JPH029039A - 扁平多層磁気‐光学的記録材料 - Google Patents
扁平多層磁気‐光学的記録材料Info
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
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- G11B11/10582—Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は新規な扁平多層磁気−光学的記録材料に関する
ものである。
ものである。
(従来技術)
光学的に透過性の、寸法安定性担体(A)と、無定形ラ
ンタニド遷移金属合金から構成された熱変性可能の記録
月(B)とから成る扁平多層磁気−光学的記録材料は、
例えば米国特許4,612,068号、4.126.4
94号、4,152,486号各明細書、英国特許出願
公開2,071.696号公報、米国特許4.893.
934号明細書、英国特許出願公開2,175.160
号公報、西独特許出願公告3317101号公報、米国
特許4,695,510号明細書、ヨーロッパ特許出願
公開0.233,034号公報、米国特許4.684.
454号、同4.670.358号、同4.670.3
53号各明細書、ヨーロッパ特許出願公開0.2292
92号及び同0.228.409号公報ならびに米国特
許4.661.420号明細書から公知である。
ンタニド遷移金属合金から構成された熱変性可能の記録
月(B)とから成る扁平多層磁気−光学的記録材料は、
例えば米国特許4,612,068号、4.126.4
94号、4,152,486号各明細書、英国特許出願
公開2,071.696号公報、米国特許4.893.
934号明細書、英国特許出願公開2,175.160
号公報、西独特許出願公告3317101号公報、米国
特許4,695,510号明細書、ヨーロッパ特許出願
公開0.233,034号公報、米国特許4.684.
454号、同4.670.358号、同4.670.3
53号各明細書、ヨーロッパ特許出願公開0.2292
92号及び同0.228.409号公報ならびに米国特
許4.661.420号明細書から公知である。
この公知の記録材料は、記録材料層(B)に集束され、
かつ/またはこれに直角に入射せしめられるパルス変調
レーザビームにより、データを記録し或は書込む作用を
イrする。
かつ/またはこれに直角に入射せしめられるパルス変調
レーザビームにより、データを記録し或は書込む作用を
イrする。
データの記録乃至書込みに際し、記録5 (B)表面に
直角に指向される磁束線を有する外部補助磁場を記録材
料上に設定するか、或は記録B (B)に同様に指向さ
れた居内在(固有)Fa場を設ける。
直角に指向される磁束線を有する外部補助磁場を記録材
料上に設定するか、或は記録B (B)に同様に指向さ
れた居内在(固有)Fa場を設ける。
周知のように無定形のフェリ磁性ランタニド遷移金属合
金から形成され、表面に対し直1り方向に磁化された磁
気記録W (B)は、データの舎込みに際して、レーザ
ビームによりその入射位置において加熱される。この加
熱により合金の保磁力Hcは低減する。それぞれに使用
される合金に応じて相途する臨界温度において、保はカ
が外部設定補助磁場或は内在磁場を下廻わると、当初の
方向に対向する磁化方向を示す領域が入射位置に生ずる
。
金から形成され、表面に対し直1り方向に磁化された磁
気記録W (B)は、データの舎込みに際して、レーザ
ビームによりその入射位置において加熱される。この加
熱により合金の保磁力Hcは低減する。それぞれに使用
される合金に応じて相途する臨界温度において、保はカ
が外部設定補助磁場或は内在磁場を下廻わると、当初の
方向に対向する磁化方向を示す領域が入射位置に生ずる
。
このような領域はスポットとも称される。
書込まれた記録は、必要に応じ、例えばレーザビームに
より、外部設定乃至内在磁場(その磁束線は記録5 (
B)の面に対し直角にti向される)の同時作用下に、
局部的な記録F1(B)の意図的加熱で消去され、新た
なデータの書込みが可能である。すなわち吉込み記録は
可逆的である。
より、外部設定乃至内在磁場(その磁束線は記録5 (
B)の面に対し直角にti向される)の同時作用下に、
局部的な記録F1(B)の意図的加熱で消去され、新た
なデータの書込みが可能である。すなわち吉込み記録は
可逆的である。
データを読取るためには、記録材料が臨界温度をこえて
加熱されない程度の光量の、連続放射直線偏光レーザを
使用する。このレーザビームは記録fl (B)自体か
ら、またその裏側の反射層がら反射し、これにより記録
層中の磁気モーメントとレーザ光波の磁気ベクトルとの
間の相互作用がもたらされる。この相互作用により、ス
ポット或はその裏側にある反射層から反射するレーザ光
偏光面Eは当初の平面に対して僅かな角度だけ旋回する
。この偏光面Cの旋回はレーザ光が記録層において反射
することにより生するので、これをカー効果と称し、こ
れによる旋回角度をカー旋回角と称する。これに対して
レーザ光が記録層中を2回口に通過する際に偏光面が旋
回する場をファラデイ効果と称し、その旋回角度をファ
ラデイ旋回角と称する。
加熱されない程度の光量の、連続放射直線偏光レーザを
使用する。このレーザビームは記録fl (B)自体か
ら、またその裏側の反射層がら反射し、これにより記録
層中の磁気モーメントとレーザ光波の磁気ベクトルとの
間の相互作用がもたらされる。この相互作用により、ス
ポット或はその裏側にある反射層から反射するレーザ光
偏光面Eは当初の平面に対して僅かな角度だけ旋回する
。この偏光面Cの旋回はレーザ光が記録層において反射
することにより生するので、これをカー効果と称し、こ
れによる旋回角度をカー旋回角と称する。これに対して
レーザ光が記録層中を2回口に通過する際に偏光面が旋
回する場をファラデイ効果と称し、その旋回角度をファ
ラデイ旋回角と称する。
この記録材料から反射するレーザ光偏光而市の旋回は、
適当な光学的、電子的装置により計L!jllされ、信
号に変換され得る。
適当な光学的、電子的装置により計L!jllされ、信
号に変換され得る。
公知の記録材料においてファラデイ効果を利用する場合
には、記録層(B)は光透過性であるから、反射層を設
けることが必須不可欠である。さらに妨害的回折現象を
阻止するために干渉層も設けなければならない。
には、記録層(B)は光透過性であるから、反射層を設
けることが必須不可欠である。さらに妨害的回折現象を
阻止するために干渉層も設けなければならない。
このような公知の記録材料においては、その記録層(B
)が水及び/或は空気中酸素により極めて迅速に破損さ
れ、その結果これに書込まれたデータが破壊されるので
、防蝕処理が基本的に重要である。従って記録S (B
)の防蝕に関する研究は少なからずなされている。
)が水及び/或は空気中酸素により極めて迅速に破損さ
れ、その結果これに書込まれたデータが破壊されるので
、防蝕処理が基本的に重要である。従って記録S (B
)の防蝕に関する研究は少なからずなされている。
例えば西独特許出願公開3335689号公報には2゜
乃至1100nの厚さの記り、p層を何する記録材料が
記載されている。その担体(A)と反対の記録6 CB
)の而にさらに3月が設けられ、これらはそれぞれ明確
な作用を果たす。2.0以上の反射係数ををする材料、
例えばチタン、セリウム、アンチモン、タングステン、
珪素、ビスマス或はカドミウムの酸化物から成る第1居
は干渉層として機能する。第2届は銅、銀、クロム、ア
ルミニウム、ロジウム、金或はニッケルのような金属か
ら成り、反射層を構成する。最上層は酸化防止層として
作用し、マグネシウム、アルミニウム、珪素、チタン或
はトリウムの酸化物から構成される。
乃至1100nの厚さの記り、p層を何する記録材料が
記載されている。その担体(A)と反対の記録6 CB
)の而にさらに3月が設けられ、これらはそれぞれ明確
な作用を果たす。2.0以上の反射係数ををする材料、
例えばチタン、セリウム、アンチモン、タングステン、
珪素、ビスマス或はカドミウムの酸化物から成る第1居
は干渉層として機能する。第2届は銅、銀、クロム、ア
ルミニウム、ロジウム、金或はニッケルのような金属か
