JP2854209B2 - 液晶パネル用検査装置 - Google Patents
液晶パネル用検査装置Info
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- JP2854209B2 JP2854209B2 JP4318979A JP31897992A JP2854209B2 JP 2854209 B2 JP2854209 B2 JP 2854209B2 JP 4318979 A JP4318979 A JP 4318979A JP 31897992 A JP31897992 A JP 31897992A JP 2854209 B2 JP2854209 B2 JP 2854209B2
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- Japan
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- inspection
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- crystal panel
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、周辺回路接続前の液晶
パネルに表示品位検査及び抵抗検査を行う液晶パネル用
検査装置に関するものである。
パネルに表示品位検査及び抵抗検査を行う液晶パネル用
検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】液晶パネルの製造工程では、周辺回路接
続前の液晶パネルに対して、欠陥箇所を検出する表示品
位検査と、液晶パネル内部のリーク量を検出する抵抗検
査とが行われる。従来では、上記の表示品位検査は、液
晶パネルの端子部に、液晶パネル駆動用のドライバ等を
内蔵するＴＡＢ(Tape Automated Bonding)を精密に位置
合わせして押し当てる、あるいは直接接続することによ
り、液晶パネルを実駆動点灯させて行われている。
続前の液晶パネルに対して、欠陥箇所を検出する表示品
位検査と、液晶パネル内部のリーク量を検出する抵抗検
査とが行われる。従来では、上記の表示品位検査は、液
晶パネルの端子部に、液晶パネル駆動用のドライバ等を
内蔵するＴＡＢ(Tape Automated Bonding)を精密に位置
合わせして押し当てる、あるいは直接接続することによ
り、液晶パネルを実駆動点灯させて行われている。
【０００３】一方、抵抗検査は、液晶パネルの端子部
に、検査用の電極を押し当てて接触させ、この電極に抵
抗計を接続することにより行われている。
に、検査用の電極を押し当てて接触させ、この電極に抵
抗計を接続することにより行われている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
二つの検査は、周辺回路接続前の液晶パネルの端子部を
用いるという共通点があるにも関わらず、表示品位検査
の場合には、抵抗検査では必要とされないＴＡＢを用い
て液晶パネルを実駆動点灯させているため、それぞれの
検査を別々の装置により分けて行わなければならない。
したがって、周辺回路接続前の液晶パネルに対して実施
する上記の両検査は、必要以上に時間を要するものとな
り、作業性の低下を招来するという問題を有している。
二つの検査は、周辺回路接続前の液晶パネルの端子部を
用いるという共通点があるにも関わらず、表示品位検査
の場合には、抵抗検査では必要とされないＴＡＢを用い
て液晶パネルを実駆動点灯させているため、それぞれの
検査を別々の装置により分けて行わなければならない。
したがって、周辺回路接続前の液晶パネルに対して実施
する上記の両検査は、必要以上に時間を要するものとな
り、作業性の低下を招来するという問題を有している。
【０００５】また、上記の表示品位検査において、ＴＡ
Ｂを液晶パネルの端子部に押し当てて接触させる場合に
は、このＴＡＢを液晶パネルの端子部に対して、精密に
位置合わせしなければならないので、このような位置合
わせを実現するためには、検査装置の構造が複雑化する
という問題もある。
Ｂを液晶パネルの端子部に押し当てて接触させる場合に
は、このＴＡＢを液晶パネルの端子部に対して、精密に
