JP2003322872A - 液晶表示素子の点灯検査方法 - Google Patents

液晶表示素子の点灯検査方法

Info

Publication number
JP2003322872A
JP2003322872A JP2002128171A JP2002128171A JP2003322872A JP 2003322872 A JP2003322872 A JP 2003322872A JP 2002128171 A JP2002128171 A JP 2002128171A JP 2002128171 A JP2002128171 A JP 2002128171A JP 2003322872 A JP2003322872 A JP 2003322872A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
liquid crystal
electrode leads
lighting
display element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2002128171A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazunaga Taguchi
和永 田口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Seiki Co Ltd
Kyocera Display Corp
Original Assignee
Nippon Seiki Co Ltd
Kyocera Display Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Seiki Co Ltd, Kyocera Display Corp filed Critical Nippon Seiki Co Ltd
Priority to JP2002128171A priority Critical patent/JP2003322872A/ja
Publication of JP2003322872A publication Critical patent/JP2003322872A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 COG型の液晶表示素子において、その端子
部の電極リードが狭ピッチの高精細パターンであって
も、高価なプローブピンを必要とすることなく、容易に
点灯検査が行えるようにする。 【解決手段】 端子部に形成された電極リードを長さが
長い方の電極リードRaと、長さが短い方の電極リード
Rbとし、所定の長さを有するプローバーを用いて、長
さが長い方の各電極リードRaに点灯電圧を同時に印加
してリーク検査を行い、また、同じプローバーを用い
て、長さに関わらず各グループに属するすべての電極リ
ードに対して同時に点灯電圧を印加して断線検査を行
う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示素子の点
灯検査方法に関し、さらに詳しく言えば、COG型の液
晶表示素子で点灯検査を容易に行えるようにする技術に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】COG(chip on glass)
型の液晶表示素子においては、図3に例示するように、
端子部に液晶駆動用のチップ部品(LSIなど)が実装
される部品実装領域MAが設定され、その部品実装領域
MA内からチップ部品の各接続端子(バンプ)と接続さ
れる複数本の電極リードRが表示部内の透明電極側に引
き出されている。
【0003】表示部内の透明電極の点灯検査は、各電極
リードRに所定の点灯電圧を印加することにより行われ
る。この点灯検査には、各透明電極間の短絡の有無を調
べるリーク検査と、各透明電極の断線の有無を調べる断
線検査とが含まれる。
【0004】リーク検査では透明電極の1本おきに点灯
電圧を印加する。例えば、奇数番目の透明電極に点灯電
圧を印加し、偶数番目の透明電極で点灯しているものが
あればリーク有りと判定する。これに対して、断線検査
では例えばすべての透明電極に点灯電圧を印加し、不灯
のものがあるかどうかを見る。
【0005】なお、リーク検査でも、点灯電圧を印加し
たにも関わらず点灯しないものがあれば断線と判定でき
るため、断線検査時には、すべての透明電極に点灯電圧
を印加するのではなく、リーク検査で点灯電圧が印加さ
れなかった残りの透明電極に対して点灯電圧を印加する
方法もある。
【0006】いずれにしても、多くの場合、点灯検査は
プローブピンを各電極リードに接触させて行っている。
プローブピンの駆動方式には、プローブピンを移動させ
るフライング方式(X−Y方式)と、多数のプローブピ
ンをピンボードに植設して一度にすべての電極リードに
接触させるピンボード方式とが知られている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】両方式にはそれぞれ一
長一短がある。すなわち、フライング方式は少量多品種
の場合に好適であるが、すべての電極リードの検査を終
えるまでに時間がかかる。ピンボード方式によれば、プ
ローブピンが各電極リードごとに配置されているため検
査時間は短くて済むが、ピンボードの作製費用が高い。
したがって、少量多品種向きではない。
【0008】そればかりでなく、液晶表示素子の小型化
に伴って、電極リードのピッチ間隔もますます狭くなっ
てきており、従来のピンプローブの位置合わせ精度で
は、その対応が限界近くにきている。
【0009】したがって、本発明の課題は、COG型の
液晶表示素子において、その端子部の電極リードが狭ピ
ッチの高精細パターンであっても、高価なプローブピン
を必要とすることなく、容易に点灯検査が行えるように
することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、端子部に液晶駆動用のチップ部品が実装
される部品実装領域を有し、上記部品実装領域内から上
記チップ部品の各接続端子と接続される複数本の電極リ
ードを表示部内の透明電極側に引き出してなる液晶表示
素子の点灯検査方法において、上記部品実装領域の各辺
ごとに、上記各電極リードを仮想的に奇数番目グループ
と偶数番目グループとに分け、上記部品実装領域内にお
ける各電極リードの長さを、いずれか一方のグループに
