JPH08222299A - 導電性接触子ユニット - Google Patents
導電性接触子ユニットInfo
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- JPH08222299A JPH08222299A JP5333695A JP5333695A JPH08222299A JP H08222299 A JPH08222299 A JP H08222299A JP 5333695 A JP5333695 A JP 5333695A JP 5333695 A JP5333695 A JP 5333695A JP H08222299 A JPH08222299 A JP H08222299A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 導電性接触子ユニットの導電性接触子を被検
査体の端子用導電パターンの狭ピッチ化に対応可能にす
る。 【構成】 導電性接触子ユニットの本体に設けられた複
数の導電性接触子を、上下にそれぞれ弾発付勢されて突
出する一対の導電性針状体を有する両端可動型にて構成
し、その一方を被検査体の液晶パネルの画素信号端子用
導電パターン２ａに接触させ、他方を検査機器側のフレ
キシブル基板の信号伝送用導電パターンに接触させて、
液晶パネルの特性検査を行う。それら複数の導電性接触
子を、端子用導電パターンの奇数番目と偶数番目とに分
けた各ラインＬ１・Ｌ２別にそれぞれ千鳥配列する。 【効果】 被検査体の端子用導電パターンの狭ピッチ化
に対応し得ると共に、検査信号を奇数番目と偶数番目と
に分けて処理を行う場合に好適に処理できる。
査体の端子用導電パターンの狭ピッチ化に対応可能にす
る。 【構成】 導電性接触子ユニットの本体に設けられた複
数の導電性接触子を、上下にそれぞれ弾発付勢されて突
出する一対の導電性針状体を有する両端可動型にて構成
し、その一方を被検査体の液晶パネルの画素信号端子用
導電パターン２ａに接触させ、他方を検査機器側のフレ
キシブル基板の信号伝送用導電パターンに接触させて、
液晶パネルの特性検査を行う。それら複数の導電性接触
子を、端子用導電パターンの奇数番目と偶数番目とに分
けた各ラインＬ１・Ｌ２別にそれぞれ千鳥配列する。 【効果】 被検査体の端子用導電パターンの狭ピッチ化
に対応し得ると共に、検査信号を奇数番目と偶数番目と
に分けて処理を行う場合に好適に処理できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板や電子
素子等との間に於いて電気信号を授受するのに適する導
電性接触子ユニットに関し、特に、複数の導電性針状体
を用いて多点同時に電気信号の授受を行うのに適する導
電性接触子ユニットに関する。
素子等との間に於いて電気信号を授受するのに適する導
電性接触子ユニットに関し、特に、複数の導電性針状体
を用いて多点同時に電気信号の授受を行うのに適する導
電性接触子ユニットに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、プリント配線板の導体パターンや
電子素子などの電気的検査を行うためのコンタクトプロ
ーブに用いられる導電性接触子には、導電性針状体と、
その針状体を軸線方向に変位自在に受容する筒状のホル
ダとを有し、針状体の先端をホルダの一端から突出させ
る向きにコイルばねにて弾発付勢しておき、針状体の先
端を被測定物に弾発的に接触させるようにしたものがあ
る。
電子素子などの電気的検査を行うためのコンタクトプロ
ーブに用いられる導電性接触子には、導電性針状体と、
その針状体を軸線方向に変位自在に受容する筒状のホル
ダとを有し、針状体の先端をホルダの一端から突出させ
る向きにコイルばねにて弾発付勢しておき、針状体の先
端を被測定物に弾発的に接触させるようにしたものがあ
る。
【０００３】上記したような導電性接触子として、例え
ば実開昭６０−１５４８６８号公報に開示されているよ
うに、一対の導電性針状体をホルダの軸線方向両端にて
それぞれ出没自在にした両端可動型のものがある。この
両端可動型の導電性接触子は、２つの回路基板同士を結
合して製品化するものに於いて、両基板同士を結合する
前に両者間を仮接続して検査を行う際に用いるのに適す
る。
ば実開昭６０−１５４８６８号公報に開示されているよ
うに、一対の導電性針状体をホルダの軸線方向両端にて
それぞれ出没自在にした両端可動型のものがある。この
