JPH06258652A - 液晶パネル検査用ユニット - Google Patents
液晶パネル検査用ユニットInfo
- Publication number
- JPH06258652A JPH06258652A JP4416693A JP4416693A JPH06258652A JP H06258652 A JPH06258652 A JP H06258652A JP 4416693 A JP4416693 A JP 4416693A JP 4416693 A JP4416693 A JP 4416693A JP H06258652 A JPH06258652 A JP H06258652A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- substrate
- liquid crystal
- terminal
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 液晶パネルの大量生産に適した時間的に効率
の良い検査方法が行える液晶パネル検査用ユニットを提
供する。 【構成】 信号線端の端子と検査装置を接続させるため
の弾性に富むコンタクトプローブ1等の電極を持ち、そ
の電極からの信号線をパネル両サイドそれぞれについて
順に3本ずつを組にし、それぞれの組の1.3本目と2
本目を別な2つの組に分ける配線パターンを持った基板
2を電極と検査装置の間に持つ。
の良い検査方法が行える液晶パネル検査用ユニットを提
供する。 【構成】 信号線端の端子と検査装置を接続させるため
の弾性に富むコンタクトプローブ1等の電極を持ち、そ
の電極からの信号線をパネル両サイドそれぞれについて
順に3本ずつを組にし、それぞれの組の1.3本目と2
本目を別な2つの組に分ける配線パターンを持った基板
2を電極と検査装置の間に持つ。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】液晶パネルの検査装置における液
晶パネル検査用ユニットに関するものである。
晶パネル検査用ユニットに関するものである。
【0002】
【従来の技術】液晶パネルは製作段階での不具合によっ
て各絵素を駆動させるための信号線が隣を走る信号線と
交点を持ってしまったり、信号線間に導電性の異物を挟
んでしまったりした場合、信号が正しく送られないため
絵素を制御することができなくなる。そのため、隣合う
信号線の間に電気的なつながり(以下リークと呼ぶ)が
生じているか否かを検査する必要がある。本来ならば隣
合う信号線につながる端子を2本ずつ順に移動しながら
信号線間の抵抗測定を行い、もし抵抗が無減大より小さ
い場合にはリークが生じていると判断するような検査が
望ましいが、その検査方法であると(信号線の本数−
1)回の検査を行わなければならないため時間的に大変
効率の悪い検査となってしまう。
て各絵素を駆動させるための信号線が隣を走る信号線と
交点を持ってしまったり、信号線間に導電性の異物を挟
んでしまったりした場合、信号が正しく送られないため
絵素を制御することができなくなる。そのため、隣合う
信号線の間に電気的なつながり(以下リークと呼ぶ)が
生じているか否かを検査する必要がある。本来ならば隣
合う信号線につながる端子を2本ずつ順に移動しながら
信号線間の抵抗測定を行い、もし抵抗が無減大より小さ
い場合にはリークが生じていると判断するような検査が
望ましいが、その検査方法であると(信号線の本数−
1)回の検査を行わなければならないため時間的に大変
効率の悪い検査となってしまう。
【0003】そのため、従来の検査装置では液晶パネル
の信号線間のリーク検査を行う際には隣接する信号線端
子を順番に交互に1本ずつ2つの組に分離し、その組の
間の抵抗を調べる事によって検査を行っていた。
の信号線間のリーク検査を行う際には隣接する信号線端
子を順番に交互に1本ずつ2つの組に分離し、その組の
間の抵抗を調べる事によって検査を行っていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】対象となる液晶パネル
が図5に示すような一定間隔で同一形状の信号線が並ぶ
ような単純な信号線群を持っている場合には、従来の検
査方法を用いても1回の検査で行う事ができる。しかし
一般的には液晶パネルの信号線は図4に示すように、パ
ネルの両サイドから互い違いに何本かの組をもって並べ