属する電極リードの方が、いずれか他方のグループに属
する電極リードよりも所定寸法だけ延長された長さと
し、所定の長さを有するプローブバーを用いて、長さが
長い方の各電極リードに同時に点灯電圧を印加してリー
ク検査を行い、また、同じプローブバーを用いて、長さ
に関わらず各グループに属するすべての電極リードに対
して同時に点灯電圧を印加して断線検査を行うことを特
徴としている。
【0011】また、好ましい態様として、上記プローブ
バーが、所定幅のベタパターンよりなる接触電極を有す
るフレキシブル基板と、上記フレキシブル基板を支持し
て上記端子部に対して昇降可能なホルダと、上記フレキ
シブル基板の一部分を上記端子部に弾性的に押圧するゴ
ム弾性体と、上記フレキシブル基板を上記ホルダの上面
から上記ゴム弾性体および上記ホルダの底面にかけて支
持する基板支持手段とを備えている。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
説明する。図1に示すように、本発明における液晶表示
素子も、端子部にLSIなどの液晶駆動用のチップ部品
が実装される部品実装領域MAが設定され、その部品実
装領域MA内からチップ部品の各接続端子(バンプ)と
接続される複数本の電極リードRが表示部内の透明電極
側に引き出されるが、この場合、長さの長い電極リード
Raと、長さの短い電極リードRbとが交互に配置され
ている。なお、ここで言う電極リードの長さとは、部品
実装領域MA内の長さであって、透明電極側に至る引き
回し配線長ではない。
【0013】部品実装領域MAの図1における上辺側の
電極リードについて説明すると、この例では偶数番目の
電極リードRaが、奇数番目の電極リードRbよりも長
く形成されている。他の辺の電極リードについても、隣
接する電極リード同士が同様な長さ関係となっている。
なお、実装されるチップ部品によっては、電極リードが
部品実装領域MAの4辺すべてに配置される場合もある
し、1辺,2辺もしくは3辺だけの場合もあり得る。
【0014】本発明の点灯検査には、図2に示すような
プローバー10が用いられる。プローバー10を構成す
るフレキシブル基板20は、ホルダ11の上面から側面
および底面にかけて添設されている。ホルダ11は、液
晶表示素子の端子部と対向する部位に配置され、フレキ
シブル基板20の一部分を端子部に弾性的に押圧するゴ
ム弾性体12を備えている。この例において、ゴム弾性
体12は断面三角形状で、その一つの頂点部分が端子部
と対向するようにホルダ11の角部に取り付けられてい
る。
【0015】ホルダ11の上面には、フレキシブル基板
20の給電端子13aを有するコネクタ13と、フレキ
シブル基板20を押さえ付けて固定する固定板14とが
設けられている。また、ホルダ11の下面側にも、フレ
キシブル基板20を押さえ付けて固定する固定板15が
設けられている。ホルダ11に対する固定板14,15
の取付手段は、いずれもネジ止めである。
【0016】フレキシブル基板20は、端子部に形成さ
れている電極リードの複数本にわたって同時に接触可能
な所定幅のベタパターンよりなる接触電極を備えてい
る。例えば部品実装領域MAの図1における上辺側の電
極リード用の場合には、図示2点鎖線で示すように、右
端の電極リードから左端の電極リードにまで至る長さを
有している。幅は任意であるが、できるだけ狭い方が好
ましい。
【0017】フレキシブル基板20はコネクタ13の下
に通される。コネクタ13には、接触電極21に対応す
る給電端子13aが設けられている。この例では、各給
電端子13aはねじ込み可能なボルト形状である。フレ
キシブル基板20は固定板14,15によりホルダ11
に固定されるが、固定板14,15のボルトを緩めるこ
とにより適宜動かすことができる。
【0018】点灯検査は、コネクタ13からフレキシブ
ル基板20に給電した状態で、図示しない昇降手段にて
プローバー10を下降させて、接触電極を対応する電極
リードに接触させることにより行う。この場合、ホルダ
11にはゴム弾性体12が設けられているため、十分な
接触面積が確保される。
【0019】また、接触電極がベタパターンであること
から、高い位置合わせ精度も要求されない。なお、接触
電極が摩耗した場合には、固定板14,15を緩めてゴ
ム弾性体12に対するフレキシブル基板20の位置をず
らせばよい。
【0020】点灯検査を行うには、例えば最初に、プロ
ーブバーを長さの長い方の電極リードRaのみに接触す
る位置Aに置く。これにより、電極リードの1本おきに
点灯電圧が印加され、表示部内の透明電極間のリーク検
査を行うことができる。
【0021】なお、このリーク検査時おいて、プローブ
バーの短い方の電極リードRbに対する誤接触を防止す
るため、長い方の電極リードRaと短い方の電極リード
Rbとの長さの差は0.2mm以上であることが好まし
い。
【0022】次に、プローブバーを長さの短い方の電極
リードRbにも接触する位置Bに置く。この位置Bで
は、プローブバーから上辺側にある長・短含めてすべて
の電極リードに点灯電圧が印加されるため、表示部内の
透明電極の断線検査を行うことができる。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
COG型の液晶表示素子において、部品実装領域の各辺
に、長さの長い電極リードと長さの短い電極リードとを
交互に配置するようにしたことにより、電極リードが狭
ピッチの高精細パターンであっても、高価なプローブピ
ンを必要とすることなく、容易に点灯検査を行うことが
できる。また、検査時間もピンボード方式なみに短時間
で澄ませられ、しかも高い位置合わせ精度が要求される
こともない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の要部である部品実装領域の電極リード
の構成を示した模式図。
【図2】本発明に用いるプローバの断面図。
【図3】従来例を説明するための図1と同様の模式図。
【符号の説明】
10 プローバー 11 ホルダ 12 ゴム弾性体 13 コネクタ 14,15 固定板 20 フレキシブル基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H088 FA12 FA16 FA24 FA30 HA02 HA05 MA04 MA16 2H092 MA56 MA57 NA14 NA15 NA16 NA25 NA27 NA30

