JPH0194629A - 樹脂封止型半導体装置の製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置の製造方法

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JPH0194629A
JPH0194629A JP25067187A JP25067187A JPH0194629A JP H0194629 A JPH0194629 A JP H0194629A JP 25067187 A JP25067187 A JP 25067187A JP 25067187 A JP25067187 A JP 25067187A JP H0194629 A JPH0194629 A JP H0194629A
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adhesive
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Akira Terasaki
寺崎 彰
Hirohiko Kimura
裕彦 木村
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 童連上の利用ザ 本発明は、樹脂層IE型パワートランジスタ等の樹脂封
止型半導体装置の製造方法に関する。
従−一米一辺一一一升一市 支持板の裏面側に薄い樹脂層を形成して支持板全体を封
止樹脂で被覆した構造の樹脂封止!県!#導体装置が公
知となっている。この種の半導体装置では、支持板の裏
面側の樹脂層を薄くかつ均一に形成する必要がある。こ
れを達成するために、例えば、特開昭61−26324
8号公報に示される製造方法が知られている。この方法
を第4図及び第5図に基づいて説明する。
第4図は、樹脂層1ヒ型パワートランジスタを作成する
ためのリードフレーム(正確にはリードフレームをベー
スとする中間組立体)の平面図を示し、第511!Iは
樹脂封止後に位置決めリードを除去した状態を示す部分
的断面図である。
リードフレーム1は、支持板2と、支持板2の一端に連
結された連結外部リート3と、支持板2の他端に連結さ
れた位置決めリード4と、連結外部リード3と並行しC
設けられた非連結外部り−ド5と、連結外部リード:3
と非連結外部リード5を連結する夕、イバー6及び第一
の連結細条7と、複数の位置決めリード4を連結する第
二の連結細条8とを有する。
リードフレーム1は、板状の鋼材を打ち抜き加工する一
連のプレス成形工程により形成される。
支持板2は他の部分より肉J’Aとなっており放熱板を
兼ねている。第5図に示すように1位置決めリード4が
連結される側の端部は微かな幅ではあるが肉薄部9とな
っており、支持FA2の裏面には段差部10が形成され
ている。また、支持板2にはネジ挿入用貫通孔11が形
成される。
位置決めリード4は、支持板2と一体に形成された内部
位置決めリード4aと、第二の連結細条8と一体に成形
された外部位置決めリート4bとから成る。内部リード
4aと外部リード4bは、位置決めリード4の延びる方
向と直角な対向面4a。
と4b、において、半導体チップを支持板2に接着する
半田の融点より30〜100℃高い融点を持つ金属又は
高分子材料より成る接着剤12で岨いに接合される。
実際のリードフレーム1は複数個の支持板2等が並行に
連結された多素子取りのリードフレームであるが、第4
図ではそのl素子分のみを示す。
位置決めリード4が接着されたリードフレーム1には、
まず、支持板2の主面2aに半導体チップ(シリコン1
−ランジスタチップ)13を半田14により固着する。
次に、非連結外部リード5と半導体チップ13とをリー
ド細線15で接続する。
次に、半導体チップ1 aを破線で示す保護樹脂16で
被覆する。その後、周知のトランスファモールド法によ
り破線で示す樹脂封止体17を形成する。この時、支持
板2は、連結外部リード3と位置決めリード4を一対の
成形金型で挟持することにより、上型と下型との間に所
定の間隙を持って浮いた状態で支持される。ここで、支
持板2と一ト型との間の間隙はlam以下であり、支持
板2と上型との間の間隙に比べて上置に小さい。この状
態で、成形金型の成形空所内に溶融樹脂を圧入し固化し