両端可動型の導電性接触子は、２つの回路基板同士を結
合して製品化するものに於いて、両基板同士を結合する
前に両者間を仮接続して検査を行う際に用いるのに適す
る。
【０００４】そのような検査を行うものとして液晶パネ
ルの点灯検査やアレイ基板検査があり、液晶パネルを構
成するＴＦＴアレイ基板の特性検査の場合には、パネル
点灯駆動用ＬＳＩとしてのＴＡＢ及びＰＣＢ（実装プリ
ント基板）を結合する前工程で、液晶パネルの画素信号
端子用導電パターンの１本ずつに電圧を印加して特性試
験を行っている。その際に、画素信号端子用導電パター
ン数と同数の導電性接触子を用いるため、複数の導電性
接触子を有する導電性接触子ユニットを液晶パネルの端
子用導電パターンを設けられた辺に沿って並べてセット
する。
ルの点灯検査やアレイ基板検査があり、液晶パネルを構
成するＴＦＴアレイ基板の特性検査の場合には、パネル
点灯駆動用ＬＳＩとしてのＴＡＢ及びＰＣＢ（実装プリ
ント基板）を結合する前工程で、液晶パネルの画素信号
端子用導電パターンの１本ずつに電圧を印加して特性試
験を行っている。その際に、画素信号端子用導電パター
ン数と同数の導電性接触子を用いるため、複数の導電性
接触子を有する導電性接触子ユニットを液晶パネルの端
子用導電パターンを設けられた辺に沿って並べてセット
する。
【０００５】ところで、液晶パネルに於いて、画素信号
ライン（Ｘ軸方向）用と走査ライン（Ｙ軸方向）用とに
それぞれ複数のＴＡＢを並べて配設しており、図５
（ａ）に示されるようにＸ軸方向については液晶パネル
の一対の対向する両辺にそれぞれＴＡＢを配設する両Ｔ
ＡＢ型の液晶パネル２２があった。しかしながら、両Ｔ
ＡＢ型のものにあっては、対向する２辺にそれぞれＴＡ
Ｂを配設していることから、液晶パネル２２全体に対す
る表示エリアが狭くなるという問題があり、表示エリア
の拡大または小型化のためにＸ軸・Ｙ軸方向の各一辺の
みにＴＡＢを配設する片ＴＡＢ型の液晶パネル２（図５
（ｂ）参照）が用いられるようになってきた。
ライン（Ｘ軸方向）用と走査ライン（Ｙ軸方向）用とに
それぞれ複数のＴＡＢを並べて配設しており、図５
（ａ）に示されるようにＸ軸方向については液晶パネル
の一対の対向する両辺にそれぞれＴＡＢを配設する両Ｔ
ＡＢ型の液晶パネル２２があった。しかしながら、両Ｔ
ＡＢ型のものにあっては、対向する２辺にそれぞれＴＡ
Ｂを配設していることから、液晶パネル２２全体に対す
る表示エリアが狭くなるという問題があり、表示エリア
の拡大または小型化のためにＸ軸・Ｙ軸方向の各一辺の
みにＴＡＢを配設する片ＴＡＢ型の液晶パネル２（図５
（ｂ）参照）が用いられるようになってきた。
【０００６】前記した特性検査では、奇数番目画素端子
と偶数番目画素端子とに分けて画素検査信号を送るよう
にしており、両ＴＡＢ型液晶パネル２２では奇数番目・
偶数番目用に各辺に分かれて各端子用導電パターン２２
ａ・２２ｂが配設されており、検査機器側の信号も奇数
番目・偶数番目用の基板に分かれて出力されている。従
って、片ＴＡＢ型液晶パネル２に於いても、その片側に
集中する端子用導電パターン２ａの奇数番目画素用と偶
数番面画素用とに分けて検査を行う必要がある。また、
両ＴＡＢ型のものに対して、１辺に画素信号を集中させ
る片ＴＡＢ型のものでは狭ピッチ化に対応し得る導電性
接触子ユニットを用いる必要があるという問題が生じ
た。
と偶数番目画素端子とに分けて画素検査信号を送るよう
にしており、両ＴＡＢ型液晶パネル２２では奇数番目・
偶数番目用に各辺に分かれて各端子用導電パターン２２
ａ・２２ｂが配設されており、検査機器側の信号も奇数
番目・偶数番目用の基板に分かれて出力されている。従
って、片ＴＡＢ型液晶パネル２に於いても、その片側に
集中する端子用導電パターン２ａの奇数番目画素用と偶
数番面画素用とに分けて検査を行う必要がある。また、
両ＴＡＢ型のものに対して、１辺に画素信号を集中させ
る片ＴＡＢ型のものでは狭ピッチ化に対応し得る導電性
接触子ユニットを用いる必要があるという問題が生じ
た。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】このような従来技術の
問題点に鑑み、本発明の主な目的は、被検査体の端子用
導電パターンの狭ピッチ化に対応し得る導電性接触子ユ
ニットを提供することにある。
問題点に鑑み、本発明の主な目的は、被検査体の端子用
導電パターンの狭ピッチ化に対応し得る導電性接触子ユ
