JPH04211138A - 樹脂封止形半導体装置の製造方法 - Google Patents

樹脂封止形半導体装置の製造方法

Info

Publication number
JPH04211138A
JPH04211138A JP4237791A JP4237791A JPH04211138A JP H04211138 A JPH04211138 A JP H04211138A JP 4237791 A JP4237791 A JP 4237791A JP 4237791 A JP4237791 A JP 4237791A JP H04211138 A JPH04211138 A JP H04211138A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
support plate
small cross
strip
resin
filaments
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4237791A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0563936B2 (ja
Inventor
Takaaki Yokoyama
隆昭 横山
Yoshiharu Tada
多田 吉晴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanken Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanken Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanken Electric Co Ltd filed Critical Sanken Electric Co Ltd
Priority to JP4237791A priority Critical patent/JPH04211138A/ja
Publication of JPH04211138A publication Critical patent/JPH04211138A/ja
Publication of JPH0563936B2 publication Critical patent/JPH0563936B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、樹脂封止形半導体装置
、特に短絡事故が少なくかつ製造が容易な樹脂封止形半
導体装置の製造方法に関連する。 [0002]
【従来の技術】従来、一般的な電力用樹脂封止形半導体
装置においては、半導体チップが接着された支持板の裏
面には封止用樹脂が形成されていない。このため、この
半導体装置を外部放熱体に取付けるに際しては、外部放
熱体との間に絶縁シートを介在させる必要があり、作業
が煩雑になった。そこで、支持板の裏面にも封止用樹脂
を形成する方法が提案された。このような樹脂封止技術
は、例えば、特開昭57−178352号公報や特開昭
58−143538号公報で開示されている。すなわち
、リードフレームの一部を構成する支持板上に半導体チ
ップを電気伝導可能に接着したのち、半導体チップは細
線で外部リードと接続される。次に、リードフレームは
金型に装着され、キャビティ内に融解樹脂が圧入される
。このとき、キャビティ内で支持板が移動しないように
、支持板の各側部に連結された外部リードと細条が金型
で把持される。融解樹脂が固化したのち、リードフレム
が金型から取外され、リードフレームの所定部分が切断
される。特開昭57−178352号では、細条を折り
曲げて切断するために、封止用樹脂の外面をまたぐよう
にして細条に小断面部を形成している。 [0003]
【発明が解決しようとする課題】しかし、細条の切断面
が封止用樹脂の外面に露出することには変わりない。そ
こで、特開昭58−143538号では、図9に示す通
り、切断後の封止用樹脂の外面50から突出した細条端
部を化学エツチング等の方法により除去し、封止用樹脂
の外面50から窪む位置51に細条の先端を形成してい
た。しかしこの方法は、細条の一部を除去する付加的工