ら成り、反射層を構成する。最上層は酸化防止層として
作用し、マグネシウム、アルミニウム、珪素、チタン或
はトリウムの酸化物から構成される。
西独特許出願公開3534571号公報により公知の記
録材料もこれに類する構成を有する。この場合は記録層
(B)上に形成される第1層は珪素炭化物及び窒化物、
或は珪素炭化物及びアルミニウム窒化物の混合物から構
成され、保護層兼干渉層として機能する。第2層として
銅、アルミニウム或は金のような金属から成る反射層が
形成される。その上に防蝕層を設けることができる。こ
の記録材f−1ハ、−酸化珪素、弗化マグネシウム或は
ニオブ、タンタルもしくはアルミニウムの酸化物、或は
アルミニウムもしくは珪素の窒化物を含仔する干渉層の
ような追加層を設けることもできるとしている。
録材料もこれに類する構成を有する。この場合は記録層
(B)上に形成される第1層は珪素炭化物及び窒化物、
或は珪素炭化物及びアルミニウム窒化物の混合物から構
成され、保護層兼干渉層として機能する。第2層として
銅、アルミニウム或は金のような金属から成る反射層が
形成される。その上に防蝕層を設けることができる。こ
の記録材f−1ハ、−酸化珪素、弗化マグネシウム或は
ニオブ、タンタルもしくはアルミニウムの酸化物、或は
アルミニウムもしくは珪素の窒化物を含仔する干渉層の
ような追加層を設けることもできるとしている。
さらに西独特許出願公開3500314号公報には、酸
化物及び窒化物の混合物から成る干渉層兼防蝕層の作用
をする1層を何する記録材料が開示されている。
化物及び窒化物の混合物から成る干渉層兼防蝕層の作用
をする1層を何する記録材料が開示されている。
干渉層、反射層及び酸化防止層の公知の111合せは、
単一層ではなく、複数の別個の層を成す防蝕層を構成す
るものと解される。その(11■i成及び構造は!11
に防蝕効果のみでなく他の作用を主として決定されるか
らである。
単一層ではなく、複数の別個の層を成す防蝕層を構成す
るものと解される。その(11■i成及び構造は!11
に防蝕効果のみでなく他の作用を主として決定されるか
らである。
防蝕効果について公知の組合せは欠点を汀する。ことに
空気と接する側に例えば酸化アルミニウムから成る比較
的厚い居を持たない限り酸累遮断効果は余り期待できな
い。さらに他の層の組成分の選択の観点から、各月間の
接着性、耐摩耗性、管内部応力乃至機械的強度に関する
他の居の欠点が生ずる。干渉乃至反射の点について公知
の組合せが良好であるにしても防蝕性に関しては不滴足
である。或はまた防蝕効果の点で満足すべきものでも、
耐摩耗性については期待され得ない。また表面の特に高
い硬度をもたらす組成を選択すると、公知の居組成分の
組合せでは全体的に脆くなる。さらに内部応力により亀
裂をもたらす可能性もある。これらはすべて防蝕効果に
ついて不利となるものである。
空気と接する側に例えば酸化アルミニウムから成る比較
的厚い居を持たない限り酸累遮断効果は余り期待できな
い。さらに他の層の組成分の選択の観点から、各月間の
接着性、耐摩耗性、管内部応力乃至機械的強度に関する
他の居の欠点が生ずる。干渉乃至反射の点について公知
の組合せが良好であるにしても防蝕性に関しては不滴足
である。或はまた防蝕効果の点で満足すべきものでも、
耐摩耗性については期待され得ない。また表面の特に高
い硬度をもたらす組成を選択すると、公知の居組成分の
組合せでは全体的に脆くなる。さらに内部応力により亀
裂をもたらす可能性もある。これらはすべて防蝕効果に
ついて不利となるものである。
従って、これまで公知の防蝕効果に関する居組成分の組
合せは、その製造、届形成及び/或は材料構成に関して
改善される必要がある。
合せは、その製造、届形成及び/或は材料構成に関して
改善される必要がある。
西独特許出願公開3528701号公報には、担体(A
)から遠い方の記録6 (B)の面がタングステン、硼
素、モリブデン、ハフニウム、ニオブ、チタン、クロム
、バナジウム、タンタル或は珪素の炭化物で被覆された
記録材料が開示されている。
)から遠い方の記録6 (B)の面がタングステン、硼
素、モリブデン、ハフニウム、ニオブ、チタン、クロム
、バナジウム、タンタル或は珪素の炭化物で被覆された
記録材料が開示されている。
米国特許4.680.742z明細吉から、担体(A)
と記録層(B)との間に窒化珪素から成る干渉居に、防
蝕作用の観点からイツトリウム、ランタン、セリウム、
チタン、ジルコニウム、クロム、モリブデン、アンチモ
ン、ビスムス、珪素、ゲルマニウム、錫、鉛、アルミニ
ウム、亜鉛もしくはカドミウム、或はその酸化物、窒化
物、硫化物、珪化物を添加して改善した記録材料が公知
となっている。この添加物は窒化珪素中に0.1乃至2
0モル%ことに4乃至20モル%含有される。
と記録層(B)との間に窒化珪素から成る干渉居に、防
蝕作用の観点からイツトリウム、ランタン、セリウム、
チタン、ジルコニウム、クロム、モリブデン、アンチモ
ン、ビスムス、珪素、ゲルマニウム、錫、鉛、アルミニ
ウム、亜鉛もしくはカドミウム、或はその酸化物、窒化
物、硫化物、珪化物を添加して改善した記録材料が公知
となっている。この添加物は窒化珪素中に0.1乃至2
0モル%ことに4乃至20モル%含有される。
さらにヨーロッパ特許出願公開0,233.062号公
報から、記録l1ilI(B)の少なくとも一方の面が
、珪素、アルミニウム、酸素及び窒素から成る1Fから
選ばれ、少なくとも3個の共イ丁結合を有する組成分か
ら成る保=1輪至防蝕層で被覆された記録材料が公知と
なっている。
報から、記録l1ilI(B)の少なくとも一方の面が
、珪素、アルミニウム、酸素及び窒素から成る1Fから
選ばれ、少なくとも3個の共イ丁結合を有する組成分か
ら成る保=1輪至防蝕層で被覆された記録材料が公知と
なっている。
さらにヨーロッパ特許出願公開0,231.672号公
報には、記録E (B)の少なくとも担体(A)に対向
している方の面が、 (t)La1Ce1Pr1Nd1Pr、S+ss Eu
s Gdt Tbx DYN11o1Er%T1% Y
b或はLu及びθ1)SiO2、^Ia(1+、Cab
s La20y、MgO1Sb203.5IO1Sn
O3、ZrO□、ZnS1 cds、pbs、SbS、
ls ^IF3、CaF2、CeF3、MgF2、N
aAIFs、NaFq LIF% NaF:+、p
bF2、ThF4、AlN5 513N4、TlN1
TIC% SIC,Cr3C2、MO2C或はWC の気相から相互分離により形成された保mff1乃至防
蝕層で被覆された記録材料を開示している。
報には、記録E (B)の少なくとも担体(A)に対向
している方の面が、 (t)La1Ce1Pr1Nd1Pr、S+ss Eu
s Gdt Tbx DYN11o1Er%T1% Y
b或はLu及びθ1)SiO2、^Ia(1+、Cab
s La20y、MgO1Sb203.5IO1Sn
O3、ZrO□、ZnS1 cds、pbs、SbS、
ls ^IF3、CaF2、CeF3、MgF2、N
aAIFs、NaFq LIF% NaF:+、p
bF2、ThF4、AlN5 513N4、TlN1
TIC% SIC,Cr3C2、MO2C或はWC の気相から相互分離により形成された保mff1乃至防
蝕層で被覆された記録材料を開示している。
さらにまた本出願人の出願に係る西独特許出願P371
6736.7号(日木国特許出願昭83−115000
号)には、2種類以上の組成分から成り、それぞれ各1
組成から成る4居以上の分離された防蝕層(厚さ30乃
至250nm)が記載されている。これは硼素、アルミ
ニウム、珪素、チタン、ジルコニウム、ハフニウム、バ
ナジウム、ニオブ、タンタル、クロム、モリブデン、タ
ングステンの各元素の群から成る組成分の少な(とも1
種類と、その炭化物、窒化物、酸化物の群から成る他の
組成分の少な(とも1種類から選択される。直接隣接す
る居は常に互いに異なる組成分から構成される。
6736.7号(日木国特許出願昭83−115000
号)には、2種類以上の組成分から成り、それぞれ各1
組成から成る4居以上の分離された防蝕層(厚さ30乃
至250nm)が記載されている。これは硼素、アルミ
ニウム、珪素、チタン、ジルコニウム、ハフニウム、バ
ナジウム、ニオブ、タンタル、クロム、モリブデン、タ
