JPH06258652A - 液晶パネル検査用ユニット - Google Patents
液晶パネル検査用ユニットInfo
- Publication number
- JPH06258652A JPH06258652A JP4416693A JP4416693A JPH06258652A JP H06258652 A JPH06258652 A JP H06258652A JP 4416693 A JP4416693 A JP 4416693A JP 4416693 A JP4416693 A JP 4416693A JP H06258652 A JPH06258652 A JP H06258652A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- substrate
- liquid crystal
- terminal
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 液晶パネルの大量生産に適した時間的に効率
の良い検査方法が行える液晶パネル検査用ユニットを提
供する。 【構成】 信号線端の端子と検査装置を接続させるため
の弾性に富むコンタクトプローブ１等の電極を持ち、そ
の電極からの信号線をパネル両サイドそれぞれについて
順に３本ずつを組にし、それぞれの組の１．３本目と２
本目を別な２つの組に分ける配線パターンを持った基板
２を電極と検査装置の間に持つ。
の良い検査方法が行える液晶パネル検査用ユニットを提
供する。 【構成】 信号線端の端子と検査装置を接続させるため
の弾性に富むコンタクトプローブ１等の電極を持ち、そ
の電極からの信号線をパネル両サイドそれぞれについて
順に３本ずつを組にし、それぞれの組の１．３本目と２
本目を別な２つの組に分ける配線パターンを持った基板
２を電極と検査装置の間に持つ。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】液晶パネルの検査装置における液
晶パネル検査用ユニットに関するものである。
晶パネル検査用ユニットに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】液晶パネルは製作段階での不具合によっ
て各絵素を駆動させるための信号線が隣を走る信号線と
交点を持ってしまったり、信号線間に導電性の異物を挟
んでしまったりした場合、信号が正しく送られないため
絵素を制御することができなくなる。そのため、隣合う
信号線の間に電気的なつながり（以下リークと呼ぶ）が
生じているか否かを検査する必要がある。本来ならば隣
合う信号線につながる端子を２本ずつ順に移動しながら
信号線間の抵抗測定を行い、もし抵抗が無減大より小さ
い場合にはリークが生じていると判断するような検査が
望ましいが、その検査方法であると（信号線の本数−
１）回の検査を行わなければならないため時間的に大変
効率の悪い検査となってしまう。
て各絵素を駆動させるための信号線が隣を走る信号線と
交点を持ってしまったり、信号線間に導電性の異物を挟
んでしまったりした場合、信号が正しく送られないため
絵素を制御することができなくなる。そのため、隣合う
信号線の間に電気的なつながり（以下リークと呼ぶ）が
生じているか否かを検査する必要がある。本来ならば隣
合う信号線につながる端子を２本ずつ順に移動しながら
信号線間の抵抗測定を行い、もし抵抗が無減大より小さ
い場合にはリークが生じていると判断するような検査が
望ましいが、その検査方法であると（信号線の本数−
１）回の検査を行わなければならないため時間的に大変
効率の悪い検査となってしまう。
【０００３】そのため、従来の検査装置では液晶パネル
の信号線間のリーク検査を行う際には隣接する信号線端
子を順番に交互に１本ずつ２つの組に分離し、その組の
間の抵抗を調べる事によって検査を行っていた。
の信号線間のリーク検査を行う際には隣接する信号線端
子を順番に交互に１本ずつ２つの組に分離し、その組の
間の抵抗を調べる事によって検査を行っていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】対象となる液晶パネル
が図５に示すような一定間隔で同一形状の信号線が並ぶ
ような単純な信号線群を持っている場合には、従来の検
査方法を用いても１回の検査で行う事ができる。しかし
一般的には液晶パネルの信号線は図４に示すように、パ
ネルの両サイドから互い違いに何本かの組をもって並べ
られることが多い。図では最も一般的な３本ずつが組に
なっている。このような場合には隣合う信号線間のリー
ク検査を行うには従来の方法では図４に示すような１か
ら４までの信号線群の組が作られることになり、検査は
１組−２組間の検査、３組−４組間の検査、１組−３組
間の検査、２組−４組の検査と４つの種類の検査を行わ
なければならなく、時間的に効率が悪く、液晶パネルの
大量生産においては、より時間的に効率の良い検査方法
