JPH0577031B2 - - Google Patents

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JPH0577031B2
JPH0577031B2 JP61069137A JP6913786A JPH0577031B2 JP H0577031 B2 JPH0577031 B2 JP H0577031B2 JP 61069137 A JP61069137 A JP 61069137A JP 6913786 A JP6913786 A JP 6913786A JP H0577031 B2 JPH0577031 B2 JP H0577031B2
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JP
Japan
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disconnection
lead electrodes
electronic component
liquid crystal
detection device
Prior art date
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JP61069137A
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JPS62225966A (ja
Inventor
Kaoru Matsuda
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
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Granted legal-status Critical Current

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、たとえば液晶表示装置のリード電極
の断線の有無を検出するのに最適な断線検出装置
に関する。
(従来の技術) 近年、液晶表示装置は、CRT等とデイスプレ
イと比較して消費電力低減化、薄型軽量化等の特
徴を有し、TV受像機、マイクロコンピユータ、
ワードプロセツサ等のデイスプレイとして実用化
されつつある。
このような液晶表示装置は、たとえばアクテイ
ブマトリクス駆動方式により画像面積が3cm×5
cm程度のものが実用化され、さらに25cm×35cm程
度のものが試作化されている。
一般にアクテイブマトリクス駆動方式による液
晶表示装置は、透明電極膜が形成された第1のガ
ラス基板と、縦横の画素ごとに透明表示電極およ
びTFT等のメモリー機能を有した素子が形成さ
れた第2のガラス基板とから構成されている。ま
た第2のガラス基板上には、互いに絶縁状態にさ
れたリード電極が縦横に形成され、これらリード
電極は各素子の各端子に接続されている。そして
これら第1のガラス基板と第2のガラス基板とが
所定の間隙をもつて前記透明電極と前記リード電
極とが対向するように配置され、この間隙に液晶
が封入されてなる。
ところで各リード電極は高解像度、高画質が要
求され、単位面積当り多数のリード電極を形成す
る必要から綿巾が細くなり非常に繊細なパターン
となり、画素数が増加するにつれて断線不良が生
じ、歩留りが低下する欠点がある。
このため従来から製造工程において、このよう
な断線不良を早期に発見することが必要であり、
自動的な検査が必要とされている。
このような検査方法として、たとえば第1のガ
ラス基板と第2のガラス基板とを対向配置させた
後液晶封入前に、リード電極の両端に露出された
駆動回路との接続用の接続端子に、作業者がテス
ター等のプローバピンを当接させる方法がある。
(発明が解決しようとする問題点) ところで画像面積が3cm×5cm程度の液晶表示
装置においては、リード電極の数が限られている
ため、上記した検査方法で行なうことができる
が、画像面積が25cm×35cm程度の大画像となつた
場合、たとえばリード電極がX方向に2000本、Y
方向に1000本、合計3000本になるため、このよう
な検査方法では莫大な時間を要し、コストアツプ
の要因となる。
また近年、画質を向上させることを目的とし
て、画素密度はさらに高まる傾向にある。この場
合、画素が微細化されるのに伴ない、リード電極
は微細化され、このため露出する接続端子も微細
化され、さらに隣接する接続端子間の間隔も微細
化されるので、作業者による検査方法では、所定
の接続端子にプロ−バピンを当接させることがで
きない。したがつて、製品完成後に実際に動作さ
せてリード電極の断線不良の検査を行なわなけれ
ばならず、このため歩留り低下の原因となる。
さらにまた、大画素の液晶表示装置は、実用化