程が必要となりコストアップを招いた。しかも所望の化
学エツチング等を量産的に行うこと自体に新たな技術を
要するので、実用的とは言い難い。
【0004】そこで、本発明では上記問題を解決する樹
脂封止形半導体装置の製造方法を提供することを目的と
する。 [0005]
【課題を解決するための手段】本発明の樹脂封止形半導
体装置の製造方法によれば、支持板と、支持板の一端に
連結された外部リードと、支持板の他端に連結された細
条とを有し、支持板の他端側から順番に細条には第1の
小断面部と第2の小断面部が形成され、支持板上に半導
体チップが載置されたリードフレームを用意する工程と
、細条の第1の小断面部と第2の小断面部を成形用型の
キャビティ形成面から所定距離だけ内側に離間させてリ
ードフレームを成形用型に装着する工程と、成形用型の
キャビティ内に封止用樹脂を圧入する工程と、細条にそ
の導出方向への引張力を作用させて、細条を第2の小断
面部で破断する工程とを含む。 [0006]
【作用】本発明によれば、封止用樹脂の内側で細条を破
断して、細条の破断部と外部放熱体との沿面距離を増加
できるので、樹脂封止形半導体装置の絶縁耐圧が向上し
、接触事故を防止することができる。また、破断部とな
る第2の小断面部と支持板との間に形成された第1の小
断面部は、細条の引張り破断時に細条を通じて半導体装
置の内部に伝達される外力を減衰させて、支持板及び封
止用樹脂に生じる応力を有効に緩和する。 [0007]
【実施例】以下図面について、本発明の詳細な説明する
。 本発明で製造される樹脂封止形半導体装置は、図1に示
すリードフレーム1から作られる。リードフレーム1は
支持板3を有し、支持板3の一方の主面にトランジスタ
チップ等の半導体チップ2が半田付けされる。半導体チ
ップ2は、必要に応じて保護コート4を形成するシリコ
ン樹脂で被覆される。支持板3には、コレクタリード5
が一体形成される。コレクタリード5は、ベースリード
6とエミッタリード7と共に外部リードと総称され、タ
イバー8及び共通細条9により直角方向に連結される。 ベースリード6とエミッタリード7は、それぞれアルミ
ニウム線10.11により半導体チップ2の所定位置へ
接続される。 [0008]支持板3には、コレクタリード5に対して
反対側へ伸びる一体の細条12.13が一体に成形され
る。外部リード及び細条12.13は支持板3よりも肉
薄に形成されている。また、細条12.13の下面と支
持板3の下面との間には段差部27が形成されている。 各細条12.13の外端は、共通細条14により直角方
向で互いに連結される。後工程で形成される鎖線15で
示す封止用樹脂の端面16から所定距離だけ内側に離れ
た位置の各細条12.13にはそれぞれ第1の小断面部
17a、18aと第2の小断面部17b、18bが設け
られる。小断面部17a、17b、18a、18bは、
後述の通り、種々の形状のものを選択できるが、本実施
例では第1の小断面部17a、18aを線状の切込(溝
)で形成し、第2の小断面部17b、18bを内側に先
細のテーパで形成した。第2の小断面部17b、18b
は第1の小断面部17a、18aよりも支持板3から離
間した位置に配設されており、細条の切断時に引張の応
力が強く集中する部分となる。 [0009]なお、図1ではトランジスタ1個分の支持
板3、外部リード及び細条12.13を有するリードフ
レーム1を示すが、実際には、多数の支持板、外部リド
及び細条がタイバー8と共通細条9.14により並行に
支持された金属製リードフレームが使用される。 [00101リードフレームは、図2及び図3に示す金
型19内に装着される。図2はコレクタリード5の中心
線に沿う断面を示し、図3は細条13の中心線に沿う断
面を示す。金型19は下型20と上型21とで構成され
、リードフレーム1を収容するキャビティ22を形成す
る。第1及び第2の小断面部17a、18a、17b、
18bは金型のキャビティ形成面から内側に配置される
。 [00111上述の通り金型19にリードフレーム1を
装着したのち、キャビティ22内に熱硬化性の融解エポ
キシ樹脂が公知のトランスファモールド法によりゲート