が必要とされていた。
が図５に示すような一定間隔で同一形状の信号線が並ぶ
ような単純な信号線群を持っている場合には、従来の検
査方法を用いても１回の検査で行う事ができる。しかし
一般的には液晶パネルの信号線は図４に示すように、パ
ネルの両サイドから互い違いに何本かの組をもって並べ
られることが多い。図では最も一般的な３本ずつが組に
なっている。このような場合には隣合う信号線間のリー
ク検査を行うには従来の方法では図４に示すような１か
ら４までの信号線群の組が作られることになり、検査は
１組−２組間の検査、３組−４組間の検査、１組−３組
間の検査、２組−４組の検査と４つの種類の検査を行わ
なければならなく、時間的に効率が悪く、液晶パネルの
大量生産においては、より時間的に効率の良い検査方法
が必要とされていた。
【０００５】
【課題を解決するための手段】液晶パネル検査用ユニッ
トにおいて、信号線端の端子と検査装置接続用の弾性を
有する電極と、パネル内の隣接する３本ずつの組の信号
線端子の中の１本が他の２本と別な２組に分ける配線パ
ターンを持った基板が電極と検査装置の間に有すること
を特徴とする。
トにおいて、信号線端の端子と検査装置接続用の弾性を
有する電極と、パネル内の隣接する３本ずつの組の信号
線端子の中の１本が他の２本と別な２組に分ける配線パ
ターンを持った基板が電極と検査装置の間に有すること
を特徴とする。
【０００６】
【作用】柔軟性に富む電極を用いることによって該電極
を液晶パネルの各信号線の端子に押し付けると、前記電
極は弾性変形し、接触することによって電気的な導通が
得られ、図１に示すように、前記信号線の３本ずつの組
のうちの２本目をＴ２端子につなげ、他のもの、つま
り、１．３本目のものをＴ端子につなげ、前記２本目の
信号線と前記１．３本目の信号線の電気的接続をしてい
ない配線間の抵抗を測定できるようにすることによって
リークが生じているか否かを検査できる。
を液晶パネルの各信号線の端子に押し付けると、前記電
極は弾性変形し、接触することによって電気的な導通が
得られ、図１に示すように、前記信号線の３本ずつの組
のうちの２本目をＴ２端子につなげ、他のもの、つま
り、１．３本目のものをＴ端子につなげ、前記２本目の
信号線と前記１．３本目の信号線の電気的接続をしてい
ない配線間の抵抗を測定できるようにすることによって
リークが生じているか否かを検査できる。
【０００７】
【実施例】以下に図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。
る。
【０００８】対象となる液晶パネルは図３に示されるパ
ターンの信号線を持っているものとする。各信号線の端
部は信号入力用の端子となっており、規則的にパネルの
対向する辺上に位置している。検査用ユニットは細いコ
ンタクトプローブ１、または接点がプリントされたＦＰ
Ｃによる柔軟性に富む電極接点を持ち、それぞれの端子
に押し付ける事により弾性変形し、接触することによっ
て電気的な導通をすることができる。コンタクトプロー
ブ１またはＦＰＣは、分離するためのパターンを持った
基板２と図１（ｂ）に示すように基板２の接続域を用い
て端子の間に導電性テープ２１をはさみ、熱圧着等によ
り、一本ずつ順に接続されている。（接続域以外の部分
は絶縁膜が形成されており、プローブ、ＦＰＣ導電パタ
ーン部と接触しても、電気的につながらない。）信号を
分離するパターンは図１（ａ）に示すように、３本ずつ
の組のうちの２本目をＴ２端子につなげ、他のものはＴ
１端子につながるようになっている。このことによりパ
ネルの信号線は順に３本ずつの組に分けられ、且つその
組の２本目が１、３本目のものと分けられる事になる。
パネルの一辺の図１（ａ）に示される基板の配線の中で
１、３本目の信号線につながる配線Ｔ１は対向する一辺
の２本目の信号線がつながる配線Ｔ２と外部と電気的に
つながっている。このような電極とそれにつながる配線
パターンを持つ基板２を有する検査ユニットを、検査し
ようとする基板の信号線端子に接触させ、一辺の２本目
の信号線ともう片方の辺の１．３本目の信号線がつなが
る配線（上記で外部で電気的につながなかった配線）の
間の抵抗を調べる。そのとき、もし、信号線間にリーク
がある場合は抵抗値が無限大でなくなるため、そのパネ
ルにリークの欠陥があることがわかる。もしそのパネル
が良品であれば、測定している配線間には電気が流れな
いため測定値は無限大を示す。この方法を用いれば１回
の検査で従来の検査と同等の検査を行う事が可能とな
る。
ターンの信号線を持っているものとする。各信号線の端
部は信号入力用の端子となっており、規則的にパネルの
対向する辺上に位置している。検査用ユニットは細いコ
ンタクトプローブ１、または接点がプリントされたＦＰ
Ｃによる柔軟性に富む電極接点を持ち、それぞれの端子
に押し付ける事により弾性変形し、接触することによっ
て電気的な導通をすることができる。コンタクトプロー