て樹脂封止体17を形成する。溶融樹脂の注入の際、前
記成形金型による挟持のために支持板2の位置が溶融樹
脂の圧力によって変動することはなく、支持板の裏面側
に薄い樹脂層を厚みの精度良く形成できる。
樹脂層1にの後、接着剤12を加熱し°C溶融させた状
態で外部位置決めリード4bを引張ることにより、内部
位置決めリード4aと外部位置決めリード4bとの間を
分離して、第5図に示すように、外部位置決めリード4
b及び第二の連結細条8を樹脂封止体17から除去する
。外部位置決めり一ト4bが抜けた跡にできる孔18の
奥に内部位置決めリード4aの端部4a□が位置する。
このため、支持板2と樹脂封止体L7のド血に当接して
使用される外部放熱体との間の沿面距離が樹脂封止体1
7の外側で位置決めリード4を切断する一般的方法の場
合より長くなる。即ち、支持板2と外部放熱体との間の
絶縁耐圧が高く、高自・1圧半導体装れのパッケージと
して好適である。
発明力jM−天y不四問題点 ところで、接着剤12は半導体チップ1:3を支持板2
に接着する半田14の融点より30〜1゜0℃高い融点
を持つ金属又は高分子材料が使用される。このため、外
部位置決めリード4b及び第二の連結細条8の除去に際
して、接着剤12を溶融させるために半導体装置を加熱
すると、半導体チップ13を接着する半[口14も溶融
し、半田14の部分の熱抵抗を増加させてしまう。また
、加熱と半田14の溶融によって保、lIJ樹脂16が
劣化することもある。更に、加熱によってリード細線1
5の接続部分の合金化反応が過度になって、リード細線
15の接続強度が低ドすることもある。
このように樹脂封止後に半田14の融点を超える高温加
熱を行うと、半導体装置の特性及び信頼性に悪影響を及
ぼす。また、溶融した接着剤12が孔18に流出して、
接着剤12が半田等の導電材料の場合には前記高絶縁耐
圧のメリットを半減させることもある。
上記の欠点を解消するため、例えば、特開昭61−56
420号公報に示すように、位置決めリード4にtJs
断面部を形成し、位置決めリード4に引張力を与えて前
記小断面部で位置決めリード4を破断する方法もある。
しかし、位置決めリード4の破断に要する引張力は比較
的大きく、位置決めリード4の破断に大掛かりな装置が
必要になるし、作業も複雑になる。また、樹脂封止体1
7を伽つけ゛C外観不良や特性不良を招くこともある。
また、引張力による破断の際に位置決めリート4の破断
部にばりが生じ、nil gL!高絶縁耐圧のメリット
を減少させることもある。
そこで、本発明は上記問題を解決した樹脂封止型半導体
装置の製造方法を提供することを目的とする。
伺ML7騙灸邂−迭Jンリ1杵辺j− 本発明の樹脂封止型半導体装置の製造方法は。
支持板に連結されかつ該支持板の一端から導出された連
結外部リードと、前記支持板の一方の主面に固着されて
いる半導体チップと、前記支持板の前記一方の主面に接
着剤により固着されかつ前記支持板の他端から導出され
た位置決めリードとを含む半導体装置組立体を準備する
工程と、前記連結外部リードと位置決めリードとをそれ
ぞれ樹脂封止用成形型の上型と下型で両持ち状態に挟持
することにより前記成形型内の成形空所に前記支持板の
他方の主面が浮いた状態に前記半導体装置組立体を前記
成形型で支持する工程と、前記成形空所に液状の樹脂を
注入して樹脂封止体を形成する工程と、前記位置決めリ
ードに外力を加えて前記接着剤による固着部分を破断さ
せて前記位置決めリードを除去する工程とから成る。
オヒ       Jij 位置決めリードの支持板への連結は、位置決めリードの
一部が支持板と重ねられるようにして支持板の土面に接
着剤により固着されることで、位置決めリードとして支
持板を支持するに必要な連結強度を部分に得ることがで
きる。また、位置決めリードに外力(通常は引張力)を
加えることで、半導体装置に悪影響を与える加熱を行わ
なくても、また樹脂封止体の損傷をMiかない程度の比
較的小さい力で、位置決めリードを支持板から分離する
ことができる。
失−流一一、但 以下、本発明の実施例を第111!i〜第33図につい
て説明する。これらの図面では、第4図及び第5図に示
す箇所と同一の部分については同一の符号を付し、説明
を省略する。