られることが多い。図では最も一般的な3本ずつが組に
なっている。このような場合には隣合う信号線間のリー
ク検査を行うには従来の方法では図4に示すような1か
ら4までの信号線群の組が作られることになり、検査は
1組−2組間の検査、3組−4組間の検査、1組−3組
間の検査、2組−4組の検査と4つの種類の検査を行わ
なければならなく、時間的に効率が悪く、液晶パネルの
大量生産においては、より時間的に効率の良い検査方法
が必要とされていた。
が図5に示すような一定間隔で同一形状の信号線が並ぶ
ような単純な信号線群を持っている場合には、従来の検
査方法を用いても1回の検査で行う事ができる。しかし
一般的には液晶パネルの信号線は図4に示すように、パ
ネルの両サイドから互い違いに何本かの組をもって並べ
られることが多い。図では最も一般的な3本ずつが組に
なっている。このような場合には隣合う信号線間のリー
ク検査を行うには従来の方法では図4に示すような1か
ら4までの信号線群の組が作られることになり、検査は
1組−2組間の検査、3組−4組間の検査、1組−3組
間の検査、2組−4組の検査と4つの種類の検査を行わ
なければならなく、時間的に効率が悪く、液晶パネルの
大量生産においては、より時間的に効率の良い検査方法
が必要とされていた。
【0005】
【課題を解決するための手段】液晶パネル検査用ユニッ
トにおいて、信号線端の端子と検査装置接続用の弾性を
有する電極と、パネル内の隣接する3本ずつの組の信号
線端子の中の1本が他の2本と別な2組に分ける配線パ
ターンを持った基板が電極と検査装置の間に有すること
を特徴とする。
トにおいて、信号線端の端子と検査装置接続用の弾性を
有する電極と、パネル内の隣接する3本ずつの組の信号
線端子の中の1本が他の2本と別な2組に分ける配線パ
ターンを持った基板が電極と検査装置の間に有すること
を特徴とする。
【0006】
【作用】柔軟性に富む電極を用いることによって該電極
を液晶パネルの各信号線の端子に押し付けると、前記電
極は弾性変形し、接触することによって電気的な導通が
得られ、図1に示すように、前記信号線の3本ずつの組
のうちの2本目をT2端子につなげ、他のもの、つま
り、1.3本目のものをT端子につなげ、前記2本目の
信号線と前記1.3本目の信号線の電気的接続をしてい
ない配線間の抵抗を測定できるようにすることによって
リークが生じているか否かを検査できる。
を液晶パネルの各信号線の端子に押し付けると、前記電
極は弾性変形し、接触することによって電気的な導通が
得られ、図1に示すように、前記信号線の3本ずつの組
のうちの2本目をT2端子につなげ、他のもの、つま
り、1.3本目のものをT端子につなげ、前記2本目の
信号線と前記1.3本目の信号線の電気的接続をしてい
ない配線間の抵抗を測定できるようにすることによって
リークが生じているか否かを検査できる。
【0007】
【実施例】以下に図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。
る。
【0008】対象となる液晶パネルは図3に示されるパ
ターンの信号線を持っているものとする。各信号線の端
部は信号入力用の端子となっており、規則的にパネルの
対向する辺上に位置している。検査用ユニットは細いコ
ンタクトプローブ1、または接点がプリントされたFP
Cによる柔軟性に富む電極接点を持ち、それぞれの端子
に押し付ける事により弾性変形し、接触することによっ
て電気的な導通をすることができる。コンタクトプロー
ブ1またはFPCは、分離するためのパターンを持った
基板2と図1(b)に示すように基板2の接続域を用い
て端子の間に導電性テープ21をはさみ、熱圧着等によ
り、一本ずつ順に接続されている。(接続域以外の部分
は絶縁膜が形成されており、プローブ、FPC導電パタ
ーン部と接触しても、電気的につながらない。)信号を
分離するパターンは図1(a)に示すように、3本ずつ
の組のうちの2本目をT2端子につなげ、他のものはT
1端子につながるようになっている。このことによりパ
ネルの信号線は順に3本ずつの組に分けられ、且つその
組の2本目が1、3本目のものと分けられる事になる。
パネルの一辺の図1(a)に示される基板の配線の中で
1、3本目の信号線につながる配線T1は対向する一辺
の2本目の信号線がつながる配線T2と外部と電気的に
つながっている。このような電極とそれにつながる配線
パターンを持つ基板2を有する検査ユニットを、検査し
ようとする基板の信号線端子に接触させ、一辺の2本目
の信号線ともう片方の辺の1.3本目の信号線がつなが
る配線(上記で外部で電気的につながなかった配線)の
間の抵抗を調べる。そのとき、もし、信号線間にリーク
がある場合は抵抗値が無限大でなくなるため、そのパネ
ルにリークの欠陥があることがわかる。もしそのパネル
が良品であれば、測定している配線間には電気が流れな
いため測定値は無限大を示す。この方法を用いれば1回
の検査で従来の検査と同等の検査を行う事が可能とな
る。
ターンの信号線を持っているものとする。各信号線の端
部は信号入力用の端子となっており、規則的にパネルの
対向する辺上に位置している。検査用ユニットは細いコ
ンタクトプローブ1、または接点がプリントされたFP
Cによる柔軟性に富む電極接点を持ち、それぞれの端子
に押し付ける事により弾性変形し、接触することによっ
て電気的な導通をすることができる。コンタクトプロー
ブ1またはFPCは、分離するためのパターンを持った
基板2と図1(b)に示すように基板2の接続域を用い
て端子の間に導電性テープ21をはさみ、熱圧着等によ
り、一本ずつ順に接続されている。(接続域以外の部分
は絶縁膜が形成されており、プローブ、FPC導電パタ
ーン部と接触しても、電気的につながらない。)信号を
分離するパターンは図1(a)に示すように、3本ずつ
の組のうちの2本目をT2端子につなげ、他のものはT
1端子につながるようになっている。このことによりパ
ネルの信号線は順に3本ずつの組に分けられ、且つその
組の2本目が1、3本目のものと分けられる事になる。
パネルの一辺の図1(a)に示される基板の配線の中で
1、3本目の信号線につながる配線T1は対向する一辺
の2本目の信号線がつながる配線T2と外部と電気的に
つながっている。このような電極とそれにつながる配線
パターンを持つ基板2を有する検査ユニットを、検査し
ようとする基板の信号線端子に接触させ、一辺の2本目
の信号線ともう片方の辺の1.3本目の信号線がつなが
る配線(上記で外部で電気的につながなかった配線)の
間の抵抗を調べる。そのとき、もし、信号線間にリーク
がある場合は抵抗値が無限大でなくなるため、そのパネ
ルにリークの欠陥があることがわかる。もしそのパネル
が良品であれば、測定している配線間には電気が流れな
いため測定値は無限大を示す。この方法を用いれば1回
の検査で従来の検査と同等の検査を行う事が可能とな
る。
【0009】この実施例では信号線電極に接触させる弾
性を持つ電極として細い針状のコンタクトプローブ1を
用いているが、これは図4に示すようなパネル端子と同
じ間隔をもって接点電極が印刷されているFPC基板で
あっても良い。図2はこの検査ユニット(コンタクトプ
ローブ1と分離用パターンを持つ基板2を組み合わせた
もの)を用いたリーク検査装置の要部構成図である。1
はコンタクトプローブであり、それぞれのプローブは導
電体であり、信号入力用端子3−2に押し付けられたと
き、電気的な導通をとることができる。それぞれのプロ
ーブは図1(a)の配線パターンを持った基板2の接続
域に導電性テープを用いた圧着等により固定され(図1
(b)参照)、電気的につながっている。この検査ユニ
ットはパネルの両辺に対向して2組使用される。片方の
ユニットの基板のT1(図1(b)参照)はもう一方の
基板のT2(図1(b)参照)に外部で短絡されてい
る。そして短絡されなかつたT2とT1にはリード線が
つけられ、2本のリード線は外部の抵抗測定器5の信号
入力に接続されている。検査ユニットはそれぞれZ軸ス
テージ4に取り付けられており、同時に上昇、下降する
ことができる。図中左側のものはステージを下降させた
状態、右側はステージを上昇させた状態を示している。
この例ではユニットが下降してパネル3と接触するよう
になっているがパネル3を裏向け、下からユニットを上
昇させて接触させても良いし、反対にパネル3をZ軸ス
テージ4に置き、パネル3の上昇、下降によってユニッ
トと接触させる構造をとってもかまわない。またこの例
ではZ軸ステージ4はマイクロメータヘッド4−1を用
いて手動で上下を行うが、モータを用いて電気的に制御
し、上下させてもかまわない。3は検査される液晶パネ
ルであり、パネル内の信号線3−1は図3の配置を持
つ。このパネルの位置はコンタクトプローブ1が押し付
けられたとき、各プローブが信号線端子3−1と接触で
