JPH02234250A - メモリテスト補助装置 - Google Patents

メモリテスト補助装置

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Publication number
JPH02234250A
JPH02234250A JP1055505A JP5550589A JPH02234250A JP H02234250 A JPH02234250 A JP H02234250A JP 1055505 A JP1055505 A JP 1055505A JP 5550589 A JP5550589 A JP 5550589A JP H02234250 A JPH02234250 A JP H02234250A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
memory
cpu
test
input terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1055505A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Sato
雅裕 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP1055505A priority Critical patent/JPH02234250A/ja
Publication of JPH02234250A publication Critical patent/JPH02234250A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、CPUがその所属する情報処理システムのメ
モリが正しく動作するか否かをテストするにあたり該C
PUを補助するメモリテスト補助装置に関する。
(従来の技術) 従来、情報処理システムには、その起動時におけるシス
テムの初期診断の中でメモリが正しく動作するか否かを
CPUによりテストするようになっているものがある。
これは例えば次のようなものである。
まずテスト対象メモリの全てのアドレスにそのアドレス
毎に“+1“ずつ数値の違うデータを書込む。
その後、まず最初の比較対象データを設定する(S1)
そしてアクセスアドレスを設定する(S2)。
次にそのアドレスに書込んだデータをテスト対象メモリ
から読出す(S3)。
そして、この続出したデータと比較対象データを比較し
、両者が同じであるか否かを判断する(S4)。
その後、比較対象データに“+1″シたものを新しい比
較対象データとして設定するための処理を行う(S5)
この様な、81〜S5の処理をメモリの全アドレスに対
して繰返し、エラーの発生しない場合にメモリが正規に
動作しているものとする。
ところで、近年、メモリの容量は増大傾向の一途を辿っ
ている。これに伴い上述のテストのための所要時間も増
大することは明らかである。
それゆえ、中にはオペレーションシステムを早く立上げ
たいがために、システムの起動時におけるメモリのテス
トを省くものも出てきている。これは好ましくない現象
であり、解決策の出現が要望されている。
(発明が解決しようとする課題) 本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは、メモリテスト時におけるCPUの負
担を軽減し、システム初期診断の高速化を図れるメモリ
テスト補助装置を提供することにある。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 本発明のメモリテスト補助装置は、第1入力端子と第2
入力端子とのデータを比較するコンバレータと、テスト
対象メモリから読出された読出しデータをそのコンパレ
ータにおける第1入力端子に導くボートと、上記読出し
データに対する比較対象データを保持するレジスタと、
コンバレータの出力をテストデータとしてCPUに通知
する手段とを有する構成としたものである。
(作 用) 本発明によれば、メモリから読出したデータを比較対象
と比較した結果をCPUに通知してやるようにしたため
、このCPUはメモリのテストの際、そのデータを用い
ることによりCPU内での処理ステップを削減できる。
(実施例) 以下に本発明の実施例について図面を参照しつつ説明す
る。
図は本発明の一実施例に係るメモリテスト補助装置を有
する情報処理システムのブロック図である。
この図において、1はCPU,2はアドレスバス、3は
データパス、4はテスト対象となるメモリである。CP
UIはシステム全体の制御を司るものである。メモリ2
はその制御の際に使用されるものである。このメモリ2
のテストの際には、CPUIによりテスト用データが書
込まれ、またその書込まれたデータが読出される。
5はテストコントローラ、6はインターフェース、7は
レジスタ、8はデー゛タポート、9はコンバレータであ
る。これらは本発明に係るメモリテスト補助装置を構成
するものである。
テストコントローラ5は、メモリ2からの上記読出しデ
ータに対する比較対象データの制御、コンバレータ9か
らの比較結果のCPUIへの通知等を行う。ポート8は
その読出しデータをデータバス3からインターフェース
6を介してコンバレータ9の一方の入力端に導くように
機能する。レジスタ7は、数値データをインクリメント
可能なカウンタとして4F成されている。
このような構成のシステムにおけるメモリ4のテスト動
作について以下に説明する。
まず、CPUIは、メモリ4の全アドレスにそのアドレ
ス毎に“+1“ずつ数値の異なるデータを書込む。この