位置合わせしなければならないので、このような位置合
わせを実現するためには、検査装置の構造が複雑化する
という問題もある。
【０００６】本発明は、上記の課題に鑑みなされたもの
であって、表示品位検査および抵抗検査の両方の検査を
実施する際の作業性を向上させると共に、精密な位置合
わせが不要で簡単な構成の液晶パネル用検査装置を提供
することを目的としている。
であって、表示品位検査および抵抗検査の両方の検査を
実施する際の作業性を向上させると共に、精密な位置合
わせが不要で簡単な構成の液晶パネル用検査装置を提供
することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶パネル用検
査装置は、上記の課題を解決するために、液晶パネルの
端子部に接触させる検査電極と、液晶パネルの表示品位
検査を行うための点灯駆動信号を発生させる駆動信号発
生手段と、抵抗検査を行うための抵抗測定手段と、表示
品位検査を行う場合には、上記検査電極に駆動信号発生
手段を接続する一方、抵抗検査を行う場合には、上記検
査電極に抵抗測定手段を接続するように、検査電極の接
続状態を切り替える検査切り替え手段とを備えたことを
特徴としている。
査装置は、上記の課題を解決するために、液晶パネルの
端子部に接触させる検査電極と、液晶パネルの表示品位
検査を行うための点灯駆動信号を発生させる駆動信号発
生手段と、抵抗検査を行うための抵抗測定手段と、表示
品位検査を行う場合には、上記検査電極に駆動信号発生
手段を接続する一方、抵抗検査を行う場合には、上記検
査電極に抵抗測定手段を接続するように、検査電極の接
続状態を切り替える検査切り替え手段とを備えたことを
特徴としている。
【０００８】
【作用】上記の構成によれば、本液晶パネル用検査装置
において、液晶パネルの表示品位検査を実施する際に
は、検査切り替え手段を介して検査電極と駆動信号発生
手段とが接続され、駆動信号発生手段からの点灯駆動信
号が、検査電極と接触する液晶パネルの端子部に入力さ
れる。つまり、上記表示品位検査は、前記従来のＴＡＢ
等の能動素子を用いた実駆動ではなく、検査に最低必要
な駆動として、例えば液晶パネルの端子部を複数のブロ
ックに分け、同一の走査信号及びデータ信号を点灯駆動
信号としてブロックごとに入力することにより、複数の
絵素を同時に駆動させるべた駆動で行われる。したがっ
て、液晶パネルの端子部と接続する際、精密な位置合わ
せを必要とする能動素子が不要になり、検査装置として
は精密な位置合わせを行うための手段が不要になるた
め、その構成が簡略化される。
において、液晶パネルの表示品位検査を実施する際に
は、検査切り替え手段を介して検査電極と駆動信号発生
手段とが接続され、駆動信号発生手段からの点灯駆動信
号が、検査電極と接触する液晶パネルの端子部に入力さ
れる。つまり、上記表示品位検査は、前記従来のＴＡＢ
等の能動素子を用いた実駆動ではなく、検査に最低必要
な駆動として、例えば液晶パネルの端子部を複数のブロ
ックに分け、同一の走査信号及びデータ信号を点灯駆動
信号としてブロックごとに入力することにより、複数の
絵素を同時に駆動させるべた駆動で行われる。したがっ
て、液晶パネルの端子部と接続する際、精密な位置合わ
せを必要とする能動素子が不要になり、検査装置として
は精密な位置合わせを行うための手段が不要になるた
め、その構成が簡略化される。
【０００９】また、上記表示品位検査が能動素子を用い
ることなく実施されるため、検査切り替え手段を介して
検査電極と抵抗測定手段とを接続するだけで、表示品位
検査と同じ検査電極により、抵抗検査を実施することが
可能になる。これにより、表示品位検査および抵抗検査
を行う際の作業性が向上される。
ることなく実施されるため、検査切り替え手段を介して
検査電極と抵抗測定手段とを接続するだけで、表示品位
検査と同じ検査電極により、抵抗検査を実施することが
可能になる。これにより、表示品位検査および抵抗検査
を行う際の作業性が向上される。
【００１０】
【実施例】本発明の一実施例について図１ないし図４に
基づいて説明すれば、以下の通りである。
基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００１１】本実施例の液晶パネル用検査装置は、図１