きる位置に位置決めされている。次に動作例を説明す
る。マイクロメータヘッド4−1を操作しZ軸ステージ
4を下降させ、2組の検査ユニットのコンタクトプロー
ブ1をパネルの信号入力用端子3−2に押し付け、全て
のプローブ1を端子3−2に接触させる。その状態で抵
抗測定器5の抵抗値を観察する。抵抗値が無限大であれ
ば信号線3−1間にリークがない良品であり、抵抗値が
無限大にならないときは隣合う信号線3−1のどこかで
リークが起こっていると考えられ、リーク不良品と判断
できる。
性を持つ電極として細い針状のコンタクトプローブ1を
用いているが、これは図4に示すようなパネル端子と同
じ間隔をもって接点電極が印刷されているFPC基板で
あっても良い。図2はこの検査ユニット(コンタクトプ
ローブ1と分離用パターンを持つ基板2を組み合わせた
もの)を用いたリーク検査装置の要部構成図である。1
はコンタクトプローブであり、それぞれのプローブは導
電体であり、信号入力用端子3−2に押し付けられたと
き、電気的な導通をとることができる。それぞれのプロ
ーブは図1(a)の配線パターンを持った基板2の接続
域に導電性テープを用いた圧着等により固定され(図1
(b)参照)、電気的につながっている。この検査ユニ
ットはパネルの両辺に対向して2組使用される。片方の
ユニットの基板のT1(図1(b)参照)はもう一方の
基板のT2(図1(b)参照)に外部で短絡されてい
る。そして短絡されなかつたT2とT1にはリード線が
つけられ、2本のリード線は外部の抵抗測定器5の信号
入力に接続されている。検査ユニットはそれぞれZ軸ス
テージ4に取り付けられており、同時に上昇、下降する
ことができる。図中左側のものはステージを下降させた
状態、右側はステージを上昇させた状態を示している。
この例ではユニットが下降してパネル3と接触するよう
になっているがパネル3を裏向け、下からユニットを上
昇させて接触させても良いし、反対にパネル3をZ軸ス
テージ4に置き、パネル3の上昇、下降によってユニッ
トと接触させる構造をとってもかまわない。またこの例
ではZ軸ステージ4はマイクロメータヘッド4−1を用
いて手動で上下を行うが、モータを用いて電気的に制御
し、上下させてもかまわない。3は検査される液晶パネ
ルであり、パネル内の信号線3−1は図3の配置を持
つ。このパネルの位置はコンタクトプローブ1が押し付
けられたとき、各プローブが信号線端子3−1と接触で
きる位置に位置決めされている。次に動作例を説明す
る。マイクロメータヘッド4−1を操作しZ軸ステージ
4を下降させ、2組の検査ユニットのコンタクトプロー
ブ1をパネルの信号入力用端子3−2に押し付け、全て
のプローブ1を端子3−2に接触させる。その状態で抵
抗測定器5の抵抗値を観察する。抵抗値が無限大であれ
ば信号線3−1間にリークがない良品であり、抵抗値が
無限大にならないときは隣合う信号線3−1のどこかで
リークが起こっていると考えられ、リーク不良品と判断
できる。
【0010】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明の検査ユニッ
トを用いれば、従来の検査装置を極簡単に改造するだけ
で、従来の検査と同等の検査をするにも拘わらず、検査
時間を大きく縮めることが可能となり、液晶パネルの生
産性を向上させることができる。
トを用いれば、従来の検査装置を極簡単に改造するだけ
で、従来の検査と同等の検査をするにも拘わらず、検査
時間を大きく縮めることが可能となり、液晶パネルの生
産性を向上させることができる。
【図1】本発明の実施例における信号線を2組に分離す
るための配線パターン図(a)、及びコンタクトプロー
ブと分離用基板の接続方法を示す図(b)である。
るための配線パターン図(a)、及びコンタクトプロー
ブと分離用基板の接続方法を示す図(b)である。
【図2】本発明の実施例における検査装置への応用例説
明のための主要構成図の側面図(a)及び上面図(b)
である。
明のための主要構成図の側面図(a)及び上面図(b)
である。
【図3】液晶パネルの一般的な信号線配列を表す図であ
る。
る。
【図4】コンタクトプローブの代用となるFPCを示す
図である。
図である。
【図5】単純な信号線配列のパネルを示す図である。
1 コンタクトプローブ 2 配線パターン付き基板 21 導電性テープ 3 パネル 4 Z軸ステージ 5 検査装置(抵抗測定器) 3−1 信号線 3−2 信号入力用端子 4−1 マイクロメータヘッド