とき、CPUIは、メモリ4に書込んだデータがかかる
インクリメントデー夕であることをコントローラ5に通
知しておき、レジスタ7にはその初期値をセットしてお
く。
その終了後、CPUIにより先ず先頭のアドレス(アド
レス1という。)のデータがメモリ4から読出される。
すると、そのデータはボート8の出力として現れる。こ
れがコンバレータ9によりレジスタ7の内容と比較され
、その結果がコントローラ5に通知される。
コントローラ5は、その通知が当該両データの一致を表
すときは「アドレス1正常」、逆に不一致のときは「ア
ドレス1異常」なる内容のデータをCPUIに通知する
と同時に、レジスタ7の内容を“+1”するための信号
をこのレジスタ7に与える。
かくして最初のアドレスの判定が終わると、CPUIが
次のアドレスのデータをメモリ4がら読出すため、その
判定がコンバレータ9において行われ、その結果かコン
トローラ5によりCPU1に通知される。
このようにして、メモリ4の各アドレスのデータについ
て順次判定が行われる。
以上説明したように、本実施例によれば、メモリ4から
の読出しデータと比較対象データとの比較判定、ならび
に比較対象データの更新をCPU〕が行なわず、他のハ
ードウエア要素5〜9が代行する。よって、CPUIの
負担はその分軽くなる。
なお、上記したシステムにおいて、コントローラ5の内
部に、エラーが発生したときのアドレスならびにそのデ
ータを格納しておける記憶部を設け、CPUIがテスト
後にバス2.3を通じてアクセスすることができるよう
にしても良い。これは、エラーの解析の助けになる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、メモリから読出し
たデータを比較対象と比較した結果をCPUに倶給する
ため、CPUはメモリのテストの際、そのデータを用い
ることによりCPU内での処理ステップを削減すること
ができる。これにより、メモリテスト時におけるCPU
の負担が軽減され、システム初期診断の高速化を図れる
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例に係るメモリテスト補助装置を備
えた情報処理システムのブロック図である。 1・・・CPU,2・・・アドレスバス、3・・データ
パス、4・・・テスト対象メモリ、5・・・コントロー
ラ、6・・・インターフェース、7・・・レジスタ、8
・・・デタボート、9・・・コンパレー夕。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 情報処理システム全体の制御を司るCPUにより、テス
    ト対象メモリへテスト用データを書込み、かつ、その後
    、その書込みデータを該テスト対象メモリから読出して
    前記テスト対象メモリに前記テスト対象データが正しく
    書込まれたか否かを判定する情報処理システムにおいて
    、 第1入力端子と第2入力端子とのデータを比較するコン
    パレータと、 前記テスト対象メモリから読出された読出しデータを前
    記コンパレータにおける前記第1入力端子に導くポート
    と、 前記読出しデータに対する比較対象データを保持するレ
    ジスタと、 前記コンパレータの出力をテストデータとして前記CP
    Uに通知する手段と、 を備えているメモリテスト補助装置。
JP1055505A 1989-03-08 1989-03-08 メモリテスト補助装置 Pending JPH02234250A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1055505A JPH02234250A (ja) 1989-03-08 1989-03-08 メモリテスト補助装置

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JP1055505A JPH02234250A (ja) 1989-03-08 1989-03-08 メモリテスト補助装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02234250A true JPH02234250A (ja) 1990-09-17

Family

ID=13000528

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1055505A Pending JPH02234250A (ja) 1989-03-08 1989-03-08 メモリテスト補助装置

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JP (1) JPH02234250A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012194858A (ja) * 2011-03-17 2012-10-11 Fuji Electric Co Ltd 車両用ドア駆動制御検査装置、車両用ドア駆動制御検査方法および車両用ドア駆動制御検査プログラム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012194858A (ja) * 2011-03-17 2012-10-11 Fuji Electric Co Ltd 車両用ドア駆動制御検査装置、車両用ドア駆動制御検査方法および車両用ドア駆動制御検査プログラム

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