에 측정기의 탐침핀을 접속하여 전원을 인가함으로써 패턴전극의 단선 및 합선을 검사하게 되는 것이다.

또한 이러한 패턴검사방법에 사용된 상기 공통패턴전극은 상부유리기판상에 의사패턴으로 사용하게 된다.

다음은 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예를 설명한다.

제2도는 기판상에 패턴전극을 형성하는 공정상에 있어서 기판상에 패턴전극이 형성된 상태를 도시한 것으로 참조부호 1은 상부유리기판을 나타내며 이 상부유리기판(1)에는 그 이면상에 형성된 절단홈(2)과 더불어 상하로 열을 이루는 공통라인(3)이 다수 형성되는데, 상기 공통전극(3) 중 우수번째 공통전극(X2m－₁)은 상기 절단홈(2)을 지나 우측모서리까지 연장된 터미널(13)을 형성하게 되고, 기수번째 공통전극(X2m)은 좌측모서리까지 연장되어 형성되게 되는바, 상기 기수번째의 공통전극(X2m－₁)은 테스터용으로 도포되게 되는 공통라인(4)에 각각 접속되게 된다.

참조부호 5는 하부유리기판을 나타내고, 상기 상부유리기판(1)과 하부유리기판(5)사이의 연결부위 이면에는 절단홈(6)이 형성되며 상기 하부유리기판(5)상에는 상하방향으로 행을 이루는 화소전극(7)이 다수 형성되게 된다.

한편 상기 화소전극(7)중 기수번째 화소전극(Y2n－₁)은 기판이면상에 형성된 절단홈(8)을 지나 하부모서리까지 연장하여 터미널(14)을 형성하게 되고 우수번째 화소전극(Y2n)은 상부 및 하부 유리기판(1, 5)사이의 경계선상에 형성된 절단홈(6)을 지나 상부유리기판(1)의 하단부 모서리까지 연장하여 형성하게 되는데, 상기 우수번째 화소전극(Y2n)은 테스터용으로 도포되게 되는 공통패턴(9)에 각각 접속되게 되고, 이 공통패턴(9)은 이후 공통전극으로 보이는 의사패턴으로 사용되게 되는 것이다.

다음은 상기와 같은 방법으로 구성된 공통전극 및 화소전극의 단선 또는 합선여부를 검사하는 과정을 설명한다.

일반적으로 패턴전극의 단선 및 합선여부의 검사는 전압계 또는 전류계를 사용하게 되는바, 본 발명에 있어서는 전압계를 이용하여 합선여부를 검사하고 단선여부의 검사는 전류계를 이용하게 된다. 상부 유리기판에 형성된 패턴전극의 단선 및 합선여부의 검사방법을 설명하면 다음과 같다.

먼저 전압계(10)의 하나의 리드선(11)을 상부 유리기판(1)의 공통라인(4)에 접속하고 다른 리드선(12)은 우측으로 연장된 터미널(13)에 접속하여 전압을 인가하게 된다.

이때 전압계가 정격전압을 표시하게 되면 합선된 부위가 존재하지 않았음을 나타내게 되고 정격전압 이하로 전압계가 측정전압을 지시하는 경우에는 공통전극(3)상에 합선된 부위가 존재함을 표시하게 된다.

즉, 상기 전압계가 상부 유리기판(1)에 형성된 패턴전극상에 합선된 부위를 점검하게 될때에는 전압계는 거의 0에 가까운 전압을 표시하여 합선된 부위를 가르키게 되는 것이다.

한편, 전류계를 이용하여 단선여부를 판단하는 방법은 상기 합선여부를 검사하는 것과 거의 동일하게 되나 전류계가 단선된 부위를 감지하게 되면 이 전류계는 아무런 전류치를 나타내지 못하게 되고 이로써 측정자는 패턴전극상에 단선부위가 있음을 감지하게 되는 것이다.

상기에서 상부 유리기판(1)상에 형성된 공통전극(3)의 단선 및 합선여부의 검사방법에 대하여 설명하였으나 하부유리기판(5)상에 형성된 화소전극(7)의 단선 및 합선여부의 검사방법은 상기 공통전극(3)의 검사방법과 동일하게 된다.

즉, 전압계 또는 전류계의 하나의 리드선은 상부유리기판(1)의 하부모서리에 형성된 공통전극(3)에 접속하고 다른 리드선은 하부유리기판(5)의 하부로 연장된 터미널(14)에 접속하여 화소전극(7)의 단선 및 합선여부를 검사하게 되는 것이다.

본 발명은 상기한 바와같이 유리기판(1, 5)의 모서리 각 부위마다에는 절단홈(2, 6, 8)이 형성되어 있어 검사공정을 마친후에는 상기 절단홈을 따라 각 부위를 절단함으로써 액정표시소자에 필요한, 패턴전극이 형성된 상부 및 하부유리기판을 제조하게 되는 것이다.

이와같이 본 발명은 유리기판상에 형성된 패턴전극의 단선 및 합선을 보다 용이하게 검사할 수 있어 점검시간을 단축할 수 있을뿐만 아니라 보다 정확한 검사가 이루어지게 되고 또한 이러한 검사과정에서 형성되는 검사패턴은 의사패턴으로 사용할 수 있는 효과가 있는 것이다.

Claims (1)

1. 상부유리기판상에 형성되는 공통전극 가운데 기수번째 패턴전극(X2m－₁)을 좌측으로 인출한 다음 공통라인에 연결하고 단계와, 공통전극의 우수번째 패턴전극(X2m)은 우측모서리 밖으로 인출하여 터미널을 구성하는 단계와, 하부유리기판상에 형성되는 화소전극 가운데 기수번째 패턴전극(Y2n-₁)을 하부모서리 밖으로 인출하여 터미널을 구성하는 단계와, 화소전극의 우수번째 패턴전극(Y2n)은 상부 및 하부유리기판의 경계선을 지나 상부유리기판의 하부모서리부위까지 연장한뒤 테스터용 공통전극에 각각 접속하는 단계와, 상부유리기판에 형성된 상기 공통라인에 전압계 또는 전류계에 구성된 하나의 리드선을 접속하고 다른 리드선은 우측으로 연장된 터미널에 접속하여 공통전극의 단선 및 합선여부를 검사하는 단계와, 상부유리기판에 형성된 테스터용 공통전극에 전압계 또는 전류계의 하나의 리드선을 접속하고 하부로 연장된 터미널에 다른 리드선을 접속하여 화소전극의 단선 및 합선여부를 검사하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 패턴전극 검사방법.