JPH0249562B2 - - Google Patents
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- JPH0249562B2 JPH0249562B2 JP56171786A JP17178681A JPH0249562B2 JP H0249562 B2 JPH0249562 B2 JP H0249562B2 JP 56171786 A JP56171786 A JP 56171786A JP 17178681 A JP17178681 A JP 17178681A JP H0249562 B2 JPH0249562 B2 JP H0249562B2
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 34
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 23
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、マイクロ波増幅器の構造に関する。
一般に、電界効果トランジスタ(FET)やバ
イポーラトランジスタを用いたマイクロ波増幅器
では半導体素子の性能を十分引き出すために、入
力側と出力側に整合回路を必要とする。第1図は
FET増幅器の等価回路を示しており、1はFET
で、このFET1のそれぞれ入力側、出力側には
整合回路2,3が設けられる。4は入力端子、5
は出力端子である。整合回路2,3としては低域
通過フイルタ形が多く用いられ、直列接続のイン
ダクタ6−a,6−b,6−c,6−d、および
並列接続のコンデンサ7−a,7−b,7−c,
7−dで構成されている。しかしながら、マイク
ロ波帯では純粋な集中定数素子の実現が困難等の
理由で、マイクロ波帯増幅器の整合回路にはマイ
クロストリツプ線路等の分布定数線路が使用され
る。
イポーラトランジスタを用いたマイクロ波増幅器
では半導体素子の性能を十分引き出すために、入
力側と出力側に整合回路を必要とする。第1図は
FET増幅器の等価回路を示しており、1はFET
で、このFET1のそれぞれ入力側、出力側には
整合回路2,3が設けられる。4は入力端子、5
は出力端子である。整合回路2,3としては低域
通過フイルタ形が多く用いられ、直列接続のイン
ダクタ6−a,6−b,6−c,6−d、および
並列接続のコンデンサ7−a,7−b,7−c,
7−dで構成されている。しかしながら、マイク
ロ波帯では純粋な集中定数素子の実現が困難等の
理由で、マイクロ波帯増幅器の整合回路にはマイ
クロストリツプ線路等の分布定数線路が使用され
る。
第2図はマイクロ波集積回路(MIC)技術を
用いたFET増幅器の従来例を示しており、第2
図aは平面図、第2図bは同図aの1−1′線で
の断面図である。金属性のキヤリアプレート11
の上にFET12および誘電体基板13,14が
マウントされている。誘電体基板13,14はそ
れぞれ裏面に金属膜よりなる裏面電極15,16
を設け、その上部にはマイクロストリツプ線路2
0,21が形成され入力側と出力側の整合回路を
形成している。そして増幅用素子である例えば
FET12のゲート電極17は入力側の整合回路
を構成するマイクロストリツプ線路20に、ドレ
イン電極18は出力側の整合回路を構成するマイ
クロストリツプ線路21に、それぞれ接続され、
ソース電極19はキヤリアプレート11にボンデ
イングワイヤで接続されている。
用いたFET増幅器の従来例を示しており、第2
図aは平面図、第2図bは同図aの1−1′線で
の断面図である。金属性のキヤリアプレート11
の上にFET12および誘電体基板13,14が
マウントされている。誘電体基板13,14はそ
れぞれ裏面に金属膜よりなる裏面電極15,16
を設け、その上部にはマイクロストリツプ線路2
0,21が形成され入力側と出力側の整合回路を
形成している。そして増幅用素子である例えば
FET12のゲート電極17は入力側の整合回路
を構成するマイクロストリツプ線路20に、ドレ
イン電極18は出力側の整合回路を構成するマイ
クロストリツプ線路21に、それぞれ接続され、
ソース電極19はキヤリアプレート11にボンデ
イングワイヤで接続されている。
ところで、分布定数線路はその線路長lが線路
波長λgに対してl<λg/8を満足する場合には
近似的に集中定数素子と見なせる。特性インピー
ダンスZが大きい場合(Z=ZH)はインダクタと
近似でき、その値Lは線路長をlH、位相速度を
VPとすると、 L≒ZHlH/VP …(1) を満足する。一方、Zが小さい場合(Z=ZL)に
はキヤパシタに近似でき、その値Cは線路長をlL
とすると、 C≒lL/ZL・VP …(2) を満足する。従つて、整合回路の設計法としては
