JPS62225966A - 断線検出装置 - Google Patents

断線検出装置

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JPS62225966A
JPS62225966A JP61069137A JP6913786A JPS62225966A JP S62225966 A JPS62225966 A JP S62225966A JP 61069137 A JP61069137 A JP 61069137A JP 6913786 A JP6913786 A JP 6913786A JP S62225966 A JPS62225966 A JP S62225966A
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JP
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disconnection
liquid crystal
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connection terminals
crystal display
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Kaoru Matsuda
薫 松田
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  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、たとえば液晶表示装置のリード電極の断線の
有無を検出するのに最適な断線検出方法に関する。
(従来の技術) 近年、液晶表示装置は、CRT等のディスプレイと比較
して消費電力低減化、薄型軽量化等の特徴を有し、TV
受像機、マイクロコンピュータ、ワードプロセッザ等の
ディスプレイとして実用化されつつある。
このような液晶表示装置は、たとえばアクティブマトリ
クス駆動方式により画像面積が3CmX 5cm程度の
ものが実用化され、ざらに25CTIIX35CTll
稈度のものが試作化されている。
一般に上記したアクティブ71〜リクス駆動方式による
液晶表示装置は、透明電極膜が形成された第1のガラス
基板と、縦横の画素ごとに透明表示電極およびTPT等
のメモリー機能を有した素子が形成された第2のガラス
基板とから構成されている。また第2のガラス基板上に
は、互いに絶縁状態にされたリード電極が縦横に形成さ
れ、これらリード電極は各素子の各端子に接続されてい
る。
そしてこれら第1のガラス基板と第2のガラス基板とが
所定の間隙をもって前記透明電極と前記リード電極とが
対向するように配置され、この間隙に液晶が封入されて
なる。
ところで各リード電極は高解像度、高画質が要求され、
単位面積当り多数のリード電極を形成する必要から線巾
か細くなり非常に繊細なパターンとなり、画素数が増加
するにつれて断線不良が生じ、歩留りが低下する欠点が
ある。
このため従来から製造工程において、このような断線不
良を早期に発見することが必要であり、自動的な検査が
必要とされている。
このような検査方法として、たとえば第1のガラス基板
と第2のガラス基板とを対向配置させた後液晶月入前に
、リード電極の両端に露出された駆動回路との接続用の
接続端子に、作業者がテスター等のプローバピンを当接
させる方法がおる。
(発明が解決しようとする問題点) ところで画像面積が3CTIIX 5CTIl程度の液
晶表示装置においては、リード電極の数が限られている
ため、上記した検査方法で行なうことができるが、画像
面積が25CmX35Cm程度の大画像となった場合、
たとえばリード電極がX方向に2000本、Y方向に1
000本、合i13000本になるため、このような検
査方法では美大な時間を要し、コストアップの要因とな
る。
また近年、画質を向上さ′μることを目的として、画素
密度はさらに高まる傾向にある。この場合、画素が微細
化されるのに伴ない、リード電極は微細化され、このた
め露出する接続端子も微細化され、さらに隣接する接続
端子間の間隔も微細化されるので、作業者による検査方
法では、所定の接続端子にプローバピンを当接さけるこ
とができない。したがって、製品完成後に実際に動作さ
ばてリード電極の断線不良の検査を行なわな(プればな
らず、このため歩留り低下の原因となる。
さらにまた、大画像の液晶表示装置は、実用化された画
像面積が3cmx 5cm程度のものと比較して断線不
良が生じる頻度が非常に高く、実用化にあたり、断線不
良を簡単に検査づることができる方法、装置等の開発が
強く要望されている。
本発明は上記した事情に鑑みて創案されたもので、自動
的に短時間でかつ確実に断線不良を検出することができ
る断線検出方法を提供することを目的としている。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) すなわち本発明の断線検出方法は、所定のピッチで多数
列設されたリード電極を備えた電子部品における前記各
リード電極両端に接触子を電気的に接触させて、前記リ
ード電極両端間の断線の有無を検出する方法において、
前記リード電極ピッチの複数倍ピッチで接触子を備えた
接触子保持部材と、前記電子部品および前記接触子保持
手段を前記リード電極の列方向に相対的に移動させる移
動手段と、前記リード電極の一方の端部に沿って配置さ
