KR20000014950A - 엘시디 패널 테스트용 지그 - Google Patents

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곽상기
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윤종용
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Abstract

본 발명은 엘시디 패널 테스트용 지그에 관한 것으로, 구동드라이브 IC와 전기적으로 연결되는 신호선들의 묶음인 블럭에 프로브 카드를 직접적으로 접속하여 프로브 카드와 블럭간의 간격을 최소화함으로써 왜곡이 최소화된 테스트 신호들이 입력되어 검사의 신뢰성이 향상된다.

Description

엘시디 패널 테스트용 지그
엘시디 패널 테스트용 지그에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 엘시디 패널의 신호선들로 이루어진 블럭을 직접적으로 접속 프로빙하여 검출력을 향상시킬 수 있도록 한 엘시디 패널 테스트용 지그에 관한 것이다.
일반적으로, LCD 패널은 TFT 기판, TFT 기판과 마주보는 칼라필터 기판, 그리고, 양 기판 사이에 주입되는 액정물질을 포함하는 것으로, TFT 기판과 칼라필터 기판 사이에 주입된 액정의 전기 광학적 성질을 이용한 표시장치이다.
도 1에 도시된 바와 같이, TFT 기판(10) 상에는 다수의 게이트선들(12)과 데이터선들(14)이 서로 교차되는 신호선들(16)이 형성되고, TFT 기판(10)보다 크기가 작은 칼라필터 기판(18)으로 인해 외부로 노출된 신호선들(16)은 하나의 테스트 배선(20)과 전기적으로 연결된다. 여기서, 칼라필터 기판(18)의 외부로 노출된 각각의 신호선들(16)은 하나의 구동드라이브 IC(미도시)와 전기적으로 연결되도록 복수개의 블록(22; 일점쇄선으로 표시)으로 나누어지는데, 각 블록(22)의 양단에는 테스트 패드들(24)이 형성된다.
LCD 패널의 픽셀상태를 검사하기 위해 각각의 블록(22)에 형성된 테스트 패드들(24)에 프로브(미도시)를 접속시켜 테스트 배선(20)과 신호선들(16)에 전기적 신호를 인가하면 LCD 패널이 구동된다. 이때, 신호선(16)이 단선 또는 쇼트(short)되었거나 픽셀에 불량이 발생되었을 경우 LCD 패널에 원하는 정보가 디스플레이되지 않으므로 불량의 유무를 쉽게 판단할 수 있다. 즉, LCD 패널을 화이트 상태로 디스플레이시키기 위해 전기적 신호를 테스트 배선(20)에 인가한 경우 신호선들(16) 중 어느 한선이 단선되었거나, 픽셀에 이상이 발생되면 그 부분만 다른 색, 예를 들어 블랙으로 디스플레이되는 오동작이 발생된다.
비주얼 테스트가 완료된 후 불량이 발생된 LCD 패널들 중 리페어가 가능하다고 판단되는 LCD 패널은 리페어하고, 리페어가 되지 않는 LCD 패널은 폐기처분하여 생산성을 향상시킨다.
그러나, 하나의 테스트 배선(20)에 각각의 신호선들(30)이 연결된 경우 신호선들(20)의 자체저항과, 게이트선(21)과 데이터선(25)이 절연층을 사이에 두고 교차함으로서 형성되는 캐패시터로 인해 RC(Resistance-Capacitance) 딜레이(delay)가 증가하여 신호의 왜곡이 발생된다. 이러한 신호의 왜곡은 LCD 패널의 검사의 효율성을 저하시켜 제품의 신뢰성을 저하시킨다.
이와 같은 현상은 LCD 패널의 사이즈가 증가하여 한 블록에 수용되는 신호선(16)이 증가할수록 더욱 심각해진다.
따라서, 본 발명의 목적은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로써, 엘시디 패널의 비주얼 검사에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있도록 하는데 있다.
본 발명의 다른 목적은 다음의 상세한 설명 및 첨부된 도면으로부터 보다 명확해질 것이다.
도 1은 종래의 기술에 따른 테스트용 엘시디 패널을 나타낸 부분사시도.
도 2는 본 발명의 기술에 따른 실시예에 의한 엘시디 패널 테스트용 지그를 나타낸 사시도.
이와 같은 목적을 달성하기 위해서 본 발명은 신호선들로 이루어진 블럭들에 테스트 신호 공급원인 프로브 카드를 직접적으로 접속한 다음 테스트 신호를 인가하여 비주얼 검사를 진행할 수 있도록 한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 기술에 따른 실시예에 의한 엘시디 패널 테스트용 지그를 보다 상세히 살펴보면 다음과 같다.
도 2를 참조하면, LCD 패널은 TFT 기판(30)과 TFT 기판(30)보다 크기가 작고 TFT 기판(30)과 마주보도록 부착되는 칼라필터 기판(32)으로 구성된다.