ングステンの各元素の群から成る組成分の少な(とも1
種類と、その炭化物、窒化物、酸化物の群から成る他の
組成分の少な(とも1種類から選択される。直接隣接す
る居は常に互いに異なる組成分から構成される。
これらの製法、居形成及び/或は材料組成の異なる従来
技術は、いずれも記録層(B)におけるピンホール腐蝕
を常に確実に抑止することには成功していない。上記西
独特許出願P3716736.7号明細古に記載されて
いる防蝕層により記録層(B)を酸素及び水から保:Q
する口約について有意の改善が期待され得るにしても、
記録再生の質、ならびに記録材料の耐用寿命に対する次
第に増大する要望にこたえ、ことに記録層(B)のピン
、ホール腐蝕を抑止するためにはさらに一層の改冴が必
要である。
技術は、いずれも記録層(B)におけるピンホール腐蝕
を常に確実に抑止することには成功していない。上記西
独特許出願P3716736.7号明細古に記載されて
いる防蝕層により記録層(B)を酸素及び水から保:Q
する口約について有意の改善が期待され得るにしても、
記録再生の質、ならびに記録材料の耐用寿命に対する次
第に増大する要望にこたえ、ことに記録層(B)のピン
、ホール腐蝕を抑止するためにはさらに一層の改冴が必
要である。
そこでこの分野の技術的課題は、(A)光学的に透過性
の、寸法安定性担体と、(B)j!!!定形ランタニド
遷移金属合金から構成される熱変性可能の記録層とを有
し、上述した従来技術の欠点を示さない新規な扇平多届
磁気−光学的記録材料を提供することである。
の、寸法安定性担体と、(B)j!!!定形ランタニド
遷移金属合金から構成される熱変性可能の記録層とを有
し、上述した従来技術の欠点を示さない新規な扇平多届
磁気−光学的記録材料を提供することである。
(発明の要約)
しかるに上記の技術的課題は、本発明による、(A)光
学的に透過性の、寸法安定性担体と、(B)少なくとも
担体(A)から遠い方の面において20omまでの厚さ
を打し、炭素、酸素及び/或は窒素を含有する表面層部
分を有する、無定形ランタニド/遷移金属合金から構成
された熱変性可能の記録層とから成る扁平多層磁気−光
学的記録材料により解決されるに至った。
学的に透過性の、寸法安定性担体と、(B)少なくとも
担体(A)から遠い方の面において20omまでの厚さ
を打し、炭素、酸素及び/或は窒素を含有する表面層部
分を有する、無定形ランタニド/遷移金属合金から構成
された熱変性可能の記録層とから成る扁平多層磁気−光
学的記録材料により解決されるに至った。
このように定義される扁平多層磁気−光学的記録材料は
、以下においてr本発明記録材料」と略称される。
、以下においてr本発明記録材料」と略称される。
(発明の構成)
本発明について「扁平」と称するのは、長さ及び幅に対
して厚さが著しく小さい、あらゆる空間占有形状を意味
する。従って本発明記録材料はテープ、板体或は円盤体
であることができ、ことにデータプレート乃至ディスク
と称されている円盤体がを利である。
して厚さが著しく小さい、あらゆる空間占有形状を意味
する。従って本発明記録材料はテープ、板体或は円盤体
であることができ、ことにデータプレート乃至ディスク
と称されている円盤体がを利である。
本発明記録材料の木質的構成部分は、以下において「新
規記録ffl (B)Jと称される無定形ランタニド遷
移金属合金から成る新規な熱変性可能の記録層(B)で
ある。
規記録ffl (B)Jと称される無定形ランタニド遷
移金属合金から成る新規な熱変性可能の記録層(B)で
ある。
新規記録Fy!1(B)は、これまで公知の磁気−光学
的記録層と同様に、!!(定形ランタニド遷移金属合金
から成り、10乃至500nmの厚さををする。この新
規記27層(B)は、公知技術におけると同様に、ラン
タニドのプラセオジム、ネオジム、サマリウム、ユーロ
ピウム、ガドリニウム、テルビウム、ジスプロンラム及
びホルミウムならびに遷移金属の鉄及びコバルトを含有
し、このランタニドと遷移金属との適当な混合割合は一
般的に公知である。さらに無定形ランタニド/遷移金属
合金は、他の元素、例えばスカンジウム、イツトリウム
、ランタン、バナジン、ニオブ、クンタル、クロム、モ
リブデン、タングステン、マンガン、ニッケル、銅、銀
、金、亜鉛、硼素、アルミニウム、ガリウム、インジウ
ム、珪素、ゲルマニウム、錫、鉛、燐、砒素、アンチモ
ン及び/或はビスムスを公知慣用の割合で含有すること
ができる。
的記録層と同様に、!!(定形ランタニド遷移金属合金
から成り、10乃至500nmの厚さををする。この新
規記27層(B)は、公知技術におけると同様に、ラン
タニドのプラセオジム、ネオジム、サマリウム、ユーロ
ピウム、ガドリニウム、テルビウム、ジスプロンラム及
びホルミウムならびに遷移金属の鉄及びコバルトを含有
し、このランタニドと遷移金属との適当な混合割合は一
般的に公知である。さらに無定形ランタニド/遷移金属
合金は、他の元素、例えばスカンジウム、イツトリウム
、ランタン、バナジン、ニオブ、クンタル、クロム、モ
リブデン、タングステン、マンガン、ニッケル、銅、銀
、金、亜鉛、硼素、アルミニウム、ガリウム、インジウ
ム、珪素、ゲルマニウム、錫、鉛、燐、砒素、アンチモ
ン及び/或はビスムスを公知慣用の割合で含有すること
ができる。
新規記録8’(B)を形成するための適当なランタニド
/遷移金属合金は例えば以下のものである。
/遷移金属合金は例えば以下のものである。
(Ndo 、2B−0,311DYO、o3Feo 、
5−0 、QCOO−+ )o 、oo(T I、Cr
)O−0 Gdo 、2−0−Jeo 、7−0.8、Gdo−2
−O−3COO−7−0,8T bo、+5−o、2a
Feo、75−o、5lsx Gdo、++s−o、
2scOo、tsDyo−+a−o−2aFeo−7□
−0,82、Gdo 、 l3Tbo 、 IJeo−
74(Smo−oo−o・a+Tbo、oo−o、o4
)o−+II−o・*5Feo、e5((S11o、+
−o−2oTbo、+4−o、o)o、aGdo、4)
o−*Je(Tbo ・25Feo ・75) O、
ozPto ・as新規記録5(B)は少なくとも担体
(A)から遠い方の而に20r+mまでの厚さの炭素、
酸素及び/或は窒素を含有する表面層部分を有するか、
或はその両面に20omまでの厚さの炭素、酸素及び/
或は窒素を含有する表面層部分を有し、この両面に表面
層部分を有する場合には両者の厚さ、構造及び組成はほ
ぼ或は全く等しい。
5−0 、QCOO−+ )o 、oo(T I、Cr
)O−0 Gdo 、2−0−Jeo 、7−0.8、Gdo−2
−O−3COO−7−0,8T bo、+5−o、2a
Feo、75−o、5lsx Gdo、++s−o、
2scOo、tsDyo−+a−o−2aFeo−7□
−0,82、Gdo 、 l3Tbo 、 IJeo−
74(Smo−oo−o・a+Tbo、oo−o、o4
)o−+II−o・*5Feo、e5((S11o、+
−o−2oTbo、+4−o、o)o、aGdo、4)
o−*Je(Tbo ・25Feo ・75) O、
ozPto ・as新規記録5(B)は少なくとも担体
(A)から遠い方の而に20r+mまでの厚さの炭素、
酸素及び/或は窒素を含有する表面層部分を有するか、
或はその両面に20omまでの厚さの炭素、酸素及び/
或は窒素を含有する表面層部分を有し、この両面に表面
層部分を有する場合には両者の厚さ、構造及び組成はほ
ぼ或は全く等しい。
新規記録F!J(B)が上記表面層部分を一方の而のみ
に打するか或は両方の而に仔するかに関係なく、この表
面層部分は20r+n+より厚くなることはない。この
表面層mく分乃至帯域の厚さがそれ以上となってもその
有利な技術的効果は全く増大することはないからである
。他方において、この表面層部分の厚さはO,Inmを
下廻ってはならない。この場合ピンホール腐蝕の防止効
果が十分に期待され得ないからである。本発明において
、この好ましい厚さは0.5乃至20omことに1乃至
18r+I11である。
に打するか或は両方の而に仔するかに関係なく、この表
面層部分は20r+n+より厚くなることはない。この
表面層mく分乃至帯域の厚さがそれ以上となってもその
有利な技術的効果は全く増大することはないからである
。他方において、この表面層部分の厚さはO,Inmを