れた前記各接触子と他方の端部に治って配置された対向
する接触子間の導通状態を検出し断線の有無を検出する
断線検出手段とを備えている。
(作 用) 本発明の断線検出方法において、電子部品の各リード電
極の両端部に所定のピッチで設けられた接触子が同時に
当接され、リード電極両端間の断線の有無が検出され、
つぎに移動手段が、電子部品および接触子保持手段を前
記リード電極の列方向に相対的に所定のピッチで移動さ
せ、しかる後同様に電子部品の移動位置に応じた各リー
ド電極の両端間の断線の有無が検出され、さらに順次こ
のような検出が行なわれることにより、自動的に短時間
でかつ確実に断線不良が検出される。
リード電極数に対応させて接触子を設ければ、−瞬に検
査が終了するが、全数の接触子について電気的接触をと
ることが困難であり、正確な測定は困難である。
(実施例) 以下、本発明方法を71〜リクス型液晶表示装置の断線
検出に適用した実施例の詳細を図面を基づいて説明する
第1図は本発明の一実施例の断線検出方法を実施するた
めの装置を示す図である。
同図に示ずように、この装置は、所定の位置に電子部品
例えば液晶表示装置1が載置されるXYテーブル2と、
このXYテーブル2を図中矢印X、Y方向に駆動させる
第1の駆動部3と、XYテーブル2上に所定の間隔をも
って配置されXYテーブル2に向けて多数配置されたプ
ローバピンを有するベース4と、このベース4を上下方
向(図中矢印Z方向)に駆動させる第2の駆動部5と、
ベース4をX−Y平面上で90°回動させる第3の駆動
部6と、断線の有無を判定する判定部7と、これら駆動
部3.5.6および判定部7を制御する制御装置(図示
せず)とからその主要部が構成されている。
またXYテーブル2上に載置される液晶表示装置1は、
第2図および第3図に示すように、大きさは例えば横3
50+n+++の縦250酊であり、透明電極膜(図示
せず〉が形成された矩形状の第1のガラス基板8と、縦
横の画素(図示せず)ごとに透明表示電極(図示せず)
およびTPT等のメモリー機能を有した素子(図示せず
)が形成された矩形状の第2のガラス基板9とから構成
されている。
また第2のガラス基板9上には、互いに絶縁状態にされ
た透明のリード電極8a、9aが縦横(X方向、Y方向
)に形成され、これらリード電極8a、9aは各素子の
各端子に接続されている。上記リード電極8aは所定の
ピッチ例えば80μm、リード線幅80μmで位置方向
例えばY方向に多数例えば1000パッド列設され、リ
ード電極9aは上記リード電極8aと直交する方向に所
定のピッチ例えば上記したピッチで多数例えば2000
パッド列設されいる。なお、TFT横渭については当業
者において周知であるから説明を省略する。
そして第2のカラス基板9は、表示部と接続部とからな
り、表示部においては、第1のガラス基板8の透明電極
膜とこの第2のガラス基板9のリード電極8a、9aと
が対向しかつスペーサ10を介して微少な間隙を有する
ように第1のガラス基板8が搭載されており、また接続
部においては、対向する2辺の近傍に各リード電極9a
の両端とそれぞれ接続され駆動回路と接続するために露
出されたX方向の接続端子11Xが多数列設され、他の
2辺の近傍に各リード電極8aの両端と接続された同様
のY方向の接続端子11’l/が多数列設されている。
またこれら接続端子’11X、11yは長さがLで、同
一のピッチL15で列設されている。
なお、この液晶表示装置1は、第1のガラス基板8と第
2のガラス基板9との間隙に液晶(図示せず)が封入さ
れて、完成品とされるが、本実施例おいては、液晶封入
前の半製品が用いられる。
一方、上記ベース4は、第4図および第5図に示すよう
に、液晶表示装置1とほぼ同一の矩形状とされ、対向す
る2辺の両端付近に沿ってピッチLの間隔でXYテーブ
ル2に向りてプローバピン4aが多数埋入固定されてい
る。すなわち液晶表示装置のXおよびY方向のリード電
極8a、9aの電極ピッチに対して複数倍例えば5本の
電極を1ピツチとしたプローバピン4aを植設する。す
なわち第6図接続端子11X、11yの6本の端子毎に
プローバピン4aを植設した構造にする。
なお、X方向とY方向とで液晶表示装置の接続端子のピ
ッチが異なる場合にはプローバピン4aを四辺に設ける
必要がある。
また前記判定部7は、各プローバピン4aとそれぞれ接
続され一方側の各ブローバピン4aと他方側の対向する
各プローバピン4aとの導通の有無を判別しその結果を
2値化信号として出力する判別回路7aと、液晶表示装
置の各リード電極8a、9aに対応して前記2値化信号
を記憶するメモリ回路7bと、この結果を表示するCR
T等のディスプレイを有する表示装置、7cとからなる
導通の有無の判別はプローバピン4a間に電流を流し、
流れるかどうかの検出ににり判断する。
次に、このように構成された装置により断線検出の方法
を第6図に示す液晶表示装置1の一部拡大図に基づいて
説明する。
まず、XYテーブル2上の所定の位置に液晶表示装置1
を載置し、この断線検出方法をON状態とする。
そして制御部の制御により以下の動作が行なわれる。
第1の駆動部3の駆動によりXYテーブル2は、この上
に載置された液晶表示装置1のX方向の一方側の接続端
子11x■、■・・・■および他方側の接続端子11x
■、■・・・■の位置上にベース4のプローバピン4a
が位置するように移動する。
次に、第2の駆動部5の駆動によりベース4は、プロー
バピン4aの先端が接続端子11xに当接する位置まで
