KR100278612B1 - 엘씨디 패널 - Google Patents

엘씨디 패널 Download PDF

Info

Publication number
KR100278612B1
KR100278612B1 KR1019980027220A KR19980027220A KR100278612B1 KR 100278612 B1 KR100278612 B1 KR 100278612B1 KR 1019980027220 A KR1019980027220 A KR 1019980027220A KR 19980027220 A KR19980027220 A KR 19980027220A KR 100278612 B1 KR100278612 B1 KR 100278612B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
block
test
signal lines
lcd panel
signal
Prior art date
Application number
KR1019980027220A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20000007737A (ko
Inventor
전상익
Original Assignee
윤종용
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 윤종용, 삼성전자주식회사 filed Critical 윤종용
Priority to KR1019980027220A priority Critical patent/KR100278612B1/ko
Publication of KR20000007737A publication Critical patent/KR20000007737A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100278612B1 publication Critical patent/KR100278612B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13452—Conductors connecting driver circuitry and terminals of panels
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13458—Terminal pads
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Abstract

하나의 구동드라이브 IC와 전기적으로 연결되는 신호선들의 묶음인 블록 내에 소정길이의 빈 공간을 형성하기 위해 각각의 블록에 형성되는 신호선들 중 첫 번째에 형성되는 신호선은 블록의 일단과 접하도록 형성하고 블록의 마지막에 형성되는 신호선은 블록의 타단과 접하도록 형성하여 각 블록에 내에 형성된 빈 공간에 테스트 패드를 추가로 형성함으로써, LCD 패널의 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

