JPH0140950B2 - - Google Patents
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- JPH0140950B2 JPH0140950B2 JP57042539A JP4253982A JPH0140950B2 JP H0140950 B2 JPH0140950 B2 JP H0140950B2 JP 57042539 A JP57042539 A JP 57042539A JP 4253982 A JP4253982 A JP 4253982A JP H0140950 B2 JPH0140950 B2 JP H0140950B2
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- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 13
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9018—Dirt detection in containers
- G01N21/9027—Dirt detection in containers in containers after filling
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は薬剤カプセル等の外観検査装置、特
にカプセル等を撮像装置等により撮像して得られ
るビデオ信号を所定のレベルで２値化する２値化
装置に関する。一般にこの種の外観検査装置にお
ける検査対象物は立体であり、したがつて、その
輪郭が鮮明となるような照明方法ばかりでなく、
正確な検出ができるような回路構成上の工夫が
種々なされている。
にカプセル等を撮像装置等により撮像して得られ
るビデオ信号を所定のレベルで２値化する２値化
装置に関する。一般にこの種の外観検査装置にお
ける検査対象物は立体であり、したがつて、その
輪郭が鮮明となるような照明方法ばかりでなく、
正確な検出ができるような回路構成上の工夫が
種々なされている。
第１図はかかる外観検査装置における照明部を
示す概略図である。
示す概略図である。
同図において、１は光源、２は工業用テレビジ
ヨン（IVT）カメラ等の撮像装置、３は薬剤カ
プセル等の被検査体、４はアクリル樹脂などの乱
反射板からなる拡散照明板、BAは基台である。
同図Ａからも明らかなように、被検査体３には光
源１によつて比較的明るく照明される部分ａと、
拡散照明板４により照明される暗い部分ｂとが生
じる。したがつて、ITVカメラ２によつて捉え
られる映像信号は同図Ｂのモニタ画面MOに図の
如く映し出される。なお、このときの映像の一水
平走査期間の映像（ビデオ）信号波形VSは、例
えば、同図Ｃのようになる。つまり、検査対象物
における輪郭部の信号レベルはａ側が高く、この
ため明部ａ側では輪郭を安定に２値化することが
できるが、暗部ｂ側はレベルが低く、したがつて
輪郭の２値化が非常に困難となるので、従来は以
下のようにしてこれらの問題に対処している。
ヨン（IVT）カメラ等の撮像装置、３は薬剤カ
プセル等の被検査体、４はアクリル樹脂などの乱
反射板からなる拡散照明板、BAは基台である。
同図Ａからも明らかなように、被検査体３には光
源１によつて比較的明るく照明される部分ａと、
拡散照明板４により照明される暗い部分ｂとが生
じる。したがつて、ITVカメラ２によつて捉え
られる映像信号は同図Ｂのモニタ画面MOに図の
如く映し出される。なお、このときの映像の一水
平走査期間の映像（ビデオ）信号波形VSは、例
えば、同図Ｃのようになる。つまり、検査対象物
における輪郭部の信号レベルはａ側が高く、この
ため明部ａ側では輪郭を安定に２値化することが
できるが、暗部ｂ側はレベルが低く、したがつて
輪郭の２値化が非常に困難となるので、従来は以
下のようにしてこれらの問題に対処している。
第２図および第３図は従来の２値化方式を説明
するための説明図である。
するための説明図である。
第２図に示されるものは、端子Ｔに与えられる
映像信号（ビデオ信号）VSを比較器５により所
定の設定値SEと比較して２値化する、いわゆる
固定２値化方式と呼ばれるものである。このよう
な方式において、第１図の如く照明を行なうもの
とすると、上述のようにｂ側の信号レベルは低
く、また、検査物のａ側とｂ側との明度にもとも
と差があるような場合にはさらに低くなることが
考えられるので、安定に２値化し得るしきい値の
範囲が非常に狭くなり、したがつて信号の変動に
対するマージンが非常に小さくなるという欠点を
有している。なお、同図において、Ｓはしきい値
レベルをSEとした場合のビデオ信号VSの２値化
出力を示すものである。
映像信号（ビデオ信号）VSを比較器５により所
定の設定値SEと比較して２値化する、いわゆる
固定２値化方式と呼ばれるものである。このよう
