JPH01281488A - 液晶パネルの検査方法 - Google Patents
液晶パネルの検査方法Info
- Publication number
- JPH01281488A JPH01281488A JP11101188A JP11101188A JPH01281488A JP H01281488 A JPH01281488 A JP H01281488A JP 11101188 A JP11101188 A JP 11101188A JP 11101188 A JP11101188 A JP 11101188A JP H01281488 A JPH01281488 A JP H01281488A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal panel
- driving circuit
- lighting
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- Pending
Links
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 12
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野１
本発明は、液晶パネルの点燈機能検査をおこなう検査方
法に関する。
法に関する。
（従来の技術１
従来の技術としては、第２図に示すように、液晶パネル
の入力端子ピッチの細かさにより、点燈検査を行う時に
は駆動用回路を実装してから行っていた。
の入力端子ピッチの細かさにより、点燈検査を行う時に
は駆動用回路を実装してから行っていた。
【発明が解決しようとする課題］
しかし、かかる従来の１１ｉ査方法は、駆動用回路が実
装されているために。
装されているために。
（１）パネル単体の製品検査が不可能である。
（２）不良パネルに駆動用回路を実装するといったムダ
な工程を生ずる。
な工程を生ずる。
（３）工程歩留まりが悪い。
という問題点を有していた８
そこで１本発明は 従来のこの様な問題点を解決するた
め、駆動用回路未実装の液晶パネルの点燈機能検査を行
うことを目的とする。
め、駆動用回路未実装の液晶パネルの点燈機能検査を行
うことを目的とする。
［課題を解決するための手段］
上記課題を解決するため１本発明の検査方法は、駆動用
回路未実装の液晶パネルに直接駆動用回路をコンタクト
させて液晶パネルの点燈機能検査を行うことを特徴とす
る。
回路未実装の液晶パネルに直接駆動用回路をコンタクト
させて液晶パネルの点燈機能検査を行うことを特徴とす
る。
［作 用］
上記の様な方法により、駆動用回路未実装の液晶パネル
の点燈機能検査を行うことにより、パネル単体の製品検
査が可能となり、不良パネルに駆動用回路を実装すると
いったムダな工程を省くことができ、工程歩留まりの向
上がで与るのである。
の点燈機能検査を行うことにより、パネル単体の製品検
査が可能となり、不良パネルに駆動用回路を実装すると
いったムダな工程を省くことができ、工程歩留まりの向
上がで与るのである。
〔実 施 例１
以下に本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。第
１図において、駆動用回路２はコンタクトヘッド３に固
定されている１点燈検査を行う時には液晶パネル１０入
力端子に駆動用回路２の出力端子をアライメントし、駆
動用回路２を液晶パネル１に直接コンタクトさせる。こ
のような方法により検査を行うとコ〉・タクトヘッドに
ピンプローブが不用となる他、配線処理が少なくなるた
めヘッドのｉＪ造が簡単になる。
１図において、駆動用回路２はコンタクトヘッド３に固
定されている１点燈検査を行う時には液晶パネル１０入
力端子に駆動用回路２の出力端子をアライメントし、駆
動用回路２を液晶パネル１に直接コンタクトさせる。こ
のような方法により検査を行うとコ〉・タクトヘッドに
ピンプローブが不用となる他、配線処理が少なくなるた
めヘッドのｉＪ造が簡単になる。
以上のよ・）な実施例において、駆動用回路未実装の液
晶パネルの点燈機能検査を行うことが可能になる。この
ためパネル単体の製品検査が可能となり、不良パネルに
駆動用回路を実装するといったムダな工程を省くことが
でき、工程歩留まりの向上ができる。
晶パネルの点燈機能検査を行うことが可能になる。この
ためパネル単体の製品検査が可能となり、不良パネルに
駆動用回路を実装するといったムダな工程を省くことが
でき、工程歩留まりの向上ができる。
［発明の効果］
本発明の方法では、以上説明したように、駆動用回路未
実装の液晶パイ、ルの戸、ｌひ（：ｂ能検査を液晶パネ
ルに駆動用回路を直接コンタクトさせて行うことにより
、パネル単体の製品検査が可能となり、不良パネルに駆
動用回路を実装するといったムダな工程を省くことがで
き、工程歩留まりの向上ができる効果がある。
実装の液晶パイ、ルの戸、ｌひ（：ｂ能検査を液晶パネ
ルに駆動用回路を直接コンタクトさせて行うことにより
、パネル単体の製品検査が可能となり、不良パネルに駆
動用回路を実装するといったムダな工程を省くことがで
き、工程歩留まりの向上ができる効果がある。
第１図は、本発明の液晶パネルの我慢（鏝部検査方法の
説明図。 第２図は、従来の液晶パネルの点燈機能検査方法の説明
図。 １・・・液晶パネル ２・・・駆動用回路 ３・・・コンタクトヘッド ４・・・ピンプローブ 以上
説明図。 第２図は、従来の液晶パネルの点燈機能検査方法の説明
図。 １・・・液晶パネル ２・・・駆動用回路 ３・・・コンタクトヘッド ４・・・ピンプローブ 以上
Claims (1)
- 駆動用回路未実装の液晶パネルに直接駆動用回路をコン
タクトさせて液晶パネルの点燈機能検査を行うことを特
徴とする液晶パネルの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11101188A JPH01281488A (ja) | 1988-05-07 | 1988-05-07 | 液晶パネルの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11101188A JPH01281488A (ja) | 1988-05-07 | 1988-05-07 | 液晶パネルの検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01281488A true JPH01281488A (ja) | 1989-11-13 |
Family
ID=14550138
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11101188A Pending JPH01281488A (ja) | 1988-05-07 | 1988-05-07 | 液晶パネルの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01281488A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03156492A (ja) * | 1989-11-15 | 1991-07-04 | Fujitsu Ltd | 電極間短絡検査方法 |
-
1988
- 1988-05-07 JP JP11101188A patent/JPH01281488A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03156492A (ja) * | 1989-11-15 | 1991-07-04 | Fujitsu Ltd | 電極間短絡検査方法 |
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