ニットを提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】このような目的は、本発
明によれば、被検査体に互いに並列に設けられた複数の
端子用導電パターンと検査機器側の複数の信号伝送用導
電パターンとを互いに電気的に接続するための複数の導
電性接触子を有する導電性接触子ユニットであって、前
記導電性接触子が、絶縁性支持部材に設けた貫通孔内に
同軸的に受容された導電性圧縮コイルばねと、前記貫通
孔の両開口端から出没可能なように前記圧縮コイルばね
の両端に結合された一対の導電性針状体とからなると共
に、前記複数の端子用導電パターンに対応しかつ前記複
数の端子用導電パターンの奇数番目に対応するものと偶
数番目に対応するもの同士が互い違いになるように千鳥
状に配設されていることを特徴とする導電性接触子ユニ
ットを提供することにより達成される。特に、前記複数
の導電性接触子の各前記一対の導電性針状体の前記信号
伝送用導電パターンに接触する方が、前記複数の端子用
導電パターンの奇数番目に対応するものと偶数番目に対
応するもの同士間で突出方向に段違いにされ、前記複数
の信号伝送用導電パターンの前記奇数番目に対応するも
の同士と前記偶数番目に対応するもの同士とが互いに重
なり合うようにされた別々の基板に設けられているこ
と、また、前記複数の導電性接触子が、前記奇数番目に
対応する奇数列と前記偶数番目に対応する偶数列とに分
けられ、該各列内に於いて隣り合うもの同士が前記端子
用導電パターンの延在方向に相対的にずれるように配設
されていると良い。
明によれば、被検査体に互いに並列に設けられた複数の
端子用導電パターンと検査機器側の複数の信号伝送用導
電パターンとを互いに電気的に接続するための複数の導
電性接触子を有する導電性接触子ユニットであって、前
記導電性接触子が、絶縁性支持部材に設けた貫通孔内に
同軸的に受容された導電性圧縮コイルばねと、前記貫通
孔の両開口端から出没可能なように前記圧縮コイルばね
の両端に結合された一対の導電性針状体とからなると共
に、前記複数の端子用導電パターンに対応しかつ前記複
数の端子用導電パターンの奇数番目に対応するものと偶
数番目に対応するもの同士が互い違いになるように千鳥
状に配設されていることを特徴とする導電性接触子ユニ
ットを提供することにより達成される。特に、前記複数
の導電性接触子の各前記一対の導電性針状体の前記信号
伝送用導電パターンに接触する方が、前記複数の端子用
導電パターンの奇数番目に対応するものと偶数番目に対
応するもの同士間で突出方向に段違いにされ、前記複数
の信号伝送用導電パターンの前記奇数番目に対応するも
の同士と前記偶数番目に対応するもの同士とが互いに重
なり合うようにされた別々の基板に設けられているこ
と、また、前記複数の導電性接触子が、前記奇数番目に
対応する奇数列と前記偶数番目に対応する偶数列とに分
けられ、該各列内に於いて隣り合うもの同士が前記端子
用導電パターンの延在方向に相対的にずれるように配設
されていると良い。
【０００９】
【作用】このようにすれば、導電性接触子ユニットに複
数の導電性接触子が被検査体の端子用導電パターンの奇
数番目と偶数番目とに分けてそれぞれ互い違いになるよ
うに千鳥状に配設されていることから、互いの干渉を回
避しかつ端子用導電パターンのピッチ方向に好適に狭ピ
ッチ化することができる。また、一対の導電性針状体の
信号伝送用導電パターンに接触する方を、複数の端子用
導電パターンの奇数番目に対応するものと偶数番目に対
応するもの同士間で突出方向に段違いにすると共に、互
いに重なり合うようにされた別々の基板にそれぞれ信号
伝送用導電パターンを設けかつ奇数番目用と偶数番目用
とに分けることにより、狭ピッチ化した信号伝送用導電
パターンの基板を作ることなく対応し得る。また、導電
性接触子を奇数番目に対応する奇数列と偶数番目に対応
する偶数列とに分け、各列内に於いて隣り合うもの同士
を端子用導電パターンの延在方向に相対的にずれるよう
に配設することにより、より一層狭ピッチ化し得る。
数の導電性接触子が被検査体の端子用導電パターンの奇
数番目と偶数番目とに分けてそれぞれ互い違いになるよ
うに千鳥状に配設されていることから、互いの干渉を回
避しかつ端子用導電パターンのピッチ方向に好適に狭ピ
ッチ化することができる。また、一対の導電性針状体の
信号伝送用導電パターンに接触する方を、複数の端子用
導電パターンの奇数番目に対応するものと偶数番目に対
応するもの同士間で突出方向に段違いにすると共に、互
