JP2762724B2 - 外観検査装置 - Google Patents
外観検査装置Info
- Publication number
- JP2762724B2 JP2762724B2 JP2218025A JP21802590A JP2762724B2 JP 2762724 B2 JP2762724 B2 JP 2762724B2 JP 2218025 A JP2218025 A JP 2218025A JP 21802590 A JP21802590 A JP 21802590A JP 2762724 B2 JP2762724 B2 JP 2762724B2
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- Japan
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- inspection area
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、テレビカメラを含む撮像装置を用いて対
象物像を電気信号に変換し、これを画像処理して対象物
の外形，内部特徴形状に応じた検査を可能にするための
外観検査装置に関する。
象物像を電気信号に変換し、これを画像処理して対象物
の外形，内部特徴形状に応じた検査を可能にするための
外観検査装置に関する。
従来、この種の外観検査装置として、対象物の外形位
置を検出し、その位置に対応した検査領域（エリア）を
発生することにより、対象物の位置変動によらず検査を
可能にするものが知られている。
置を検出し、その位置に対応した検査領域（エリア）を
発生することにより、対象物の位置変動によらず検査を
可能にするものが知られている。
〔発明が解決しようとする課題〕 しかしながら、このような装置では対象物の位置変動
には対処できるが、対象物内の特徴画像に位置変動があ
る場合には対処できない、という問題がある。
には対処できるが、対象物内の特徴画像に位置変動があ
る場合には対処できない、という問題がある。
したがって、この発明の課題は対象物の位置変動だけ
でなく、対象物内の特徴画像に位置変動がある場合にも
対処し得る外観検査装置を提供することにある。
でなく、対象物内の特徴画像に位置変動がある場合にも
対処し得る外観検査装置を提供することにある。
対象物を撮像して得られる画像を少なくとも２値化
し、２値化された画像にもとづき所定の演算処理をして
対象物を検査する外観検査装置において、対象物の上
端，左端をそれぞれ検出する第１検出手段と、この検出
された位置にもとづき対象物の外形形状に従う予め設定
された第１の検査領域を発生する第１の領域発生手段
と、発生されたこの第１検査領域内で対象物の特徴的な
像の上端，左端を検出する第２の検出手段と、この検出
された位置にもとづき対象物の特徴画像に従う予め設定
された第２の検査領域を発生する第２の領域発生手段
と、を設け、前記第２の検査領域および前記第１の検査
領域のうちこの第２の検査領域を除いた第３領域の画像
をそれぞれ処理して対象物の検査を可能にする。
し、２値化された画像にもとづき所定の演算処理をして
対象物を検査する外観検査装置において、対象物の上
端，左端をそれぞれ検出する第１検出手段と、この検出
された位置にもとづき対象物の外形形状に従う予め設定
された第１の検査領域を発生する第１の領域発生手段
と、発生されたこの第１検査領域内で対象物の特徴的な
像の上端，左端を検出する第２の検出手段と、この検出
された位置にもとづき対象物の特徴画像に従う予め設定
された第２の検査領域を発生する第２の領域発生手段
と、を設け、前記第２の検査領域および前記第１の検査
領域のうちこの第２の検査領域を除いた第３領域の画像
をそれぞれ処理して対象物の検査を可能にする。
対象物の外形位置を検出するだけでなく、対象物内に
おける特徴画像の位置も検出し、この外形位置，内部特
徴画像位置に対応する検査エリアをそれぞれ発生して検
査することにより、対象物の位置変動だけでなく、対象
物内の特徴画像に位置変動がある場合にも安定な検査が
できるようにする。
おける特徴画像の位置も検出し、この外形位置，内部特
徴画像位置に対応する検査エリアをそれぞれ発生して検
査することにより、対象物の位置変動だけでなく、対象
物内の特徴画像に位置変動がある場合にも安定な検査が
できるようにする。
第１図はこの発明の実施例を示すブロック図である。
同図において、１は撮像装置としてのテレビカメラ、２
はアナログ／ディジタル（A/D）変換器、3,4はX,Y座標
位置検出のためのX,Y検出部、5,6は予め定められた検査
領域を発生するためのエリア発生部、７は画像メモリ、
８は画像処理装置としてのマイクロプロセッサ、９は特
徴抽出部、10はバスである。
同図において、１は撮像装置としてのテレビカメラ、２
はアナログ／ディジタル（A/D）変換器、3,4はX,Y座標
位置検出のためのX,Y検出部、5,6は予め定められた検査
領域を発生するためのエリア発生部、７は画像メモリ、
８は画像処理装置としてのマイクロプロセッサ、９は特
徴抽出部、10はバスである。
第２図はこの発明を具体的に説明するための説明図
で、以下第1,第２図を参照してその動作を説明する。
で、以下第1,第２図を参照してその動作を説明する。
すなわち、テレビカメラ１は対象物像を電気信号に変
換し、A/D変換器２はその濃淡信号を２値のディジタル
信号（２値化信号）に変換する。２値化画像の例を、第
２図に符号POにて示す。X,Y検出部３は変換された２値
化画像から、その上方（Ｙ軸方向）より見て最初に画像
が現れる位置として対象物の上端位置（第２図の符号U
1）、および最初に画像が現れる位置として対象物の左
端位置（第２図の符号L1）を検出する。検出された位置
はマイクロプロセッサ８にて読み取り、これに応じて予
め定められた形状の検査エリアをエリア発生部５に設定
する。
換し、A/D変換器２はその濃淡信号を２値のディジタル
信号（２値化信号）に変換する。２値化画像の例を、第
２図に符号POにて示す。X,Y検出部３は変換された２値
化画像から、その上方（Ｙ軸方向）より見て最初に画像
が現れる位置として対象物の上端位置（第２図の符号U
1）、および最初に画像が現れる位置として対象物の左
端位置（第２図の符号L1）を検出する。検出された位置
はマイクロプロセッサ８にて読み取り、これに応じて予
め定められた形状の検査エリアをエリア発生部５に設定
する。
一方、A/D変換された２値化画像は位置検出と同時
に、画像メモリ７に格納される。エリア発生部５はこの
記憶された２値化画像に対し、第２図に点線A1で示す如
き予め定められた検査エリアを発生し（検出された位置
U1,L1に対し若干の余裕を持つようその内側に発生され
る）、X,Y検出部４はこのエリア内で対象物の特徴的な
画像PTの上端位置U2および左端位置L2をX,Y検出部３と
同様に検出する。検出された位置はマイクロプロセッサ
８にて読み取り、これに応じて予め定められた形状の検
査エリアをエリア発生部６に設定する。
に、画像メモリ７に格納される。エリア発生部５はこの
記憶された２値化画像に対し、第２図に点線A1で示す如
き予め定められた検査エリアを発生し（検出された位置
U1,L1に対し若干の余裕を持つようその内側に発生され
る）、X,Y検出部４はこのエリア内で対象物の特徴的な
画像PTの上端位置U2および左端位置L2をX,Y検出部３と
同様に検出する。検出された位置はマイクロプロセッサ
８にて読み取り、これに応じて予め定められた形状の検
査エリアをエリア発生部６に設定する。
その後、画像メモリ７から２値化画像を取り出すとと
もに、エリア発生部5,6から予め定められた第１のエリ
アA1,第２のエリアA2をそれぞれ発生し（第２のエリア
は検出された位置U2,L2に対し若干の余裕を持つようそ
の外側に発生される）、特徴抽出部９により第２のエリ
アおよび第１のエリアからこの第２のエリアを除いた第
３のエリアからそれぞれ面積を含む適切な特徴量を抽出
し、これをそれぞれ所定の基準値と比較するなどしてそ
の良否を検査する。
もに、エリア発生部5,6から予め定められた第１のエリ
アA1,第２のエリアA2をそれぞれ発生し（第２のエリア
は検出された位置U2,L2に対し若干の余裕を持つようそ
の外側に発生される）、特徴抽出部９により第２のエリ
アおよび第１のエリアからこの第２のエリアを除いた第
３のエリアからそれぞれ面積を含む適切な特徴量を抽出
し、これをそれぞれ所定の基準値と比較するなどしてそ
の良否を検査する。
このように、対象物の特徴的な画像の位置も検出し、
これに合わせて一定の検査エリアを発生するようにした
ので、対象物内の特徴画像に位置変動がある場合でも、
安定な検査を行なうことができる。
これに合わせて一定の検査エリアを発生するようにした
ので、対象物内の特徴画像に位置変動がある場合でも、
安定な検査を行なうことができる。
この発明によれば、対象物の外形位置を検出するだけ
でなく、対象物内における特徴画像の位置も検出し、こ
の外形位置，内部特徴画像位置に対応する検査エリアを
それぞれ発生して検査するようにしたので、対象物の位
置変動だけでなく、対象物内の特徴画像に位置変動があ
る場合でも安定な検査が可能となる。
でなく、対象物内における特徴画像の位置も検出し、こ
の外形位置，内部特徴画像位置に対応する検査エリアを
それぞれ発生して検査するようにしたので、対象物の位
置変動だけでなく、対象物内の特徴画像に位置変動があ
る場合でも安定な検査が可能となる。
第１図はこの発明の実施例を示すブロック図、第２図は
この発明を具体的に説明するための説明図である。 １……テレビカメラ、２……A/D変換器、3,4……X,Y検
出部、5,6……エリア発生部、７……画像メモリ、８…
…マイクロプロセッサ、９……特徴抽出部、10……バ
ス、PO……対象物画像、PT……対象物内特徴画像、U1…
…対象物の上端位置、L1……対象物の左端位置、U2……
対象物内特徴画像の上端位置、L2……対象物内特徴画像
の左端位置、A1……第１検査エリア、A2……第２検査エ
リア。
この発明を具体的に説明するための説明図である。 １……テレビカメラ、２……A/D変換器、3,4……X,Y検
出部、5,6……エリア発生部、７……画像メモリ、８…
…マイクロプロセッサ、９……特徴抽出部、10……バ
ス、PO……対象物画像、PT……対象物内特徴画像、U1…
…対象物の上端位置、L1……対象物の左端位置、U2……
対象物内特徴画像の上端位置、L2……対象物内特徴画像
の左端位置、A1……第１検査エリア、A2……第２検査エ
リア。
Claims (1)
- 【請求項１】対象物を撮像して得られる画像を少なくと
も２値化し、２値化された画像にもとづき所定の演算処
理をして対象物を検査する外観検査装置において、 対象物の上端，左端をそれぞれ検出する第１の検出手段
と、 この検出された位置にもとづき対象物の外形形状に従う
予め設定された第１の検査領域を発生する第１の領域発
生手段と、 発生されたこの第１検査領域内で対象物の特徴的な像の
上端，左端を検出する第２の検出手段と、 この検出された位置にもとづき対象物の特徴画像に従う
予め設定された第２の検査領域を発生する第２の領域発
生手段と、 を設け、前記第２の検査領域および前記第１の検査領域
のうちこの第２の検査領域を除いた第３領域の画像をそ
れぞれ処理して対象物の検査を可能にしてなる外観検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2218025A JP2762724B2 (ja) | 1990-08-21 | 1990-08-21 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2218025A JP2762724B2 (ja) | 1990-08-21 | 1990-08-21 | 外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04102051A JPH04102051A (ja) | 1992-04-03 |
| JP2762724B2 true JP2762724B2 (ja) | 1998-06-04 |
Family
ID=16713458
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2218025A Expired - Lifetime JP2762724B2 (ja) | 1990-08-21 | 1990-08-21 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2762724B2 (ja) |
-
1990
- 1990-08-21 JP JP2218025A patent/JP2762724B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04102051A (ja) | 1992-04-03 |
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