第1図に示した集中定数素子(Li,Ci、i=1,
2…)を実現するようにZHi、lHi、ZLi、lLi、i=
1,2…を決定すればよい。なお、マイクロスト
リツプ線路では自由空間波長をλo、光速をCo、
波長短縮率をσとすると、 σ=λo/λg=Co/VP …(3) の関係があり、σは誘電体基板の比誘電率εrで決
定される。例えばアルミナ基板(εr=10.5)の場
合にはσ=2.8である。
波長λgに対してl<λg/8を満足する場合には
近似的に集中定数素子と見なせる。特性インピー
ダンスZが大きい場合(Z=ZH)はインダクタと
近似でき、その値Lは線路長をlH、位相速度を
VPとすると、 L≒ZHlH/VP …(1) を満足する。一方、Zが小さい場合(Z=ZL)に
はキヤパシタに近似でき、その値Cは線路長をlL
とすると、 C≒lL/ZL・VP …(2) を満足する。従つて、整合回路の設計法としては
第1図に示した集中定数素子(Li,Ci、i=1,
2…)を実現するようにZHi、lHi、ZLi、lLi、i=
1,2…を決定すればよい。なお、マイクロスト
リツプ線路では自由空間波長をλo、光速をCo、
波長短縮率をσとすると、 σ=λo/λg=Co/VP …(3) の関係があり、σは誘電体基板の比誘電率εrで決
定される。例えばアルミナ基板(εr=10.5)の場
合にはσ=2.8である。
一方、誘電体基板13,14の厚さをH、マイ
クロストリツプ線路20,21の幅をWとする
と、線路特性インピーダンスは第3図に示すよう
にW/Hに逆比例する。(1),(2)式から明らかなよ
うにL,Cとも線路長に比例するため、整合回路
を小形化するためにはLについてはZHを大きく、
CについてはZLを小さくすることが要求される。
クロストリツプ線路20,21の幅をWとする
と、線路特性インピーダンスは第3図に示すよう
にW/Hに逆比例する。(1),(2)式から明らかなよ
うにL,Cとも線路長に比例するため、整合回路
を小形化するためにはLについてはZHを大きく、
CについてはZLを小さくすることが要求される。
しかし、H=0.6mmのアルミナ基板を用いた場
合、ZHについてはパターンのエツチング精度の点
からWH=100μm(ZH=98Ω)程度が限界である。
また、ZLについてはZLを小さくすることで線路長
lLを小さくできるが、この場合線路幅、WLは大
きくなる。すなわち、必要なCの値に対してパタ
ーンの面積(lL×WL)はほぼ一定となるため、
大きなCを実現するためにはパターン寸法が大き
くなるという欠点があつた。
合、ZHについてはパターンのエツチング精度の点
からWH=100μm(ZH=98Ω)程度が限界である。
また、ZLについてはZLを小さくすることで線路長
lLを小さくできるが、この場合線路幅、WLは大
きくなる。すなわち、必要なCの値に対してパタ
ーンの面積(lL×WL)はほぼ一定となるため、
大きなCを実現するためにはパターン寸法が大き
くなるという欠点があつた。
ところで、整合回路を第2図a,bに示したよ
うに誘電体基板上に作らず、半導体基板上に
FETなどと一体化して構成するモノリシツクマ
イクロ波集積回路(MMIC)が提案されており、
その構造を第4図a,bに示した。第4図aは平
面図、第4図bは同図aの1−1′線での断面図
である。,31はGaAs等の半導体基板、32が
能動領域、33,34,35はそれぞれソース電
極、ゲート電極、ドレイン電極であり、ソース電
極33はスルーホール又は接地用パターン36お
よび基板の側壁に設けた金属膜37を介して裏面
電極38に接続されている。ゲート電極34は入
力側整合回路39、ドレイン電極35は出力側整
合回路40に接続する。整合回路39,40は裏
面電極38とマイクロストリツプ線路を構成し、
その設計法は第2図の誘電体基板を用いた場合と
同様である。このMMICでは高インピーダンス
部ZHは半導体の電極形成に用いる微細パターンの
加工技術を応用できるため、線路幅を細くでき、
ZHを大きくできるため、(2)式より線路長lHを短く
することができる。
うに誘電体基板上に作らず、半導体基板上に
FETなどと一体化して構成するモノリシツクマ
イクロ波集積回路(MMIC)が提案されており、
その構造を第4図a,bに示した。第4図aは平
面図、第4図bは同図aの1−1′線での断面図
である。,31はGaAs等の半導体基板、32が
能動領域、33,34,35はそれぞれソース電
極、ゲート電極、ドレイン電極であり、ソース電
極33はスルーホール又は接地用パターン36お
よび基板の側壁に設けた金属膜37を介して裏面
電極38に接続されている。ゲート電極34は入
力側整合回路39、ドレイン電極35は出力側整
合回路40に接続する。整合回路39,40は裏