下降し、しかる後、判定部7において断線有無の判定が
行なわれる。
この場合、判定部7において、一方側の各接続端子11
x■と他方側の対向する各接続端子11X■間の各リー
ド電極8aの断線の有無が判別回路7aにより判別され
、この結果の2値化信号がメモリ回路7bに入力され、
記憶される。
次に、第2の駆動部5の駆動にJ:リベース4は、所定
の位置まで上昇し、第1の駆動部3の駆動によりXYテ
ーブル2は、図中矢印X方向に接続端子11X間のピッ
チL15と同一量つまり接続端子11X■の位置上にプ
ローバピン4aが位置するように移動する。
その後、第2の駆動部5の駆動によりベース4は、プロ
ーバピン4aの先端が接続端子11X■に当接する位置
まで下降し、しかる後、上記した場合と同様に接続端子
11X■間のリード電極8aの断線の有無が判別回路7
aにより判別され、この結果の2値化信号がメモリ回路
7bに入力され、記憶される。
このような動作を順次行ない、X方向の接続端子11X
■〜■間のリード電極8aの断線の有無の判別が行なわ
れ、メモリ回路7bに記憶される。
これでX方向接触端子の断線有無のチェックが完了する
しかる後、第3の駆動部6の駆動によりベース4は、X
−Y平面上を90’回動する。
次に、第1の駆動部3の駆動によりXYテープル2は、
この上に載置された液晶表示装置1のY方向の一方側の
接続端子1’lV■、■・・・■および他方側の接続端
子11V■、■・・・■の位置上にベース4のプローバ
ピン4aが位置するように移動する。
そして第2の駆動部5の駆動によりベース4は、プロー
バピン4aの先端が接続端子11y■に当接する位置ま
で下降し、接続端子11V■間のリード電極9aの断線
の有無が判別回路7aにより判別され、この結果の2値
化信号がメモリ回路7bに入力され、記憶される。
この後、X方向の接続端子11X■〜■間のリード電極
8aの断線有無の判別と同様に、Y方向の接続端子11
y■〜■間のリード電極9aの断線の有無の判別が行な
われ、これらの結果の2値化信号がメモリ回路7bに入
力され、記憶される。
しかる後、全てのリード電極8a、9aについての断線
の有無がメモリ回路7bに記憶され、その後、この結果
が表示装置7Cにより表示される。
そしてこの液晶表示装置1に断線を有することが表示装
置7Cの表示により発見された場合、不良品と処理され
、X、Y方向の区別、何本目の線かの区別をして表示す
る。またはその断線不良箇所が常法により修復される。
しかして本実施例にJ:れば、たとえば画像面積が25
CIIIX35CTIlでリード電極8a、9aを30
00本有す6大画像の液晶表示装@1においても、XY
テーブル2を所定のピッチL15でX方向に5回、ざら
にY方向に5回つまり10回移動させるだけでリード電
極8a、9aの断線の有無を判別することができるので
、測定時間を実用的レベルまで低減することができる。
また画素が微細化され、接続端子11X、11yが微細
化されてその間隔も微細化された場合においても、プロ
ーバピン4aを微細化し、これらの間隔も微細化し、さ
らにXYテーブル2の駆動を精密化すれば同様に実施で
きる。
さらにまた、接続端子11X、11Vの数やピッチが変
った場合、ベース4をその数やピッチに応じたプローバ
ピン4aを有するものに交換すれば同様に実施すること
ができ、その汎用性は非常に高い。
なお、本実施例において、プローバピン4aを導電性ゴ
ムとし、またはベース4とプローバピン4aとの間にス
プリング等の弾性部材を介挿し、このプローバピン4a
を接続端子11X、11yに弾性的に当接させることに
より、プローバピン4aと接続端子11x、11V間の
導通を確実なものとすることができ、さらに精度の良い
断線不良の検出を行なうことができる。
また、本実施例における駆動系は従来から用いられてい
るワイヤーポンドマシン等の駆動系を用いることができ
、特別な設備導入を必要としない。
さらにまた、本実施例によれば、被測定物である液晶表
示装置1は液晶封入前の半製品であったが、本発明はこ
れに限定されることなく、たとえばガラス基板の状態で
検査すれば、修復はさらに簡単であり、また液晶注入後
あるいは封止後においても同様に実施することができる
[発明の効果] 以上説明したように本発明の断線検出方法によれば、電
極の数が多数になった場合においても、また電極が微細
化され、さらにこれらのピッチが微細化された場合にお
いても、自動的に短時間でかつ確実に断線不良を検出す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法の一実施例を説明するための断線検
出方法を示す斜視図、第2図は第1図液晶表示装置の斜
視図、第3図は第2図の平面図、第4図は第1図の接触
子の構成を説明するためのベースを示す斜視図、第5図
は第4図の平面図、第6図は第1図の装置による断線検
出のプロセスを説明するための液晶表示装置の一部拡大
平面図である。 1・・・・・・・・・液晶表示装置、2・・・・・・・
・・XYテーブル、3・・・・・・・・・第1の駆動部
、4・・・・・・・・・ベース、4a・・・・・・プロ
ーバピン、5・・・・・・・・・第2の駆動部、6・・
・・・・・・・第3の駆動部、7・・・・・・・・・判
定部、8・・・・・・・・・第1のガラス基板、・・・
・・・・・・第2のガラス基板、8a、9a・・・・・
・・・・リード電極、11X、11V・・・接続端子出
願人     東京エレクトロン株式会社代理人 弁理
士 須 山 佐 − α