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 端子部に液晶駆動用のチップ部品が実装
    される部品実装領域を有し、上記部品実装領域内から上
    記チップ部品の各接続端子と接続される複数本の電極リ
    ードを表示部内の透明電極側に引き出してなる液晶表示
    素子の点灯検査方法において、 上記部品実装領域の各辺ごとに、上記各電極リードを仮
    想的に奇数番目グループと偶数番目グループとに分け、
    上記部品実装領域内における各電極リードの長さを、い
    ずれか一方のグループに属する電極リードの方が、いず
    れか他方のグループに属する電極リードよりも所定寸法
    だけ延長された長さとし、所定の長さを有するプローブ
    バーを用いて、長さが長い方の各電極リードに同時に点
    灯電圧を印加してリーク検査を行い、また、同じプロー
    ブバーを用いて、長さに関わらず各グループに属するす
    べての電極リードに対して同時に点灯電圧を印加して断
    線検査を行うことを特徴とする液晶表示素子の点灯検査
    方法。
  2. 【請求項2】 上記プローブバーが、所定幅のベタパタ
    ーンよりなる接触電極を有するフレキシブル基板と、上
    記フレキシブル基板を支持して上記端子部に対して昇降
    可能なホルダと、上記フレキシブル基板の一部分を上記
    端子部に弾性的に押圧するゴム弾性体と、上記フレキシ
    ブル基板を上記ホルダの上面から上記ゴム弾性体および
    上記ホルダの底面にかけて支持する基板支持手段とを備
    えている請求項1に記載の液晶表示素子の点灯検査方
    法。
JP2002128171A 2002-04-30 2002-04-30 液晶表示素子の点灯検査方法 Withdrawn JP2003322872A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002128171A JP2003322872A (ja) 2002-04-30 2002-04-30 液晶表示素子の点灯検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002128171A JP2003322872A (ja) 2002-04-30 2002-04-30 液晶表示素子の点灯検査方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003322872A true JP2003322872A (ja) 2003-11-14

Family

ID=29542011

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002128171A Withdrawn JP2003322872A (ja) 2002-04-30 2002-04-30 液晶表示素子の点灯検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003322872A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017181755A1 (zh) * 2016-04-19 2017-10-26 京东方科技集团股份有限公司 用于点灯测试的调节装置和点灯测试装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017181755A1 (zh) * 2016-04-19 2017-10-26 京东方科技集团股份有限公司 用于点灯测试的调节装置和点灯测试装置
US10565910B2 (en) 2016-04-19 2020-02-18 Boe Technology Group Co., Ltd. Adjustment device for light-on testing and light-on testing device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100800330B1 (ko) 라인 온 글래스형 신호라인 검사를 위한 액정표시패널
KR100818563B1 (ko) 디스플레이 패널 검사방법 및 장치
KR0142014B1 (ko) 표시장치의 검사장치 및 검사방법
KR100884475B1 (ko) 디스플레이 패널 검사장치
JPH0782032B2 (ja) 表示パネル用プローブとその組み立て方法
JP2003322872A (ja) 液晶表示素子の点灯検査方法
JPH09251033A (ja) 液晶表示パネルの検査装置
TWI390208B (zh) 探針單元及檢查裝置
KR101350155B1 (ko) 표시 패널 검사용 소켓
KR20050003519A (ko) 액정표시장치 검사용 프루브 장치 및 그 제조방법
JP2000276073A (ja) 平面表示装置
US7068337B2 (en) Apparatus for inspecting liquid crystal panel
KR100622635B1 (ko) 액정 셀 검사방법
KR100751237B1 (ko) 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록
JP2006003741A (ja) 液晶表示パネル
JPH03121413A (ja) 電極基板の製造方法
JPH05323357A (ja) 基板の電極構造
US20040246018A1 (en) TFT array inspection device
KR100902600B1 (ko) 컨택 블록
JP2003166901A (ja) 液晶パネル用点灯検査装置
KR100980666B1 (ko) Lcd 점등용 프로브 블록의 컨텍터 필름
KR100671342B1 (ko) 전기구동소자 검사 장치 및 방법
KR101289939B1 (ko) 배선 필름용 커넥터 및 이를 이용한 액정표시장치용검사장치
KR20070057522A (ko) 액정표시패널 및 그의 제조방법
JP2001004968A (ja) 液晶表示装置及びその検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050705