下廻ってはならない。この場合ピンホール腐蝕の防止効
果が十分に期待され得ないからである。本発明において
、この好ましい厚さは0.5乃至20omことに1乃至
18r+I11である。
さらにイf利であるのは2乃至16omの厚さ範囲であ
って、上記範囲内において適宜に厚さを変え、それぞれ
ランタニド/遷移金属合金の適用特性、記録層(B)全
体の厚さ及び/或は本発明記録材料に含有される居の合
計厚さに十分にかつ簡単に適応せしめることができる。
って、上記範囲内において適宜に厚さを変え、それぞれ
ランタニド/遷移金属合金の適用特性、記録層(B)全
体の厚さ及び/或は本発明記録材料に含有される居の合
計厚さに十分にかつ簡単に適応せしめることができる。
新規記録層(B)の表面層部分は炭素、酸素及び/或は
窒素を含有する。すなわち、ランタニド/遷移金属合金
のみでなく、さらに炭素、酸素或は窒素を、或は酸素及
び窒素を、酸素及び炭素を、炭素及び窒素を、或は炭素
、酸素及び窒素を含有する。表面層部分はさらにまた炭
化物の、酸化物の、窒化物の、酸化物/窒化物の、酸化
物/炭化物の、炭化物/窒化物の或は炭化物/酸化物/
窒化物の層部分を有することもできる。このうち−般に
酸素及び窒素を、或は酸素及び炭素を使用すること、す
なわち表面層部分は酸素及び窒素を、或は酸素及び炭素
を含有するのが好ましい。
窒素を含有する。すなわち、ランタニド/遷移金属合金
のみでなく、さらに炭素、酸素或は窒素を、或は酸素及
び窒素を、酸素及び炭素を、炭素及び窒素を、或は炭素
、酸素及び窒素を含有する。表面層部分はさらにまた炭
化物の、酸化物の、窒化物の、酸化物/窒化物の、酸化
物/炭化物の、炭化物/窒化物の或は炭化物/酸化物/
窒化物の層部分を有することもできる。このうち−般に
酸素及び窒素を、或は酸素及び炭素を使用すること、す
なわち表面層部分は酸素及び窒素を、或は酸素及び炭素
を含有するのが好ましい。
新規記録ffl (11)の表面層部分は炭素、酸素及
び/或は窒素を均斉含有するのが有利である。すなわち
この表面層部分は炭素、酸素及び/或は窒素の含有割合
について差違がない。表面層部分は化学量論的量の炭素
、窒素及び/或は窒素を、すなわち化学m論的量で結合
されたランタニド−遷移金属−酸化物の、−窒化物の、
−炭化物の、−酸化物/炭化物の、−酸化物/窒化物の
、−炭化物/窒化物の或は−炭化物/酸化物/窒化物の
層部分を含有する。しかしながらこの表面FIR分は準
化学量論的量の炭素、酸素或は窒素を、すなわち共を結
合性のランタニド−遷移金属−酸化物、窒化物、−炭化
物、−酸化物/炭化物、−酸化物/窒化物、−炭化物/
窒化物或は−炭化物/酸化物/窒化物の相を含有する。
び/或は窒素を均斉含有するのが有利である。すなわち
この表面層部分は炭素、酸素及び/或は窒素の含有割合
について差違がない。表面層部分は化学量論的量の炭素
、窒素及び/或は窒素を、すなわち化学m論的量で結合
されたランタニド−遷移金属−酸化物の、−窒化物の、
−炭化物の、−酸化物/炭化物の、−酸化物/窒化物の
、−炭化物/窒化物の或は−炭化物/酸化物/窒化物の
層部分を含有する。しかしながらこの表面FIR分は準
化学量論的量の炭素、酸素或は窒素を、すなわち共を結
合性のランタニド−遷移金属−酸化物、窒化物、−炭化
物、−酸化物/炭化物、−酸化物/窒化物、−炭化物/
窒化物或は−炭化物/酸化物/窒化物の相を含有する。
本発明における表面層部分は準化学量論的量の炭素、酸
素及び/或は窒素を含有するのが好ましい。
素及び/或は窒素を含有するのが好ましい。
従って、本発明は炭素、酸素及び/或は窒素の量におい
て異なること、すなわち表面層部分において炭素、酸素
及び/或は窒素の量が異なることもできる。
て異なること、すなわち表面層部分において炭素、酸素
及び/或は窒素の量が異なることもできる。
表面層が炭素、酸素或は窒素を含有する限り、表面8部
分は少なくとも部分的に準化学量論的組成を有するか或
は炭素、窒素及び酸素のない部分或は居が存在すること
になる。
分は少なくとも部分的に準化学量論的組成を有するか或
は炭素、窒素及び酸素のない部分或は居が存在すること
になる。
表面層が酸素と窒素、酸素と炭素、炭素と窒素或は炭素
と酸素と窒素を含有する限り、含有割合に関し少なくと
も部分的に準化学量論的組成となり、それぞれの全組成
分割合に関しては化学量論的或は準化学m論的組成であ
ることができる。
と酸素と窒素を含有する限り、含有割合に関し少なくと
も部分的に準化学量論的組成となり、それぞれの全組成
分割合に関しては化学量論的或は準化学m論的組成であ
ることができる。
本発明において、それぞれの個別的m割合に関して県化
学量論的組成であり、しかも各m割合が異なる表面層部
分をイfすることがを利である。
学量論的組成であり、しかも各m割合が異なる表面層部
分をイfすることがを利である。
個別的なm割合が表面層部分の外方境界面から内方境界
面に向かって減少する場合、この個別的m割合の減少が
連続的であれ、非連続的であれ、特に有利である。
面に向かって減少する場合、この個別的m割合の減少が
連続的であれ、非連続的であれ、特に有利である。
酸素及び/或は炭素の、炭素及び/或は窒素の、酸素及
び/或は窒素の、或は炭素、酸素及び/或は窒素の含有
量割合が表面層部分において内方へ向けて非連続的に減
少する限り、表面層部分において分離された層の形成が
必須となる。この分離層の場合、酸素及び/或は炭素、
炭素及び/或は窒素、酸素及び/或は窒素の、或は炭素
、酸素及び/或は窒素の含有割合が互いに異なる月であ
ることが重要である。さらにランタニドと遷移金属との
みから成る層も存在し得る。分離層は互いに針切な境界
面を有しても、或は除々に、すなわち非連続的に移行し
てもよい。要するに各含有量割合は、表面層部分の外方
境界面から内方境界面に向けて減少する。
び/或は窒素の、或は炭素、酸素及び/或は窒素の含有
量割合が表面層部分において内方へ向けて非連続的に減
少する限り、表面層部分において分離された層の形成が
必須となる。この分離層の場合、酸素及び/或は炭素、
炭素及び/或は窒素、酸素及び/或は窒素の、或は炭素
、酸素及び/或は窒素の含有割合が互いに異なる月であ
ることが重要である。さらにランタニドと遷移金属との
みから成る層も存在し得る。分離層は互いに針切な境界
面を有しても、或は除々に、すなわち非連続的に移行し
てもよい。要するに各含有量割合は、表面層部分の外方
境界面から内方境界面に向けて減少する。
6含をm割合の減少が連続的であるか非連続的であるか
に関係なく、表面層部分の内方境界面は公知慣用の炭素
、酸素或は窒素のための検出法による検出限度以下まで
減少する。すなわちその含有割合は実際上界となる。
に関係なく、表面層部分の内方境界面は公知慣用の炭素
、酸素或は窒素のための検出法による検出限度以下まで
減少する。すなわちその含有割合は実際上界となる。
本発明において、それぞれの個別的n割合すべてについ
て県化学量論的量の組成であり、しかもn割合が相異し
、しかも個別的m割合が非連続的に減少するのでなく非
連続的に変化する表面層がことに好ましい。この場合各
個別的m割合が表面層部分の外方境界面からまず減少し
、次いで増加し、次いで再び減少する。この変化は、表
面層部分内において1回乃至複数回生起し得る。変化は
個別的m割合、例えば酸素或は窒素のみのm割合に関す
るものであり、或はすべての個別的m割合に関するもの
であることができる。表面層部分内の各個別的m割合が
非連続的に変化する場合には、炭素、酸素及び/或は窒
素のm割合は公知慣用の検出方法の検出限界以下にまで
低下減少し、事実上零にすることができる。この場合新
規記録層(B)における表面す部分の内方境界面では炭
素、酸素及び/或は窒素のm割合は、上述した場合と同
様に事実上零になる。
て県化学量論的量の組成であり、しかもn割合が相異し
、しかも個別的m割合が非連続的に減少するのでなく非
連続的に変化する表面層がことに好ましい。この場合各
個別的m割合が表面層部分の外方境界面からまず減少し
、次いで増加し、次いで再び減少する。この変化は、表
面層部分内において1回乃至複数回生起し得る。変化は
個別的m割合、例えば酸素或は窒素のみのm割合に関す
るものであり、或はすべての個別的m割合に関するもの
であることができる。表面層部分内の各個別的m割合が