Description

엘씨디 패널
본 발명은 LCD 패널에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 한 개의 구동드라이브 IC와 전기적으로 연결되는 게이트선들 또는 데이터선들의 묶음인 각각의 블록에 테스트 패드를 추가로 형성하여 LCD 패널의 신뢰성을 향상시킨 LCD 패널에 관한 것이다.
일반적으로, LCD 패널은 TFT 기판, TFT 기판과 마주보는 칼라필터 기판, 그리고, 양 기판 사이에 주입되는 액정물질을 포함하는 것으로, TFT 기판과 칼라필터 기판 사이에 주입된 액정의 전기 광학적 성질을 이용한 표시장치이다.
TFT 기판(10) 상에는 다수의 게이트선들(21)과 데이터선들(25)이 서로 교차되는 신호선들(20)이 형성되고, 도 1에 도시된 바와 같이 TFT 기판(10)보다 크기가 작은 칼라필터 기판(60)으로 인해 외부로 노출된 신호선들(20)은 하나의 테스트 배선(30)과 전기적으로 연결된다. 여기서, 칼라필터 기판(60)의 외부로 노출된 각각의 신호선들(20)은 하나의 구동드라이브 IC(미도시)와 전기적으로 연결되도록 복수개의 블록(50; 일점쇄선으로 표시)으로 나누어지는데, 각 블록(50)의 양단에는 테스트 패드들(42, 46)이 형성된다.
LCD 패널(1)의 픽셀상태를 검사하기 위해 각각의 블록(50)에 형성된 테스트 패드들(42, 46)에 프로브(미도시)를 접속시켜 테스트 배선(30)과 신호선들(20)에 전기적 신호를 인가하면 LCD 패널(1)이 구동된다. 이때, 신호선(20)이 단선 또는 쇼트(short)되었거나 픽셀에 불량이 발생되었을 경우 LCD 패널(1)에 원하는 정보가 디스플레이되지 않으므로 불량의 유무를 쉽게 판단할 수 있다. 즉, LCD 패널(1)을 화이트 상태로 디스플레이시키기 위해 전기적 신호를 테스트 배선(30)에 인가한 경우 신호선들(20) 중 어느 한선이 단선되었거나, 픽셀에 이상이 발생되면 그 부분만 다른 색, 예를 들어 블랙으로 디스플레이되는 오동작이 발생된다.
비주얼 테스트가 완료된 후 불량이 발생된 LCD 패널들(1) 중 리페어가 가능하다고 판단되는 LCD 패널(1)은 리페어하고, 리페어가 되지 않는 LCD 패널(1)은 폐기처분하여 생산성을 향상시킨다.
그러나, 하나의 테스트 배선(30)에 각각의 신호선들(30)이 연결된 경우 신호선들(30)의 자체저항과, 게이트선(21)과 데이터선(25)이 절연층을 사이에 두고 교차함으로서 형성되는 캐패시터로 인해 RC(Resistance-Capacitance) 딜레이(delay)가 증가하여 신호의 왜곡이 발생된다. 이러한 신호의 왜곡은 LCD 패널(1)의 검사의 효율성을 저하시켜 제품의 신뢰성이 저하된다. 이와 같은 현상은 LCD 패널(1)의 사이즈가 증가하여 한 블록에 수용되는 신호선(20)이 증가할수록 더욱 심각해진다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 종래는 게이트선(21)에 인가하는 펄스의 폭을 2배이상 증가시켜 비주얼 검사를 하였으나 LCD 패널(1)의 불량을 정확히 검사할 수 없고 또한, LCD 패널(1)이 대형화되어감에 따라 펄스 폭의 조정으로도 LCD 패널(1)의 불량을 검출하는데 어려움이 있다.
또한, 서로 인접하는 신호선(20)에 쇼트가 발생된 경우 어느 신호선(20)이 단락되었는지 구분하지 못하여 리페어를 진행하는데 어려움이 있다.
RC 딜레이 값을 감소시키고 어느 신호선(20)에 쇼트가 발생되었는지 구분하기 위해서 도 2에 도시된 바와 같이 TFT 기판(10)에 테스트 배선(30, 35)을 2개 형성하여 하나의 테스트 배선(30)에는 홀수번째 위치하는 신호선들(20)을 연결시키고 다른 하나는 테스트 배선(35)에는 짝수번째 위치하는 신호선들(20)을 연결시킨다.
이와 같은 2개의 테스트 배선(30, 35)을 형성하여 비주얼 테스트를 하면, 캐패시터의 정전용량이 1/2로 줄어들기 때문에 RC 딜레이 값이 감소되고 이로 인해 LCD 패널(1)의 검사 효율성이 향상된다. 또한, 인접하는 신호선들(20)에 쇼트가 발생된 경우 어느 선에서 쇼트가 발생되었는지를 쉽게 구별할 수 있어 리페어가 용이하다.
그러나, LCD 패널(1)의 크기가 17인치 이상으로 대형화되면 한 블록(50)에 수용되는 게이트선들(21)과 데이터선들(25)의 수가 증가되므로 테스트 배선(30)을 2개 형성하였더라도 RC 딜레이값의 증가로 인한 신호의 왜곡이 심하게 발생되어 검사의 효율성이 저하된다. 또한, 게이트선(21)에 인가되는 펄스의 폭을 인위적으로 증가시켜 LCD 패널(1)의 픽셀 상태를 검사하는데는 한계가 있어 LCD 패널(1)이 17인치 이상으로 증가되면 LCD 패널(1)의 테스트 신뢰성이 급격히 저하된다.
따라서, 본 발명의 목적은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로써 게이트선 및 데이터선의 증가로 발생되는 RC 딜레이를 감소시켜 LCD 패널이 대형화되어도 검사 효율성을 향상시킴으로써, LCD 패널의 신뢰성을 향상시키는데 있다.
본 발명의 다른 목적은 다음의 상세한 설명과 첨부된 도면으로부터 보다 명확해 질 것이다.
도 1은 테스트 배선이 한개 형성된 종래의 LCD 패널을 개략적으로 도시한 사시도이고,
도 2는 테스트 배선이 두개 형성된 종래의 LCD 패널을 개략적으로 도시한 사시도이다.
도 3a는 본 발명에 의한 LCD 모듈을 개략적으로 도시한 사시도이고,
도 3b는 도 3a의 A부분을 확대한 요부 확대도이며,
도 4는 제 1 테스트 배선과 제 2 테스트 배선의 구조를 도시한 분해 사시도이다.
이와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명은 각 블록의 양단부에서부터 게이트선과 데이터선을 형성하여 블록의 소정영역에 빈 공간을 형성하고 빈 공간에 테스트 패드를 추가로 형성한다.
이하, 본 발명에 의한 LCD 모듈의 신호배선의 구조를 첨부된 도면 도 3 및 도 4를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 3a에 도시된 바와 같이 LCD 패널(100)은 TFT 기판(110)과, TFT 기판보다 크기가 작고 TFT 기판(110)과 마주보도록 부착되는 칼라필터 기판(160)으로 구성된다.