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)所定のピッチで多数列設されたリード電極を備え
    た電子部品における前記各リード電極両端に接触子を電
    気的に接触させて、前記リード電極両端間の断線の有無
    を検出する方法において、前記リード電極ピッチの複数
    倍ピッチで接触子を備えた接触子保持部材と、前記電子
    部品および前記接触子保持手段を前記リード電極の列方
    向に相対的に移動させる移動手段と、前記リード電極の
    一方の端部に沿つて配置された前記各接触子と他方の端
    部に沿って配置された対向する接触子間の導通状態を検
    出し断線の有無を検出する断線検出手段とを備えている
    ことを特徴とする断線検出方法。
  2. (2)電子部品は、リード電極がマトリクス状に配列さ
    れた液晶表示装置である特許請求の範囲第1項記載の断
    線検出方法。
JP61069137A 1986-03-27 1986-03-27 断線検出装置 Granted JPS62225966A (ja)

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JP61069137A JPS62225966A (ja) 1986-03-27 1986-03-27 断線検出装置

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JP61069137A JPS62225966A (ja) 1986-03-27 1986-03-27 断線検出装置

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JPS62225966A true JPS62225966A (ja) 1987-10-03
JPH0577031B2 JPH0577031B2 (ja) 1993-10-25

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01207791A (ja) * 1988-02-16 1989-08-21 Tokyo Electron Ltd 液晶表示体検査装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01207791A (ja) * 1988-02-16 1989-08-21 Tokyo Electron Ltd 液晶表示体検査装置

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JPH0577031B2 (ja) 1993-10-25

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