いに重なり合うようにされた別々の基板にそれぞれ信号
伝送用導電パターンを設けかつ奇数番目用と偶数番目用
とに分けることにより、狭ピッチ化した信号伝送用導電
パターンの基板を作ることなく対応し得る。また、導電
性接触子を奇数番目に対応する奇数列と偶数番目に対応
する偶数列とに分け、各列内に於いて隣り合うもの同士
を端子用導電パターンの延在方向に相対的にずれるよう
に配設することにより、より一層狭ピッチ化し得る。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の好適実施例を添付の図面につ
いて詳しく説明する。
いて詳しく説明する。
【００１１】図１は本発明に基づく導電性接触子ユニッ
ト１の模式的側断面図であり、図２は図１のII−II線に
沿って見た断面図である。本導電性接触子ユニット１
は、被検査体としての液晶パネル２にパネル点灯駆動Ｌ
ＳＩとしてのＴＡＢを結合する前工程で行う特性検査に
用いられるものである。特性検査としては、従来例で示
したように液晶パネルの画素信号端子用導電パターンの
１本ずつに電圧を印加して特性試験を行っている。
ト１の模式的側断面図であり、図２は図１のII−II線に
沿って見た断面図である。本導電性接触子ユニット１
は、被検査体としての液晶パネル２にパネル点灯駆動Ｌ
ＳＩとしてのＴＡＢを結合する前工程で行う特性検査に
用いられるものである。特性検査としては、従来例で示
したように液晶パネルの画素信号端子用導電パターンの
１本ずつに電圧を印加して特性試験を行っている。
【００１２】図に示されるように、本導電性接触子ユニ
ット１は、液晶パネル２のセルの画素信号用の複数の端
子用導電パターン２ａの１本ずつに接触させるための複
数の導電性接触子３を板状の絶縁体を積層した本体４に
より支持している。本体４は、図に於ける下側から、比
較的薄い板状の合成樹脂製の下側絶縁体５と、比較的厚
い板状の２枚の合成樹脂製中間絶縁体６・７と、比較的
薄い板状の合成樹脂製の上側絶縁体８とをこの順に積層
して形成されている。それら積層された各絶縁体５〜８
を上下方向に貫通するように導電性接触子３が設けられ
ている。
ット１は、液晶パネル２のセルの画素信号用の複数の端
子用導電パターン２ａの１本ずつに接触させるための複
数の導電性接触子３を板状の絶縁体を積層した本体４に
より支持している。本体４は、図に於ける下側から、比
較的薄い板状の合成樹脂製の下側絶縁体５と、比較的厚
い板状の２枚の合成樹脂製中間絶縁体６・７と、比較的
薄い板状の合成樹脂製の上側絶縁体８とをこの順に積層
して形成されている。それら積層された各絶縁体５〜８
を上下方向に貫通するように導電性接触子３が設けられ
ている。
【００１３】両中間絶縁体６・７には比較的大径の支持
孔６ａ・７ａが同軸的に連通して形成され、下側及び上
側の各絶縁体５・８内には支持孔６ａ・７ａよりも若干
縮径された小径孔５ａ・８ａが同軸的に形成されてい
る。支持孔６ａ・７ａ内には導電性コイルばね９が同軸
的にかつある程度圧縮された状態で受容されており、そ
のコイルばね９の軸線方向両端部に、互いに相反する向
きに突出する下側及び上側の各導電性針状体１０・１１
ａがそれぞれ結合されている。
孔６ａ・７ａが同軸的に連通して形成され、下側及び上
側の各絶縁体５・８内には支持孔６ａ・７ａよりも若干
縮径された小径孔５ａ・８ａが同軸的に形成されてい
る。支持孔６ａ・７ａ内には導電性コイルばね９が同軸
的にかつある程度圧縮された状態で受容されており、そ
のコイルばね９の軸線方向両端部に、互いに相反する向
きに突出する下側及び上側の各導電性針状体１０・１１
ａがそれぞれ結合されている。
【００１４】各導電性針状体１０・１１ａは、支持孔６
ａ・７ａ内に受容された部分に小径孔５ａ・８ａよりも
大径の外向フランジ部を有し、外向フランジ部から同軸
的に支持孔６ａ・７ａ内側に突出する軸部に前記コイル
ばね９の軸線方向端部を巻着かつ半田付けされている。
また、各絶縁体５〜８を上下に貫通する位置決めピン
（図示せず）により、支持孔６ａ・７ａ及び各小径孔５
ａ・８ａ同士が同軸に整合され、例えばねじ（図示せ
ず）により各絶縁体５〜８同士が互いに密着状態に固定
されて、本体４が一体化されている。
ａ・７ａ内に受容された部分に小径孔５ａ・８ａよりも
大径の外向フランジ部を有し、外向フランジ部から同軸
的に支持孔６ａ・７ａ内側に突出する軸部に前記コイル
ばね９の軸線方向端部を巻着かつ半田付けされている。