TFT 기판(110)의 상부에는 복수개의 게이트선들(121)과 데이터선들(125)로 구성된 신호선들(120)이 형성되는데, 복수개의 게이트선들(121)이 TFT 기판(110)의 단변방향을 따라 일렬로 배열되고, 게이트선들(121)과 교차되도록 TFT 기판(110)의 장변방향에는 복수개의 데이터배선들(125)이 일렬로 배열된다. 또한, 게이트선들(121)과 데이터선들(125)의 교차지점에는 스위칭 소자인 박막트랜지스터 소자들(도시 안됨)과 화소전극들(도시 안됨)이 형성되며, TFT 기판(110)과 칼라필터 기판(160)을 부착하였을 경우 칼라필터 기판(160)의 외부로 노출되는 신호선들(120)의 일단부 각각에는 입력패드들(126)이 형성된다.
칼라필터 기판(160)의 외부로 노출된 신호선들(120)은 구동드라이브 IC(도시 안됨)의 출력리드들과 동일한 피치를 가지도록 일정한 기울기를 가지고 형성되고, 신호선들(120)은 도 3b에서 일점쇄선으로 도시한 여러개의 블록들(150)로 나누어져 형성되는데, 블록들(150)은 서로 소정간격 이격된다. 여기서, 한 블록(150)은 한 개의 구동드라이브 IC가 장착되어 구동드라이브 IC의 출력리드들과 전기적으로 연결되는 신호선들(120)이 여러개 모여 형성된 것으로, LCD 패널(100)에는 구동드라이브 IC가 실장되는 개수만큼의 블록들(150)이 형성된다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 종래에는 블록(50)의 일단과 소정간격 이격되어 첫 번째 신호선(22)이 블록(50) 내에 형성되고 블록(50)의 마지막에 형성되는 신호선(23)은 블록(50)의 타단이 소정거리 이격되어 형성된다.
본 발명에 따르면, 도 3b에 도시한 블록(150)의 중앙부분에 신호선들(120)이 형성되지 않는 소정길이의 공간을 형성하기 위해 블록(150)의 첫 번째에 형성되는 신호선(122)을 블록의 일단과 접하도록 형성하고, 블록(150)의 마지막 형성되는 신호선(123)은 블록(150)의 타단과 접하도록 형성한다. 따라서, 블록(150)의 중앙부분에 형성되는 빈 공간의 길이는 도 1 및 도 2에서 블록(50)의 일단부에서부터 블록(50) 내에 형성되는 첫 번째 신호선(22)까지의 길이와 블록(50) 내에 형성된 마지막 신호선(23)에서부터 블록(50)의 타단부까지의 길이를 합한 것과 동일하다.
한편, 도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이 입력패드(126)가 형성된 TFT 기판(110)의 가장자리에는 LCD 패널(100)에 형성된 신호선들(120) 중 홀수번째 형성된 신호선들(120)과 전기적으로 연결되는 제 1 테스트 배선(130)이 TFT 기판(110)의 단변방향에 형성되고, 제 1 테스트 배선(130)과 소정간격 이격된 부분에는 짝수번째 형성된 신호선들(120)과 전기적으로 연결되는 제 2 테스트 배선(135)이 제 1 테스트 배선(130)과 동일한 길이로 형성된다. 여기서, 제 2 테스트 배선(135)과 연결된 짝수번째 신호선들(120)이 제 1 테스트 배선(130)과 쇼트되는 것을 방지하기 위해 도 4에 도시된 바와 같이 제 1 테스트 배선(130)과 제 2 테스트 배선(135) 사이에 절연막(136)이 형성된다.
또한, 제 1 및 제 2 테스트 배선(130, 135)의 각각에는 프로브들과 접속되어 테스트 신호를 공급하는 테스트 패드들(142, 144, 146)이 형성되는데, 테스트 패드들(142, 144, 146)은 각 블록(150)의 일단과 소정간격 이격되어 형성되는 제 1 테스트 패드(142)와, 각 블록(150)의 중앙에 형성된 빈 공간에 형성된 제 2 테스트 패드(144)와, 각 블록(150)의 타단과 소정간격 이격되어 형성된 제 3 테스트 패드(146)로 구성된다.
상기에서 설명한 제 1 및 제 2 테스트 배선(130, 135)과 테스트 패드(142, 144, 146)는 TFT 기판(110)과 칼라필터 기판(160)을 부착한 후 LCD 패널(100)의 픽셀상태를 검사하는 비주얼(visual) 테스트용으로 LCD 패널(100)의 불량유무가 확인되면 절단되는 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이 각 블록(150)의 중앙부분에 제 2 테스트 패드(144)를 한개 더 추가로 형성하여 비주얼 테스트를 진행할 경우, 신호 공급원인 테스트 패드들(142, 144, 146)과 신호선들(120) 간의 경로가 짧아져 저항과 캐패시턴스 값이 줄어들므로 테스트 패드들(142, 144, 146)과 인접한 신호선들(120)에 신호의 왜곡이 적은 테스트 신호가 입력된다. 이와 같이 각 신호선들(120)에 신호의 왜곡이 최소화된 테스트 신호가 입력되면 LCD 패널(100)이 17인치 이상으로 대형화되어도 검사의 효율성이 저하되지 않는다. 즉, RC 딜레이값이 감소되어 LCD 패널의 소정 픽셀에서 원하는 정보와 다른 정보가 표시되는 오동작이 최소화되므로 정확히 LCD 패널의 불량 유무를 판단할 수 있다. 또한, LCD 패널의 테스트 신뢰성이 향상되면 비주얼 테스트 결과 불량이 발생된 LCD 패널의 경우에서 리페어할 수 있는 LCD 패널의 수가 증가되기 때문에 생산성이 향상된다.
이상에서 설명한 바와 같이 하나의 구동드라이브 IC와 전기적으로 연결되는 신호선들의 묶음인 블록 내에 소정길이의 빈 공간을 형성하기 위해 각각의 블록에 형성되는 신호선들 중 첫 번째에 형성되는 신호선은 블록의 일단과 접하도록 형성하고 블록의 마지막에 형성되는 신호선은 블록의 타단과 접하도록 형성하여 각 블록에 내에 형성된 빈 공간에 테스트 패드를 추가로 형성한다.
이로 인해 LCD 패널 전체의 저항과 캐패시턴스 값을 줄어들므로 LCD 패널의 사이즈가 증가되더라도 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (3)