非連続的に変化する場合には、炭素、酸素及び/或は窒
素のm割合は公知慣用の検出方法の検出限界以下にまで
低下減少し、事実上零にすることができる。この場合新
規記録層(B)における表面す部分の内方境界面では炭
素、酸素及び/或は窒素のm割合は、上述した場合と同
様に事実上零になる。
炭素ζ酸素及び/或は窒素の非連続的変化は、表面層部
分に分類された層を形成することになる。
分に分類された層を形成することになる。
この場合、−層中における炭素、酸素及び/或は窒素の
全割合は隣接朽のものに対して急激に変化し、従って各
層は相互的にiす然とした境界面を存する。2割合の変
化は除々に、すなわち境界なく行われることもできる。
全割合は隣接朽のものに対して急激に変化し、従って各
層は相互的にiす然とした境界面を存する。2割合の変
化は除々に、すなわち境界なく行われることもできる。
何れの場合においても酸素含有居が酸素無含仔居に隣接
することができ、酸素無含有居について炭素及び/或は
窒素含何層及び/或はランタニド−遷移金属居が問題と
なる。この場合、酸素含a層は比較的少量の炭素及び/
或は窒素含有量を仔することができる。
することができ、酸素無含有居について炭素及び/或は
窒素含何層及び/或はランタニド−遷移金属居が問題と
なる。この場合、酸素含a層は比較的少量の炭素及び/
或は窒素含有量を仔することができる。
除々に、すなわち境界なしに別個の層が推移するのが本
発明において最も好ましい。
発明において最も好ましい。
新規記録Ji!I(B)の表面層部分が上述した種類の
何れであるかに関係なく、また新規記録F!J(B)が
このような両表面色部分を仔するか否かに関係なく、新
規記録層(B)は直接隣接する層(C)と明確に区劃さ
れる。
何れであるかに関係なく、また新規記録F!J(B)が
このような両表面色部分を仔するか否かに関係なく、新
規記録層(B)は直接隣接する層(C)と明確に区劃さ
れる。
新規記録層(B)が上述した表面層部分を一方の而のみ
にイrするか或は両方の而に何するかに関係なく、また
その外方境界面が直接隣接する層(C)に急激に移行す
るか除々に移行するかに関係なく、データの良好な磁気
−光学的書込み及び読出しを確保するためには、形成さ
れた新規記録層(Bの表面層部分の厚さは、常にこれに
含まれる層が純粋なランタニド−遷移金属合金を厚くす
るようになされねばならない。このために、一般に純粋
なランタニド−遷移金属合金の層は10乃至500r+
mの厚さである。これに応じて表面層部分の厚さは上述
した0、1乃至20nm1好ましくは0.5乃至20n
+lqことに1乃至18 n m 、特に2乃至+6n
mの厚さ範囲内で、所定の新規記録層(B)内において
良好なデータの磁気−光学的書込み及び読出しに必要な
純粋合金の最低限厚さが10nmを下廻らないように選
択されねばならない。
にイrするか或は両方の而に何するかに関係なく、また
その外方境界面が直接隣接する層(C)に急激に移行す
るか除々に移行するかに関係なく、データの良好な磁気
−光学的書込み及び読出しを確保するためには、形成さ
れた新規記録層(Bの表面層部分の厚さは、常にこれに
含まれる層が純粋なランタニド−遷移金属合金を厚くす
るようになされねばならない。このために、一般に純粋
なランタニド−遷移金属合金の層は10乃至500r+
mの厚さである。これに応じて表面層部分の厚さは上述
した0、1乃至20nm1好ましくは0.5乃至20n
+lqことに1乃至18 n m 、特に2乃至+6n
mの厚さ範囲内で、所定の新規記録層(B)内において
良好なデータの磁気−光学的書込み及び読出しに必要な
純粋合金の最低限厚さが10nmを下廻らないように選
択されねばならない。
新規記録層(It)の形成は、本発明記録材料の形成の
枠内において行われる。
枠内において行われる。
本発明記録材料は、新規記録層(B)のほかに光学的透
過比、1法安定性の担体(A)を必須の構成要素として
有する。
過比、1法安定性の担体(A)を必須の構成要素として
有する。
有利なjQ体は公知慣用のものでよく、直径90或は1
30■、7さl 、 2 m箇の光学的透過性、寸法安
定性の円盤体である。これは一般にガラス或は合成樹脂
、例えばポリカルボナート、ポリメチルメタクリラート
、ポリメチルペンテン、セルロースアセトブチラード或
はポリ(ビニリデンフルオリド)とポリメチルメタクリ
ラートの、もしくはポリスチレンとポリ(2,6−ジメ
チノにフェン−1,4−イレン−エーテル)の混合物か
ら構成される。
30■、7さl 、 2 m箇の光学的透過性、寸法安
定性の円盤体である。これは一般にガラス或は合成樹脂
、例えばポリカルボナート、ポリメチルメタクリラート
、ポリメチルペンテン、セルロースアセトブチラード或
はポリ(ビニリデンフルオリド)とポリメチルメタクリ
ラートの、もしくはポリスチレンとポリ(2,6−ジメ
チノにフェン−1,4−イレン−エーテル)の混合物か
ら構成される。
合成樹脂から構成するのが有利である。
新規記録5(B)に対向する担体(八)の面には凹凸構
造を形成することができる。
造を形成することができる。
担体(A)表面の凹凸構造はミクロン乃至サブミクロン
のオーダである。これはレーザビームを正確に案内する
作用をなし、ディスク駆動装置のレーザ光学的口込み及
び読出しヘッドにおけるトラック位置サーボ機構及び自
動集束装置の迅速かつ正確な応答を保証し、トラッキン
グを可能とじ或は改碧する。さらにこの凹凸構造は例え
ば公知のオーディオ或はビデオコンパクトディス゛りに
おけるようにそれ自体データとして作用し、或は書込ま
れたデータのコード化を行うことができる。この構造は
突出部及び/或は陥没部としてHIW成され、辻続する
同心円状或は蛇腹状条溝或は独立した隆起及び/或は孔
隙の形態をとることができる。さらにこれは多少平tけ
な波形状であってもよい。上記条溝がことに好ましい。
のオーダである。これはレーザビームを正確に案内する
作用をなし、ディスク駆動装置のレーザ光学的口込み及
び読出しヘッドにおけるトラック位置サーボ機構及び自
動集束装置の迅速かつ正確な応答を保証し、トラッキン
グを可能とじ或は改碧する。さらにこの凹凸構造は例え
ば公知のオーディオ或はビデオコンパクトディス゛りに
おけるようにそれ自体データとして作用し、或は書込ま
れたデータのコード化を行うことができる。この構造は
突出部及び/或は陥没部としてHIW成され、辻続する
同心円状或は蛇腹状条溝或は独立した隆起及び/或は孔
隙の形態をとることができる。さらにこれは多少平tけ
な波形状であってもよい。上記条溝がことに好ましい。
その凹断面は矩形の鋸歯状、7字状或は梯形状をなすこ
とができる。この陥没域を一般にグループ、隆起域をラ
ンドと称する。ことに有利であるのは、深さ50乃至2
00nms幅0.4乃至0.8μmの条71+r#であ
って、これらグループ間に1乃至3μm幅のランドが存
在する。
とができる。この陥没域を一般にグループ、隆起域をラ
ンドと称する。ことに有利であるのは、深さ50乃至2
00nms幅0.4乃至0.8μmの条71+r#であ
って、これらグループ間に1乃至3μm幅のランドが存
在する。
特にを利な担体(A)の製造は、それ自体公知の態様で
清浄室内において例えば西独特許P3727093号に
記載のようにして、合成樹脂乃至その混合物を射出成形
法により成形処理することにより行われる。
清浄室内において例えば西独特許P3727093号に
記載のようにして、合成樹脂乃至その混合物を射出成形
法により成形処理することにより行われる。
本発明記録材料は、担体(A)及びtrr規記録FJ(
B)のほかにさらにB (C)をイfすることができる
。
B)のほかにさらにB (C)をイfすることができる
。
例えば担体(A)と新規記録層(B)との間に高屈折率
を有する光学的に透過性の材料から成る公知慣用の干渉
ffi (C)を設けることができる。この材料は慣用
の通り酸化物及び/或は窒化物を含何し或はこれにより
構成される。
を有する光学的に透過性の材料から成る公知慣用の干渉
ffi (C)を設けることができる。この材料は慣用
の通り酸化物及び/或は窒化物を含何し或はこれにより
構成される。
なお新規記録層(B)の担体(A)から遠い方の而に公
知慣用の金属から成る反射層(D)を設けることもでき
る。
知慣用の金属から成る反射層(D)を設けることもでき
る。
なお新規記録層(B)と反射層(D)との間に、さらに
酸化物及び/或は窒化物を含有し、或は酸化物及び/或
は窒化物から成る光学的透過性5(C)を設けることも
できる。
酸化物及び/或は窒化物を含有し、或は酸化物及び/或
は窒化物から成る光学的透過性5(C)を設けることも
できる。
本発明記録材料は、上記反射層(D)の新規記録層(B
)から遠い方の面に、同じく炭化物、酸化物及び/或は
窒化物を含有し、或は炭化物、酸化物及び/或は窒化物
から成る公知慣用の保護層乃至防11.4II sをを
することもできる。
)から遠い方の面に、同じく炭化物、酸化物及び/或は
窒化物を含有し、或は炭化物、酸化物及び/或は窒化物
から成る公知慣用の保護層乃至防11.4II sをを
することもできる。
これら追加的)M (C)及び(D)は別個の多数層か
ら構成され得る。なお届(C)はレントゲンアモルファ
ス或は多結晶質であることができる。
ら構成され得る。なお届(C)はレントゲンアモルファ
ス或は多結晶質であることができる。
これら追加的層(C)及び(D)の厚さは一般的に公知
であり、本明細吉口頭に掲記した公知文献中に記載され
ている。
であり、本明細吉口頭に掲記した公知文献中に記載され
ている。
特定の目的のため本発明記録材料は、さらに少なくとも
1月の公知慣用の磁化可能層を有することができる。こ
の磁化可能層は硬磁性もしくは軟磁性居、或は公知慣用
の磁気−光学的記録層である。このため新規記録層(B
)も使用され得る。
1月の公知慣用の磁化可能層を有することができる。こ
の磁化可能層は硬磁性もしくは軟磁性居、或は公知慣用
の磁気−光学的記録層である。このため新規記録層(B
)も使用され得る。
これらの追加的fl (C)及び(D)ならびにさらに
他の磁化可能層の製造は、本発明記録材料製造の範囲内
にあり、本発明記録材料の形成に必要な一連の製造工程
に属する。
他の磁化可能層の製造は、本発明記録材料製造の範囲内
にあり、本発明記録材料の形成に必要な一連の製造工程
に属する。
上述した本発明記録材料の二名はまたサンドイッチ状に
互いに結合され、記録fl(B)2Jfflは互いに対
向し、両者間に一定の間隔を保持する。このため2枚の
記録材料を重畳結合するための公知慣用の方法が使用さ
れる。
互いに結合され、記録fl(B)2Jfflは互いに対
向し、両者間に一定の間隔を保持する。このため2枚の
記録材料を重畳結合するための公知慣用の方法が使用さ
れる。
本発明記録材料の製造は、上述した担体(A)から出発
し、その表面に新規記録層(B)が所望の厚さに重ねら
れ、これに本発明に必要な内部構成と必要に応じ層(C
)及び(DJならびにさらに池の磁化可能層が任意所望
の順序、層数乃至枚数及び厚さで重ねられる。それぞれ
の層形成は気体相からもたらされ、しかる後、新規記録
層(B)に対しこの平面に直交して公知慣用の方法で磁
化が行われる。
し、その表面に新規記録層(B)が所望の厚さに重ねら
れ、これに本発明に必要な内部構成と必要に応じ層(C
)及び(DJならびにさらに池の磁化可能層が任意所望
の順序、層数乃至枚数及び厚さで重ねられる。それぞれ
の層形成は気体相からもたらされ、しかる後、新規記録
層(B)に対しこの平面に直交して公知慣用の方法で磁
化が行われる。
新規記録層(B)及び場合によりさらに他の各月の重ね
合せは、薄層形成のための公知慣用の方法で、蒸着、反
応性蒸着、イオン鍍金、イオンクラスタービーム沈積(
ICB) 、!13極スパッタリング、反応性陰極スパ
ッタリング、マグネトロン陰極スパッタリング或は反応
性マグネトロン陰極スパッタリングにより行われる。こ
のうち陰極スパッタリング(通常単にスパッタリングと
称される)がことに好ましい。
合せは、薄層形成のための公知慣用の方法で、蒸着、反
応性蒸着、イオン鍍金、イオンクラスタービーム沈積(
ICB) 、!13極スパッタリング、反応性陰極スパ
ッタリング、マグネトロン陰極スパッタリング或は反応
性マグネトロン陰極スパッタリングにより行われる。こ
のうち陰極スパッタリング(通常単にスパッタリングと
称される)がことに好ましい。
コ17) r2 極スパッタリングにおいては、相当す
る金属、炭化物、酸化物、窒化物及び/或は場合により
使用されるその他の化合物を任意所望の順序及び量にお
いてKL、空下に陰極(ターゲット)から噴霧し、担体
(A)或はすでにその上に形成された層上に分離沈着さ
せる。一般にこのための処理ガスとして希元素ガス、例
えばアルゴンが使用される。
る金属、炭化物、酸化物、窒化物及び/或は場合により
使用されるその他の化合物を任意所望の順序及び量にお
いてKL、空下に陰極(ターゲット)から噴霧し、担体
(A)或はすでにその上に形成された層上に分離沈着さ
せる。一般にこのための処理ガスとして希元素ガス、例
えばアルゴンが使用される。
反応性陰極スパッタリング(反応性スパッタリング)の
場合には、処理ガスにさらに反応性ガス、例えば水素、
炭化水素、酸素、窒素などの適当量を適当な時点に添加
混合する。例えば炭化水素、酸泰及び/或は窒素の存在
下、処理ガス中において、金属ガス噴霧により金属の酸
化物、窒化物、炭化物、炭化酸化物、炭化窒化物、酸化
窒化物或は炭化酸化窒化物の層が直接的に分離形成され
る。この場合関連する府の厚さ、構造及び組成は、噴霧
量乃至速度、分離速度、処理ガス圧力及び処理ガス組成
により公知の如く極めて正確に、また再現可能制御され
る。
場合には、処理ガスにさらに反応性ガス、例えば水素、
炭化水素、酸素、窒素などの適当量を適当な時点に添加
混合する。例えば炭化水素、酸泰及び/或は窒素の存在
下、処理ガス中において、金属ガス噴霧により金属の酸
化物、窒化物、炭化物、炭化酸化物、炭化窒化物、酸化
窒化物或は炭化酸化窒化物の層が直接的に分離形成され
る。この場合関連する府の厚さ、構造及び組成は、噴霧
量乃至速度、分離速度、処理ガス圧力及び処理ガス組成
により公知の如く極めて正確に、また再現可能制御され
る。
(反応性)マグネトロン陰極スパッタリングの場合、タ
ーゲットは磁場内に置かれる。
ーゲットは磁場内に置かれる。
新規記録5 (B)の形成は、(マグネトロン)陰極ス
パッタリング法によるのが好ましい。この場合すでに接
層の担体(A)から遠い方の面には20r+mまでの厚
さの炭素、酸素及び/或は窒素含有表面層部分が形成さ
れる。或はまた純粋ランタニド−遷移金属合金属の形成
後に、部分的或は全体的な反応により20nmまでの厚
さの炭素、酸素及び/或は窒素含有表面層部分を形成す
ることもできる。
パッタリング法によるのが好ましい。この場合すでに接
層の担体(A)から遠い方の面には20r+mまでの厚
さの炭素、酸素及び/或は窒素含有表面層部分が形成さ
れる。或はまた純粋ランタニド−遷移金属合金属の形成
後に、部分的或は全体的な反応により20nmまでの厚
さの炭素、酸素及び/或は窒素含有表面層部分を形成す
ることもできる。
この場合新規記録層(B)形成の間に表面層m5分を形
成するのが特に好ましい。これにより相当する表面層部
分が反応性(マグネトロン)ド3極スパッタリングによ
り、これがな(でも使用されるランタニド−遷移金属合
金が炭化水素、酸素及び/或は窒素の存在下に形成され
るからである。この場合、形成法パラメータは公知慣用
の態様で調節され、かつ/もしくは簡単な予備実験で確
認され、上述した態様の移行域がもたらされる。
成するのが特に好ましい。これにより相当する表面層部
分が反応性(マグネトロン)ド3極スパッタリングによ
り、これがな(でも使用されるランタニド−遷移金属合
金が炭化水素、酸素及び/或は窒素の存在下に形成され
るからである。この場合、形成法パラメータは公知慣用
の態様で調節され、かつ/もしくは簡単な予備実験で確
認され、上述した態様の移行域がもたらされる。
新規記録Fl (B)はまた担体(A)に対向する方の
平面上も2On腸までの厚さの炭化物、酸化物及び/或
は窒化物を含をする表面層部分を有することができる。
平面上も2On腸までの厚さの炭化物、酸化物及び/或
は窒化物を含をする表面層部分を有することができる。
この表面層部分は
(0炭化水素、酸素及び/或は窒素の存在下に20nm
までの厚さのランタニド−遷移金属合金の層を形成する