面電極38とマイクロストリツプ線路を構成し、
その設計法は第2図の誘電体基板を用いた場合と
同様である。このMMICでは高インピーダンス
部ZHは半導体の電極形成に用いる微細パターンの
加工技術を応用できるため、線路幅を細くでき、
ZHを大きくできるため、(2)式より線路長lHを短く
することができる。
しかしながら、低インピーダンスZL部について
は第2図の場合と同様、必要なCの値に対してパ
ターンの面積(lL×WL)が決定されるため、大
きなCを必要とする場合にはパターンの寸法が大
きくなり、MMICのチツプサイズの小形化が困
難という欠点があつた。
は第2図の場合と同様、必要なCの値に対してパ
ターンの面積(lL×WL)が決定されるため、大
きなCを必要とする場合にはパターンの寸法が大
きくなり、MMICのチツプサイズの小形化が困
難という欠点があつた。
本発明は上記の欠点を除去するもので、誘電体
基板あるいは半導体基板上の一部に金属膜を、そ
れらの上部に均一に誘電体膜を、さらにその上部
にマイクロストリツプ線路を形成した整合回路を
用いることにより、非常に小形のMICあるいは
MMICのマイクロ波増幅器を提供することを目
的とする。以下、本発明の実施例を図面を参照し
て説明する。
基板あるいは半導体基板上の一部に金属膜を、そ
れらの上部に均一に誘電体膜を、さらにその上部
にマイクロストリツプ線路を形成した整合回路を
用いることにより、非常に小形のMICあるいは
MMICのマイクロ波増幅器を提供することを目
的とする。以下、本発明の実施例を図面を参照し
て説明する。
第5図に本発明のマイクロ波増幅器に適応する
整合回路の構造を示した。第5図aは平面図、第
5図b,c,dはそれぞれ同図aの1−1′線、
2−2′線、3−3′線での断面図である。51は
誘電体基板であり、その下面には裏面電極52を
設け、誘電体基板51上の一部にはその両端を基
板の側壁部に設けた金属膜53で、裏面電極52
と接続した短冊状の導電膜例えば金属膜54を形
成し、さらに誘電体基板51と金属膜54の上部
に一様に誘電体膜55を設け、その上面にマイク
ロストリツプ線路56を形成する。この構造にお
いて、金属膜54がない部分(第5図d)は第2
図で示した高インピーダンス線路、金属膜56を
設けた部分(第5図c)は低インピーダンス線路
に対応している。誘電体膜55の厚さHDを誘電
体基板51の厚さHに比べて十分小さくすると、
高インピーダンス部の特性インピーダンスZHは
W/Hで決定されるため、第2図の従来例と同様
である。しかし、低インピーダンス部は短冊状の
金属膜54が裏面電極52と同電位であるため、
その特性インピーダンスZLはWL/HDで決定され
る。すなわち、HDは小さいため、線路幅WLを小
さくしてもZLを十分小さくでき、必要なCを得る
ための線路長lLを短くすることができる。
整合回路の構造を示した。第5図aは平面図、第
5図b,c,dはそれぞれ同図aの1−1′線、
2−2′線、3−3′線での断面図である。51は
誘電体基板であり、その下面には裏面電極52を
設け、誘電体基板51上の一部にはその両端を基
板の側壁部に設けた金属膜53で、裏面電極52
と接続した短冊状の導電膜例えば金属膜54を形
成し、さらに誘電体基板51と金属膜54の上部
に一様に誘電体膜55を設け、その上面にマイク
ロストリツプ線路56を形成する。この構造にお
いて、金属膜54がない部分(第5図d)は第2
図で示した高インピーダンス線路、金属膜56を
設けた部分(第5図c)は低インピーダンス線路
に対応している。誘電体膜55の厚さHDを誘電
体基板51の厚さHに比べて十分小さくすると、
高インピーダンス部の特性インピーダンスZHは
W/Hで決定されるため、第2図の従来例と同様
である。しかし、低インピーダンス部は短冊状の
金属膜54が裏面電極52と同電位であるため、
その特性インピーダンスZLはWL/HDで決定され
る。すなわち、HDは小さいため、線路幅WLを小
さくしてもZLを十分小さくでき、必要なCを得る
ための線路長lLを短くすることができる。
例えばアルミナ基板(εr=10.5)を用いた場合
について、L=1nH、C=1pFを実現するための
高インピーダンス、低インピーダンス線路部の寸
法を検討する。誘電体基板の厚さHを0.6mm、高
インピーダンス線路の幅WHを0.1mmとすると、第
3図よりZH=93Ωとなり、波長短縮率σは2.8で
あるから、L=1nHを満足するための線路長lHは
(1)式より lH=Co・L/σZH=1.2mm …(4) となる。なお、高インピーダンス線路については
線路幅が狭いため、パターンを折り曲げることに
より、実効的なパターン面積を小さくできる。
について、L=1nH、C=1pFを実現するための
高インピーダンス、低インピーダンス線路部の寸
