JPH0351768A

JPH0351768A - ガラス基板テスト用プローブ端子構造およびこれを用いたテスト方法

Info

Publication number: JPH0351768A
Application number: JP1184662A
Authority: JP
Inventors: Isao Ueno; 勲上野; Junichi Owada; 淳一大和田
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1989-07-19
Filing date: 1989-07-19
Publication date: 1991-03-06

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は液晶表示パネル用ガラス基板上の透明電極の導
通、断線等を試験するためのプローブ端子構造に係り、
特に透明電極とプローブ針との接触不良をチエツク可能
にしたプローブ端子構造及びそのテスト方法に関する。

〔従来の技術〕

一般に液晶表示パネルや液晶テレビ等のパネルは、２枚
のガラス基板上に縦・横方向にストライプ状の透明電極
を設け、液晶をサンドイッチにした構造になっている。

この場合透明電極は数百μｍのピッチで数百本配置され
るため、製造上において断線あるいは電極間短絡等の不
良が発生する。これらは表示画素の欠陥となり表示画質
の劣化となる。

この様なことからガラス基板上の透明電極の断線・短絡
テストを行う必要がある。

第２図に透明電極の断線・短絡テストを行うときの電極
引出し方法の１例を示す。

同図において１はガラス基板、２はガラス基板１上に配
置された透明電極、３，４は透明電極２をテストするた
めの引出し用プローブ針、５は断線・短絡テスターであ
る。すなわち、透明電極２の断線をテストする場合には
その両端子にプローブ針３および４を接触させ、断線・
短絡テスター５により試験する。

しかしプローブ針３，４は透明電極２の両端子に針圧に
より接触させているため、接触不良になる時がある。こ
の場合には透明電極２の断線か、プローブ針３，４の接
触不良によるものかの判断が不可能になる。

従来この種のテストにおいては、透明電極２の断線と判
定された場合には、プローブ針３，４の針圧を変えて再
度測定して対処していた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術では、透明電極２が断線であると判定され
た場合、本当に断線しているのか、それともプローブ針
３，４が接触不良となって断線と判定されているのかの
区別ができないため、プローブ針３，４の針圧を変えて
再度測定して対処していた。しかしこれでは、測定に時
間がかかり、測定の信頼性も低下する問題があった。

本発明は前記ガラス基板１上の透明電極２に接触させる
プローブ針３，４が完全に接触していることを確認して
から透明電極２の導通テストを行うことを目的としてお
り、さらに高速に測定するためのテスト法を提供するこ
とを目的としている。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、ガラス基板１上の透明電極
２に接触させるプローブ針を二重構造としたものである
。

また、高速に測定するためには、二重構造としたプロー
ブ針の２接点間の導通チエツクを行い完全にて接点が透
明電極２に接触していることを確認してから透明電極２
のテストを行う様にしたものである。

〔作用〕

二重構造としたプローブ針は、２本とも透明電極に接触
していなければ、透明電極の導通テストを行なわないた
め、プローブ針の接触不良か透明電極の断面かの区別が
行える様になる。

また、プローブ針と透明電極との接触を、プローブ針間
に電位差を与えることによりチエツクできる様にしたも
のである。

〔実施例〕

以下図面を用いて本発明によるプローブ針の構造につい
て詳細に説明する。

第１図は本発明による透明電極をテストするための電極
引出し用プローブ端子構造部を示したものである。同図
において第２図と同符号の部分はそれぞれ同じ部分に相
当するものとする。

第１図３０はプローブ部基板で、プローブ針３１．３２
を固定するものである。３３．３４はプローブ針３１．
３２より引出す信号電極である。

なお、同図は透明電極２の片側一方のみの電極引出し用
プローブ端子構造部を示したもので、他方側にも同じプ
ローブ端子構造部があり、この部分は省略しである。

すなわち、本発明のプローブ針端子構造は透明電極の面
端子側に透明電極２より引出すプローブ針３１．３２が
並列にそれぞれ配置され、信号電極３３．３４より二重
に引出す構造にしている。

第３図はその片側の構造を平面図として示したものであ
る。

同図の構造により透明電極２の導通テストを行う場合に
は、まず片側に配置された２つのプローブ針３１．３２
間の導通を確認してから透明電極２の両端子間の導通テ
ストを行う様にする。もし前者の導通チエツクで断線と
判定された場合には透明電極２とプローブ針３１．３２
が接触不良であると判定することができ、また前者の導
通チエツクで導通であると判定した場合はプローブ針３
１．３２と透明電極２とは接触していることになる。こ
の状態で後者の導通テストを行い、断線と判定されると
、透明電極２が途中で断線していることになる。