ことにより、或は (ii)20r+mまでの厚さのランタニド−4移金属
合金の形成と、その後のこれと炭素、酸素及び/或は窒
素との部分的或は全体的反応とにより形成され、しかる
後に純粋ランタニド−遷移金属合金を任意所S!の厚さ
まで遊離形成させる。
までの厚さのランタニド−遷移金属合金の層を形成する
ことにより、或は (ii)20r+mまでの厚さのランタニド−4移金属
合金の形成と、その後のこれと炭素、酸素及び/或は窒
素との部分的或は全体的反応とにより形成され、しかる
後に純粋ランタニド−遷移金属合金を任意所S!の厚さ
まで遊離形成させる。
この場合、処理(i)により表面層部分を形成するのが
特に好ましく、シかも反応性(マグネトロン)陰極スパ
ッタリング法を使用するのが特に好ましい。
特に好ましく、シかも反応性(マグネトロン)陰極スパ
ッタリング法を使用するのが特に好ましい。
それぞれ担体(A)の表面から出光して種々の本発明記
録材料に到達するための特に好ましい処理mn序は以下
の(I)乃至1’)である。
録材料に到達するための特に好ましい処理mn序は以下
の(I)乃至1’)である。
処P11順序(I)
(I−1)反応性(マグネトロン)陰極スパッタリング
による層(C)形成、 (1−2)(マグネトロン) IG陰極スパッタリング
よる新規記録層(B)、反応性(マグネトロン)陰極ス
パッタリングによる表面層部分形成、(1−3)反応性
(マグネトロン)陰極スパッタリングによる8(C)形
成。
による層(C)形成、 (1−2)(マグネトロン) IG陰極スパッタリング
よる新規記録層(B)、反応性(マグネトロン)陰極ス
パッタリングによる表面層部分形成、(1−3)反応性
(マグネトロン)陰極スパッタリングによる8(C)形
成。
処理順序(II)
(n−1)土間順序(I)によると同様の層(C)形成
、 (II−2)上回順序(I)によると同様の新規記録層
形成、 (U−3)上掲ma序(I)i:ヨると同様の層(C)
形成、 (n−4)(マグネトロン)陰極スパッタリングによる
反射層(D)形成、 (II−5)上回順序CI)によると同様の層(C)形
成、 処理順序(III) (Ill−1)反応性(マグネトロン)陰極スパッタリ
ングによる新規記録層(B)の第1表面F1部分形成、 (マグネトロン)陰極スパッタリングによる純粋ランタ
ニド−」1移金属合金層形成、反応性(マグネトロン)
I!3極スパッタリングによる新規記録層(B)の第2
表面層部分形成、(III−2)上1u順序(I)ニJ
ニルと同様の層(C)形成、 処理順序(IV) (TV−1)上回順序(I)によると同様のFJ(C)
形成、 (rV−2)上置順序CTI)によると同様の新規記録
層(B)形成、 (IV−3)上置順序(I)によると同様の層(C)形
成、 (TV−4)上fKj順序(II)によると同様の反射
層(D)形成、 (rV−5)上回順序(I)によると同様の層(C)形
成、 本発明による記録材料は、慣用の方法で光学的透過性、
寸法安定性担体(A)の側から、パルス変調により、新
規記録層(B)に集束され、がっ/もしくは++:(角
に入射せしめられるIooonmより小さい波長λの書
込みレーザビームにより磁化スポットの形態において書
込まれる。しかる後、書込まれた記録5(B)上に集束
され、かつ/もしくは直角に入射せしめられる連続レー
ザビームによりデータの読出しが行われる。この場合記
録層(B)自体から或は反射ffi (D)から反射さ
れるレーザ光が検出され信号に変換される。本発明によ
るデータ盤体乃至ディスクの場合、公知慣用の半導体レ
ーザとレーザ光学的ヘッドを備えたディスクドライブが
使用され得る。
、 (II−2)上回順序(I)によると同様の新規記録層
形成、 (U−3)上掲ma序(I)i:ヨると同様の層(C)
形成、 (n−4)(マグネトロン)陰極スパッタリングによる
反射層(D)形成、 (II−5)上回順序CI)によると同様の層(C)形
成、 処理順序(III) (Ill−1)反応性(マグネトロン)陰極スパッタリ
ングによる新規記録層(B)の第1表面F1部分形成、 (マグネトロン)陰極スパッタリングによる純粋ランタ
ニド−」1移金属合金層形成、反応性(マグネトロン)
I!3極スパッタリングによる新規記録層(B)の第2
表面層部分形成、(III−2)上1u順序(I)ニJ
ニルと同様の層(C)形成、 処理順序(IV) (TV−1)上回順序(I)によると同様のFJ(C)
形成、 (rV−2)上置順序CTI)によると同様の新規記録
層(B)形成、 (IV−3)上置順序(I)によると同様の層(C)形
成、 (TV−4)上fKj順序(II)によると同様の反射
層(D)形成、 (rV−5)上回順序(I)によると同様の層(C)形
成、 本発明による記録材料は、慣用の方法で光学的透過性、
寸法安定性担体(A)の側から、パルス変調により、新
規記録層(B)に集束され、がっ/もしくは++:(角
に入射せしめられるIooonmより小さい波長λの書
込みレーザビームにより磁化スポットの形態において書
込まれる。しかる後、書込まれた記録5(B)上に集束
され、かつ/もしくは直角に入射せしめられる連続レー
ザビームによりデータの読出しが行われる。この場合記
録層(B)自体から或は反射ffi (D)から反射さ
れるレーザ光が検出され信号に変換される。本発明によ
るデータ盤体乃至ディスクの場合、公知慣用の半導体レ
ーザとレーザ光学的ヘッドを備えたディスクドライブが
使用され得る。
本発明記録材料は、従来技術のものにくらべて著しい利
点を有する。すなわち公知の記録材料よりも高い感度を
有し、従って低いレーザ出力で吉込み可能である。本発
明による磁気光学的データ盤体(ディスク)は公知ディ
スクより低いレーザ出力、高いディスク回転数で吉込み
を行い得る。
点を有する。すなわち公知の記録材料よりも高い感度を
有し、従って低いレーザ出力で吉込み可能である。本発
明による磁気光学的データ盤体(ディスク)は公知ディ
スクより低いレーザ出力、高いディスク回転数で吉込み
を行い得る。
またそのビット密度は従来技術に比し著しく高い。また
読出しに際しては、無ひずみの信号がもたらされ、ジグ
ナス/ノイズ比は55dB以上である。また70℃、相
対湿度909Aで1000時間以上貯蔵した後において
ビット誤り率の増大に至らず、情報欠1mをもたらすこ
とがない。
読出しに際しては、無ひずみの信号がもたらされ、ジグ
ナス/ノイズ比は55dB以上である。また70℃、相
対湿度909Aで1000時間以上貯蔵した後において
ビット誤り率の増大に至らず、情報欠1mをもたらすこ
とがない。
本発明記録材料は新規記録層(B)を有する。この新規
記録層(B)は簡単でしかも秀れた聾様で本発明記録材
料のその他の層の特徴的パターンに適合せしめられ、こ
れにより従来未知の、かつ/もしくは従来実現不可能と
考えられていた理想的な磁気光学的記録材料の実現が可
能となった。この新規記録層(B)はことに担体(A)
及び/或は炭化物、酸化物及び/或は窒化吻合(J)f
fl(C)の表面と極めて強固に接若され、従って長時
間使用しても対向層から剥離することがない。特にこの
新規記録層は従来技術による磁気光学的記録層に比しピ
ンホール腐蝕に対して著しく安定である。
記録層(B)は簡単でしかも秀れた聾様で本発明記録材
料のその他の層の特徴的パターンに適合せしめられ、こ
れにより従来未知の、かつ/もしくは従来実現不可能と
考えられていた理想的な磁気光学的記録材料の実現が可
能となった。この新規記録層(B)はことに担体(A)
及び/或は炭化物、酸化物及び/或は窒化吻合(J)f
fl(C)の表面と極めて強固に接若され、従って長時
間使用しても対向層から剥離することがない。特にこの
新規記録層は従来技術による磁気光学的記録層に比しピ
ンホール腐蝕に対して著しく安定である。
実施例1乃至4
本発明磁気光学的記録材料の製造及びその使用特性
担体(A)として直径130■■、厚さ1.2−■で条
溝を有するポリカルボナート円盤8枚を清浄室条件下に
射出成形した。
溝を有するポリカルボナート円盤8枚を清浄室条件下に
射出成形した。
次いでポリカルボナート円盤体(A)(実施例1乃至4
で4枚)の回転下に条溝形成面上に、実施例1及び2に
おいては以下の処理順序(I)で、実施例3及び4にお
いては以下の処理順1F(II)で各層形成を行った。
