JPH02296167A - 論理回路の診断方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、論理回路の診断方法に関し、特に、入力段に
差動増幅器を含む論理回路の回路テストを行う論理回路
の診断方法に関するものである。

また、差動増幅器が直列に接続されたタイプの論理回路
の故障診断方法に用いて好適な論理回路の診断方法に関
するものである。

〔従来の技術〕

従来、論理回路の回路テストは、各種の診断方法があり
、回路テスト、電気特性テスト、論理動作テストなどが
行われる。この種の論理回路のテスト法として、診断の
テスト生成アルゴリズムとして広く用いられているもの
に、例えば、アイ・ビー・エム　ジャーナル　オブ　リ
サーチ　アンド　デベロップメント（１０）、（１，９
６６年）第２７８頁から第２９１頁（Ｉ　Ｂ　Ｍ　　Ｊ
ｏｕｒｎａｌ　ｏｆＲｅ５ａｒｃｈ　ａｎｄ　Ｄｅｖｅ
ｌｏｐｍｅｎｔ　（１０）＋　　（１９６６）Ｐ２７８
〜ｐ２９１）がある。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところで、大型計算機などでは、計算機のマシンサイク
ルを速くし、更に、高速性および信頼性を向上させるた
め、差動信号による論理回路が多用されつつある。しか
しながら、上述のように、論理回路のテスト法として、
広く用いられている診断のテスト生成アルゴリズムは、
差動増幅器を含む論理回路の故障診断については配慮さ
れていない。

このため、例えば、第４図に示すように、差動増幅器４
１．４２が直列に接続されている論理回路において、当
該論理回路の診断を行う場合、例えば、後段の差動増幅
器４２の差動入力信号の一方側Ｓ−Ｐが′″１′″縮退
故障である故障を仮定すると、第１表に示すような信号
の状態となる。ここでは、差動入力信号が排反であるこ
とにより故障仮定する前の信号と、故障仮定後の差動入
力信号は同値となり、出力信号が不確定となってしまう
。

第１表 ■；″１”縮退故障 ×；不定状態 このように、従来の論理回路の診断方法では、差動増幅
器を有する論理回路において、例えば、直列に接続され
ている差動増幅器の間の故障を出力側へ伝播できないた
め、後段の差動増幅器の診断ができないという問題点が
あった。

本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので
ある。

本発明の目的は、差動増幅器を含む論理回路の診断を可
能にする論理回路の゛診断方法を提供することにある。

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するため、本発明に論理回路の診断方法
は、入力段に差動増幅器を含む論理回路の回路テストを
行う論理回路の診断方法であって、入力段の差動増幅器
に与える差動信号の入力電圧を、通常動作時の電圧また
は中間レベルの電圧のどちらか一方に選択し、論理回路
の回路テストを行うことを特徴とする。

また、入力段に差動増幅器を含む論理回路の回路テスト
を行う論理回路の診断方法であって、入力段の差動増幅
器に与える差動信号の入力電圧を通常動作時の電圧とし
て、第１の回路テストを行い、入力段の差動増幅器に与
える差動信号の入力電圧の一方側入力電圧を中間レベル
の電圧として。

第２の回路テストを行うことを特徴とする。

〔作用〕

前記手段によれば、入力段に差動増幅器を含む論理回路
の回路テストを行う論理回路の診断方法が、入力段の差
動増幅器の差動信号の一方を通常動作時の電圧又は中間
レベルの電圧のいずれかに選択して、回路テストを行う
。これにより、故障仮定している入力信号の故障情報が
、確実に出力側へ反映されるので、故障を出力側へ伝播
させることができ、直列に接続された差動増幅器を含む
論理回路においても、通常の論理回路テストよるロジッ
クを用いて診断を行うことが可能となる。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を図面を用いて具体的に説明す
る。

第１図は１本発明の一実施例にかかる診断方法を一態様
で実施する論理回路の構成を示すブロック図である。第
１図において、　１１．１２は差動増幅器を含む論理回
路であり、これらが直列に接続されて全体の論理回路を
構成している。各論理回路１１、１２の正側入力端およ
び負側入力端には、それぞれ正側入力選択回路２および
負側入力選択回路３とが接続される。正側入力選択回路
２および負偏入力選択回路３は、前段からの正側出力お
よび負側出力を受け、また、中間レベルの電圧信号を受
けて、論理回路１１．１２の差動増幅器の差動入力端に
、正側の入力信号または中間レベル信号、および負側の
入力信号または中間レベル信号を、それぞれ選択して入
力する。