ブ１またはＦＰＣは、分離するためのパターンを持った
基板２と図１（ｂ）に示すように基板２の接続域を用い
て端子の間に導電性テープ２１をはさみ、熱圧着等によ
り、一本ずつ順に接続されている。（接続域以外の部分
は絶縁膜が形成されており、プローブ、ＦＰＣ導電パタ
ーン部と接触しても、電気的につながらない。）信号を
分離するパターンは図１（ａ）に示すように、３本ずつ
の組のうちの２本目をＴ２端子につなげ、他のものはＴ
１端子につながるようになっている。このことによりパ
ネルの信号線は順に３本ずつの組に分けられ、且つその
組の２本目が１、３本目のものと分けられる事になる。
パネルの一辺の図１（ａ）に示される基板の配線の中で
１、３本目の信号線につながる配線Ｔ１は対向する一辺
の２本目の信号線がつながる配線Ｔ２と外部と電気的に
つながっている。このような電極とそれにつながる配線
パターンを持つ基板２を有する検査ユニットを、検査し
ようとする基板の信号線端子に接触させ、一辺の２本目
の信号線ともう片方の辺の１．３本目の信号線がつなが
る配線（上記で外部で電気的につながなかった配線）の
間の抵抗を調べる。そのとき、もし、信号線間にリーク
がある場合は抵抗値が無限大でなくなるため、そのパネ
ルにリークの欠陥があることがわかる。もしそのパネル
が良品であれば、測定している配線間には電気が流れな
いため測定値は無限大を示す。この方法を用いれば１回
の検査で従来の検査と同等の検査を行う事が可能とな
る。
【０００９】この実施例では信号線電極に接触させる弾
性を持つ電極として細い針状のコンタクトプローブ１を
用いているが、これは図４に示すようなパネル端子と同
じ間隔をもって接点電極が印刷されているＦＰＣ基板で
あっても良い。図２はこの検査ユニット（コンタクトプ
ローブ１と分離用パターンを持つ基板２を組み合わせた
もの）を用いたリーク検査装置の要部構成図である。１
はコンタクトプローブであり、それぞれのプローブは導
電体であり、信号入力用端子３−２に押し付けられたと
き、電気的な導通をとることができる。それぞれのプロ
ーブは図１（ａ）の配線パターンを持った基板２の接続
域に導電性テープを用いた圧着等により固定され（図１
（ｂ）参照）、電気的につながっている。この検査ユニ
ットはパネルの両辺に対向して２組使用される。片方の
ユニットの基板のＴ１（図１（ｂ）参照）はもう一方の
基板のＴ２（図１（ｂ）参照）に外部で短絡されてい
る。そして短絡されなかつたＴ２とＴ１にはリード線が
つけられ、２本のリード線は外部の抵抗測定器５の信号
入力に接続されている。検査ユニットはそれぞれＺ軸ス
テージ４に取り付けられており、同時に上昇、下降する
ことができる。図中左側のものはステージを下降させた
状態、右側はステージを上昇させた状態を示している。
この例ではユニットが下降してパネル３と接触するよう
になっているがパネル３を裏向け、下からユニットを上
昇させて接触させても良いし、反対にパネル３をＺ軸ス
テージ４に置き、パネル３の上昇、下降によってユニッ
トと接触させる構造をとってもかまわない。またこの例
ではＺ軸ステージ４はマイクロメータヘッド４−１を用
いて手動で上下を行うが、モータを用いて電気的に制御
し、上下させてもかまわない。３は検査される液晶パネ
ルであり、パネル内の信号線３−１は図３の配置を持
つ。このパネルの位置はコンタクトプローブ１が押し付
けられたとき、各プローブが信号線端子３−１と接触で
きる位置に位置決めされている。次に動作例を説明す
る。マイクロメータヘッド４−１を操作しＺ軸ステージ
４を下降させ、２組の検査ユニットのコンタクトプロー
ブ１をパネルの信号入力用端子３−２に押し付け、全て
のプローブ１を端子３−２に接触させる。その状態で抵
抗測定器５の抵抗値を観察する。抵抗値が無限大であれ
ば信号線３−１間にリークがない良品であり、抵抗値が
無限大にならないときは隣合う信号線３−１のどこかで
リークが起こっていると考えられ、リーク不良品と判断
できる。
性を持つ電極として細い針状のコンタクトプローブ１を
用いているが、これは図４に示すようなパネル端子と同
じ間隔をもって接点電極が印刷されているＦＰＣ基板で
あっても良い。図２はこの検査ユニット（コンタクトプ
ローブ１と分離用パターンを持つ基板２を組み合わせた
もの）を用いたリーク検査装置の要部構成図である。１
はコンタクトプローブであり、それぞれのプローブは導
電体であり、信号入力用端子３−２に押し付けられたと
き、電気的な導通をとることができる。それぞれのプロ
ーブは図１（ａ）の配線パターンを持った基板２の接続
域に導電性テープを用いた圧着等により固定され（図１
（ｂ）参照）、電気的につながっている。この検査ユニ
ットはパネルの両辺に対向して２組使用される。片方の
ユニットの基板のＴ１（図１（ｂ）参照）はもう一方の
基板のＴ２（図１（ｂ）参照）に外部で短絡されてい
る。そして短絡されなかつたＴ２とＴ１にはリード線が
つけられ、２本のリード線は外部の抵抗測定器５の信号
入力に接続されている。検査ユニットはそれぞれＺ軸ス
テージ４に取り付けられており、同時に上昇、下降する
ことができる。図中左側のものはステージを下降させた
状態、右側はステージを上昇させた状態を示している。
この例ではユニットが下降してパネル３と接触するよう
になっているがパネル３を裏向け、下からユニットを上
昇させて接触させても良いし、反対にパネル３をＺ軸ス
テージ４に置き、パネル３の上昇、下降によってユニッ
トと接触させる構造をとってもかまわない。またこの例
ではＺ軸ステージ４はマイクロメータヘッド４−１を用
いて手動で上下を行うが、モータを用いて電気的に制御
し、上下させてもかまわない。３は検査される液晶パネ
ルであり、パネル内の信号線３−１は図３の配置を持
つ。このパネルの位置はコンタクトプローブ１が押し付
けられたとき、各プローブが信号線端子３−１と接触で
きる位置に位置決めされている。次に動作例を説明す
る。マイクロメータヘッド４−１を操作しＺ軸ステージ
４を下降させ、２組の検査ユニットのコンタクトプロー
ブ１をパネルの信号入力用端子３−２に押し付け、全て
のプローブ１を端子３−２に接触させる。その状態で抵
抗測定器５の抵抗値を観察する。抵抗値が無限大であれ
ば信号線３−１間にリークがない良品であり、抵抗値が
無限大にならないときは隣合う信号線３−１のどこかで
リークが起こっていると考えられ、リーク不良品と判断
できる。
【００１０】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明の検査ユニッ
トを用いれば、従来の検査装置を極簡単に改造するだけ
で、従来の検査と同等の検査をするにも拘わらず、検査
時間を大きく縮めることが可能となり、液晶パネルの生
産性を向上させることができる。
トを用いれば、従来の検査装置を極簡単に改造するだけ
で、従来の検査と同等の検査をするにも拘わらず、検査
時間を大きく縮めることが可能となり、液晶パネルの生
産性を向上させることができる。
【図１】本発明の実施例における信号線を２組に分離す
るための配線パターン図（ａ）、及びコンタクトプロー
ブと分離用基板の接続方法を示す図（ｂ）である。
るための配線パターン図（ａ）、及びコンタクトプロー
ブと分離用基板の接続方法を示す図（ｂ）である。
【図２】本発明の実施例における検査装置への応用例説
明のための主要構成図の側面図（ａ）及び上面図（ｂ）
である。
明のための主要構成図の側面図（ａ）及び上面図（ｂ）
である。
【図３】液晶パネルの一般的な信号線配列を表す図であ
る。
る。
【図４】コンタクトプローブの代用となるＦＰＣを示す
図である。
図である。
【図５】単純な信号線配列のパネルを示す図である。
１ コンタクトプローブ ２ 配線パターン付き基板 ２１ 導電性テープ ３ パネル ４ Ｚ軸ステージ ５ 検査装置（抵抗測定器） ３−１ 信号線 ３−２ 信号入力用端子 ４−１ マイクロメータヘッド
Claims (1)
- 【請求項１】 液晶パネル検査用ユニットにおいて、信
号線端の端子と検査装置接続用の弾性を有する電極と、
パネル内の隣接する３本ずつの組の信号線端子の中の１
本が他の２本と別な２組に分ける配線パターンを持った
基板が電極と検査装置の間に有することを特徴とする液
晶パネル検査用ユニット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4416693A JPH06258652A (ja) | 1993-03-04 | 1993-03-04 | 液晶パネル検査用ユニット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4416693A JPH06258652A (ja) | 1993-03-04 | 1993-03-04 | 液晶パネル検査用ユニット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06258652A true JPH06258652A (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=12684011
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4416693A Pending JPH06258652A (ja) | 1993-03-04 | 1993-03-04 | 液晶パネル検査用ユニット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06258652A (ja) |
-
1993
- 1993-03-04 JP JP4416693A patent/JPH06258652A/ja active Pending
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