また、各絶縁体５〜８を上下に貫通する位置決めピン
（図示せず）により、支持孔６ａ・７ａ及び各小径孔５
ａ・８ａ同士が同軸に整合され、例えばねじ（図示せ
ず）により各絶縁体５〜８同士が互いに密着状態に固定
されて、本体４が一体化されている。
【００１５】各導電性針状体１０・１１ａは、本体４に
組み付けられた自然状態で上下方向にそれぞれ弾発付勢
されて所定量突出するように、各導電性針状体１０・１
１ａの各外向フランジ部が、支持孔６ａ・７ａ側から下
側及び上側絶縁体５・８に衝当して抜け止めされてい
る。このようにして、両端可動型の導電性接触子３が構
成されている。
組み付けられた自然状態で上下方向にそれぞれ弾発付勢
されて所定量突出するように、各導電性針状体１０・１
１ａの各外向フランジ部が、支持孔６ａ・７ａ側から下
側及び上側絶縁体５・８に衝当して抜け止めされてい
る。このようにして、両端可動型の導電性接触子３が構
成されている。
【００１６】本発明に基づく導電性接触子ユニット１に
あっては、導電性接触子３が図３に示されるように端子
用導電パターン２ａの奇数番目と偶数番目とにそれぞれ
対応する２ラインＬ１・Ｌ２に分けられ、更に各ライン
Ｌ１・Ｌ２毎に千鳥状に配設されている。なお、図３で
は１番目から８番目までの導電性接触子３1〜３8の配列
状態を示している。このように導電性接触子３1〜３8を
千鳥配列にすることにより、各導電性接触子３1〜３8の
隣り合うもの同士が端子用導電パターン２ａの延在方向
にずれるため、導電性接触子を細径化することなく、片
ＴＡＢ型のものに於ける端子用導電パターン２ａの狭ピ
ッチ化に十分に対応し得る。
あっては、導電性接触子３が図３に示されるように端子
用導電パターン２ａの奇数番目と偶数番目とにそれぞれ
対応する２ラインＬ１・Ｌ２に分けられ、更に各ライン
Ｌ１・Ｌ２毎に千鳥状に配設されている。なお、図３で
は１番目から８番目までの導電性接触子３1〜３8の配列
状態を示している。このように導電性接触子３1〜３8を
千鳥配列にすることにより、各導電性接触子３1〜３8の
隣り合うもの同士が端子用導電パターン２ａの延在方向
にずれるため、導電性接触子を細径化することなく、片
ＴＡＢ型のものに於ける端子用導電パターン２ａの狭ピ
ッチ化に十分に対応し得る。
【００１７】また、本発明に基づく導電性接触子ユニッ
ト１にあっては、図１・図２に於ける上側に突出する複
数の導電性針状体の奇数番目の導電性針状体１１ａを、
偶数番目の導電性針状体１１ｂよりも上側に突出するよ
うに長くしており、両者間で突出方向に段違いになって
いる。そして、長い方である奇数番目の導電性針状体１
１ａが、上側絶縁板１２の下面に貼着されたフレキシブ
ル基板１３の奇数番目用信号伝送用導電パターン１３ａ
に接触し、短い方である偶数番目の導電性針状体１１ｂ
が、下側絶縁板１４の下面に貼着されたフレキシブル基
板１５の偶数番目用信号伝送用導電パターン１５ａに接
触するように、下側絶縁板１４の上に上側絶縁板１２が
重ね合わされる。また、長い方である奇数番目の導電性
針状体１１ａは、下側絶縁板１４の貫通孔により軸線方
向に往復動自在に支持されている。なお、図１及び図２
の状態は、本体４に各絶縁板１２・１４を取り付ける前
の組み付け途中の状態を示しており、組立後には本体４
に各絶縁板１２・１４が積層され、それぞれが一体化さ
れる。
ト１にあっては、図１・図２に於ける上側に突出する複
数の導電性針状体の奇数番目の導電性針状体１１ａを、
偶数番目の導電性針状体１１ｂよりも上側に突出するよ
うに長くしており、両者間で突出方向に段違いになって
いる。そして、長い方である奇数番目の導電性針状体１
１ａが、上側絶縁板１２の下面に貼着されたフレキシブ
ル基板１３の奇数番目用信号伝送用導電パターン１３ａ
に接触し、短い方である偶数番目の導電性針状体１１ｂ
が、下側絶縁板１４の下面に貼着されたフレキシブル基
板１５の偶数番目用信号伝送用導電パターン１５ａに接
触するように、下側絶縁板１４の上に上側絶縁板１２が
重ね合わされる。また、長い方である奇数番目の導電性
針状体１１ａは、下側絶縁板１４の貫通孔により軸線方
向に往復動自在に支持されている。なお、図１及び図２
の状態は、本体４に各絶縁板１２・１４を取り付ける前
の組み付け途中の状態を示しており、組立後には本体４
に各絶縁板１２・１４が積層され、それぞれが一体化さ
れる。
【００１８】このようにして組み立てられた導電性接触
子ユニット１を使用して特性検査を行う際には、導電性