このように、差動増幅器を含む論理回路（以下単に差動
増幅器と略称する）　１１．１２への入力信号は、正側
入力選択回路２および負荷側入力選択回路３の各選択回
路により差動入力信号（正側入力信号７または負側入力
信号８）または中間レベル電圧４のいずれかが選択され
て入力されたものとなる。正側入力選択回路２および負
側入力選択回路３には、差ａ人力信号と中間レベル電圧
４の他に、外部からの入力選択制御信号のＳＬ、Ｓ２が
入力され、８１信号５が正側の入力選択制御を行い、Ｓ
２信号６が負側の入力選択制御を行う。例えば、第１表
と同様なｌ（Ｉ　ＩＩ縮退故障である場合に、Ｓ１信号
５およびＳ２信号６により差動増幅器１１．１２の負側
入力端のみを中間レベル電圧４に選択する制御を行えば
、当該論理回路の入呂力信号の状態の真理値表は、次の
第■表のようになる。

第■表 Ｍ；中間レベル電圧 この第■表より明らかなように、差動入力信号の一方の
負側入力端を中間レベルとすることにより、論理回路１
１のＳ−Ｐのパ１′″縮退故障は伝播され、例えば、論
理回路１１の入力信号としてＩ−ＰをＯ，Ｉ−Ｎを１に
すれば、当該故障は検出することができる。

したがって、第１図に示すように、差動増幅器を含む論
理回路１１．１２の正側および負側の入力端に、正側入
力選択回路２および負側入力選択回路３を付加し、負側
を中間レベル電圧４に選択すれば正側の診断ができ５正
側を中間レベル電圧４に選択すれば負側の診断ができる
ようになる。

第２図は、正側入力選択回路および負側入力選択回路を
含む構成の論理回路の要部を示す回路図である。正側入
力選択回路２および負側入力選択回路３は、共に同様な
構成であるので、第３図においては、負側入力選択回路
３の構成を中心に説明する。負側入力選択回路３は、共
通エミッタ接続のトランジスタ３１とトランジスタ３２
のスイッチング回路から構成されている。トランジスタ
３１のエミッタとトランジスタ３２のエミッタは共通接
続されて、入力抵抗３３を介して差動増幅器１１の入力
回路部１１ａの入力端に接続されている。トランジスタ
３１のベースには、負側入力選択を行う８２信号６が加
えられ、また、トランジスタ３２のベースには負側入力
信号８のＩ−Ｎが入力されている。

差動増幅器１１の入力回路部１１ａは、差動増幅器構成
の対のトランジスタ１４．１５とそれぞれのエミッタ抵
抗１６．１７より構成される。トランジスタ１４のベー
スには、正側入力選択回路２を介して正側入力信号７の
Ｉ−Ｐが入力される。また、トランジスタ１５のベース
には負側入力選択回路３で選択された信号が入力される
。

負側入力選択の制御を行うＳ２信号６として、差動入力
信号の負側入力信号８のＩ　−Ｎの最大値より大きな値
の信号を与えるので、トランジスタ３１がオン状態とな
る。差動増幅器１１の入力回路部１１ａの入力端に与え
る入力信号を中間レベルｖ、。

とするには１人力抵抗３３の電圧降下ｖＲとトランジス
タ３１のコレクタ・エミッタ間電圧ｖｃｇを加えた電圧
■。＋Ｖ、＋Ｖ、６をトランジスタ３１のコレクタ電圧
に選べばよい。また、負側入力選択の制御を行う８２信
号６が、負側入力信号８のＩ−Ｎの最小値より小さい値
を与える時は、負側入力信号８のＩ−Ｎがそのまま差動
増幅器１１の入力回路部１１ａの入力端に与えられて入
力される。このように、負側入力選択の制御を行うＳ２
信号６により差動増幅器１１の負側の入力端の入力信号
が選択できる。