された画像面積が3cm×5cm程度のものと比較し
て断線不良が生じる頻度が非常に高く、実用化に
あたり、断線不良に簡単に検査することができる
方法、装置等の開発が強く要望されている。
本発明は上記した事情に鑑みて創案されたもの
で、自動的に短時間でかつ確実に断線不良を検出
することができる断線検出装置を提供することを
目的としている。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) すなわち本発明の断線検出装置は、所定のピツ
チで多数列設されたリード電極を備えた電子部品
における前記各リード電極両端に接触子を電気的
に接触させて、前記リード電極両端間の断線の有
無を検出する装置において、前記リード電極ピツ
チの複数倍ピツチで接触子を備えた接触子保持手
段と、前記電子部品および前記接触子保持手段を
前記リード電極の列方向に相対的に移動させる移
動手段と、前記リード電極の一方の端部に沿つて
配置された前記各接触子と他方の端部に沿つて配
置された対向する接触子間の導通状態を検出して
断線の有無を検出する断線検出手段とを備えてい
る。
(作用) 本発明の断線検出装置において、電子部品の各
リード電極の両端部に所定のピツチで設けられた
接触子が同時に当接され、リード電極両端間の断
線の有無が検出され、つぎに移動手段が、電子部
品および接触子保持手段を前記リード電極の列方
向に相対的に所定のピツチで移動させ、しかる後
同様に電子部品の移動位置に応じた各リード電極
の両端間の断線の有無が検出され、さらに順次こ
のような検出が行なわれることにより、自動的に
短時間でかつ確実に断線不良が検出される。
リード電極数に対応させて接触子を設ければ、
一瞬に検査が終了するが、全数の接触子について
電気的接触することが困難であり、正確な測定は
困難である。
(実施例) 以下、本発明をマトリクス型液晶表示装置の断
線検出に適用した実施例の詳細を図面を基づいて
説明する。
第1図は本発明の一実施例の断線検出方法を実
施するための装置を示す図である。
同図に示すように、この装置は、所定の位置に
電子部品例えば液晶表示装置1が載置されるXY
テーブル2と、このXYテーブル2を図中矢印
X、Y方向に駆動させる第1の駆動部3と、XY
テーブル2上に所定の間隔をもつて配置されXY
テーブル2に向けて多数配置されたプローバピン
を有するベース4と、このベース4を上下方向
(図中矢印Z方向)に駆動させる第2の駆動部5
と、ベース4をX−Y平面上で90°回動させる第
3の駆動部6と、断線の有無を判定する判定部7
と、これら駆動部3,5,6および判定部7を制
御する制御装置(図示せず)とからその主要部が
構成されている。
またXYテーブル2上に載置される液晶表示装
置1は、第2図および第3図に示すように、大き
さは例えば横350mmの縦250mmであり、透明電極膜
(図示せず)が形成された矩形状の第1のガラス
基板8と、縦横の画素(図示せず)ごとに透明表
示電極(図示せず)およびTFT等のメモリー機
能を有した素子(図示せず)が形成された矩形状
の第2のガラス基板9とから構成されている。ま
た第2のガラス基板9上には、互いに絶縁状態に
された透明のリード電極8a,9aが縦横(X方
向、y方向)に形成され、これらリード電極8
a,9aは各素子の各端子に接続されている。上
記リード電極8aは所定のピツチ例えば80μm、
リード線幅80μmで位置方向例えばY方向に多数
例えば1000パツド列設され、リード電極9aは上
記リード電極8aと直交する方向に所定のピツチ
例えば上記したピツチで多数例えば2000パツド列
設されている。なお、TFT構造について当業者
において周知てあるから説明を省略する。
そして第2のガラス基板9は、表示部と接続部
とからなり、表示部においては、第1のガラス基
板8の透明電極膜とこの第2のガラス基板9のリ
ード電極8a,9aとが対向しかつスペーサ10
を介して微少な間隙を有するように第1のガラス
基板8が搭載されており、また接続部において
は、対向する2辺の近傍に各リード電極9aの両
端とそれぞれ接続され駆動回路と接続するために
露出されたX方向の接続端子11x多数列設さ
れ、他の2辺の近傍に各リード電極8aの両端と
接続された同様のY方向の接続端子11yが多数
列設されている。
またこれら接続端子11x,11yは長さがL
で、同一のピツチL/5で列設されている。
なお、この液晶表示装置1は、第1のガラス基
板8と第2のガラス基板9との間隙に液晶(図示
せず)が封入されて、完成品とされるが、本実施
例おいては、液晶封入前の半製品が用いられる。
一方、上記ベース4は、第4図および第5図に
示すように、液晶表示装置1とほぼ同一の矩形状
とされ、対向する2辺の両端付近に沿つてピツチ
Lの間隙でXYテーブル2に向けてプローバピン
4aが多数埋入固定されている。すなわち液晶表
示装置のXおよびY方向のリード電極8a,9a
の電極ピツチに対して複数倍例えば5本の電極を
1ピツチとしたプローバピン4aを植設する。す
なわち第6図接続端子11x,11yの6本の端
子毎にプローバピン4aを植設した構造にする。
なお、X方向とY方向とで液晶表示装置の接続端
子のピツチが異なる場合にはプローバピン4aを
四辺に設ける必要がある。
また前記判定部7は、各プローバピン4aとそ
れぞれ接続され一方側の各プローバピン4aと他
方側の対向する各プローバピン4aとの導通の有
無を判別してその結果を2値化信号として出力す
る判別回路7aと、液晶表示装置の各リード電極
8a,9aに対応して前記2値化信号を記憶する
メモリ回路7bと、この結果を表示するCRT等
のデイスプレイを有する表示装置7cとからな
る。
導通の有無の判別はプローバピン4a間に電流
を流し、流れるかどうかの検出により判断する。
次に、このように構成された装置により断線検
出の方法を第6図に示す液晶表示装置1の一部拡
大図に基づいて説明する。
まず、XYテーブル2上の所定の位置に液晶表
示装置1を載置し、この断線検出方法をON状態
とする。
そして制御部の制御により以下の動作が行なわ
れる。
第1の駆動部3の駆動によりXYテーブル2
は、この上に載置された液晶表示装置1のX方向
の一方側の接続端子11x,…および他方
側の接続端子11x,…の位置上にベース
4のプローバピン4aが位置するように移動す
る。
次に、第2の駆動部5の駆動によりベース4
は、プローバピン4aの先端が接続端子11xに
当接する位置まで下降し、しかる後、判定部7に
おいて断線有無の判定が行なわれる。
この場合、判定部7において、一方側の各接続
端子11xと他方側の対向する各接続端子11
x間の各リード電極8aの断線の有無が判別回
路7aにより判別され、この結果の2値化信号が
メモリ回路7bに入力され、記憶される。
次に、第2の駆動部5の駆動によりベース4
は、所定の位置まで上昇し、第1の駆動部3の駆
動によりXYテーブル2は、図中矢印X方向に接
続端子11x間のピツチL/5と同一量つまり接
続端子11xの位置上にプローバピン4aが位
置するように移動する。
その後、第2の駆動部5の駆動によりベース4
は、プローバピン4aの先端が接続端子11x
に当接する位置まで下降し、しかる後、上記した
場合と同様に接続端子11x間のリード電極8
aの断線の有無が判別回路7aにより判別され、
この結果の2値化信号がメモリ回路7bに入力さ
れ、記憶される。
このような動作を順次行ない、X方向の接続端
子11x〜間のリード電極8aの断線の有無
の判別が行なわれ、メモリ回路7bに記憶され
る。ここでX方向接続端子の断線有無のチエツク
が完了する。
しかる後、第3の駆動部6の駆動によりベース
4は、X−Y平面上を90°回動する。
次に、第1の駆動部3の駆動によりXYテーブ
ル2は、この上に載置された液晶表示装置1のY
方向の一方側の接続端子11y,…および
他方側の接続端子11y,…の位置上にベ
ース4のプローバピン4aが位置するように移動
する。
そして第2の駆動部5の駆動によりベース4
は、プローバピン4aの先端が接続端子11y
に当接する位置まで下降し、接続端子11y間
のリード電極9aの断線の有無が判別回路7aに
より判別され、この結果の2値化信号がメモリ回
路7bに入力され、記憶される。
この後、X方向の接続端子11x〜間のリ
ード電極8aの断線有無の判別と同様に、Y方向
の接続端子11y〜間のリード電極9aの断
線の有無の判別が行なわれ、これらの結果の2値
化信号がメモリ回路7bに入力され、記憶され
る。
しかる後、全てのリード電極8a,9aについ
ての断線の有無がメモリ回路7bに記憶され、そ
の後、この結果が表示装置7cにより表示され
る。
そしてこの液晶表示装置1に断線を有すること
が表示装置7cの表示により発見された場合、不
良品と処理され、X、Y方向の区別、何本目の線
かの区別をして表示する。またはその断線不良箇
所が常法により修復される。
しかして本実施例によれば、たとえば画像面積
が25cm×35cmでリード電極8a,9aを3000本有
する大画像の液晶表示装置1においても、XYテ
ーブル2を所定のピツチL/5でX方向に5回、
さらにY方向に5回つまり10回移動させるだけで
リード電極8a,9aの断線の有無を判別するこ
とができるので、測定時間を実用的レベルまで低
減することができる。
また画素が微細化され、接続端子11x,11
yが微細化されてその間隔も微細化された場合に
おいても、プローバピン4aを微細化し、これら
の間隔も微細化し、さらにXYテーブル2の駆動
を精密化すれば同様に実施できる。
さらにまた、接続端子11x,11yの数やピ