TFT 기판(30)의 상부에는 복수개의 게이트선들(34)과 데이터선들(36)로 구성된 신호선들(38)이 형성되는데, 복수개의 게이트선들(34)이 TFT 기판(30)의 단변방향을 따라 일렬로 배열되고, 게이트선들(34)과 교차되도록 TFT 기판(30)의 장변방향에는 복수개의 데이터선들(36)이 일렬로 배열된다. 또한, 게이트선들(34)과 데이터선들(36)의 교차지점에는 스위칭 소자인 박막트랜지스터 소자들(도시 안됨)과 화소전극들(도시 안됨)이 형성되며, TFT 기판(30)과 칼라필터 기판(32)을 부착하였을 경우 칼라필터 기판(32)의 외부로 노출되는 신호선들(38)의 일단부 각각에는 입력패드들(도시되지 않음)이 형성된다.
칼라필터 기판(32)의 외부로 노출된 신호선들(38)은 구동드라이브 IC(도시되지 않음)의 출력리드들과 동일한 피치를 가지도록 일정한 기울기를 가지고 형성되고, 신호선들(38)은 일점쇄선으로 도시한 여러개의 블록들(40)로 나누어져 형성되는데, 블록들(40)은 서로 소정간격 이격된다. 여기서, 한 블록(40)은 한 개의 구동드라이브 IC가 장착되어 구동드라이브 IC의 출력리드들과 전기적으로 연결되는 신호선들(38)이 여러개 모여 형성된 것으로, LCD 패널에는 구동드라이브 IC가 실장되는 개수만큼의 블록들(40)이 형성된다.
이와 같이 본 발명에 따르면, 엘시디 패널에는 종래에 형성되었던 테스트 배선과 테스트 패드가 형성되지 않은 것을 알 수 있다.
비주얼 검사를 위해 이러한 구조의 엘시디 패널은 소정의 이송수단(도시되지 않음)에 의해 비주얼 검사 영역으로 이송되며, 비주얼 검사 영역에서 엘시디 패널은 엘시디 패널을 로딩하는 엘시디 패널 로딩부(42)에 로딩된다.
또한, 엘시디 패널 로딩부(42)의 상부에는 엘시디 패널을 프로빙하는 프로빙부(44)가 위치한다.
프로빙부(44)는 엘시디 패널의 블럭들(40)과 각각 전기적으로 연결하는 프로브 카드들(46), 엘시디 패널의 블럭들(40)과 프로브 카드들(46)을 얼라인하기 위한 카메라(48)로 이루어진다.
프로브 카드(46)는 엘시디 패널의 블럭(40)을 이루는 신호선들(38)과 각각 접속할 수 있도록 구성되며, 카메라(48)는 일반적으로 CCD 카메라가 사용된다.
이렇게 엘시디 패널 로딩부(42)상에 엘시디 패널이 위치하면, 상부에서는 얼라인을 위해 엘시디 패널의 블럭 사이에 형성된 얼라인 마크(50)를 카메라(48)가 촬영하고, 카메라 촬영 결과에 따라 얼라인 완료되면 프로빙부(44)는 하강하여 프로브 카드(46)와 블럭들(40)을 각각 전기적으로 연결하여 접속시킨다.
이렇게 프로빙부(44)의 프로브 카드들(46)이 엘시디 패널의 블럭들(40)과 직접적으로 접속하여 신호 공급원인 프로브 카드들(46)과 신호선들(38) 간의 경로가 짧아져 저항과 캐패시턴스 값이 줄어들므로 인접한 신호선들(38)에 신호의 왜곡이 적은 테스트 신호가 입력된다.
이와 같이 각 신호선들에 신호의 왜곡이 최소화된 테스트 신호가 입력되면 LCD 패널()이 17인치 이상으로 대형화되어도 비주얼 검사의 효율성이 저하되지 않는다. 즉, RC 딜레이값이 감소되어 LCD 패널의 소정 픽셀에서 원하는 정보와 다른 정보가 표시되는 오동작이 최소화되므로 정확히 LCD 패널의 불량 유무를 판단할 수 있다. 또한, LCD 패널의 테스트 신뢰성이 향상되면 비주얼 테스트 결과 불량이 발생된 LCD 패널의 경우 리페어할 수 있는 LCD 패널의 수가 증가되기 때문에 생산성이 향상된다.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명은 구동드라이브 IC와 전기적으로 연결되는 신호선들의 묶음인 블럭에 프로브 카드를 직접적으로 접속하여 프로브 카드와 블럭간의 간격을 최소화함으로써 왜곡이 최소화된 테스트 신호들이 입력되어 검사의 신뢰성이 향상되는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 신호선들로 이루어진 블록들이 형성된 엘시디 패널을 로딩하는 엘시디 패널 로딩부;
    상기 블럭들을 프로빙하는 프로브 카드들, 상기 블럭들과 상기 프로브 카드들을 얼라인하는 카메라를 구비하고 상기 엘시 패널 로딩부에 로딩된 엘시디 패널에 대해 상기 블럭들과 상기 프로브 카드들을 직접적으로 접속시켜 상기 엘시디 패널을 프로빙하는 프로빙부를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 엘시디 패널 테스트용 지그.
KR1019980034602A 1998-08-26 1998-08-26 엘시디 패널 테스트용 지그 KR20000014950A (ko)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20110071813A (ko) * 2009-12-21 2011-06-29 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치의 검사장치
CN109000888A (zh) * 2018-06-14 2018-12-14 广东速美达自动化股份有限公司 一种屏幕对位系统及标定方法
CN113552737A (zh) * 2021-06-09 2021-10-26 信利（惠州）智能显示有限公司 一种适用于tft-lcd单屏幕测试光电参数的测试方法

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