に示すように、後述の液晶パネル１１を固定すると共
に、液晶パネル１１の端子部に接触させる検査電極９を
有する検査用治具１と、上記液晶パネル１１の表示品位
検査、あるいは抵抗検査を行う際、上記検査用治具１の
接続状態を切り替える検査切り替え装置（検査切り替え
手段）５と、表示品位検査時に液晶パネル１１を駆動す
る点灯駆動信号を発生させる駆動信号発生器（駆動信号
発生手段）４と、抵抗検査時に使用する抵抗計（抵抗測
定手段）３とを備えている。
に示すように、後述の液晶パネル１１を固定すると共
に、液晶パネル１１の端子部に接触させる検査電極９を
有する検査用治具１と、上記液晶パネル１１の表示品位
検査、あるいは抵抗検査を行う際、上記検査用治具１の
接続状態を切り替える検査切り替え装置（検査切り替え
手段）５と、表示品位検査時に液晶パネル１１を駆動す
る点灯駆動信号を発生させる駆動信号発生器（駆動信号
発生手段）４と、抵抗検査時に使用する抵抗計（抵抗測
定手段）３とを備えている。
【００１２】上記の検査用治具１は、バックライト２
と、このバックライト２上に配設される位置決め用プレ
ート８と、この位置決め用プレート８の一端部に固定さ
れ、位置決め用プレート８に対して開閉自在に設けられ
た検査電極用プレート７とを備えている。
と、このバックライト２上に配設される位置決め用プレ
ート８と、この位置決め用プレート８の一端部に固定さ
れ、位置決め用プレート８に対して開閉自在に設けられ
た検査電極用プレート７とを備えている。
【００１３】上記位置決め用プレート８の上面には、位
置決めピン１４…が立設されている。この位置決めピン
１４…は、図２に示すように、液晶パネル１１における
下側基板１５の隣接する二辺１５ａ・１５ｂに当接する
ことにより、位置決め用プレート８上に載置された液晶
パネル１１を位置決めするものであり、下側基板１５に
おける長辺１５ａに対して二個、短辺１５ｂに対して一
個設けられている。
置決めピン１４…が立設されている。この位置決めピン
１４…は、図２に示すように、液晶パネル１１における
下側基板１５の隣接する二辺１５ａ・１５ｂに当接する
ことにより、位置決め用プレート８上に載置された液晶
パネル１１を位置決めするものであり、下側基板１５に
おける長辺１５ａに対して二個、短辺１５ｂに対して一
個設けられている。
【００１４】上記した表示品位検査および抵抗検査は、
周辺回路接続前の液晶パネル１１に対して行われるもの
であり、上記の下側基板１５上における表示領域１２の
周縁部には、端子部１３…が設けられている。また、図
１に示すように、上記位置決め用プレート８の略中央部
には、上記の液晶パネル１１が載置され、上記位置決め
ピン１４…により位置決めされた状態で、上記の表示領
域１２に相当する領域に、図１に示すような光照射用窓
６が形成されている。したがって、この光照射用窓６に
より、位置決め用プレート８の下方に配置されているバ
ックライト２からの光が、液晶パネル１１に照射される
ようになっている。
周辺回路接続前の液晶パネル１１に対して行われるもの
であり、上記の下側基板１５上における表示領域１２の
周縁部には、端子部１３…が設けられている。また、図
１に示すように、上記位置決め用プレート８の略中央部
には、上記の液晶パネル１１が載置され、上記位置決め
ピン１４…により位置決めされた状態で、上記の表示領
域１２に相当する領域に、図１に示すような光照射用窓
６が形成されている。したがって、この光照射用窓６に
より、位置決め用プレート８の下方に配置されているバ
ックライト２からの光が、液晶パネル１１に照射される
ようになっている。
【００１５】また、上記検査電極用プレート７における
略中央部には、この検査電極用プレート７を閉じたとき
に、上記位置決め用プレート８の光照射用窓６と略一致
する領域に、前記液晶パネル１１の欠陥部を認識するた
めの欠陥部認識用窓１０が設けられている。この欠陥部
認識用窓１０の周囲には、検査電極９…が設けられてい
る。したがって、上記位置決め用プレート８上に液晶パ
ネル１１を載置し、検査電極用プレート７を閉じた状態
にすると、図３に示すように、液晶パネル１１の端子部
１３…と検査電極９…とが接触するようになっている。
略中央部には、この検査電極用プレート７を閉じたとき
に、上記位置決め用プレート８の光照射用窓６と略一致