まず、第1図は樹脂封止型パワートランジスタ用リード
フレーム20を示す。
リードフレーム20は、最初は、位置決めり一ド21及
び第二の連結細条8から成る部分とその他の部分の一体
に分けて形成されている。製作の過程では、1枚の板材
から一体にプレス成形したものを切断して一体に分けて
もよい。この一体は、位置決めリード21の内端の下面
を支持板2の上面である一方の主面2aに接着7fl1
22で固着することにより一体化される。接着剤22は
高耐熱性樹脂であるポリイミド樹脂を基材とするもので
ある。
こうして製作されたリードフレーム20に対して、半導
体チップ13を支持板2に半田14により固着する。次
に、周知のワイヤボンディング工程でリード細線15を
接続し、更に、半導体チップ13を保護樹脂16で被覆
する。その後、従来例と同様に成形用金型で連結外部リ
ード;3と位置決めリード21を挟持しつつトランスフ
ァモールドを行う。
第2図はリードフレーム20をトランスファモールド用
金型に装着した場合の第1図のI−I線に沿う断面図を
示す。金型2;3.24内に形成された成形空所25内
に溶融樹脂が圧入され、半導体チップ13等を含む支持
板2の全面と、連結外部リード3、位置決めリード21
及び非連結外部リード5のそれぞれ端部を被覆する樹脂
対+L体17が形成される。この時、支持板2には支持
板2紮押し上げるノロl′+1に樹脂の圧力が作用する
。しかし、位置決めリード21と支持板が車ねられて必
要十分な面積で固着していること、及び位置決め一ド2
1が支持板2の上側にあるので前記樹脂の圧力が直接的
には接着剤22を引張る方向に鋤かないことから、位置
決めリード21が支持板2から剥がれてしまうことはな
い。したがって、連結外部リード3と位置決めリード2
1によって両持ら状に支持された支持板2は成形室)3
Fr25内の1[しい位置に維持され、支持板2の裏面
には0.5ml11程度の薄い樹脂層が厚み精度良く形
成される。
樹脂封止体17を形成した後、第3図に示すように、第
二の連結細条8に引張力を加えることにより位置決めリ
ード21を樹脂封止体17から引き抜くようにして除去
する。その際、接着剤22による固着部は比較的小さな
引張力で破断する。その後、タイバー6及び連結細条′
lをプレス加工により切断除去じて個々の樹脂封止型パ
ワー1−ランジスタとする。
上記実施例では、樹脂封圧体l)の損傷による特性劣化
、信頼性低下及び外観不良も認められない。また、位置
決めリード21を引き抜いた際に、位置決めリード21
の存在していた所に生じる孔26内に接着剤22の破片
が散在しても、接着剤22が絶縁物であるために絶縁耐
圧の低下にはつながらない。
史に、樹脂封止体17に外部放熱体を装着した場合、外
部放熱体と接着剤22による固着部分との沿面距離(樹
脂封止体17に沿っての最短yt!lv)が樹脂封止型
半導体装置と外部放熱体との絶縁耐圧を決定する一つの
大きな要因となる0本発明では、樹脂封止体17内に位
置決めリード21を残存させないので(従来例における
内部位置決めリード48に相当するものがないので)、
支持板2の肉薄部シ】の端部の位置までが沿面距離とな
り、沿面距離が増加する。しかも本実施例では、支持板
2の四部27の底部から位置決めリー822が導出され
る形状としていることにより、支持板2の大きさを実質
的に小さくすることなく(放熱能力を低下させることな
く)かつ樹脂封止体17を大形化することなく、沿面距
離の一層の増加を達成している。また、支持板2の肉薄
部S)の端部を樹脂封止体17の側面に近接させること
により、樹脂封止の際に支持板2の主面2a側への樹脂
の流れを抑制し、支持板2の裏面に未充填部分の生じな
い良好な樹脂封止が行われるように配慮している。
変、 −J医−一例 上記実施例では、接着剤22による固着部分が樹脂封止
体17の内部となるように樹脂封止した。
しかし、位置決めリード21の上部に樹脂封止体17の
凹部が形成されるように樹脂封止して、位置決めリード
21の上面が樹脂封止体17から露出するようにしても
よい。この場合、第二の連結細条8を上方に持ち上げる
ようにしても位置決めリード21を支持板2から分離す
ることができる。
また、接着剤22の固着部分が底になるように上方のみ
が開口した凹部を樹脂封止体17に形成し、位置決めリ
