JPS58160853A - 検査装置 - Google Patents
検査装置Info
- Publication number
- JPS58160853A JPS58160853A JP57042539A JP4253982A JPS58160853A JP S58160853 A JPS58160853 A JP S58160853A JP 57042539 A JP57042539 A JP 57042539A JP 4253982 A JP4253982 A JP 4253982A JP S58160853 A JPS58160853 A JP S58160853A
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- JP
- Japan
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- signal
- video signal
- imaging signal
- delayed
- imaging
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9018—Dirt detection in containers
- G01N21/9027—Dirt detection in containers in containers after filling
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は薬剤カプセル等の外観検査装置、特にカプセ
ル等を撮像装置等により撮像して得られるビデオ信号を
所定のレベルで２値化する２値化装置に関する。一般に
この種の外観検査装置における検査対象物は立体であり
、したがって、その輪郭か鮮明となるような照明方法ば
かりでなく、正確な検出ができるような囲路構成上の工
夫が種々なされている。
ル等を撮像装置等により撮像して得られるビデオ信号を
所定のレベルで２値化する２値化装置に関する。一般に
この種の外観検査装置における検査対象物は立体であり
、したがって、その輪郭か鮮明となるような照明方法ば
かりでなく、正確な検出ができるような囲路構成上の工
夫が種々なされている。
第１図はかかる外観検査装置における照明部を示す概略
図である〇 同図において、ｌは光源、２は工業用テレビジョン（Ｉ
ＴＶ）カメラ勢の撮像装置、３は薬剤カプセル等の被検
査体、４はアクリル樹脂などの乱反射板からなる拡散照
明板、ＢＡは基台である。同図囚からも明らかなように
、被検査体３には光源１によって比較的明るく照明され
る部分ａと、拡散照明板４により照明される暗い部分す
とが生じる。
図である〇 同図において、ｌは光源、２は工業用テレビジョン（Ｉ
ＴＶ）カメラ勢の撮像装置、３は薬剤カプセル等の被検
査体、４はアクリル樹脂などの乱反射板からなる拡散照
明板、ＢＡは基台である。同図囚からも明らかなように
、被検査体３には光源１によって比較的明るく照明され
る部分ａと、拡散照明板４により照明される暗い部分す
とが生じる。
したがって、ＩＴＶカメ２２によって捉えられる映像信
号は同図００モニタ画面ＭＯに図の如く映し出される。
号は同図００モニタ画面ＭＯに図の如く映し出される。
なお、このときの映像の一水平走査期間の映像（ビデオ
）信号波形■Ｓは、例えば、同図０のようになる。つま
り、検査対象物における輪郭部の信号レベルはａ側が高
く、このため明部ａ側では輪郭を安定に２値化すること
ができるが、暗部ｂ＠はレベルが低（、シたがって輪郭
の２値化が非常に困難となるので、従来は以下のように
してこれらの問題に対処している。
）信号波形■Ｓは、例えば、同図０のようになる。つま
り、検査対象物における輪郭部の信号レベルはａ側が高
く、このため明部ａ側では輪郭を安定に２値化すること
ができるが、暗部ｂ＠はレベルが低（、シたがって輪郭
の２値化が非常に困難となるので、従来は以下のように
してこれらの問題に対処している。
第２図および第３図は従来の２値化方式を説明するため
の説明図である。
の説明図である。
第２図に示されるものは、端子Ｔに与えられる映像信号
（ビデオ信号）■Ｓを比較器５により所定の設定値ＢＥ
と比較して２値化する、いわゆる固定２値化力式と呼ば
れるものである。このような方式において、第１図の如
く照明を行なうものと−ｒると、上述のようにｂ部の信
号レベルは低く、また、検査物のａ＠とｂ部との明度に
もともと差があるような場合にはさらに低くなることが
考えられるので、安定に２値化し得るしぎい値の範囲が
非常に狭くなり、したがって信号の変動に対するマーノ
ンが非常に小さくなると〜・う欠点をＭしている。なお
、同図において、Ｓはしきい値レベルをＳＢとした場合
のビデオ信号ＶＳの２ａ化出方を示すものである。
（ビデオ信号）■Ｓを比較器５により所定の設定値ＢＥ
と比較して２値化する、いわゆる固定２値化力式と呼ば
れるものである。このような方式において、第１図の如
く照明を行なうものと−ｒると、上述のようにｂ部の信
号レベルは低く、また、検査物のａ＠とｂ部との明度に
もともと差があるような場合にはさらに低くなることが
考えられるので、安定に２値化し得るしぎい値の範囲が
非常に狭くなり、したがって信号の変動に対するマーノ
ンが非常に小さくなると〜・う欠点をＭしている。なお
、同図において、Ｓはしきい値レベルをＳＢとした場合
のビデオ信号ＶＳの２ａ化出方を示すものである。
一方、第３図に示される方法は、端子Ｔに与えられるビ
デオ信号ｖ８と、該ビデオイｄ′＠を遅延回路７および
係数器６を介して遅延した信号ｖｓ′とを比較器５で比
較する、つまり遅延微分操作を行なうことにより２ｇ化
信号８′を得た後、所定の波形処理をして同図のＳで示
される如き信号を得るもので、前者の方式に対して浮動
２値化方式とも呼ばれている。この方法は微分操作を伴
な５ものであるため信号の変動に対しては比較的安定で
あるが、前者の方式にくらべて２値化波形（Ｓ′）に凹
凸が多くなるとともに、例えば第１ｒｊＸＪ（Ｑの如（
輪郭山番こおいて信号にレベル差がある場合には適用が
非常に困難となる欠点を有している。
デオ信号ｖ８と、該ビデオイｄ′＠を遅延回路７および
係数器６を介して遅延した信号ｖｓ′とを比較器５で比
較する、つまり遅延微分操作を行なうことにより２ｇ化
信号８′を得た後、所定の波形処理をして同図のＳで示
される如き信号を得るもので、前者の方式に対して浮動
２値化方式とも呼ばれている。この方法は微分操作を伴
な５ものであるため信号の変動に対しては比較的安定で
あるが、前者の方式にくらべて２値化波形（Ｓ′）に凹
凸が多くなるとともに、例えば第１ｒｊＸＪ（Ｑの如（
輪郭山番こおいて信号にレベル差がある場合には適用が
非常に困難となる欠点を有している。
この発明は上記に鑑みなされたもので、Ｆ述の固定２値
化方式の長所を生かし、安定に２値化を行ない得る外観
検査装置を提供することを目的とするものである。
化方式の長所を生かし、安定に２値化を行ない得る外観
検査装置を提供することを目的とするものである。
上記の目的は、この発明によれば、撮像手段により得ら
れる検査対象物の撮像信号と該撮鐵信号を所定の時間だ
け遅延させた遅延撮像信号との差を演算する差動増幅手
段と、該手段の出力と前記遅延撮像信号とを加算する加
算手段とを設け、該加算出力および前記遅延撮像信号の
それぞれを所定のしきい値レベルで比較して２値化し、
これらを合成することにより撮像信号の立下りを強調す
る一方、立上りをも補償して検出するようにして達成さ
れる。
れる検査対象物の撮像信号と該撮鐵信号を所定の時間だ
け遅延させた遅延撮像信号との差を演算する差動増幅手
段と、該手段の出力と前記遅延撮像信号とを加算する加
算手段とを設け、該加算出力および前記遅延撮像信号の
それぞれを所定のしきい値レベルで比較して２値化し、
これらを合成することにより撮像信号の立下りを強調す
る一方、立上りをも補償して検出するようにして達成さ
れる。
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明する。
第４図はこの発明の実施例を示すブロック閃、第５図は
この発明の他の実施例を示すブロック図、第６図は第４
，５図における各部波形（なお、この波形はわかり鳥く
するために可成り変形したものである。）を示す波形図
である。第４図において、８は差動増幅器、９は加算器
、１０は例えばオア回路からなる信号合成器で、５ （
５’）および７はそれぞれ今迄に説明したものと同様の
比較回路および遅延回路である。
この発明の他の実施例を示すブロック図、第６図は第４
，５図における各部波形（なお、この波形はわかり鳥く
するために可成り変形したものである。）を示す波形図
である。第４図において、８は差動増幅器、９は加算器
、１０は例えばオア回路からなる信号合成器で、５ （
５’）および７はそれぞれ今迄に説明したものと同様の
比較回路および遅延回路である。
第４図の１１作について第６図を参照しながら説明する
。
。
端子Ｔに４えられる第６１囚の実線で示されるようなビ
デオ信号Ｖ８は、そのま−差動増幅器８の一方の端子に
与えられるとともに、遅延回路７にて第６１囚の点線Ｄ
Ｖで示されるように遅延されてもう一方の端子に与えら
れる。差動増幅器８ではこれらの差が演算され、第６図
（ハ）の如き信号Ｅが作られる。この信号Ｅと先の遅延
信号ＤＶとは加算（転）９にて加算され、第６図０の如
き信号Ｆとなり、比較器５′に与えられる。こうして得
られる信号Ｆは、ビデオ信号■Ｓの暗い部分すは改善（
ｂ部の立下り、つまり立下りエツジが強調）されるが、
明るい部分ａはむしろエツジがぼやける（ａ部の立上り
がなまる）という長所、短所を有することになる。そこ
で、この実施例ではビデオ信号のｂ部の２値化は、波形
ＦのＦ′部に着目して比較器５により行なう一方、ビデ
オ信号の１部の２＆に化は、遅延信号ＥのＥ′部に着目
して比較器５により行ない、これら各２値化出力を合成
器（オア回路）ｌＯにより合成して得るようにしている
。このため、ビデオ信号の暗部すはＭ６図（Ｑの信号Ｆ
のＦ′の如く立下りエツジ部がより強調される形で改善
されるため、２値化のための安定な領埴が拡大され、し
たがって安定な２値化が可能となる。一方、ビデオ信号
の明部ａはもともと良好な信号レベルを有して、これを
所定のレベルで２値化するので、安定な２値化が損なわ
れることはない。つまり、２値化の方式はいわゆる固定
２値化方式をベースとするものであるため、凹凸の少な
い２値化信号を得ることができる。
デオ信号Ｖ８は、そのま−差動増幅器８の一方の端子に
与えられるとともに、遅延回路７にて第６１囚の点線Ｄ
Ｖで示されるように遅延されてもう一方の端子に与えら
れる。差動増幅器８ではこれらの差が演算され、第６図
（ハ）の如き信号Ｅが作られる。この信号Ｅと先の遅延
信号ＤＶとは加算（転）９にて加算され、第６図０の如
き信号Ｆとなり、比較器５′に与えられる。こうして得
られる信号Ｆは、ビデオ信号■Ｓの暗い部分すは改善（
ｂ部の立下り、つまり立下りエツジが強調）されるが、
明るい部分ａはむしろエツジがぼやける（ａ部の立上り
がなまる）という長所、短所を有することになる。そこ
で、この実施例ではビデオ信号のｂ部の２値化は、波形
ＦのＦ′部に着目して比較器５により行なう一方、ビデ
オ信号の１部の２＆に化は、遅延信号ＥのＥ′部に着目
して比較器５により行ない、これら各２値化出力を合成
器（オア回路）ｌＯにより合成して得るようにしている
。このため、ビデオ信号の暗部すはＭ６図（Ｑの信号Ｆ
のＦ′の如く立下りエツジ部がより強調される形で改善
されるため、２値化のための安定な領埴が拡大され、し
たがって安定な２値化が可能となる。一方、ビデオ信号
の明部ａはもともと良好な信号レベルを有して、これを
所定のレベルで２値化するので、安定な２値化が損なわ
れることはない。つまり、２値化の方式はいわゆる固定
２値化方式をベースとするものであるため、凹凸の少な
い２値化信号を得ることができる。
上記実施例ではビデオ信号の立下りを強調するようにし
たが、立上りを強調することも勿論可能で、この場合の
例が＠５ｆｇＪ＆：示されている。
たが、立上りを強調することも勿論可能で、この場合の
例が＠５ｆｇＪ＆：示されている。
この実施例では、ビデオ信号と差動増幅器８の出力であ
る遅延微分信号Ｅとの差を演算する減算器１１が設けら
れており、これによってビデオ信号の立上り部分を強調
する点を除けば第４図の場合と同様であるので、峰細は
省略する。なお、該減算器１１０出力波形は第６図ηの
波形ｑの如く示され、この波形図からもビデオ信号の立
上り部がＩｉ！！ｉＩ−されていることがわかる。
る遅延微分信号Ｅとの差を演算する減算器１１が設けら
れており、これによってビデオ信号の立上り部分を強調
する点を除けば第４図の場合と同様であるので、峰細は
省略する。なお、該減算器１１０出力波形は第６図ηの
波形ｑの如く示され、この波形図からもビデオ信号の立
上り部がＩｉ！！ｉＩ−されていることがわかる。
以上のように、この発明によれば、ビデオ信号の原信号
に遅延微分信号を加算もしくは減算してビデオ信号の立
上りまたは立下りを強調することにより、安定な２値化
信号を得ることができる。
に遅延微分信号を加算もしくは減算してビデオ信号の立
上りまたは立下りを強調することにより、安定な２値化
信号を得ることができる。
七の場合、立上りまたは立下りのいずれか一方が強調さ
れるとき、他方は逆にポカされることがあるので、この
発明のように立下り強調信号と元の信号との合成、また
は立下り、立上り強調信号の合成によって上述のような
欠点を除去するものである。したがって、波形改善によ
り固定２値化をより一層安定に実現することができるた
め、２値化信号に凹凸が生じることもなく、したがって
良好な２値化画像を得ることができる。
れるとき、他方は逆にポカされることがあるので、この
発明のように立下り強調信号と元の信号との合成、また
は立下り、立上り強調信号の合成によって上述のような
欠点を除去するものである。したがって、波形改善によ
り固定２値化をより一層安定に実現することができるた
め、２値化信号に凹凸が生じることもなく、したがって
良好な２値化画像を得ることができる。
なお、上記では外観検査装置の１つであるカプセルチェ
ッカについて説明したが、輪郭部の画像が不鮮明な検査
対象物における輪郭部の強調、隣り合５面の明るさに差
があるような多面体における稜線の検出など、対象物を
撮で象手段を介して検査、識別する装置一般に適用する
ことができる。
ッカについて説明したが、輪郭部の画像が不鮮明な検査
対象物における輪郭部の強調、隣り合５面の明るさに差
があるような多面体における稜線の検出など、対象物を
撮で象手段を介して検査、識別する装置一般に適用する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第１図は一般的な外観検査装置における照明部を説明す
るための概略図、第２図は従来の固定２値化方式を説明
するための説明図、第３図は従来の浮動２値化方式を説
明するための説明図、第４図はこの発明の実施例を示す
ブロック図、第５図はこの発明の他の実施例を示すブロ
ック図、第６図は第４図および第５図（こおける各部波
形を示す波形図である。 符号説明 ｌ・・・・・・光源、２・・・・・・ＩＴＶ（工業用テ
レビジョン）カメラ、３・・・・・・被検体（薬剤カプ
セル）、４・・・・・・拡散照明板、５，５′・・・・
・・比較器、６・・・・・・係数器、７・・・・・・遅
延回路、８・・・・・・差動増幅器、９・・・・・・加
算器、ｌＯ・・・・・・合成器（オア回路）、１１・・
・・・・減算器 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 第１図 第２図 第 ３ 図 第４図 ｗＥ ５ 図 第０図 α
るための概略図、第２図は従来の固定２値化方式を説明
するための説明図、第３図は従来の浮動２値化方式を説
明するための説明図、第４図はこの発明の実施例を示す
ブロック図、第５図はこの発明の他の実施例を示すブロ
ック図、第６図は第４図および第５図（こおける各部波
形を示す波形図である。 符号説明 ｌ・・・・・・光源、２・・・・・・ＩＴＶ（工業用テ
レビジョン）カメラ、３・・・・・・被検体（薬剤カプ
セル）、４・・・・・・拡散照明板、５，５′・・・・
・・比較器、６・・・・・・係数器、７・・・・・・遅
延回路、８・・・・・・差動増幅器、９・・・・・・加
算器、ｌＯ・・・・・・合成器（オア回路）、１１・・
・・・・減算器 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 第１図 第２図 第 ３ 図 第４図 ｗＥ ５ 図 第０図 α
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｌ）撮像手段により検査対象物を撮像して得られる撮像
信号と該撮像信号を遅延させた遅延撮像信号との差を演
算する差動増幅手段と、該増幅手段の出力と前記遅延撮
像信号とを加算する加算手段と、該加算手段からの出力
と前記遅延撮像信号とをそれぞれ所定の基準し′ベルで
比較する第１゜第２０比較手段とを備え、該第１．第２
の比較手段からの各出力を合成することにより撮像信号
の立下りを強調するとともに立上りの鈍化を補償するよ
うにしたことを４Ｈ１ｋとする検査装置。 ２）撮像手段により検査対象物を撮像して得られる撮像
信号と皺撮儂信号を遅延させた遅延撮像信号との差を演
算する差動増幅手段と、該増幅手段の出力と前記遅延撮
像信号とを加算する加算手段と、前記増幅手段の出力と
前記撮像信号とを減算する減算手段と、前記加算手段か
らの出力と前記減算手段からの出力とをそれぞれ所定の
基準レベルで比較する第１．第２の比較手段とを備え、
該＃１１．第２の比較手段からの各出力を合成すること
により撮像信号の立下りおよび立上りを強調するように
したことを特徴とする検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57042539A JPS58160853A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57042539A JPS58160853A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58160853A true JPS58160853A (ja) | 1983-09-24 |
| JPH0140950B2 JPH0140950B2 (ja) | 1989-09-01 |
Family
ID=12638869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57042539A Granted JPS58160853A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58160853A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020101996A (ja) * | 2018-12-21 | 2020-07-02 | 東京エレクトロンデバイス株式会社 | 物品計数装置、物品計数方法およびプログラム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55161486A (en) * | 1979-05-31 | 1980-12-16 | Fuji Electric Co Ltd | Defect detection system |
-
1982
- 1982-03-19 JP JP57042539A patent/JPS58160853A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55161486A (en) * | 1979-05-31 | 1980-12-16 | Fuji Electric Co Ltd | Defect detection system |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020101996A (ja) * | 2018-12-21 | 2020-07-02 | 東京エレクトロンデバイス株式会社 | 物品計数装置、物品計数方法およびプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0140950B2 (ja) | 1989-09-01 |
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