法を検討する。誘電体基板の厚さHを0.6mm、高
インピーダンス線路の幅WHを0.1mmとすると、第
3図よりZH=93Ωとなり、波長短縮率σは2.8で
あるから、L=1nHを満足するための線路長lHは
(1)式より lH=Co・L/σZH=1.2mm …(4) となる。なお、高インピーダンス線路については
線路幅が狭いため、パターンを折り曲げることに
より、実効的なパターン面積を小さくできる。
一方、低インピーダンス線路部については従来
の構造では特性インピーダンスZLを20Ωとする
と、WL/H=4.0、WL=2.4mmとなり、C=1pF
を実現するための線路長lLは(2)式より lL=CoZLC/σ=2.2mm …(5) となり、パターンの面積S(=WL+lL)は5.3mm2で
ある。しかし、第5図の構造を採用し、誘電体膜
としては厚さHD=60μmのアルミナ(εr=10.5)
を用い、WLを1mmとすると、WL/HD=16.7、ZL
=7Ωとなるため、lL=0.75mm、Sは0.75mm2と従来
のパターン面積Sの約1/7にできる。さらに
HD=10μm、WL/0.2mmとすればZL=5Ω、lL=
0.53mmとなりS=0.1mm2と非常に小さくできる。
の構造では特性インピーダンスZLを20Ωとする
と、WL/H=4.0、WL=2.4mmとなり、C=1pF
を実現するための線路長lLは(2)式より lL=CoZLC/σ=2.2mm …(5) となり、パターンの面積S(=WL+lL)は5.3mm2で
ある。しかし、第5図の構造を採用し、誘電体膜
としては厚さHD=60μmのアルミナ(εr=10.5)
を用い、WLを1mmとすると、WL/HD=16.7、ZL
=7Ωとなるため、lL=0.75mm、Sは0.75mm2と従来
のパターン面積Sの約1/7にできる。さらに
HD=10μm、WL/0.2mmとすればZL=5Ω、lL=
0.53mmとなりS=0.1mm2と非常に小さくできる。
本発明をマイクロ波集積回路(MIC)に応用
した例を第6図a,bに示しており、第2図と同
一部分については同一の番号を付した。すなわ
ち、誘電体基板13の上部に短冊状の導電膜例え
ば金属膜61を設けその上部に誘電体膜62、そ
の上部にマイクロストリツプ線路64,65によ
る入力側と出力側の整合回路を形成している。誘
電体基板13の側壁には金属膜63が裏面電極1
5及び金属膜61に接続されて設けられる。第5
図において説明したように短冊状の金属膜61を
設けることにより、低インピーダンス部のパター
ン面積を小さくなしうるため、整合回路の誘電体
基板13,14が小さくなり、マイクロ波増幅器
の寸法の小形化に有効である。
した例を第6図a,bに示しており、第2図と同
一部分については同一の番号を付した。すなわ
ち、誘電体基板13の上部に短冊状の導電膜例え
ば金属膜61を設けその上部に誘電体膜62、そ
の上部にマイクロストリツプ線路64,65によ
る入力側と出力側の整合回路を形成している。誘
電体基板13の側壁には金属膜63が裏面電極1
5及び金属膜61に接続されて設けられる。第5
図において説明したように短冊状の金属膜61を
設けることにより、低インピーダンス部のパター
ン面積を小さくなしうるため、整合回路の誘電体
基板13,14が小さくなり、マイクロ波増幅器
の寸法の小形化に有効である。
本発明をモノリシツクマイクロ波集積回路
(MMIC)に応用したFET増幅器の例を第7図
a,bに示しており、第4図と同一部分について
は同一の番号を付した、GaAs等の半導体基板3
1の上部に短冊状の導電膜例えば金属膜71、誘
電体膜72、その上部にマイクロストリツプ線路
74,75による入力側と出力側の整合回路を形
成している。半導体基板31の側壁には金属膜7
3が裏面電極38及び金属膜71に接続されて設
けられる。第5図、第6図と同様に短冊状の金属
膜71を設けることにより、低インピーダンス部
のパターン寸法を小さくできる。誘電体膜72と
してSiO2(εr=4.0、σ=1.8)を用い、その厚さ
HD=1μm、線路幅WL=50μmとすると、ZL=4Ω
となり、C=1pFを実現するための線路長lLは
0.67mm、パターン面積Sを0.03mm2と非常に小さく
できる。一方、高インピーダンス線路部について
はGaAs基板(εr=12.5、σ=3.0)の厚さH=
200μmとし、線路幅Wを20μmとするとZH=97Ω
となり、L=1nHを実現するための線路長lHは
1.0mmでよい。
(MMIC)に応用したFET増幅器の例を第7図
a,bに示しており、第4図と同一部分について
は同一の番号を付した、GaAs等の半導体基板3
1の上部に短冊状の導電膜例えば金属膜71、誘
電体膜72、その上部にマイクロストリツプ線路