接触子３を端子用導電パターン２ａと同数になるように
設けるべく、例えばＴＡＢと略同一幅の大きさに小ユニ
ット化された導電性接触子ユニット１を例えば図示され
ない支持枠に並列に必要数並べてセットする。なお、前
記したように、信号伝送用導電パターン１３ａ・１５ａ
を奇数番目用と偶数番目用とに分けることができ、それ
ぞれのフレキシブル基板１３・１５を別個に引き回すこ
とができるため、従来の両ＴＡＢ型に使用していたフレ
キシブル基板をそのまま流用することができ、奇数番目
と偶数番目とに振り分けるための中継基板などを設ける
必要がない。また、信号伝送用導電パターン１３ａ・１
５ａにあっては、端子用導電パターン２ａに対して２倍
のピッチで形成できるため、狭ピッチ化によるパターン
の加工困難性を回避でき、検査機器側の信頼性を向上し
得る。更に、検査機器の信号処理関係も変更する必要が
無く、両ＴＡＢ型と片ＴＡＢ型とが混在する検査ライン
にも同一の検査機器で特性検査を行うことができる。
子ユニット１を使用して特性検査を行う際には、導電性
接触子３を端子用導電パターン２ａと同数になるように
設けるべく、例えばＴＡＢと略同一幅の大きさに小ユニ
ット化された導電性接触子ユニット１を例えば図示され
ない支持枠に並列に必要数並べてセットする。なお、前
記したように、信号伝送用導電パターン１３ａ・１５ａ
を奇数番目用と偶数番目用とに分けることができ、それ
ぞれのフレキシブル基板１３・１５を別個に引き回すこ
とができるため、従来の両ＴＡＢ型に使用していたフレ
キシブル基板をそのまま流用することができ、奇数番目
と偶数番目とに振り分けるための中継基板などを設ける
必要がない。また、信号伝送用導電パターン１３ａ・１
５ａにあっては、端子用導電パターン２ａに対して２倍
のピッチで形成できるため、狭ピッチ化によるパターン
の加工困難性を回避でき、検査機器側の信頼性を向上し
得る。更に、検査機器の信号処理関係も変更する必要が
無く、両ＴＡＢ型と片ＴＡＢ型とが混在する検査ライン
にも同一の検査機器で特性検査を行うことができる。
【００１９】前記実施例では、導電性接触子３を、端子
用導電パターン２ａの奇数番目と偶数番目とにそれぞれ
対応する２ラインＬ１・Ｌ２に分け、更に各ラインＬ１
・Ｌ２毎に千鳥状に配設した４段千鳥配列にしたが、４
段に限るものではなく、例えば図４に示されるように各
ラインＬ１・Ｌ２毎に導電性接触子を３段にずらしたパ
ターンを繰り返すようにした６段千鳥配列にしても良
い。更に、その段数を限るものではなく、最小では奇数
番目・偶数番目を交互に千鳥状にずらす２段から、端子
用導電パターン２ａの延在方向長さに左右されるが、８
段以上に多段化しても良い。
用導電パターン２ａの奇数番目と偶数番目とにそれぞれ
対応する２ラインＬ１・Ｌ２に分け、更に各ラインＬ１
・Ｌ２毎に千鳥状に配設した４段千鳥配列にしたが、４
段に限るものではなく、例えば図４に示されるように各
ラインＬ１・Ｌ２毎に導電性接触子を３段にずらしたパ
ターンを繰り返すようにした６段千鳥配列にしても良
い。更に、その段数を限るものではなく、最小では奇数
番目・偶数番目を交互に千鳥状にずらす２段から、端子
用導電パターン２ａの延在方向長さに左右されるが、８
段以上に多段化しても良い。
【００２０】
【発明の効果】このように本発明によれば、導電性接触
子を千鳥状に配設したことから、被検査体の端子用導電
パターンの狭ピッチ化に好適に対応し得ると共に、パタ
ーンの奇数番目と偶数番目とに分けたことから、奇数番
目と偶数番目とに分けた信号処理を行う場合に特に好適
に対応し得る。また、導電性接触子の信号伝送用導電パ
ターンに接触する方を奇数番目と偶数番目との間で突出
方向に段違いにして、それぞれの信号伝送用導電パター
ンを互いに重なり合うようにされた別々の基板に設ける
ことにより、奇数番目と偶数番目との信号を何ら問題な
く処理できる。さらに、奇数番目の列と偶数番目の列と
のそれぞれ中で導電性接触子をずらすことにより、より
一層狭ピッチ化に対応し得る。
子を千鳥状に配設したことから、被検査体の端子用導電
パターンの狭ピッチ化に好適に対応し得ると共に、パタ
ーンの奇数番目と偶数番目とに分けたことから、奇数番
目と偶数番目とに分けた信号処理を行う場合に特に好適
に対応し得る。また、導電性接触子の信号伝送用導電パ
ターンに接触する方を奇数番目と偶数番目との間で突出
方向に段違いにして、それぞれの信号伝送用導電パター
ンを互いに重なり合うようにされた別々の基板に設ける
ことにより、奇数番目と偶数番目との信号を何ら問題な
く処理できる。さらに、奇数番目の列と偶数番目の列と
のそれぞれ中で導電性接触子をずらすことにより、より
一層狭ピッチ化に対応し得る。
【図１】本発明が適用された導電性接触子ユニットの組
立途中の状態を示す側断面図。
立途中の状態を示す側断面図。
【図２】図１のII−II線に沿って見た縦断面図。
【図３】本発明に基づく導電性接触子の配列状態を示す
図。
図。
【図４】本発明に基づく導電性接触子の配列状態の別の
実施例を示す図。
実施例を示す図。
【図５】（ａ）は被検査体としての両ＴＡＢ型液晶パネ
ルを示す平面図であり、（ｂ）は片ＴＡＢ型液晶パネル
を示す平面図。
ルを示す平面図であり、（ｂ）は片ＴＡＢ型液晶パネル
を示す平面図。
１ 導電性接触子ユニット ２ 液晶パネル ２ａ 端子用導電パターン ３ 導電性接触子 ４ 本体 ５ 下側絶縁体 ５ａ 小径孔 ６・７ 中間絶縁体 ６ａ・７ａ 支持孔 ８ 上側絶縁体 ８ａ 小径孔 ９ コイルばね １０ 導電性針状体 １１ａ・１１ｂ 導電性針状体 １２ 上側絶縁板 １３ フレキシブル基板 １３ａ 信号伝送用導電パターン １４ 下側絶縁板 １５ フレキシブル基板 １５ａ 信号伝送用導電パターン ２２ 液晶パネル ２２ａ・２２ｂ 端子用導電パターン
Claims (3)
- 【請求項１】 被検査体に互いに並列に設けられた複数
の端子用導電パターンと検査機器側の複数の信号伝送用
導電パターンとを互いに電気的に接続するための複数の
導電性接触子を有する導電性接触子ユニットであって、 前記導電性接触子が、絶縁性支持部材に設けた貫通孔内
に同軸的に受容された導電性圧縮コイルばねと、前記貫
通孔の両開口端から出没可能なように前記圧縮コイルば
ねの両端に結合された一対の導電性針状体とからなると
共に、前記複数の端子用導電パターンに対応しかつ前記
複数の端子用導電パターンの奇数番目に対応するものと
偶数番目に対応するもの同士が互い違いになるように千
鳥状に配設されていることを特徴とする導電性接触子ユ
ニット。 - 【請求項２】 前記複数の導電性接触子の各前記一対の
導電性針状体の前記信号伝送用導電パターンに接触する
方が、前記複数の端子用導電パターンの奇数番目に対応
するものと偶数番目に対応するもの同士間で突出方向に
段違いにされ、前記複数の信号伝送用導電パターンの前
記奇数番目に対応するもの同士と前記偶数番目に対応す
るもの同士とが互いに重なり合うようにされた別々の基
板に設けられていることを特徴とする請求項１に記載の
導電性接触子ユニット。 - 【請求項３】 前記複数の導電性接触子が、前記奇数番
目に対応する奇数列と前記偶数番目に対応する偶数列と
に分けられ、該各列内に於いて隣り合うもの同士が前記
端子用導電パターンの延在方向に相対的にずれるように
配設されていることを特徴とする請求項１若しくは請求
項２に記載の導電性接触子ユニット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05333695A JP3561322B2 (ja) | 1995-02-17 | 1995-02-17 | 導電性接触子ユニット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05333695A JP3561322B2 (ja) | 1995-02-17 | 1995-02-17 | 導電性接触子ユニット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08222299A true JPH08222299A (ja) | 1996-08-30 |
| JP3561322B2 JP3561322B2 (ja) | 2004-09-02 |
Family
ID=12939913
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05333695A Expired - Fee Related JP3561322B2 (ja) | 1995-02-17 | 1995-02-17 | 導電性接触子ユニット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3561322B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004086132A1 (ja) * | 2003-03-26 | 2004-10-07 | Nhk Spring Co., Ltd. | 液晶パネル用検査装置 |