(図示せず)から圧入され、支持板3を含むリードフレ
ム1の一部分が樹脂15により封止される。 [0012]樹脂15が固化したのち、図4に示すリド
フレーム1を金型19から取出す。次に、樹脂15から
導出された細条12.13を導出方向に引張ることによ
り、細条12.13を第2の小断面部17b、18bで
切断し、共通細条12.13の一部を除去する。その後
、各外部リードを連結するタイバー8と共通細条9もプ
レス切断により除去する。このように製造した半導体装
置の1例を図5に示す。細条12.13が導出されてい
た樹脂15に孔23.24が形成される。本出願人は本
発明による製造方法で実際に樹脂封止形半導体装置を製
造したが、孔23.24の形状は細条12.13が抜け
た後にほぼ等しく形成された。また、細条12.13は
支持板3よりも肉薄に形成されており、第2の小断面部
17b、18bの断面積は十分に小さいから、細条12
.13は引張りによって容易に破断することができる。 また、引抜き破断時に第1の断面部17a、18aがわ
ずかではあるが伸びることによって、引抜き破断時に支
持板側に伝達される強い引張応力を緩和することができ
る。このため、孔23.24の周辺の樹脂15に特性変
動または外観不良の点で実用上問題にすべきクラック、
そり等の異常は全く発生せず、半導体チップ2の特性低
下等も生じなかった。 [0013]図6に示すように、細条13の端面25は
、樹脂の端面16より長さ11(キャビティ形成面と第
2の小断面部17b、18bとの間隔に相当)だけ内側
に窪み、そこに孔24が形成される。また、細条12.
13は支持板3との間に段差部27が形成されて上方に
偏位しているので、支持板3の下面側の樹脂15を図3
に示すように肉薄に形成しても細条12.13の外部放
熱体からの高さ12を大きくとれる。結果として、細条
12.13から外部放熱体26までの沿面距離1oはl
。 −11+12と長くなり、絶縁不良が防止される。更に
、孔23.24が小さいため、他の素子、キャビネット
又は人体等を含む周囲と細条12.13の接触による短
絡事故も防止される。孔23.24には、絶縁不良を完
全に防止するため、樹脂を充填してもよい。しかし、こ
の樹脂を充填しなくても実用上は問題はない。また、放
熱性の点においても、支持板3が細条12.13に比べ
て肉厚に形成されているし、支持板3の下面側の樹脂1
5を肉薄に形成することができるから、支持板3の下面
が露出したタイプの半導体装置と同等の放熱効果を期待
できる。 [00141図7及び図8は細条の小断面部の変形例の
一例を示す。図7の例では、引張力に対向する肩部31
を第1の小断面部としている。 [00151図8は細条13に加えられる引張力に対向
する力を更に強化するため、樹脂が充填される孔35を
第1の小断面部として形成している。その他、第2の小
断面部17b、18bを形成するテーパの外側部分を樹
脂の耐面16よりも外側まで伸ばしても良い。勿論、破
断部となる第2の小断面部17b、18bを孔などで、
形成することもできる。 [0016]なお、上記実施例ではトランジスタについ
て説明したが、この説明はダイオード、サイリスタ等信
の半導体装置にも応用できることは明らかである。 [0017]
【発明の効果】上述のように、本発明の樹脂封止形半導
体装置の製造方法によれば、細条の破断部が封止用樹脂
の外周面よりも内側に位置する。したがって、細条の破
断部と外部放熱体との沿面距離を増加して、絶縁耐圧を
向上すると共に、細条の破断部の接触による短絡事故を
防止することができる。更に破断部となる第2の小断面
部と支持板との間に形成した第1の小断面部によって細
条の引張時に生じる応力を有効に緩和し、樹脂の割れや
チップの特性低下を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による樹脂封止形半導体装置の製造方法
に使用するリードフレームの平面図
【図2】リードフレームを金型に装着して樹脂封止した
ときのコレクタリードの中心線に沿う断面図
【図3】リ
ードフレームを金型に装着して樹脂封止したときの細条
の中心線に沿う断面図
【図4】金型から取出されたリードフレームの斜視図