ード21を引き抜くように除去した後に、この凹部に絶
縁用の樹脂を注入してもよい。
この場合、この凹部の側方が側壁に包囲されているので
、絶縁用の樹脂の注入作業が行い易い。また、前記実施
例では本発明をパワートランジスタに応用した例を示し
たが、SCR等他等地脂封止型半導体装置にも応用する
ことがiiJ能である。
悲迦未米 本発明の製造方法によれば、支持板の裏面側に薄い樹脂
層を形成して支持板全体を封止樹脂で被覆した構造の樹
脂封止型半導体装置を、電気的特性及びイば軸性の低下
を伴うことなく、かつ容易に製作することができる。ま
た、支持板と外部放熱体との沿面距離を大きくとって、
高絶縁It圧の樹脂封止型半導体装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による樹脂封止型半導体装置の製造方法
に用いるリードフレームのqZ面図、第2図はこのリー
ドフレームをトランスファモールド用成形金型内に装着
した状態を示す第1図のI −1線に沿う断面図、第3
図は第1図のリードフレームに樹脂封止体を形成した後
に位置決めリードを除去した状態を示す部分的断面図、
第4図は従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法に用い
るリードフレームの平面図、第5図は第4図のリードフ
レームに樹脂封止体を形成した後に位置決めす−ドを除
去した状態を示す部分的断面図である。 20.支持板、2a、、主面、 30.連結外部リード
、 50.非連結外部リード、 66.タイバー、 7
0.第一の連結細条、 80.第二の連結細条、 90
.支持板の肉薄部、 1001段差部、 110.ネジ
挿入用貫通孔、13.、半導体チップ、 140.半田
、 150.リード細編、 160.保ぷ樹脂、 17
0.樹脂封止体。 208.リードフレー11、2100位置決めリード、
22.、接着剤、 230.成形金型の上型、 240
.成形金型のトノsq、25..成形空所、26.、孔
、 270.凹部

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  支持板に連結されかつ該支持板の一端から導出された
    連結外部リードと、前記支持板の一方の主面に固着され
    ている半導体チップと、前記支持板の前記一方の主面に
    接着剤により固着されかつ前記支持板の他端から導出さ
    れた位置決めリードとを含む半導体装置組立体を準備す
    る工程と、樹脂封止用成形型の上型と下型で両持ち状態
    に前記連結外部リードと位置決めリードとを挟持するこ
    とにより前記成形型内の成形空所に前記支持板の他方の
    主面が浮いた状態に前記半導体装置組立体を前記成形型
    で支持する工程と、 前記成形空所に液状の樹脂を注入しかつ固化して樹脂封
    止体を形成する工程と、 前記位置決めリードに外力を加えて前記接着剤による固
    着部分を破断させて前記位置決めリードを除去する工程
    と、 から成る樹脂封止型半導体装置の製造方法。
JP62250671A 1987-10-06 1987-10-06 樹脂封止型半導体装置の製造方法 Expired - Lifetime JPH0640557B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5370517A (en) * 1990-10-31 1994-12-06 Sgs-Thomson Microelectronics S.R.L. Apparatus for assembling and resin-encapsulating a heat sink-mounted semiconductor power device

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61263248A (ja) * 1985-05-17 1986-11-21 Nec Corp 樹脂封止型半導体装置の製造方法及びそれに使用するリ−ドフレ−ム

Patent Citations (1)

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