この様なことから第２図における問題点となっていた透
明電極２の断線不良か、プローブ針の接触不良かの区別
を判断することが可能になる。

第４図はプローブ針の接触テスト方式の具体的実施例を
示したものである。同図において第１図。

第２図と同符号の部分はそれぞれ同じ部分に相当するも
のとする。第４図の４１．４２は３１゜３２同様透明電
極２に針を接触させるプローブ針で、４３．４４はプロ
ーブ針４１．４２より引出す信号電極である。３５．４
５はプローブ針４１゜４２と透明電極２の接触のチエツ
クと透明電極２の導通テストを切換える回路である。回
路の接点ａはプローブ針４１．４２と透明電極２の接触
をチエツクする端子を示し、接点すはプローブ針３１．
３２と透明電極２の接触をチエツクする端子を示し、さ
らに接点Ｃはプローブ針３１，４１より透明電極２の導
通テストを行う端子である。

本図では回路接点の切換えを機械的に行う様に表してい
るが、電気的に切換えることも可能である。

第５図は第４図の動作をタイムシーケンスで示したもの
である。Ｓ、は測定開始信号で、Ｓ＆。

Ｓｂ、Ｓｃは切換え回路３５，４５の切換え信号である
。信号Ｓｔで測定が開始され、切換え回路３５．４５の
ａ接点をＳａで選択し、プローブ針４１．４２が透明電
極２に接触しているかを断線・短絡テスター５でチエツ
クする。チエツクは断線・短絡テスター５に電流が流れ
るかどうかで行い、流れなければ接触不良でもう一度針
をセットしなおし、接触していれば断線、短絡テスター
５に電流が流れ次のチエツクへ移る。次は信号Ｓｂで切
換え回路３５．４５のｂ接点を選択し、プローブ針３１
．３２のチエツクを行う。チエツク後は切換え回路３５
．４５のＣ接点を信号Ｓｃで選択し、透明電極２の導通
テストを行うことになる。

第６図はプローブ針の接触テスト方式の第２の具体的実
施例を示したものである。同図において第４図と同符号
の部分はそれぞれ同じ部分に相当するものとする。第６
図の３６．４６は第４図の３５．４５同様の切換え回路
で、透明電極２内のＡ、Ｂ、Ｃ，Ｄは各プローブ針の接
触点を示す。

第７図は第６図の動作タイムシーケンスで示したもので
ある。Ｓ、は測定開始信号で、　Ｓａ、　Ｓｅは切換え
回路３６．４６の切換え信号である。信号Ｓｔで測定が
開始され、切換え回路３６，４６のｄ接点をＳａで選択
し、プローブ針３１，３２゜４１．４２の接触をチエツ
クする６チエツクは全ての針が直列接続されている形と
なっているため表１に示す様になる。この表でＡ、Ｂ、
Ｃ，Ｄは第６図で示した各プローブ針の接触点を示し、
Ｅは透明電極２を記号で示したものである。このチエツ
クで合となるには各プローブ針が全て透明電極２のＡ、
Ｂ、Ｃ，Ｄに接触しているか、プローブ針４１．３１が
透明電極２のＡ、Ｂに接触し、透明電極２が導通状態で
ある場合である。これ以外は否となりもう一度針をセッ
トしなおす必要がある。合となれば信号Ｓｅで切換え回
路３６゜４６のＣ接点を選択し、透明電極２の導通テス
トを行うことになる。

表１０：導通Ｘ：接触不良（断線）：○、×どちらでも第８図は本発明の他の一実施例を示す。同図は液晶表示
素子ガラス板の側面図を表したもので、第１図、第３図
と同符号の部分はそれぞれ同じ部品に相当するものとす
る。

第８図のプローブ端子構造は同図に示す様に、透明電極
２とプローブ針３１．３２との接触面位置を透明電極２
の長手方向に配列させたものである。すなわち、プロー
ブ針３１．３２を取付ける基板３０の上面下面に信号引
出し電極３３．３４を設け、その端子部からプローブ針
３１．３２をそれぞれ配置した構造である。

同プローブ端子構造による透明電極２のテスト動作は第
１図、第３図の場合と同様に、プローブ針３１．３２と
透明電極２との接触確認をし、その後透明電極２の導通
テストを行う様にしたものである。

第９図は第８図で示したプローブ端子部の具体的動作例
を示したもので、第８図と同符号の部分はそれぞれ同じ
部分に相当するものとする。第９図の■ではプローブ針
３１．３２はお互いに接触しているため０ｕｔｌはＧＮ
Ｄレベルとなる。また■ではプローブ針３２が透明電極
２に接触し、プローブ針３１と開放状態となり０ｕｔｌ
は＋Ｖレベルとなる。さらに■ではプローブ針３１．３
２の両方が透明電極２に接触し０ｕｔｌは再びＧＮＤレ
ベルとなる。

第１０図は第９図で示したプローブ端子部の具体的実施
例を示したものである。同図において第４図、第６図と
同符号の部分はそれぞれ同じ部分に相当するものとする
。第１０図の７はプローブ針３２，４２をＧＮＤにする
か、開放にするかの切換えを行うアナログスイッチで、
６はプローブ針３１．４１より出力された信号０ｕｔｌ
、２で制御信号８を作るフリップ・フロップ回路である
。

第１１図は第９図、第１０図の動作をタイムシーケンス
で示したものである。信号Ｓｔで測定が開始されプロー
ブ端子部が移動する。プローブ針３２が透明電極２に接
触すると○ｕｔｌは＋Ｖレベルとなる。同様にプローブ
針４２が透明電極２に接触するとＱｕｔ２は＋Ｖレベル
となる。移動が進みプローブ針３１も接触すると○ｕｔ
ｌはＧＮＤレベルとなる。０ｕｔ２についても同様の動
作が行われる。接触状態を把握するための制御信号Ｓｏ
は出力信号○ｕｔｌ、２のうち先に＋Ｖレベルとなった
方で立上り、先にＧＮＤレベルとなった方で立下る様な
回路となっている。制御信号Ｓｏの立下りで切換え信号
Ｓｃが立下りアナログスイッチを開放にする。この状態
で透明電極２の導通テストが行えることになる。

第８図に示す構造のものはプローブ針３１゜３２をガラ
ス基板に対して垂直に配置されているため、透明電極２
の幅が狭い場合に有効な手段である。

なお、第１図、第３図及び第８図に示した本発明は、１
つの透明電極のテストを行うためのプローブ端子構造の
ものを複数組設け、多数の透明電極を同時あるいは順々
に切換えて導通テストを行うことが可能である。

〔発明の効果〕

以上述べたことから明らかな様に、本発明に示すプロー
ブ端子構造によれば、・液晶表示素子等の透明電極の導
通テストにおいて、プローブ針の接触不良か、透明電極
の断線かの判断が可能になり信頼性が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による電極基板用プローブ端子構造図、
第２図は従来の方法による透明電極の導通テスト法を示
す図、第３図は第１図の上面図、第４図、第６図は第１
図の具体的実施例を示す図。第５図は第４図のタイムシーケンス、第７図は第６図の
タイムシーケンス、第８図は本発明の他の実施例を示す
図、第９図は第８図の具体的動作例を示す図、第１０図
は第９図の具体的実施例を示す図、第１１図は第１０図
のタイムシーケンスを示す。１・・・ガラス基板、２・・・透明電極、３，４・・・
プローブ針、５・・・断線・短絡テスター、３０・・・
プローブ部基板、３１，３２，４１，４２・・・プロー
ブ針、３３．３４，４３，４４・・・信号電極、３５，
４５゜第３図第２図第４図ｃＳｔｃＬ第図第７図第６図第８図２第９図第１Ｏ図

Claims

【特許請求の範囲】１、ガラス基板上の透明電極の両端子にプローブ針を接
触させ、その両端子より透明電極の導通をテストする装
置において、前記透明電極両端子に接触させるプローブ
針を複数本にし、そのプローブ針が前記透明電極両端子
に接触したことを確認し、前記透明電極の導通テストを
行うことを特徴とするガラス基板テスト用プローブ端子
構造。２、特許請求の範囲第１項記載のガラス基板テスト用の
プローブ端子構造において、前記複数本設けたプローブ
針を被測定透明電極の長手方向に接触させるとともに、
電極面に対して垂直方向に配置したことを特徴とするガ
ラス基板テスト用プローブ端子構造。３、特許請求の範囲第１項または第２項記載のプローブ
端子構造のものを複数組設け、ガラス基板上の多数透明
電極の導通テストを一度に、あるいは順々に切換えて行
うことを特徴とするガラス基板テスト用プローブ端子構
造。４、ガラス基板テスト用のプローブを用いて、前記基板
上に配置された透明電極の両端に設けた複数本のプロー
ブ針の接触状態を一方ずつ確認することを特徴とする前
記ガラス基板のテスト方法。５、ガラス基板テスト用のプローブを用いて、前記基板
上に配置された透明電極の両端に設けた複数本のプロー
ブ針の接触状態を前記両端一度に確認し、前記透明電極
の導通テストを行うことを特徴とするガラス基板のテス
ト方法。