図5】本発明による樹脂封止形半導体装置の製造方法で
作られた半導体装置の斜視図
【図6】細条切断部の部分的拡大断面図
【図7】細条の
小断面部に関する異なる形状を示す断面図
【図8】細条の小断面部に関する更に異なる形状を示す
断面図
【図9】従来の樹脂封止形半導体装置の例を示す破砕断
面図
【符号の説明】
11.リードフレーム、 21.半導体チップ、 3.
。 支持板、 5.6.70.外部リード、 12.13.
。 細条、 151.封止用樹脂、 17a、 18a、 
、第1の小断面部、 17b、18b、、第2の小断面
部、 191.金型(成形用型)、 220.キャビテ
ィ、
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図7】
【図6】
【図8】
【図9】

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 支持板と、該支持板の一端に連結された
    外部リードと、前記支持板の他端に連結された細条とを
    有し、前記支持板の他端側から順番に前記細条には第1
    の小断面部と第2の小断面部が形成され、前記支持板上
    に半導体チップが載置されたリードフレームを用意する
    工程と、 前記細条の前記第1の小断面部と前記第2の小断面部を
    成形用型のキャビティ形成面から所定距離だけ内側に離
    間させて前記リードフレームを前記成形用型に装着する
    工程と、 前記成形用型の前記キャビティ内に封止用樹脂を圧入す
    る工程と、 前記細条にその導出方向への引張力を作用させて、前記
    細条を前記第2の小断面部で破断する工程と、を含むこ
    とを特徴とする樹脂封止形半導体装置の製造方法。
JP4237791A 1991-02-15 1991-02-15 樹脂封止形半導体装置の製造方法 Granted JPH04211138A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4237791A JPH04211138A (ja) 1991-02-15 1991-02-15 樹脂封止形半導体装置の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4237791A JPH04211138A (ja) 1991-02-15 1991-02-15 樹脂封止形半導体装置の製造方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1086909A Division JPH01309338A (ja) 1989-04-07 1989-04-07 樹脂封止形半導体装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04211138A true JPH04211138A (ja) 1992-08-03
JPH0563936B2 JPH0563936B2 (ja) 1993-09-13

Family

ID=12634365

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4237791A Granted JPH04211138A (ja) 1991-02-15 1991-02-15 樹脂封止形半導体装置の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04211138A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010108954A (ja) * 2008-10-28 2010-05-13 Shindengen Electric Mfg Co Ltd リードフレーム及び半導体装置
CN107845575A (zh) * 2017-11-03 2018-03-27 浙江人和光伏科技有限公司 一种薄片二极管的生产方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010108954A (ja) * 2008-10-28 2010-05-13 Shindengen Electric Mfg Co Ltd リードフレーム及び半導体装置
CN107845575A (zh) * 2017-11-03 2018-03-27 浙江人和光伏科技有限公司 一种薄片二极管的生产方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0563936B2 (ja) 1993-09-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7781262B2 (en) Method for producing semiconductor device and semiconductor device
US6756658B1 (en) Making two lead surface mounting high power microleadframe semiconductor packages
KR100927319B1 (ko) 스탬핑된 리드프레임 및 그 제조 방법
US20080268576A1 (en) Method of manufacturing a semiconductor device
US20110175217A1 (en) Semiconductor Packages Including Die and L-Shaped Lead and Method of Manufacture
KR19980032479A (ko) 표면 설치 to-220 패키지 및 그의 제조 공정
JPH0254665B2 (ja)
JPH04211138A (ja) 樹脂封止形半導体装置の製造方法
JPH0563937B2 (ja)
JPH0249445A (ja) 樹脂封止形半導体装置の製造方法
JPH0739241Y2 (ja) 樹脂封止型半導体装置用リードフレーム
JPH01315147A (ja) 樹脂封止形半導体装置の製造方法
JPH0249444A (ja) 樹脂封止形半導体装置の製造方法
JPH01309338A (ja) 樹脂封止形半導体装置の製造方法
JPH0582573A (ja) 樹脂封止型半導体装置用金型
JP2817815B2 (ja) 樹脂封止型電子部品の製造方法
JPS6194349A (ja) 樹脂封止形半導体装置の製造方法及びその製造方法に使用するリ−ドフレ−ム
JP2000124167A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0318741B2 (ja)
JP4493170B2 (ja) プラスチックパッケージの製造方法
JPH07176667A (ja) 表面実装型半導体装置
KR200331874Y1 (ko) 반도체의다핀형태패키지
JPH0242751A (ja) 樹脂封止形半導体装置の製造方法
JPH0194629A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2004039709A (ja) リードフレームおよびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees