JP2721199B2 - 傷検知装置 - Google Patents

傷検知装置

Info

Publication number
JP2721199B2
JP2721199B2 JP63252676A JP25267688A JP2721199B2 JP 2721199 B2 JP2721199 B2 JP 2721199B2 JP 63252676 A JP63252676 A JP 63252676A JP 25267688 A JP25267688 A JP 25267688A JP 2721199 B2 JP2721199 B2 JP 2721199B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
image
video signal
flaw
level
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP63252676A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0299843A (ja
Inventor
英二 大崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP63252676A priority Critical patent/JP2721199B2/ja
Publication of JPH0299843A publication Critical patent/JPH0299843A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2721199B2 publication Critical patent/JP2721199B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/93Detection standards; Calibrating baseline adjustment, drift correction

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、例えば、工場生産ライン等において使用
され、製品外観の傷を画像情報を利用して検知する傷検
知装置の改良に関する。
(従来の技術) 従来の傷検知装置には、第4図に示すものがある。
即ち、製品等の対象物1がベルトコンベアあるいは回
転テーブル等の搬送機器2の上に載置され、照明器具3
からの光照射を受けているものとする。対象物1の上方
にはITV(工業用テレビジョン)カメラ4が設けられ、
対象物1の映像をとらえるとともに、その映像は画像処
理回路5に供給される。
画像処理回路5はITVカメラ4からの映像信号をA−
D(アナログ−デジタル)信号に変換するとともに、変
換して得られた画像情報2値化してブラウン管等の表示
手段6に供給表示される。
いま、このような従来の装置で、ITVカメラ4からの
1つの走査テレビジョン映像信号(プロフィル)が、例
えば第5図に示すような対象物信号Sとして得られたと
する。この信号Sの中に比較的浅い傷の情報Cを含むと
すると、画像処理回路5で2値化されるとき、傷情報C
はスレシホールドの2値化レベルAに達せず、傷として
検知することができなくなる。
このような比較的浅い軽微な傷を検知するのに、画像
情報を高速フーリエ変換で解析し、検知する方法も考え
られるが、傷がある規則性を有し一定間隔で生じている
ような場合はともかく、例えば鋳物などにしばしば見ら
れる孤立した何等規則性のない傷は検知出来ないことが
多かった。
(発明が解決しようとする課題) 従来の傷検知装置は、比較的深さが浅くまたランダム
に孤立して発生している傷を検知する有効な手段が得ら
れなかった。特に、対象物の面に起伏がある場合、その
起伏によって映像信号のレベルが変化するため、傷が浅
い場合などは傷の検知が困難であった。
そこでこの発明は、比較的小さな傷でも、またその傷
が孤立してランダムに発生している場合でも、確実に検
知できる傷検知装置を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) この発明による傷検知装置は、光を照射方向可変に対
象物に照射する照明手段と、前記対象物の映像を映像信
号に変換する撮像装置と、この撮像装置で変換された前
記映像信号の1画面を複数に区分する局所ごとに、前記
局所における前記映像信号のレベルの平均値と前記局所
におけるそれぞれの前記映像信号とのレベル差を求める
信号処理手段と、この信号処理手段で求められた前記レ
ベル差を所定レベルで2値化し、前記対象物の傷情報を
抽出する抽出手段とを具備したことを特徴とする。
(作 用) この発明による傷検知装置は、光の照射方向を変える
ことができる照明手段を有するので、対象物からの反射
光が全反射に近い状態で対象物の映像をとらえるように
設定することができる。従って、TVカメラ等の画像入力
手段では、傷そのものの映像をその周囲の画像(背景)
信号との間に大きなレベル差を持って取込むことができ
る。
また、信号処理手段では前記画像入力手段からの画像
情報を入力し、傷の映像と、その背景画像との濃度差に
着目して信号を取出す、いわゆる分散値計測を行うの
で、仮に対象物自体の明るさが変わっても、傷情報は明
瞭に抽出され、表示手段により表示して検知できる。ま
た、撮像装置から出力された映像信号を2値化する際
に、予め、映像信号の1画面を複数に区分する局所ごと
に、局所における映像信号のレベルの平均値と局所にお
けるそれぞれの映像信号とのレベル然を求めている。し
たがって、対象物の表面に起伏があっても傷情報を確実
に抽出することができる。
(実施例) 以下、この発明による傷検知装置の実施例を第1図な
いし第3図を参照して詳細に説明する。
なお、第4図に示す従来の装置と同一構成には同一符
号を付し、詳細な説明は省略する。
第1図はこの発明装置の一実施例を示す回路構成図で
ある。
即ち、対象物1は搬送機器2等の上に載置されるとと
もに、この対象物1の上面に対し、照明器具3からの光
が照射される。
照明器具3は光源3aからの光が回転鏡3bを介して、前
記対象物1に照射されるもので、回転鏡3bの回転軸3cを
中心とした回動によって、対象物1への照射方向を制御
することができる。なお、この場合、回転鏡3aを回転プ
リズムに代えて構成しても良い。
対象物1の上方には、ITVカメラ4等の撮像装置から
なる画像入力手段が設けられ、照明器具3により照射さ
れた対象物1像をとらえ、テレビジヨン走査映像信号と
して取出される。
ITVカメラ4による対象物1の映像信号は、信号処理
手段7に供給される。
信号処理手段7はA−D変換回路7a,ヒストグラム(h
istogram)計測回路7b,局所分散値計測回路7c及び2値
化回路7dから構成される。
A−D変換回路7aはITVカメラ4からの対象物アナロ
グ映像信号をデジタル信号に変換するもので、変換され
たデジタル映像信号はヒストグラム計測回路6aに供給さ
れる。
ヒストグラム計測回路7bは、入力されるデジタル映像
信号について走査方向の単位メッシュ毎に信号レベルの
分布関数を計測するもので、この計測回路7bの出力信号
レベルが最大になるよう、制御信号Bにより回転軸3cが
制御される。この制御信号Bによる回転軸3cの制御は、
その照射光が全反射に近い状態で対象物1の映像信号を
得ることにある。
対象物1からの全反射による映像信号は、傷の周囲の
映像(背景)信号との比較において、傷の映像を最も明
瞭に映し出す状態であるから、この状態における映像信
号をとらえて、次の局所分散値計測回路7cに供給され
る。
局所分散値計測回路7cは、入力されたデジタル映像信
号の局所的な値の分散値、即ち、画像信号上において、
映像信号の1画面を複数に区分する局所、例えばメッシ
ュ単位ごとに、局所における映像信号のレベルの平均値
と局所におけるそれぞれの映像信号とのレベル差を求め
ている。したがって、第5図のようなプロフィルの場合
においても、第2図に示すように対象物1における製品
の輪郭信号P1,P2は勿論のこと、製品表面に現れている
クラック等微妙な傷についても映像Cとして明瞭に抽出
される。また、対象物の表面に起伏があっても、画面の
一部である局所では、起伏による映像信号のレベル変化
が小さいため、傷によるレベルの変換分は相対的に大き
くなる。
この局所分散値計測回路7cの出力信号は2値化回路7d
に供給され、従来と同様、スレシホールドレベルをしき
い値とした「1」「0」の2値信号に変換され、ブラウ
ン管等の表示手段6に供給表示される。
なお、分散値計測回路7cからの第2図に示したような
対象物1の輪郭信号P1,P2を含むデジタル映像信号か
ら、傷に対応した映像Cのみを抽出するためには、映像
信号から、予め設定された対象物1の輪郭信号P1,P2等
を引算すれば良い。
制御回路8は照明器具3から表示手段6に至るまでの
各段に対し、夫々に対応した制御信号を供給することに
より、装置全体の有機的な動作を保証するものである。
次に、この実施例による傷検知装置の作用を第3図に
示すフォローチャートも合せ参照し説明する。
即ち、まず制御回路8からの制御信号により、回転鏡
3bの光照射方向が設定される(ステップ(イ))。次
に、その光照射方向において、ITVカメラ4の撮像走査
により対象物1の画像信号が得られる(ステップ
(ロ))。画像信号は信号処理手段7に供給されA−D
変換後,ヒストグラム計測回路7bに供給される(ステッ
プ(ハ))。ヒストグラム計測回路7bにおいて走査方向
に区分されたメッシュ単位毎に信号分布の値を計測し、
対象物1での光反射が全反射に近い値か否か判断し(ス
テップ(ニ))、否の場合には制御信号により前記回転
軸3cを調整し、その他の場合は、最適な画像情報が得ら
れているとして局所分散値計算回路7cに供給される(ス
テップ(ホ))。局所分散値計算回路7cでは、撮像対象
領域のメッシュ単位毎に信号濃度の平均値との差異を取
出し、第2図に示したような傷や輪郭に対応した信号を
導出し、スレシホールドレベル判定(ステップ(ヘ))
の後、一定レベル以上の信号は2値化回路7d(ステップ
(ト))を経て、表示手段6に供給される(ステップ
(チ))。他の場合には、次のメッシュでの局所分散値
計算を行うようステップ(ホ)の入力段にフィードバッ
クされる。
この発明による傷検知装置は以上のように構成され、
まず光の照射方向を変えることができる照明手段を有
し、対象物からの反射光が全反射に近い状態で対象物の
映像をとらえるので、僅かな傷でも映像信号とそれに隣
接する周囲の画像信号との間に大きなレベル差を持つ明
瞭な画像情報として取込むことができる。
また、その画像情報は、画面の一部である局所ごと
に、いわゆる分散値情報として背景信号との明度差信号
を抽出するので、対象物自体の明度の影響を受けず、ま
た、対象物の面に起伏があっても傷情報のみを明確にと
らえ、表示手段により検知することができる。
[発明の効果] 以上のように、この発明による傷検知装置は、照射方
向可変の照明手段と、対象物の映像信号を分散値画像情
報として処理するので、対象物の面に起伏がある場合
に、従来検出できなかった僅かな傷をも明瞭に検知でき
るものであり、実用に際して得られる効果大である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による傷検知装置の一実施例を示す回
路構成図、第2図は第1図に示した装置における2値化
回路出力信号を示す波形図、第3図は第1図に示す装置
の動作を説明するフローチャート、第4図は従来の傷検
知装置を示す回路構成図、第5図は第4図におけるITV
カメラの出力波形図である。 1……対象物 3……照明器具 4……ITVカメラ 6……表示手段 7……信号処理回路 7b……ヒストグラム計測回路 7c……局所分散値計測回路

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光を照射方向可変に対象物に照射する照明
    手段と、前記対象物の映像を映像信号に変換する撮像装
    置と、この撮像装置で変換された前記映像信号の1画面
    を複数に区分する局所ごとに、前記局所における前記映
    像信号のレベルの平均値と前記局所におけるそれぞれの
    前記映像信号とのレベル差を求める信号処理手段と、こ
    の信号処理手段で求められた前記レベル差を所定レベル
    で2値化し、前記対象物の傷情報を抽出する抽出手段と
    を具備した傷検知装置。
JP63252676A 1988-10-06 1988-10-06 傷検知装置 Expired - Lifetime JP2721199B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63252676A JP2721199B2 (ja) 1988-10-06 1988-10-06 傷検知装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63252676A JP2721199B2 (ja) 1988-10-06 1988-10-06 傷検知装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0299843A JPH0299843A (ja) 1990-04-11
JP2721199B2 true JP2721199B2 (ja) 1998-03-04

Family

ID=17240689

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63252676A Expired - Lifetime JP2721199B2 (ja) 1988-10-06 1988-10-06 傷検知装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2721199B2 (ja)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59157545A (ja) * 1983-02-25 1984-09-06 Matsushita Electric Works Ltd 表面検査装置
JPS6319543A (ja) * 1986-07-14 1988-01-27 Kawasaki Steel Corp 画像処理における濃淡画像の2値化処理方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0299843A (ja) 1990-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0736001B2 (ja) びんの欠陥検査方法
JP3185559B2 (ja) 表面欠陥検査装置
JP3751660B2 (ja) 規則的パターンの欠陥検査装置
JP3688520B2 (ja) 表面検査装置及び表面検査方法
JPH0792104A (ja) 被検査物の不良個所検査方法
JP2721199B2 (ja) 傷検知装置
JPH04147045A (ja) 表面検査装置
JPS62232504A (ja) 位置検出装置
JPH05180781A (ja) 表面欠陥検査方法及び装置
JP3159063B2 (ja) 表面欠陥検査装置
JPH04265847A (ja) 表面欠陥検査装置
JP2003156451A (ja) 欠陥検出装置
JPH1010053A (ja) 表面欠陥検査装置
JP5679564B2 (ja) 表面異物検査装置
JP2004286708A (ja) 欠陥検出装置、方法及びプログラム
JPH05164703A (ja) ワーク表面検査方法
JPH043820B2 (ja)
JPH1114317A (ja) 外観検査方法及びその装置
JPH0224543A (ja) 瓶の外観検査方法
JPH02190707A (ja) 表面欠陥の検査方法及び装置
JP3349494B2 (ja) 円盤状体の検査方法及び検査装置
JP2018128261A (ja) 検査装置および方法
JP2000105831A (ja) 表面欠陥検査装置及び方法
JP2973153B2 (ja) コイル先端形状検出装置
JP3132931B2 (ja) 傷検査装置