な方式において、第１図の如く照明を行なうもの
とすると、上述のようにｂ側の信号レベルは低
く、また、検査物のａ側とｂ側との明度にもとも
と差があるような場合にはさらに低くなることが
考えられるので、安定に２値化し得るしきい値の
範囲が非常に狭くなり、したがつて信号の変動に
対するマージンが非常に小さくなるという欠点を
有している。なお、同図において、Ｓはしきい値
レベルをSEとした場合のビデオ信号VSの２値化
出力を示すものである。
一方、第３図に示される方法は、端子Ｔに与え
られるビデオ信号VSと、該ビデオ信号を遅延回
路７および係数器６を介して遅延した信号VS′と
を比較器５で比較する、つまり遅延微分操作を行
なうことにより２値化信号S′を得た後、所定の波
形処理をして同図のＳで示される如き信号を得る
もので、前者の方式に対して浮動２値化方式とも
呼ばれている。この方法は微分操作を伴なうもの
であるため信号の変動に対しては比較的安定であ
るが、前者の方式にくらべて２値化波形S′に凹凸
が多くなるとともに、例えば第１図Ｃの如く輪郭
内において信号にレベル差がある場合には適用が
非常に困難となる欠点を有している。
られるビデオ信号VSと、該ビデオ信号を遅延回
路７および係数器６を介して遅延した信号VS′と
を比較器５で比較する、つまり遅延微分操作を行
なうことにより２値化信号S′を得た後、所定の波
形処理をして同図のＳで示される如き信号を得る
もので、前者の方式に対して浮動２値化方式とも
呼ばれている。この方法は微分操作を伴なうもの
であるため信号の変動に対しては比較的安定であ
るが、前者の方式にくらべて２値化波形S′に凹凸
が多くなるとともに、例えば第１図Ｃの如く輪郭
内において信号にレベル差がある場合には適用が
非常に困難となる欠点を有している。
この発明は上記に鑑みなされたもので、上述の
固定２値化方式の長所を生かし、安定に２値化を
行ない得る外観検査装置を提供することを目的と
するものである。
固定２値化方式の長所を生かし、安定に２値化を
行ない得る外観検査装置を提供することを目的と
するものである。
上記の目的は、この発明によれば、撮像手段に
より得られる検査対象物の撮像信号と該撮像信号
を所定の時間だけ遅延させた遅延撮像信号との差
を演算する差動増幅手段と、該手段の出力と前記
遅延撮像信号とを加算する加算手段とを設け、該
加算出力および前記遅延撮像信号のそれぞれを所
定のしきい値レベルで比較して２値化し、これら
を合成することにより撮像信号の立下りを強調す
る一方、立上りをも補償して検出するようにして
達成される。
より得られる検査対象物の撮像信号と該撮像信号
を所定の時間だけ遅延させた遅延撮像信号との差
を演算する差動増幅手段と、該手段の出力と前記
遅延撮像信号とを加算する加算手段とを設け、該
加算出力および前記遅延撮像信号のそれぞれを所
定のしきい値レベルで比較して２値化し、これら
を合成することにより撮像信号の立下りを強調す
る一方、立上りをも補償して検出するようにして
達成される。
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
第４図はこの発明の実施例を示すブロツク図、
第５図はこの発明の他の実施例を示すブロツク
図、第６図は第４，５図における各部波形（な
お、この波形はわかり易くするために可成り変形
したものである。）を示す波形図である。第４図
において、８は差動増幅器、９は加算器、１０は
例えばオア回路からなる信号合成器で、５，５′
および７はそれぞれ今迄に説明したものと同様の
比較回路および遅延回路である。
第５図はこの発明の他の実施例を示すブロツク
図、第６図は第４，５図における各部波形（な
お、この波形はわかり易くするために可成り変形
したものである。）を示す波形図である。第４図
において、８は差動増幅器、９は加算器、１０は
例えばオア回路からなる信号合成器で、５，５′
および７はそれぞれ今迄に説明したものと同様の
比較回路および遅延回路である。
第４図の動作について第６図を参照しながら説
明する。
明する。
端子Ｔに与えられる第６図Ａの実線で示される
ようなビデオ信号VSは、そのまゝ差動増幅器８
の一方の端子に与えられるとともに、遅延回路７
にて第６図Ａの点線DVで示されるように遅延さ
れてもう一方の端子に与えられる。差動増幅器８
ではこれらの差が演算され、第６図Ｂの如き信号
Ｅが作られる。この信号Ｅと先の遅延信号DVと
は加算器９にて加算され、第６図Ｃの如き信号Ｆ
となり、比較器５′に与えられる。こうして得ら
れる信号Ｆは、ビデオ信号VSの暗い部分ｂは改
善（ｂ部の立下り、つまり立下りエツジが強調）
されるが、明るい部分ａはむしろエツジがぼやけ
る（ａ部の立上りがなまる）という長所、短所を
有することになる。そこで、この実施例ではビデ
オ信号のｂ部の２値化は、波形ＦのF′部に着目し
て比較器５′により行なう一方、ビデオ信号のａ
部の２値化は、遅延信号ＥのE′部に着目して比較
器５により行ない、これら各２値化出力を合成器
（オア回路）１０により合成して得るようにして
いる。このため、ビデオ信号の暗部ｂは第６図Ｃ
の信号ＦのF′の如く立下りエツジ部がより強調さ
れる形で改善されるため、２値化のための安定な
領域が拡大され、したがつて安定な２値化が可能
となる。一方、ビデオ信号の明部ａはもともと良
好な信号レベルを有して、これを所定のレベルで
２値化するので、安定な２値化が損なわれること
はない。つまり、２値化の方式はいわゆる固定２
値化方式をベースとするものであるため、凹凸の
少ない２値化信号を得ることができる。
ようなビデオ信号VSは、そのまゝ差動増幅器８
の一方の端子に与えられるとともに、遅延回路７
にて第６図Ａの点線DVで示されるように遅延さ
れてもう一方の端子に与えられる。差動増幅器８
ではこれらの差が演算され、第６図Ｂの如き信号
Ｅが作られる。この信号Ｅと先の遅延信号DVと
は加算器９にて加算され、第６図Ｃの如き信号Ｆ
となり、比較器５′に与えられる。こうして得ら
れる信号Ｆは、ビデオ信号VSの暗い部分ｂは改
善（ｂ部の立下り、つまり立下りエツジが強調）
されるが、明るい部分ａはむしろエツジがぼやけ
る（ａ部の立上りがなまる）という長所、短所を
有することになる。そこで、この実施例ではビデ
オ信号のｂ部の２値化は、波形ＦのF′部に着目し
て比較器５′により行なう一方、ビデオ信号のａ
部の２値化は、遅延信号ＥのE′部に着目して比較
器５により行ない、これら各２値化出力を合成器
（オア回路）１０により合成して得るようにして
いる。このため、ビデオ信号の暗部ｂは第６図Ｃ
の信号ＦのF′の如く立下りエツジ部がより強調さ
れる形で改善されるため、２値化のための安定な
領域が拡大され、したがつて安定な２値化が可能
となる。一方、ビデオ信号の明部ａはもともと良
好な信号レベルを有して、これを所定のレベルで
２値化するので、安定な２値化が損なわれること
はない。つまり、２値化の方式はいわゆる固定２
値化方式をベースとするものであるため、凹凸の
少ない２値化信号を得ることができる。
上記実施例ではビデオ信号の立下りを強調する
ようにしたが、立上りを強調することも勿論可能
で、この場合の例が第５図に示されている。
ようにしたが、立上りを強調することも勿論可能
で、この場合の例が第５図に示されている。
この実施例では、ビデオ信号と差動増幅器８の
出力である遅延微分信号Ｅとの差を演算する減算
器１１が設けられており、これによつてビデオ信
号の立上り部分を強調する点を除けば第４図の場
合と同様であるので、詳細は省略する。なお、該
減算器１１の出力波形は第６図Ｄの波形Ｇの如く
示され、この波形図からもビデオ信号の立上り部
が強調されていることがわかる。
出力である遅延微分信号Ｅとの差を演算する減算
器１１が設けられており、これによつてビデオ信
号の立上り部分を強調する点を除けば第４図の場
合と同様であるので、詳細は省略する。なお、該
減算器１１の出力波形は第６図Ｄの波形Ｇの如く
示され、この波形図からもビデオ信号の立上り部
が強調されていることがわかる。
以上のように、この発明によれば、ビデオ信号
の原信号に遅延微分信号を加算もしくは減算して
ビデオ信号の立上りまたは立下りを強調すること
により、安定な２値化信号を得ることができる。
その場合、立上りまたは立下りのいずれか一方が
強調されるとき、他方は逆にボカされることがあ
るので、この発明のように立下り強調信号と元の
信号との合成、または立下り、立上り強調信号の
合成によつて上述のような欠点を除去するもので
ある。したがつて、波形改善により固定２値化を
より一層安定に実現することができるため、２値
化信号に凹凸が生じることもなく、したがつて良
好な２値化画像を得ることができる。
の原信号に遅延微分信号を加算もしくは減算して
ビデオ信号の立上りまたは立下りを強調すること
により、安定な２値化信号を得ることができる。
その場合、立上りまたは立下りのいずれか一方が
強調されるとき、他方は逆にボカされることがあ
るので、この発明のように立下り強調信号と元の
信号との合成、または立下り、立上り強調信号の
合成によつて上述のような欠点を除去するもので
ある。したがつて、波形改善により固定２値化を
より一層安定に実現することができるため、２値
化信号に凹凸が生じることもなく、したがつて良
好な２値化画像を得ることができる。
なお、上記では外観検査装置の１つであるカプ
セルチエツカについて説明したが、輪郭部の画像
が不鮮明な検査対象物における輪郭部の強調、隣
り合う面の明るさに差があるような多面体におけ
る稜線の検出など、対象物を撮像手段を介して検
査、識別する装置一般に適用することができる。
セルチエツカについて説明したが、輪郭部の画像
が不鮮明な検査対象物における輪郭部の強調、隣
り合う面の明るさに差があるような多面体におけ
る稜線の検出など、対象物を撮像手段を介して検
査、識別する装置一般に適用することができる。
第１図は一般的な外観検査装置における照明部
を説明するための概略図、第２図は従来の固定２
値化方式を説明するための説明図、第３図は従来
の浮動２値化方式を説明するための説明図、第４
図はこの発明の実施例を示すブロツク図、第５図
はこの発明の他の実施例を示すブロツク図、第６
図は第４図および第５図における各部波形を示す
波形図である。 符号説明、１……光源、２……ITV（工業用テ
レビジヨン）カメラ、３……被検体（薬剤カプセ
ル）、４……拡散照明板、５，５′……比較器、６
……係数器、７……遅延回路、８……差動増幅
器、９……加算器、１０……合成器（オア回路）、
１１……減算器。
を説明するための概略図、第２図は従来の固定２
値化方式を説明するための説明図、第３図は従来
の浮動２値化方式を説明するための説明図、第４
図はこの発明の実施例を示すブロツク図、第５図
はこの発明の他の実施例を示すブロツク図、第６
図は第４図および第５図における各部波形を示す
波形図である。 符号説明、１……光源、２……ITV（工業用テ
レビジヨン）カメラ、３……被検体（薬剤カプセ
ル）、４……拡散照明板、５，５′……比較器、６
……係数器、７……遅延回路、８……差動増幅
器、９……加算器、１０……合成器（オア回路）、
１１……減算器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 撮像手段により検査対象物を撮像して得られ
る撮像信号と該撮像信号を遅延させた遅延撮像信
号との差を演算する差動増幅手段と、該差動増幅
手段の出力と前記遅延撮像信号とを加算する加算
手段と、該加算手段からの出力と前記遅延撮像信
号とをそれぞれ所定の基準レベルで比較する第
１、第２の比較手段とを備え、該第１、第２の比
較手段からの各出力を合成することにより撮像信
号の立下りを強調するとともに立上りの鈍化を補
償するようにしたことを特徴とする検査装置。 ２ 撮像手段により検査対象物を撮像して得られ
る撮像信号と該撮像信号を遅延させた遅延撮像信
号との差を演算する差動増幅手段と、該差動増幅
手段の出力と前記遅延撮像信号とを加算する加算
手段と、前記撮像信号から前記差動増幅手段の出
力を減算する減算手段と、前記加算手段からの出
力と前記減算手段からの出力とをそれぞれ所定の
基準レベルで比較する第１、第２の比較手段とを
備え、該第１、第２の比較手段からの各出力を合
成することにより撮像信号の立下りおよび立上り
を強調するようにしたことを特徴とする検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57042539A JPS58160853A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57042539A JPS58160853A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58160853A JPS58160853A (ja) | 1983-09-24 |
| JPH0140950B2 true JPH0140950B2 (ja) | 1989-09-01 |
Family
ID=12638869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57042539A Granted JPS58160853A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58160853A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7267730B2 (ja) * | 2018-12-21 | 2023-05-02 | 東京エレクトロンデバイス株式会社 | 物品計数装置、物品計数方法およびプログラム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55161486A (en) * | 1979-05-31 | 1980-12-16 | Fuji Electric Co Ltd | Defect detection system |
-
1982
- 1982-03-19 JP JP57042539A patent/JPS58160853A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55161486A (en) * | 1979-05-31 | 1980-12-16 | Fuji Electric Co Ltd | Defect detection system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58160853A (ja) | 1983-09-24 |
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