74,75による入力側と出力側の整合回路を形
成している。半導体基板31の側壁には金属膜7
3が裏面電極38及び金属膜71に接続されて設
けられる。第5図、第6図と同様に短冊状の金属
膜71を設けることにより、低インピーダンス部
のパターン寸法を小さくできる。誘電体膜72と
してSiO2(εr=4.0、σ=1.8)を用い、その厚さ
HD=1μm、線路幅WL=50μmとすると、ZL=4Ω
となり、C=1pFを実現するための線路長lLは
0.67mm、パターン面積Sを0.03mm2と非常に小さく
できる。一方、高インピーダンス線路部について
はGaAs基板(εr=12.5、σ=3.0)の厚さH=
200μmとし、線路幅Wを20μmとするとZH=97Ω
となり、L=1nHを実現するための線路長lHは
1.0mmでよい。
以上述べたように本発明によれば、所望のL、
Cを実現するためのパターン寸法を大幅に小形に
でき、しかも平面構造であるため、MIC、ある
いはMMICを用いたマイクロ波増幅器の整合回
路パターンの小形化が可能となり、マイクロ波増
幅器の小形化ができる。とくに、MMICではチ
ツプサイズを小さくできるため、コストの低減が
可能となる。
Cを実現するためのパターン寸法を大幅に小形に
でき、しかも平面構造であるため、MIC、ある
いはMMICを用いたマイクロ波増幅器の整合回
路パターンの小形化が可能となり、マイクロ波増
幅器の小形化ができる。とくに、MMICではチ
ツプサイズを小さくできるため、コストの低減が
可能となる。
第1図はマイクロ波増幅器の等価回路を示す回
路図、第2図aは従来のマイクロ波集積回路技術
による増幅器の構造を示す平面図、第2図bは同
図aの1−1′線断面図、第3図は誘電体基板の
比誘電率εrをパラメータとし、線路幅W、基板厚
Hとし、W/Hに対する特性インピーダンスの変
化を示す曲線図、第4図aは従来のモノリシツク
集積回路技術を用いたマイクロ波増幅器の構造を
示す平面図、第4図bは同図aの1−1′線断面
図、第5図aは本発明によるマイクロストリツプ
線路の構造を示す平面図、第5図bは同図aの1
−1′線断面図、第5図cは同図aの2−2′線断
面図、第5図dは同図aの3−3′線断面図、第
6図aは本発明によるマイクロストリツプ線路を
用いたMIC増幅器の構造を示す平面図、第6図
bは同図aの1−1′線断面図、第7図aは本発
明によるマイクロストリツプ線路を用いた
MMIC増幅器の構造を示す平面図、第7図bは
同図aの1−1′線断面図である。 1,12…FET、20,21,39,40,
56,64,65,74,75…マイクロストリ
ツプ線路、13,14…誘電体基板、54,6
1,71…短冊状金属膜、31…半導体基板、5
5,62,72…誘電体膜、15,16,38…
裏面電極、53,63,73…基板側壁の金属
膜。
路図、第2図aは従来のマイクロ波集積回路技術
による増幅器の構造を示す平面図、第2図bは同
図aの1−1′線断面図、第3図は誘電体基板の
比誘電率εrをパラメータとし、線路幅W、基板厚
Hとし、W/Hに対する特性インピーダンスの変
化を示す曲線図、第4図aは従来のモノリシツク
集積回路技術を用いたマイクロ波増幅器の構造を
示す平面図、第4図bは同図aの1−1′線断面
図、第5図aは本発明によるマイクロストリツプ
線路の構造を示す平面図、第5図bは同図aの1
−1′線断面図、第5図cは同図aの2−2′線断
面図、第5図dは同図aの3−3′線断面図、第
6図aは本発明によるマイクロストリツプ線路を
用いたMIC増幅器の構造を示す平面図、第6図
bは同図aの1−1′線断面図、第7図aは本発
明によるマイクロストリツプ線路を用いた
MMIC増幅器の構造を示す平面図、第7図bは
同図aの1−1′線断面図である。 1,12…FET、20,21,39,40,
56,64,65,74,75…マイクロストリ
ツプ線路、13,14…誘電体基板、54,6
1,71…短冊状金属膜、31…半導体基板、5
5,62,72…誘電体膜、15,16,38…
裏面電極、53,63,73…基板側壁の金属
膜。
Claims (1)
- 1 下面に裏面電極を有する誘電体あるいは半導
体の基板と、この基板の上面に部分的に形成され
前記裏面電極と接続される導体膜と、この導体膜
及び前記基板上に一様に形成された誘電体膜と、
この誘電体膜の上面に前記導体膜と交差するよう
に形成され、かつ前記導体膜に対向する部分が少
なくとも他の部分より同等以上の幅を有するよう
に形成されたマイクロストリツプ線路と、で整合
回路を形成し、この構成の整合回路を増幅用トラ
ンジスタの入力側及び出力側に接続したことを特