する領域に、前記液晶パネル１１の欠陥部を認識するた
めの欠陥部認識用窓１０が設けられている。この欠陥部
認識用窓１０の周囲には、検査電極９…が設けられてい
る。したがって、上記位置決め用プレート８上に液晶パ
ネル１１を載置し、検査電極用プレート７を閉じた状態
にすると、図３に示すように、液晶パネル１１の端子部
１３…と検査電極９…とが接触するようになっている。
【００１６】上記の構成において、検査を実施する際に
は、図１に示す位置決めピン１４…により位置決めを行
いながら、位置決め用プレート８上の所定の位置に液晶
パネル１１を載置し、検査電極用プレート７を位置決め
用プレート８に対して閉じた状態とする。この状態で、
液晶パネル１１の表示品位検査及び抵抗検査が行われ
る。
は、図１に示す位置決めピン１４…により位置決めを行
いながら、位置決め用プレート８上の所定の位置に液晶
パネル１１を載置し、検査電極用プレート７を位置決め
用プレート８に対して閉じた状態とする。この状態で、
液晶パネル１１の表示品位検査及び抵抗検査が行われ
る。
【００１７】まず、表示品位検査を行うには、検査用治
具１と駆動信号発生器４とが接続されるように検査切り
替え装置５を設定すると共に、この駆動信号発生器４か
ら、例えば図４に示すような点灯駆動信号としての走査
信号、対向電圧信号、およびデータ信号を発生させる。
これにより、上記点灯駆動信号が、検査切り替え装置５
を介して検査電極９が設けられた検査電極用プレート７
に入力される。つまり、図４（ａ）に示す走査信号は、
図３に示す液晶パネル１１の右側端部に設けられた端子
部１３…に、図４（ｂ）に示す対向電圧信号は、図３に
示す液晶パネル１１の下側端部に設けられ、かつ最右端
に位置する端子部１３に、図４（ｃ）に示すデータ信号
は、図３に示す下側端部に設けられた右端以外の端子部
１３…に、それぞれ接触している検査電極９を介して入
力される。
具１と駆動信号発生器４とが接続されるように検査切り
替え装置５を設定すると共に、この駆動信号発生器４か
ら、例えば図４に示すような点灯駆動信号としての走査
信号、対向電圧信号、およびデータ信号を発生させる。
これにより、上記点灯駆動信号が、検査切り替え装置５
を介して検査電極９が設けられた検査電極用プレート７
に入力される。つまり、図４（ａ）に示す走査信号は、
図３に示す液晶パネル１１の右側端部に設けられた端子
部１３…に、図４（ｂ）に示す対向電圧信号は、図３に
示す液晶パネル１１の下側端部に設けられ、かつ最右端
に位置する端子部１３に、図４（ｃ）に示すデータ信号
は、図３に示す下側端部に設けられた右端以外の端子部
１３…に、それぞれ接触している検査電極９を介して入
力される。
【００１８】また、走査信号及びデータ信号は、液晶パ
ネル１１の端子部１３…を複数のブロックに分け、その
ブロックごと入力されるようになっている。つまり、本
実施例の液晶パネル用検査装置では、ブロックごとに同
一信号を入力し、複数の絵素を同一駆動させるべた駆動
により、輝点、あるいは黒点となる欠陥絵素を検出し、
液晶パネル１１の表示品位の検査を行うようになってい
る。
ネル１１の端子部１３…を複数のブロックに分け、その
ブロックごと入力されるようになっている。つまり、本
実施例の液晶パネル用検査装置では、ブロックごとに同
一信号を入力し、複数の絵素を同一駆動させるべた駆動
により、輝点、あるいは黒点となる欠陥絵素を検出し、
液晶パネル１１の表示品位の検査を行うようになってい
る。
【００１９】一方、抵抗検査を実施する場合には、抵抗
計３と検査用治具１とを接続するように検査切り替え装
置５を設定する。また、液晶パネル１１の端子部１３…
における抵抗検査箇所の切り替えについても、上記の検
査切り替え装置５で行われる。このような状態で、抵抗
検査を行う端子部１３…に所定の電圧を印加し、抵抗計
３にて抵抗を測定することにより液晶パネル１１内部の
リーク検査を実施する。
計３と検査用治具１とを接続するように検査切り替え装
置５を設定する。また、液晶パネル１１の端子部１３…
における抵抗検査箇所の切り替えについても、上記の検
査切り替え装置５で行われる。このような状態で、抵抗
検査を行う端子部１３…に所定の電圧を印加し、抵抗計
３にて抵抗を測定することにより液晶パネル１１内部の