第３図は、本発明の一実施例にかかる論理回路の診断方
法の処理手順を示すフローチャートである。第３図を参
照して説明する。

まず、ステップ３１において、差動入力信号の正側入力
信号および負側入力信号を選択するＳ１信号５およびＳ
２信号６をＬｏｗにし、差動入力信号をそのまま与えて
、全体回路のテストを行う。

そして、次のステップ３２において、この回路テストの
結果を判定する。テストが正常終了でなければ、不良と
判定され、そのまま不良終了とする。

テストが正常終了すれば１次のステップ３３に進み、正
側入力信号として中間レベル電圧を選択するため、Ｓ１
信号５をＨｉ　ｇｈとして、負側の回路テストを行う。

そして、次のステップ３４において１回路テストの結果
を判定する。テストが正常終了でなければ、不良と判定
され、そのまま不良終了とする。テストが正常終了すれ
ば、次のステップ３５に進み、負側入力信号として中間
レベル電圧を選択するため、Ｓ２信号６をＨｉ　ｇｈと
して、正側の回路テストを行う。そして、次のステップ
３６において、回路テストの結果を判定する。テストが
正常終了でなければ、不良と判定され、不良終了とする
。また、テストが正常終了すれば、合格として合格終了
とする。

このようにして、全体の回路テスト（ステップ３１）、
負側の回路テスト（ステップ３４）、および正側の回路
テスト（ステップ３５）をそれぞれ行い、各テスト結果
が正常終了すれば１合格と判定する。負側および正側の
回路テストでは、中間レベル電圧を用いて行い、故障伝
播が確実に行われるようにして、論理テストを行う。た
だし、ここで３つの回路テストは独立しているので、順
をも兼用することができるので、ステップ３１の回路テ
ストとステップ３３の回路テスト、ステップ３１の回路
テストとステップ３５の回路テストは同時に実施可能で
ある。

以上に説明した本実施例では、差動増幅器を含む論理回
路の入力信号を中間レベル電圧または通常動作時の入力
信号電圧のどちらかを選択できる回路を付加しているが
、差動増幅器を含む論理回路において、差動出力信号を
中間レベル電圧または通常動作時の信号電圧のどちらか
を選択できる回路を付加することにより、後段の論理回
路に入力できるようにしてもよい。

以上、本発明を実施例にもとづき具体的に説明したが１
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。

〔発明の効果〕

以上、説明したように、本発明によれば、入力段に差動
増幅器を含む論理回路の回路テ不トが。

確認に容易に行える。また、差動増幅器が直列に接続さ
れたタイプの論理回路の故障の診断が確実に行える。更
に、直列に接続された差動増幅器の間に仮定した故障を
検出できるので、診断の検出率向上に効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例にかかる診断方法を一態様
で実施する論理回路の構成を示すブロック図、 第２図は、正側入力選択回路および負側入力選択回路を
含む構成の論理回路の要部を示す回路図、第３図は１本
発明の一実施例にかかる論理回路の診断方法の診断手順
を示すフローチャー１・、第４図は、差動増幅器を含む
論理回路の構成を示すブロック図である。 図中、１１．１２・・・差動増幅器を含む論理回路、２
・・・正側入力選択回路、３・・・負側入力選択回路、
４・・・中間レベル電圧 第 田 悄４面 第２図 ■−コ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、入力段に差動増幅器を含む論理回路の回路テストを
   行う論理回路の診断方法であって、入力段の差動増幅器
   に与える差動信号の入力電圧を、通常動作時の電圧また
   は中間レベルの電圧のどちらか一方に選択し、論理回路
   の回路テストを行うことを特徴とする論理回路の診断方
   法。 ２、入力段に差動増幅器を含む論理回路の回路テストを
   行う論理回路の診断方法であって、入力段の差動増幅器
   に与える差動信号の入力電圧を通常動作時の電圧として
   、第１の回路テストを行い、入力段の差動増幅器に与え
   る差動信号の入力電圧の一方側入力電圧を中間レベルの
   電圧として、第２の回路テストを行うことを特徴とする
   論理回路の診断方法。 ３、請求項１または請求項２に記載の論理回路の診断方
   法を可能とする論理回路であって、論理回路の入力段の
   差動増幅器の前段に、差動信号と中間レベルの所定電位
   の電圧を選択する入力回路を設けたことを特徴とする論
   理回路。