ツチが変つた場合、ベース4をその数やピツチに
応じたプローバピン4aを有するものに交換すれ
ば同様ぴ実施することができ、その汎用性は非常
に高い。
なお、本実施例において、プローバピン4aを
導電性ゴムとし、またはベース4プローバピン4
aとの間にスプリング等の弾性部材を介挿し、こ
のプローバピン4aを接続端子11x,11yに
弾性的に当接させることにより、プローバピン4
aと接続端子11x,11y間の導通を確実なも
のとすることができ、さらに精度の良い断線不良
の検出を行なうことができる。
また、本実施例における駆動系は従来から用い
られているワイヤーボンドマシン等の駆動系を用
いることができ、特別な設備導入を必要としな
い。
さらにまた、本実施例によれば、被測定物であ
る液晶表示装置1は液晶封入前の半製品であつた
が、本発明はこれに限定されることなく、たとえ
ばガラス基板の状態で検査すれば、修復はさらに
簡単であり、また液晶注入後あるいは封止後にお
いても同様に実施することができる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明の断線検出装置によ
れば、電極の数が多数になつた場合においても、
また電極が微細化され、さらにこれらのピツチが
微細化された場合においても、自動的に短時間で
かつ確実に断線不良を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の断線検出装置の構
成を示す斜視図、第2図は第1図液晶表示装置の
斜視図、第3図は第2図の平面図、第4図は第1
図の接触子の構成を説明するためのベースを示す
斜視図、第5図は第4図の平面図、第6図は第1
図の装置による断線検出のプロセスを説明するた
めの液晶表示装置の一部拡大平面図である。 1……液晶表示装置、2……XYテーブル、3
……第1の駆動部、4……ベース、4a……プロ
ーバピン、5……第2の駆動部、6……第3の駆
動部、7……判定部、8……第1のガラス基板、
……第2のガラス基板、8a,9a……リード電
極、11x,11y……接続端子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 所定のピツチで多数列設されたリード電極を
    備えた電子部品における前記各リード電極両端に
    接触子を電気的に接触させて、前記リード電極両
    端間の断線の有無を検出する断線検出装置におい
    て、前記リード電極ピツチの複数倍ピツチで接触
    子を備えた接触子保持手段と、前記電子部品およ
    び前記接触子保持手段を前記リード電極の列方向
    に相対的に移動させる移動手段と、前記リード電
    極の一方の端部に沿つて配置された前記各接触子
    と他方の端部に沿つて配置された対向する接触子
    間の導通状態を検出し断線の有無を検出する断線
    検出手段とを備えていることを特徴とする断線検
    出装置。 2 電子部品は、リード電極がマトリクス状に配
    列された液晶表示装置である特許請求の範囲第1
    項記載の断線検出装置。 3 前記接触子保持手段を、前記電子部品のリー
    ド電極の設けられた面に平行する面内において90
    度回転させる回転手段を備えたことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の断線検出装置。 4 前記接触子が導電性ゴムにより構成され、こ
    の導電性ゴムと前記接触子保持手段との間に弾性
    部材を設けたことを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の断線検出装置。 5 前記電子部品は、画素を駆動する駆動回路と
    の接続用の接続端子がXY方向に設けられたガラ
    ス基板により構成された液晶基板であることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載の断線検出装
    置。
JP61069137A 1986-03-27 1986-03-27 断線検出装置 Granted JPS62225966A (ja)

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JP61069137A JPS62225966A (ja) 1986-03-27 1986-03-27 断線検出装置

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JPS62225966A JPS62225966A (ja) 1987-10-03
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