リーク検査を実施する。
【００２０】上記のように、本実施例の液晶パネル用検
査装置では、駆動信号発生器４からの点灯駆動信号を入
力し上記したようなべた駆動を行うことにより、欠陥部
を検出し、液晶パネル１１の表示品位検査を行うように
なっている。したがって、ＴＡＢ等の能動素子を液晶パ
ネル１１の端子部１３…に接続する必要がなく、ＴＡＢ
と液晶パネル１１の端子部１３…との精密な位置合わせ
も不要になる。したがって、検査装置の構成を簡略化す
ることが可能になる。
査装置では、駆動信号発生器４からの点灯駆動信号を入
力し上記したようなべた駆動を行うことにより、欠陥部
を検出し、液晶パネル１１の表示品位検査を行うように
なっている。したがって、ＴＡＢ等の能動素子を液晶パ
ネル１１の端子部１３…に接続する必要がなく、ＴＡＢ
と液晶パネル１１の端子部１３…との精密な位置合わせ
も不要になる。したがって、検査装置の構成を簡略化す
ることが可能になる。
【００２１】また、ＴＡＢが不要であるため、検査切り
替え装置５の設定を切り替えて、検査電極９が設けられ
た検査用治具１と抵抗計３とを接続するだけで、同一の
検査用治具１により抵抗検査をも実施することが可能に
なる。
替え装置５の設定を切り替えて、検査電極９が設けられ
た検査用治具１と抵抗計３とを接続するだけで、同一の
検査用治具１により抵抗検査をも実施することが可能に
なる。
【００２２】このように表示品位検査と抵抗検査とを同
一の検査用治具１で実施することができるので、端子部
１３…への電極のつなぎ替え等、面倒な手間を省くこと
が可能になり、作業性が向上し、検査に要する時間が短
縮される。
一の検査用治具１で実施することができるので、端子部
１３…への電極のつなぎ替え等、面倒な手間を省くこと
が可能になり、作業性が向上し、検査に要する時間が短
縮される。
【００２３】
【発明の効果】本発明の液晶パネル用検査装置は、以上
のように、液晶パネルの端子部に接触させる検査電極
と、液晶パネルの表示品位検査を行うための点灯駆動信
号を発生させる駆動信号発生手段と、抵抗検査を行うた
めの抵抗測定手段と、表示品位検査を行う場合には、上
記検査電極に駆動信号発生手段を接続する一方、抵抗検
査を行う場合には、上記検査電極に抵抗測定手段を接続
するように、検査電極の接続状態を切り替える検査切り
替え手段とを備えた構成である。
のように、液晶パネルの端子部に接触させる検査電極
と、液晶パネルの表示品位検査を行うための点灯駆動信
号を発生させる駆動信号発生手段と、抵抗検査を行うた
めの抵抗測定手段と、表示品位検査を行う場合には、上
記検査電極に駆動信号発生手段を接続する一方、抵抗検
査を行う場合には、上記検査電極に抵抗測定手段を接続
するように、検査電極の接続状態を切り替える検査切り
替え手段とを備えた構成である。
【００２４】それゆえ、表示品位検査を実駆動ではなく
べた駆動とすることにより、精密な位置合わせを必要と
する能動素子が不要になるため、検査装置の構成を簡略
化できると共に、検査切り替え手段により検査電極の接
続状態を制御するだけで、面倒な手間を要することな
く、容易に表示品位検査と抵抗検査とを実施できるの
で、検査を実施する際の作業性を向上することができる
という効果を奏する。
べた駆動とすることにより、精密な位置合わせを必要と
する能動素子が不要になるため、検査装置の構成を簡略
化できると共に、検査切り替え手段により検査電極の接
続状態を制御するだけで、面倒な手間を要することな
く、容易に表示品位検査と抵抗検査とを実施できるの
で、検査を実施する際の作業性を向上することができる
という効果を奏する。
【図１】本発明の一実施例における液晶パネル用検査装
置の構成を示す斜視図である。
置の構成を示す斜視図である。
【図２】上記液晶パネル用検査装置における検査用治具
の位置決め用プレート上に載置された液晶パネルの状態
を示す平面図である。
の位置決め用プレート上に載置された液晶パネルの状態
を示す平面図である。
【図３】上記液晶パネルの端子部と検査用治具に設けら
れた検査電極との接触状態を示す要部拡大図である。
れた検査電極との接触状態を示す要部拡大図である。
【図４】上記液晶パネル用検査装置に備えられた駆動信
号発生器から出力される点灯駆動信号を示す波形図であ
る。