  1. TFT 기판의 상부면에 서로 교차되도록 형성되는 게이트선과 데이터선으로 구성된 신호선들과;
    상기 신호선들의 일단부 각각에 형성된 입력 패드들과;
    구동드라이브 IC가 실장되고 상기 구동드라이브 IC의 출력리드들과 대응하여 접속되도록 상기 신호선들이 소정 개수 블록들과;
    상기 블록의 일단 외측에 형성된 제 1 테스트 패드들과, 상기 블록의 내부의 소정영역에 형성된 제 2 테스트 패드와, 블록의 타단 외측에 형성된 제 3 테스트 패드로 구성된 테스트 패드와;
    상기 테스트 패드와 상기 신호선들이 병렬로 연결되고 상기 입력패드들이 형성된 상기 TFT 기판의 가장자리를 따라 연장되어 적어도 1개이상 형성된 테스트 배선을 포함하는 것을 특징으로 하는 LCD 패널.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 블록 내에 형성된 상기 신호선들 중 상기 블록의 첫 번째에 형성된 신호선은 상기 블록의 일단과 접하도록 형성되고, 상기 블록의 마지막에 형성된 신호선은 상기 블록의 타단과 접하도록 형성되어 상기 제 2 테스트 패드가 형성되는 영역이 상기 블록의 중앙부분에 마련되는 것을 특징으로 하는 LCD 패널.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 테스트 배선은 상기 신호선들 중 홀수번째 형성된 신호선들이 전기적으로 연결되는 제 1 테스트 배선과, 짝수번째 형성된 신호선들이 전기적으로 연결되는 제 2 테스트 배선으로 구성되며, 상기 제 1 테스트 배선과 상기 제 2 테스트 배선 사이에는 절연층이 형성된 것을 특징으로 하는 LCD 패널.
KR1019980027220A 1998-07-07 1998-07-07 엘씨디 패널 KR100278612B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980027220A KR100278612B1 (ko) 1998-07-07 1998-07-07 엘씨디 패널