Claims (1)
- 【請求項1】 液晶パネル検査用ユニットにおいて、信
号線端の端子と検査装置接続用の弾性を有する電極と、
パネル内の隣接する3本ずつの組の信号線端子の中の1
本が他の2本と別な2組に分ける配線パターンを持った
基板が電極と検査装置の間に有することを特徴とする液
晶パネル検査用ユニット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4416693A JPH06258652A (ja) | 1993-03-04 | 1993-03-04 | 液晶パネル検査用ユニット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4416693A JPH06258652A (ja) | 1993-03-04 | 1993-03-04 | 液晶パネル検査用ユニット |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06258652A true JPH06258652A (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=12684011
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4416693A Pending JPH06258652A (ja) | 1993-03-04 | 1993-03-04 | 液晶パネル検査用ユニット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06258652A (ja) |
-
1993
- 1993-03-04 JP JP4416693A patent/JPH06258652A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH06250199A (ja) | 表示装置 | |
JP2834935B2 (ja) | アクティブマトリクス型表示素子及びその製造方法 | |
WO2017168530A1 (ja) | 基板の配線経路の検査方法及び検査システム | |
JPH088023A (ja) | 表示装置およびその接続状態検査方法 | |
JPH06258652A (ja) | 液晶パネル検査用ユニット | |
US4328264A (en) | Method for making apparatus for testing traces on a printed circuit board substrate | |
JPS62269075A (ja) | プリント基板検査装置 | |
JPH0351768A (ja) | ガラス基板テスト用プローブ端子構造およびこれを用いたテスト方法 | |
JPH08222299A (ja) | 導電性接触子ユニット | |
US7049527B1 (en) | Conductor-pattern testing method, and electro-optical device | |
JPH03121413A (ja) | 電極基板の製造方法 | |
JPH09127542A (ja) | 液晶表示装置及びその検査方法 | |
JP3602871B2 (ja) | 表示装置の検査装置および検査方法 | |
JP3150866B2 (ja) | ディスプレイパネル検査用の信号印加装置 | |
JPH0412468Y2 (ja) | ||
JPH02251931A (ja) | アクティブマトリックスアレイ | |
KR20060075173A (ko) | 액정 표시 장치의 테스트 장치 및 그 테스트 방법 | |
JP2673241B2 (ja) | コンタクト検査方法及びプロービング方法 | |
JPS63226688A (ja) | 万線状導体の検査方法 | |
JPH0228567A (ja) | 検査装置 | |
JPH1090359A (ja) | 波形プローブ装置およびこれを用いる検査方法 | |
JP2985432B2 (ja) | 電気的特性検査装置 | |
JPS6345544A (ja) | プリント基板検査装置 | |
JPH05347335A (ja) | プローブカード | |
JPH08297292A (ja) | Cog方式液晶表示パネル |