号発生器から出力される点灯駆動信号を示す波形図であ
る。
３ 抵抗計（抵抗測定手段） ４ 駆動信号発生器（駆動信号発生手段） ５ 検査切り替え装置（検査切り替え手段） ９ 検査電極 １１ 液晶パネル １３ 端子部
フロントページの続き (72)発明者 入江 勝美 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (56)参考文献 特開 平４−329332（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−309918（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−7522（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−5537（ＪＰ，Ａ) 実開 平４−55535（ＪＰ，Ｕ) 実開 平１−173690（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭61−48380（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01M 11/00 G01R 31/00 G02F 1/13 G02F 1/1343
Claims (1)
- 【請求項１】液晶パネルの端子部に接触させる検査電極
と、 液晶パネルの表示品位検査を行うための点灯駆動信号を
発生させる駆動信号発生手段と、 抵抗検査を行うための抵抗測定手段と、 表示品位検査を行う場合には、上記検査電極に駆動信号
発生手段を接続する一方、抵抗検査を行う場合には、上
記検査電極に抵抗測定手段を接続するように、検査電極
の接続状態を切り替える検査切り替え手段とを備えたこ
とを特徴とする液晶パネル用検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4318979A JP2854209B2 (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 液晶パネル用検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4318979A JP2854209B2 (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 液晶パネル用検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06167419A JPH06167419A (ja) | 1994-06-14 |
| JP2854209B2 true JP2854209B2 (ja) | 1999-02-03 |
Family
ID=18105138
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4318979A Expired - Lifetime JP2854209B2 (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 液晶パネル用検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2854209B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR980003676A (ko) * | 1996-06-22 | 1998-03-30 | 김광호 | 액정 패널 테스트 장치 |
| JP3511861B2 (ja) * | 1996-10-04 | 2004-03-29 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶表示パネル及びその検査方法、並びに液晶表示パネルの製造方法 |
-
1992
- 1992-11-27 JP JP4318979A patent/JP2854209B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06167419A (ja) | 1994-06-14 |
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