JPH01320544A - テスト容易化回路 - Google Patents

テスト容易化回路

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JPH01320544A
JPH01320544A JP63154015A JP15401588A JPH01320544A JP H01320544 A JPH01320544 A JP H01320544A JP 63154015 A JP63154015 A JP 63154015A JP 15401588 A JP15401588 A JP 15401588A JP H01320544 A JPH01320544 A JP H01320544A
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JP
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circuit
analysis
signal
output
level
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JP63154015A
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Yasuyuki Notsuyama
泰幸 野津山
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00Arrangements for program control, e.g. control units
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、マイクロ命令によって制御される回路ブロ
ックの解析を容易に行うデス1−容易化回路に関する。
〈従来の技術) マイクロ命令により制御される回路ブロックを有する集
積回路例えばマイクロプロセッサは、算術論理演算ユニ
ツl1AL(J)やシフタ、レジスタファイルといった
回路ブロック(以下「マクロブロック」と呼ぶ)がバス
を介して有機的に接続されて、マイクロ命令により高度
なデータ処理を行っている。
近年、このようなマイクロプロセッサでは、高機能化、
高速化を実現づるために構成が′Iam化してきている
。このため、マクロブロックを通常動作で十分に解析す
ることは次第に困難になりっつある。
そこで、マイクロプロセッサに備えられた回路ブロック
の解析を、第3図に示した構成で行うようにしたものが
ある。
第3図はマイクロプロセッサに備えられたALじやシフ
タ1、レジスタファイル3等のマクロブロックの不良解
析を行うテスト容易化回路の構成を示す図である。
第3図において、マクロブロック1は、内部バス5から
ラッチ回路(LATl、LAT2)7を介してデータを
入力し、マクロブロック3は、内部バス5から直接デー
タを入力する。マクロブロック1.3は、出力しようと
するデータを出力バッフ79を介して内部バス5に与え
る。それぞれの内部バス5は、I10バッファ11を介
して外部データビン13及び外部アドレスビン15と接
続されており、マクロブロック1.3と外部とのデータ
の入出力が行われる。
マクロブロック1.3には、解析時に解析に必要な演算
内容やアドレス等の制御情報をマクロブロック1.3に
供給する回路(以下rTFF回路」と呼ぶ)17が接続
されている。それぞれのラッチ回路7及び出力バッフ7
9には、それぞれのラッチ回路7.出力バッファ9.マ
クロブロック1゜3を解析時に活性化するか否かを示す
活性化情報を供給する回路(以下rTFF回路」と呼ぶ
)19が接続されている。これらのTFF回路17゜1
9は、その出力が次式で表わされる。
出力−MBT*SGN+MBTIENi *Qiここで
、MBTは“OI!レベルで通常動作モードを示し、“
1″レベルで解析モードを示すテストモード信号である
。SGNは通常動作時における信号である。ENiはそ
れぞれのTFF回路17゜19のイネーブル信号、Qi
はそれぞれのTFF回路17.19の活性化情報である
ENiは、テストシーケンスを制御するシーケンス制御
信号(TEN)を入力とするイネーブル信号発生器(T
GEN)21により生成される。
Qlは、それぞれのTFF回路17.19内に備えられ
たフリップフロップ(以下rF/FJと呼ぶ、図示せず
)の出力として与えられる。このF/Fは、数珠状に接
続されてスキャンチェーンをなし、それぞれのF/Fに
はMBT信号が“0”レベルの期間中、Qiがスキャン
入力端から順次与えられてセットされる。セットされた
QiはMBT信号が“1″レベルでホールドされる。し
たがって、TFF回路17.19は、MBT信号が“0
″レベルから“1″レベルに変化する解析開始時のQi
の内容が、MBT信号が“1″レベルである以後の解析
期間中保持される。そして、前記TFF回路17.19
の出力の論理式からもわかるように、前記解析期間中は
Qlが“1″にセットされたものだけがENi信号にし
たがって活性化されて、制御情報を与える。
このような構成において、マクロブロック1゜3の解析
は、MBT信号を“O”レベルとして解析に必要な制御
情報をそれぞれのTFF回路17゜19のF/Fにセッ
トした後、MBT信号を゛1”レベルとして開始される
。解析が開始されると、TEN信号を変化することによ
りそれぞれのENi信号が生成され、これらの信号がそ
れぞれ対応するTFF回路17.19に与えられる。さ
らに、I10バッファ11は、MBT信号が“1”レベ
ルである期間中はマクロブロック1.3の動作に対応し
て活性化/非活性化されるように、TGEN21で生成
されるI10制御信号(TENI)により制御される。
このようにして、マクロブロック1.3における演算、
データの入出力等の動作が、外部とのデータの入出力を
行いながら高速に実行され、その動作結果をもとにして
不良解析が行われる。
(発明が解決しようとする課題) 上述したような構成にあって、マクロブロックの機能に
応じてその動作を規定して十分な解析を行うためには、
機能に応じて制御情報を与える必要がある。このために
は、マクロブロックに制御情報を与えるT F、 F回
路が1つのマクロブロックに対して多数必要となる。し
たがって、テスト容易化回路の専有面積を著しく増加さ
せることなく多数のマクロブロックを解析しようとする
と、TFF回路の個数を抑制しなcプればならず、詳細
な解析を行うことが困難となる。
また、マクロブロックの制御情報は、TFF回路のF/
Fからほぼ直接的に与えられる。このため、マイクロ命
令をマイクロデコーダによりデコードしたデコード出力
でマクロブロックの動作が行われない。したがって、マ
イクロデコーダを含めたより実際の動作に近い形でマク
ロブロックの解析ができな1)乏いう不具合も生じてい
た。
そこで、この発明は、上記に鑑みてなされたものであり
、その目的とするところは、マイクロ命令よりも上位レ
ベルの制御機構に依存することなく、かつ構成の大型化
を招くことなく、極めて実際に近い動作での詳細な解析
を高速に行うことができるテスト容易化回路を提供する
ことにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために、この発明は、マイクロ命令
により制御される回路ブロックの解析に必要なマイクロ
命令形式の制御情報がセットされる格納手段と、前記格
納手段から読出される制御情報を無効化及び有効化する
マスク手段と、前記マスク手段により有効化された制御
情報をデコードして、前記回路ブロックの解析時に前記
回路ブロックの動作指令となるデコード出力を前記回路
ブロックに供給するデコード手段と、前記回路ブロック
と外部とのデータの入出力を可能ならしめる入出力手段
と、前記回路ブロックの解析時に前記入出力手段を介し
てのデータの入出力及び前記マスク手段とを所定の解析
シーケンスを実行すべく外部から与えられる制御信号に
したがって制御する制御手段とから構成される。
(作用) 1記構成において、この発明は、回路ブロックの解析に
必要な制御情報を外部から与えた復、所定の解析シーケ
ンスにおいて回路ブロックが動作すべき状態になると、
制御情報をデコードして、デコード出力により回路ブロ
ックを動作させて解析を行うようにしている。
(実施例) 以下、図面を用いてこの発明の一実施例を説明する。
第1図はこの発明の一実施例に係るテスト容易化回路の
構成を示す図であり、第2図は第1図に示す回路の動作
を説明するためのタイミングチャートである。
第1図に示すテスト容易化回路は、マイクロプロセッサ
の解析を実行するものであり、マクロブロックの制御情
報を従来のように個々の機能に応じてスキャンチェーン
のF/Fから与えるのではなく、マイクロ命令形式の制
御情報をデコードしたデコード出力として与えるように
している。なお、第1図において、第3図と同符号のも
のは同一機能を有するものであり、その説明は省略する
第1図に示すテスト容易化回路は、第3図においてマク
ロブロック1.3に制御情報を与えるT「F回路17を
省いている。これに代わり、第1図に示すテスト容易化
回路は、マイクロ命令による制御方式の情報処理装置に
本来備えられているマイクロROM31、マイクロ命令
レジスタ(MIR)33及びマイクロデコーダ35と、
この発明の実施例において特徴の1つとなるマスク回路
37、マスク信号発生器39を備えている。
マイクロROM31は、マクロブロックをft1lll
llするマイクロ命令を格納保持するリードオンリーメ
モリである。このマイクロROM31に格納されたマイ
クロ命令は、マイクロ命令レジスタ(MIR)33にセ
ットされる。
MIR33は、通常動作時には、マイクロROM31か
ら読出されて、デコードされる前のマイクロ命令がセッ
トされるレジスタである。
一方、MIR33は、解析時には、マクロブロック1,
3に動作を指令するマイクロ命令形式の制御情報が外部
からセットされる。MIR33は、例えばF/Fを縦続
接続したスキャンチェーンとして構成されている。これ
により、frill tlll情報をスキャン入力端か
ら順次与えてスキャンし、それぞれのF/Fにセットす
るようにしている。TFF回路19と同様、MIR33
もMBT信号が゛1″レベルである解析期間中はホール
ドされる。セットされた制御情報はマスク回路37に与
えられる。
マスク回路37は、MIR33から与えられるft1l
llll情報を無効化してオペレーションさせない回路
である。この制御情報の無効化は、MBT信1号が1”
レベルである解析期間中マクロブロック1.3に対する
所定の解析シーケンスにおいてマクロブロック1,3が
動作すべき状態になるまでの期間においてなされる。し
たがって、MIR33にセットされた制御情報は、所定
の解析シーケンスにおいてマクロブロック1,3が動作
すべき状態になると有効化される。このような無効化/
有効化は、外部から与えられるシーケンス制御信号(T
EN)を入力とするマスク信号発生器39から出力され
るマスク信号にしたがって1lIlIIllされている
。有効化された制御情報は、マイクロデコーダ35に与
えられる。
マイクロデコーダ35は、MIR33から出力されてマ
スク回路37によって有効化された制御情報をデコード
する。デコード出力は、対応するマクロブロック1.3
に与えられ、マクロブロック1,3はこのデコード出力
にしたがって動作する。
以上説明したように、この発明の一実施例は構成されて
おり、次にこの実施例の作用を第2図を参照して説明す
る。
第2図は、第1図に示す構成において、外部から読込ま
れたデータを用いて演算を行い、演算結果をレジスタフ
ァイル3に格納した後、外部に出力する動作を解析する
ためのタイミングチャートである。第2図において、イ
ネーブル信号ENi(REl、RF2.WEI、WF2
.WF2)は、イネーブル信号6,4発生器21におい
て、シーケンス制御信号TENから、フリップフロップ
の直列接続を用いて順次前られるTENl、TEN2.
TEN3の簡単な組合せにより生成される。
まず、マクロブロック1.3の動作を規定する11J 
I211情報が、スキャン入力端から与えられて順次M
IR33にセットされる。さらに、上記したマクロブロ
ック1.3の動作に対応して、レジスタファイル3.そ
れぞれのラッチ回路7及び出力バッファ19の活性化を
制御する活性化情報QiがそれぞれのTFF回路19の
F/Fにセッ〜トされる。
このような状態にあって、テストモード信号(MBT)
が“1”レベルとなり解析が開始されて、シーケンス制
御信号(TEN)から生成されたTENI信号が“O”
レベルになると、外部からデータビン13に与えられた
データ(Dl、D2)が、I10バッファ11を介して
内部バス5に取り込まれる。内部バス5に取り込まれた
データは、イネーブル信号発生器21から出力されるイ
ネーブル信号ENi  (WEl、WF2)により、そ
れぞれ対応したラッチ回路7に与えられて格納される。
次に、TEN1信号が“1″レベルになると、マスク信
号がO”レベルとなり、マスク回路37の無効化は解除
されて、制御情報は有効化される。さらに、TFF回路
19のイネーブル信号(REI)が“0”レベルになる
と、MIR33にセットされた制御情報は、マイクロデ
コーダ35によりデコードされ、デコード出力がマクロ
ブロック1及びレジスタファイル(RF)3に与えられ
る。これにより、データD1.D2を用いた演算がマク
ロブロック1で行われ、演算結果が出力バッファ19を
介してレジスタファイル3に格納される。
一方、演算により発生してフラグレジスタ41に格納さ
れたフラグは、イネーブル信@ (RE 2 )により
出力バッファ19.内部バス5及びI10バッファ11
を介して外部に読出される。また、レジスタファイル3
に格納された演算結果は、イネーブル信号(RF3)に
より出力バッファ19゜内部バス5及びI10バッファ
19を介して外部に読出される。
このように、マイクロ命令形式の制御情報を外部からセ
ットして、この制御情報のデコード出力にしたがってテ
スト対象となるマクロブロック1゜3を動作させて解析
を行っている。このため、高レベルな機械語命令セット
及びマイクロ命令を使用しているマイクロプロセッサに
おける多数のマクロブロックを、機械語命令をマイクロ
命令に変換する複雑な制御ロジックに依存することなく
解析することができる。
さらに、本来マイクロプロセッサに備えられているマイ
クロ命令レジスタ33に、マクロブロックの制御情報を
セラ1−するようにしているので1それぞれのマクロブ
ロックのほぼすべての動作に対応した制御情報を、TF
F回路を用いることなく、それぞれのマクブロックに供
給することができる。これにより、構成の大型化を招く
ことなく、マイクロデコーダを含めたマクロブロックの
詳細な解析を行うことが可能となる。なお、マイクロデ
コーダは、特に?!雑な構成どはならないので、現在の
設31ツールの信頼性1ノベルにおいて、はぼ完全なも
のを構成することは可能である。
また、この発明の実施例では、マクブロック1.3を通
常動作とほぼ同じタイミングで動作させるとともに、バ
スを用いてデータ処理を行うようにしているので、十分
な解析を高速に行うことができる。これにより、マイク
ロプロセッサの開発時の解析だけでなく、量産時に、1
3けイ)M析にあっても利用することができるようにな
る。
[発明の効果] 以上説明したように、この発明によれば、解析の対象と
なる回路ブロックを、外部から与えられるマイクロ命令
形式の制御情報をデコードしたデコード出力で動作させ
て解析するようにしたので、マイクロ命令よりも上位レ
ベルの制御ロジックに依存することなく、かつ構成の大
型化を眉くことなく、実際に近い動作での詳細な解析を
高速に行うことができるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例に係るデスl−容易化回路
の構成を示1゛図、第2図は第1図に示す回路の動作を
示すタイミングチャート、第3図は従来のデス1−容易
化回路の一構成を示す図である。 1.3・・・マクロブロック 5・・・内部バス 9・・・出力バッファ 11・・・I10バッファ 19・・・TFF回路 21・・・イネーブル信号発生器 33・・・マイクロ命令レジスタ 35・・・マイクロデコーダ 37・・・マスク回路 3つ・・・マスク信号発生器 代理A−j+理士三好 1呆男 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 マイクロ命令により制御される回路ブロックの解析に必
    要なマイクロ命令形式の制御情報がセットされる格納手
    段と、 前記格納手段から読出される制御情報を無効化及び有効
    化するマスク手段と、 前記マスク手段により有効化された制御情報をデコード
    して、前記回路ブロックの解析時に前記回路ブロックの
    動作指令となるデコード出力を前記回路ブロックに供給
    するデコード手段と、前記回路ブロックの解析時に前記
    回路ブロックと外部とのデータの入出力を可能ならしめ
    る入出力手段と、 前記回路ブロックの解析時に前記入出力手段を介しての
    データの入出力及び前記マスク手段とを所定の解析シー
    ケンスを実行すべく外部から与えられる制御信号にした
    がつて制御する制御手段と、を有することを特徴とする
    テスト容易化回路。
JP63154015A 1988-06-22 1988-06-22 テスト容易化回路 Pending JPH01320544A (ja)

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DE68924304T DE68924304T2 (de) 1988-06-22 1989-06-22 Schaltung zur Prüfung von durch Mikrobefehle gesteuerten Schaltungsblöcken.
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