徴とするマイクロ波増幅器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56171786A JPS5873138A (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | マイクロ波増幅器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56171786A JPS5873138A (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | マイクロ波増幅器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5873138A JPS5873138A (ja) | 1983-05-02 |
JPH0249562B2 true JPH0249562B2 (ja) | 1990-10-30 |
Family
ID=15929655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56171786A Granted JPS5873138A (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | マイクロ波増幅器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5873138A (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0763121B2 (ja) * | 1983-11-14 | 1995-07-05 | 日本電信電話株式会社 | モノリシツクマイクロ波集積回路 |
JPS60251702A (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-12 | Mitsubishi Electric Corp | 方向性結合器 |
JPS60253303A (ja) * | 1984-05-30 | 1985-12-14 | Hitachi Ltd | マイクロストリツプ線路 |
JPS6185904U (ja) * | 1984-11-12 | 1986-06-05 | ||
JPS63144603A (ja) * | 1986-12-09 | 1988-06-16 | Mitsubishi Electric Corp | 伝送線路 |
JPH0691361B2 (ja) * | 1987-03-30 | 1994-11-14 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
JPH0515508U (ja) * | 1991-07-31 | 1993-02-26 | 三菱電機株式会社 | マイクロ波用パツケージ |
JP6381429B2 (ja) * | 2014-12-08 | 2018-08-29 | 三菱電機株式会社 | 高周波増幅器 |
CN106921354B (zh) * | 2017-02-08 | 2020-07-28 | 中国科学院微电子研究所 | 用于射频功率放大器的宽带匹配电路 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS523977U (ja) * | 1975-06-23 | 1977-01-12 | ||
JPS5531373B2 (ja) * | 1976-04-22 | 1980-08-18 | ||
JPS5676602A (en) * | 1979-11-28 | 1981-06-24 | Nec Corp | Low-pass filter |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5531373U (ja) * | 1978-08-21 | 1980-02-29 |
-
1981
- 1981-10-27 JP JP56171786A patent/JPS5873138A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS523977U (ja) * | 1975-06-23 | 1977-01-12 | ||
JPS5531373B2 (ja) * | 1976-04-22 | 1980-08-18 | ||
JPS5676602A (en) * | 1979-11-28 | 1981-06-24 | Nec Corp | Low-pass filter |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5873138A (ja) | 1983-05-02 |
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