| WO2004097435A1 (ja) * | 2003-04-25 | 2004-11-11 | Nhk Spring Co., Ltd. | 液晶パネル用検査装置 |
| JP2008281360A (ja) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット及び検査装置 |
| JP2010054487A (ja) * | 2008-08-26 | 2010-03-11 | Isao Kimoto | プローバ装置 |
| US8138777B2 (en) | 2008-10-21 | 2012-03-20 | Renesas Electronics Corporation | TCP-type semiconductor device and method of testing thereof |
| US8310068B2 (en) | 2009-08-26 | 2012-11-13 | Renesas Electronics Corporation | TCP-type semiconductor device |
| CN102981094A (zh) * | 2012-11-23 | 2013-03-20 | 深圳莱宝高科技股份有限公司 | 一种面板测试装置 |
-
1995
- 1995-02-17 JP JP05333695A patent/JP3561322B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004086132A1 (ja) * | 2003-03-26 | 2004-10-07 | Nhk Spring Co., Ltd. | 液晶パネル用検査装置 |
| KR101011424B1 (ko) * | 2003-03-26 | 2011-01-28 | 니혼 하츠쵸 가부시키가이샤 | 액정패널용 검사장치 |
| WO2004097435A1 (ja) * | 2003-04-25 | 2004-11-11 | Nhk Spring Co., Ltd. | 液晶パネル用検査装置 |
| KR100774016B1 (ko) * | 2003-04-25 | 2007-11-08 | 니혼 하츠쵸 가부시키가이샤 | 액정패널용 검사장치 |
| CN100434925C (zh) * | 2003-04-25 | 2008-11-19 | 日本发条株式会社 | 液晶面板用检查装置 |
| JP2008281360A (ja) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット及び検査装置 |
| JP2010054487A (ja) * | 2008-08-26 | 2010-03-11 | Isao Kimoto | プローバ装置 |
| US8138777B2 (en) | 2008-10-21 | 2012-03-20 | Renesas Electronics Corporation | TCP-type semiconductor device and method of testing thereof |
| US8890561B2 (en) | 2008-10-21 | 2014-11-18 | Renesas Electronics Corporation | TCP-type semiconductor device and method of testing thereof |
| US8310068B2 (en) | 2009-08-26 | 2012-11-13 | Renesas Electronics Corporation | TCP-type semiconductor device |
| CN102981094A (zh) * | 2012-11-23 | 2013-03-20 | 深圳莱宝高科技股份有限公司 | 一种面板测试装置 |
| CN102981094B (zh) * | 2012-11-23 | 2016-04-13 | 深圳莱宝高科技股份有限公司 | 一种面板测试装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3561322B2 (ja) | 2004-09-02 |
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