で4枚)の回転下に条溝形成面上に、実施例1及び2に
おいては以下の処理順序(I)で、実施例3及び4にお
いては以下の処理順1F(II)で各層形成を行った。
処理順序(I)
(I−1)反応性(マグネトロン)陰極スパッタリング
により酸化物及び/或は窒化物含打層(C)形成、 (I−2)(υマグネトロン陰極スパッタリングにより
ランタニド/遷移金属合金朽形成、(II)炭素、酸素
及び/或は窒素の存在下、反応性マグネトロン陰極スパ
ッタリングにより上記ランタニド/遷移金属合金に表面
居部分形成を経て新規記録層(B)形成、 Cl−3)反応性マグネトロン陰極スパッタリングにさ
らに他のfl (C)形成、 処理順序(n) (II−1)土間処理順序(■)(実施例1及び2)と
同様にして居(C)形成、 (n−2)土間処理順序(■)(実施例1及び2)と同
様にして新規記録Ff!J(B)形成、(n−3)土間
処理順序(1)(実施例1及び2)と同様にしてさらに
他の層(C)形成、(II−4)マグネトロン陰極スパ
ッタリングにより反射層CD)形成、 (n−5)土間処理順序(I)と同様にして第3F!J
(C)形成、 方法パラメータは、下掲表1に示される本発明データ盤
体l乃至4のπ11成をもたらすように選定された。
により酸化物及び/或は窒化物含打層(C)形成、 (I−2)(υマグネトロン陰極スパッタリングにより
ランタニド/遷移金属合金朽形成、(II)炭素、酸素
及び/或は窒素の存在下、反応性マグネトロン陰極スパ
ッタリングにより上記ランタニド/遷移金属合金に表面
居部分形成を経て新規記録層(B)形成、 Cl−3)反応性マグネトロン陰極スパッタリングにさ
らに他のfl (C)形成、 処理順序(n) (II−1)土間処理順序(■)(実施例1及び2)と
同様にして居(C)形成、 (n−2)土間処理順序(■)(実施例1及び2)と同
様にして新規記録Ff!J(B)形成、(n−3)土間
処理順序(1)(実施例1及び2)と同様にしてさらに
他の層(C)形成、(II−4)マグネトロン陰極スパ
ッタリングにより反射層CD)形成、 (n−5)土間処理順序(I)と同様にして第3F!J
(C)形成、 方法パラメータは、下掲表1に示される本発明データ盤
体l乃至4のπ11成をもたらすように選定された。
製造結果の検査及び分析のため、本発明によるデータ盤
体のさらに4枚を厳密に対比し得る条件下に製造した(
実施例1a乃至4a)。これらの盤体について新規記録
層(B)の構造及び組成は、公知慣用の、一部は材料構
造分析法、例えば化学的元素分析、光学的顕微鏡検査、
電子走査顕微鏡検査、レントゲン分光+jl′li、レ
ントゲン線照射、レントゲン線回折、ESCA(科学的
分析用エレクトロン分光試験)、炎光光度法により検査
された。さらに公知慣用の非破壊及び分光法により本発
明データ盤体の6対(実施例1.1a乃至4.4a)が
それぞれ同じであって、データ盤体1a乃至4aにつき
表1における結果をもたらすことが確認された。
体のさらに4枚を厳密に対比し得る条件下に製造した(
実施例1a乃至4a)。これらの盤体について新規記録
層(B)の構造及び組成は、公知慣用の、一部は材料構
造分析法、例えば化学的元素分析、光学的顕微鏡検査、
電子走査顕微鏡検査、レントゲン分光+jl′li、レ
ントゲン線照射、レントゲン線回折、ESCA(科学的
分析用エレクトロン分光試験)、炎光光度法により検査
された。さらに公知慣用の非破壊及び分光法により本発
明データ盤体の6対(実施例1.1a乃至4.4a)が
それぞれ同じであって、データ盤体1a乃至4aにつき
表1における結果をもたらすことが確認された。
実施例1乃至4による本発明データ盤体の新規記録層(
B)は、その形成後直ちに平面に直交して磁化される。
B)は、その形成後直ちに平面に直交して磁化される。
次いでデータ盤体は23±2°Cの1a度、+03±3
.5kPaの空気圧、45乃至55%の相対空気温度で
48時間保管された。
.5kPaの空気圧、45乃至55%の相対空気温度で
48時間保管された。
しかる後この処理盤体は、公知慣用のディスクドライブ
により厳密に対比可能の条件下にデータ書込みが行われ
た。このためにGaAlAsのパルス変調半導体レーザ
が使用されたが、これは波長λ=830nmの偏光直進
レーザ光を放射した。ビット長さ、すなわち磁化スポッ
トの直径も、ビット間隔、すなわちスポットとスポット
の間隔も約1amであった。
により厳密に対比可能の条件下にデータ書込みが行われ
た。このためにGaAlAsのパルス変調半導体レーザ
が使用されたが、これは波長λ=830nmの偏光直進
レーザ光を放射した。ビット長さ、すなわち磁化スポッ
トの直径も、ビット間隔、すなわちスポットとスポット
の間隔も約1amであった。
書込まれたデータのカー効果による読出しく実施例1及
び2)或はファラデイ効果による読出しく実施例3及び
4)のためNImW以下の光出力の連続波のGa八へA
s半導体レーザを使用した。未補正のビット1誤り率は
、公知慣用の態様でタイムインターバルアナライザ(T
IA)により測定された。
び2)或はファラデイ効果による読出しく実施例3及び
4)のためNImW以下の光出力の連続波のGa八へA
s半導体レーザを使用した。未補正のビット1誤り率は
、公知慣用の態様でタイムインターバルアナライザ(T
IA)により測定された。
データ盤体は書込み直後に読出しを行った(第1読出し
)。しかる後、磁気光学的記録材料に典型的な「加速耐
用寿命試験」により60.70及び80°Cの各11□
1度、90%の相対湿度で検合し、しかる後改めて読出
しを行った(第2読出し)。これにより得られたデータ
盤体記録層(B)の未補正ビット誤り率及び光学顕微鏡
ならびに電子顕微鏡検査結果から、常fコ条件(30°
C190%相対空気温度)下の耐用寿命が評価された。
)。しかる後、磁気光学的記録材料に典型的な「加速耐
用寿命試験」により60.70及び80°Cの各11□
1度、90%の相対湿度で検合し、しかる後改めて読出
しを行った(第2読出し)。これにより得られたデータ
盤体記録層(B)の未補正ビット誤り率及び光学顕微鏡
ならびに電子顕微鏡検査結果から、常fコ条件(30°
C190%相対空気温度)下の耐用寿命が評価された。
その結果は表2に示された。
対比試験界■、及び■2
公知記録材料の製造及びその使用特性
実施例1乃至4に記載されたようにして2枚のデータ盤
体を製造し、その構造及び組成を西独特許出願公開33
35689号公報から公知の試料A−2及びB−5と比
較した。対比盤体の構造は表1において本発明盤体のそ
れと対比して掲載されている。
体を製造し、その構造及び組成を西独特許出願公開33
35689号公報から公知の試料A−2及びB−5と比
較した。対比盤体の構造は表1において本発明盤体のそ
れと対比して掲載されている。
公知データ盤体は実施例1乃至4に記載されたように磁
化され、データ書込みされ、読出され、試験に付された
。これにより得られた対比試験結果は、表2において実
施例1乃至4の結果と対比して掲載される。
化され、データ書込みされ、読出され、試験に付された
。これにより得られた対比試験結果は、表2において実
施例1乃至4の結果と対比して掲載される。
両者を比較して、公知組成の記録材料は本発明記録材料
に対して貯蔵安定性において劣っており、ビット1誤り
率は本発明の場合公知のものに対して著しく高められて
いる。さらにピンホール腐蝕についても本発明は従来技
術に対して著しく改善されている。
に対して貯蔵安定性において劣っており、ビット1誤り
率は本発明の場合公知のものに対して著しく高められて
いる。さらにピンホール腐蝕についても本発明は従来技
術に対して著しく改善されている。
手
続
補
正
書
平成1年
5月
1日
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (A)光学的に透過性の、寸法安定性担体と、 (B)少なくとも担体(A)から遠い方の面において2
0nmまでの厚さを有し、炭素、酸素及び/或は窒素を
含有する表面層部分を有する、無定形ランタニド/遷移
金属合金から構成された熱変性可能の記録層とから成る
扁平多層磁気−光学的記録材料。
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