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980027220A KR100278612B1 (ko) 1998-07-07 1998-07-07 엘씨디 패널

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20000007737A KR20000007737A (ko) 2000-02-07
KR100278612B1 true KR100278612B1 (ko) 2001-01-15

Family

ID=19543299

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980027220A KR100278612B1 (ko) 1998-07-07 1998-07-07 엘씨디 패널

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100278612B1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100634826B1 (ko) * 1998-11-11 2006-12-19 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치의자동검사용패드
JP4051190B2 (ja) * 2000-10-31 2008-02-20 シャープ株式会社 表示装置の製造方法、表示装置用基板および測定システム
KR100769160B1 (ko) * 2000-12-29 2007-10-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치의 테스트 패드
KR100403621B1 (ko) * 2001-03-30 2003-10-30 삼성전자주식회사 전기적 특성 평가를 위한 테스트 패드를 갖는 칩 온 필름패키지 및 칩 온 필름 패키지 형성 방법
KR100806885B1 (ko) * 2001-06-12 2008-02-22 삼성전자주식회사 액정 표시 장치의 제조 방법
KR100895311B1 (ko) * 2002-11-19 2009-05-07 삼성전자주식회사 액정 표시 장치 및 그 검사 방법
JP2006091239A (ja) 2004-09-22 2006-04-06 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに検査方法
KR101157973B1 (ko) * 2005-11-01 2012-06-25 엘지디스플레이 주식회사 박막트랜지스터 어레이 기판 및 그 제조방법
CN110060615A (zh) * 2019-04-11 2019-07-26 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示器

Also Published As

Publication number Publication date
KR20000007737A (ko) 2000-02-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101137863B1 (ko) 박막트랜지스터 어레이 기판
US6172410B1 (en) Collective substrate of active-matrix substrates, manufacturing method thereof and inspecting method thereof
KR100831280B1 (ko) 액정표시장치
KR940006156B1 (ko) 액정표시소자 제조방법
KR100235477B1 (ko) 표시장치 및 그 검사 방법
KR100494685B1 (ko) 액정표시장치의 패널내 배선의 결함 테스트 방법
KR100800330B1 (ko) 라인 온 글래스형 신호라인 검사를 위한 액정표시패널
JP6257192B2 (ja) アレイ基板およびその検査方法ならびに液晶表示装置
KR0142014B1 (ko) 표시장치의 검사장치 및 검사방법
KR102034069B1 (ko) 터치타입 액정표시장치 및 이의 검사방법
KR20040059670A (ko) 액정표시패널의 검사용 범프 구조
KR100278612B1 (ko) 엘씨디 패널
US6677171B1 (en) Manufacturing method of collective substrate of active-matrix substrates, manufacturing method of active-matrix substrates, and inspecting method of collective substrates of active-matrix substrates
KR100490040B1 (ko) 두개이상의쇼팅바를갖는액정표시장치및그제조방법
KR100576629B1 (ko) 액정표시장치의 ｔｆｔ어레이 기판 및 그 검사방법
KR100806885B1 (ko) 액정 표시 장치의 제조 방법
JP3119357B2 (ja) 液晶表示装置
JP2872274B2 (ja) 液晶表示装置
JPH11119683A (ja) 液晶表示パネルの検査方法
US7049527B1 (en) Conductor-pattern testing method, and electro-optical device
KR101157248B1 (ko) 액정표시장치의 ｍｐｓ 검사배선 구조
JP3087730B2 (ja) 液晶表示装置の製造方法
KR20070033699A (ko) 박막트랜지스터 기판 및 그 검사와 수리방법
KR20000014950A (ko) 엘시디 패널 테스트용 지그
JP3448290B2 (ja) 液晶パネル検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070928

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee