JPH01141837A - 回路基板用誘電体材料 - Google Patents

回路基板用誘電体材料

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JPH01141837A
JPH01141837A JP29903087A JP29903087A JPH01141837A JP H01141837 A JPH01141837 A JP H01141837A JP 29903087 A JP29903087 A JP 29903087A JP 29903087 A JP29903087 A JP 29903087A JP H01141837 A JPH01141837 A JP H01141837A
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昇 一ノ瀬
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栄一 浅田
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隆 遠藤
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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は回路基板として有用な誘電体材料、特に低温焼
成が可能で、かつ抗折強度の大きい誘電体材料に関する
11匹亘j LSIなど半導体及び回路部品の高密度実装化に伴い、
近年多層回路基板が広く採用されている。
セラミック多層回路基板は、誘電体層と導体層とを交互
に積層し、同時焼成して一体化することにより製造され
るものであり、誘電体材料としては、従来主としてアル
ミナ系セラミックスが使用されてきた。ところでアルミ
ナは絶縁性、機械的強度等の特性は優れているが、焼結
温度が1500℃以上と高く、内部配線導体材料には比
較的電気抵抗の高いMOやW等の高融点金属を用いるの
で、導体幅を大きくとらなくてはならないなど、小型化
、高密度化が困難である。そこで電気抵抗が小さく融点
の低いA!11 z Au 、 Cuなどの高導電性金
属を導体材料として用いるために、これらの金属の融点
以下で焼結可能な誘電体材料の開発が望まれている。
更に誘電体の誘電率は基板内部での信号の伝播速度に大
きく影響するが、アルミナ系セラミックスは誘電率が約
8.5〜10と比較的大きく、信号伝送の高速化に限界
があるため、より低い誘電率を有する誘電体材料が求め
られている。
これらの要請に応えて近年、例えば低温焼結セラミック
ス、結晶化ガラス、ガラス−セラミックス混合物など種
々の誘電体材料が提案され、一部実用化されているが、
誘電率等の電気特性、機械的強度等回路基板としての要
求特性を全て満足するものではない。特に現在実用化さ
れている、非酸化性雰囲気中で低温焼成するタイプの材
料は、抗折強度が2000 K’J以下と、アルミナ基
板に比べて著しく小さい欠点があった。
本発明者等は先にMgO,B203 、Si 02、B
aO1Z「02を構成成分とし、焼成により3a Zr
  (803)2結晶を生じて、優れた絶縁性及び誘電
特性を示すガラス材料を1lff発し、特許出願を行っ
た。しかしながらこの材料は侵れた性質を示すものの、
強度がアルミナ基板に比べてやや小すい傾向がある。
明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、低温で焼成でき、焼成後は優れた絶縁
特性及び誘電特性を示し、かつ機械的強度の改善された
新規な回路基板用誘電体材料を提供することにある。
問題点を 決するための手段 本発明は、(A)マグネシウム、硼素、珪素、バリウム
、ジルコニウム、アルミニウム及びカルシウムを各々酸
化物換輝で M!70   20〜40重量%、 B2O3  10〜30重量%、 SiO2 10〜35重量%、 BaO   5〜22重量%、 Zr 02   5〜201ifi%、Al2O32〜
15小吊%、 CaO0〜 5重量%、 の比率で含有するガラス、及び(B) (A)のガラス
を予め熱処理し、結晶化させて得られたガラス−セラミ
ックスより選んだ1種又は2@以上からなる回路基板用
誘電体材料である。又第二の発明は、このガラス及び/
又はガラス−セラミックスに、更に結晶性フィラーを配
合した回路基板用誘電体材料である。
本発明のガラス(A)は、各成分酸化物の原料化合物を
酸化物換口で上記の組成範囲となるように混合し、通常
のガラスの製法に従って例えば1400〜1600℃の
温度で溶融し、次いで溶融物を急冷してガラス化し、こ
れを粉砕することによって製造される。又ガラス−セラ
ミックス(B)は、このガラスを結晶化温度以上で熱処
理して予め結晶化させた後、粉砕することにより製造さ
れる。
結晶性フィラーとしてはアルミナ、ジルコニア、シリカ
、ベリリア、II酸ジルコニウム、ステアタイト、フォ
ルステライト、ムライト等の酸化物や、窒化珪素、窒化
アルミニウム、窒化硼素等の窒化物などを使用すること
ができる。
J 本発明のガラスは、800〜900℃付近に結晶化温度
を有しており、結晶化温度以上で焼成することによって
一部結晶化しガラス−セラミックスとなる。X線回折分
析の結果、焼成体は主としてBa Zr  (BO3)
2と3a Al 2 Si 20aの二つの結晶相と残
部組成のガラス質の三相からなっており、これらの結晶
相とガラス相との共存により機械的強度が大きく、絶縁
性の優れた緻密な誘電体が得られるものと考えられる。
即ちBa Zr  (803)2結晶は、上記ガラス質
との共存で、低誘電率でかつ優れた絶縁特性を有する誘
電体となる。一方ガラス成分中のAl2O3は、焼成体
の抗折強度を大きく向上させる。
これはAl2O3によって、 3aAI 23i20e
  (セルシアン)の結晶相が新たに出現し、これが強
度の増加に寄与すること、及び系全体の結晶化度が増加
することによるものと考えられる。
尚A+203を配合すると焼結温度が上昇するが、Ca
Oを添加することによって、二つの結晶相の生成に影響
を及ぼすことなく焼結温度の上昇を抑えることができる
ガラスの組成範囲を限定した理由は、次の通りである。
M2Oが20〜40重量%の範囲を外れると、前記結晶
が析出しにくくなる。B2O3が30重量%を越えると
強度が低下し、回路基板用に使用できなくなり、又10
重量%未満ではガラス製造時の溶融が困難になる。Si
 02は35重量%を越えると結晶化が遅くなる。又1
0重量%より少量ではガラスの結晶化が速まり、焼結性
が悪化する。BaOは221!fd%より多いと誘電率
が高くなり、5重量%未満ではZ「02が分相を起こし
、均質なガラス−セラミックスが得られない。2「02
が20重量%を越えると溶融困難になり、又5重量%よ
り少ない場合は結晶化反応が緩慢になり、不完全な結晶
相しか得られない。Alp’sは、15重量%を越える
と焼結温度が高くなるので望ましくなく、又2重量%よ
り少ないと機械的強度の増大に効果がない。CaOは必
ずしも配合する必要はないが、Al2O5による焼結温
度の高温化を抑えるのに有効である。1〜51fi%の
添加が効果的であるが、5重量%を越えると抗折強度の
低下をもたらす。
更にガラス(^)を予め結晶化させ、粉砕してガラス−
セラミック質の誘電体材料(B)とし、これを焼結させ
ることによっても同様な低誘電率の誘電体を得ることが
可能である。
ガラス(A)及びガラス−セラミックス(B)はそれぞ
れ単独で用いてもよいが、両者を混合して使用すること
もできる。尚ガラス(A)は単独で使用すると、焼成時
の脱バインダが不十分になる傾向があり、焼成体中にカ
ーボンが残留し易いから、フィラーとして予め結晶化さ
せたガラス−セラミックス(B)や、その他通常使用さ
れる結晶性フィラーと混合使用するのが望ましい。特に
ガラス−、セラミックス(B)をフィラーとして用いる
場合は、焼成後は均質体となって組成及び特性を大きく
変化させないので有利であり、かつ多量に配合すること
も可能で混合比を自由に選択することができる利点があ
る。これらのフィラーは、脱バインダ性の改善の他、機
械的強度、成形性等を改善したり、焼成時の収縮率を制
御する効果がある。
本発明の誘電体材料は、回路基板や、多層回路の誘電体
層として使用される。
例えば多層回路基板に使用する場合は、本発明のガラス
又はガラス−セラミックスをボールミルにて平均粒径1
〜5μs程度まで粉砕し、青られた粉末に必要に応じて
フィラー、結合剤、゛可塑剤、湿潤剤を添加し、溶剤中
で充分に混合してスラリーを作り、ドクターブレード法
など公知の方法により成形してグリーンシートを作成す
る。このグリーンシートに導体を印刷し、複数枚積層し
て加熱加圧した後、焼成することにより一体化する。
焼成はガラスの結晶化温度以上で行えばよく、例えば1
000℃以下の低温で焼成することができる。
焼成雰囲気は使用する導体材料により、酸化性雰囲気、
非酸化性雰囲気のいずれでもよいが、本発明の誘電体材
料は、非酸化性雰囲気中で焼成した場合でも充分に大き
い機械的強度がをられる。
尚グリーンシートの代わりに誘電体ペーストとして、ペ
ースト1層法による多層回路基板の製造に用いることも
できる。
実施例 実施例1 Mg (OH)2.B2O3 、Si 02、3aCO
3,Zr 02 、At 203及び’CaCO3を酸
化物換算で表1に示した割合で秤吊し、自動乳鉢で混合
し、白金ルツボ中で1500℃に30分保持して溶融し
た債、双ロールで急冷してガラスを製造した。このガラ
スをスタンプミルで粗粉砕し、次いで溶剤としてメタノ
ールを用いてアルミナ製ボールミルで48時間粉砕し、
平均粒径2.5IJMのガラス粉末(A)を得た。
一方、これと則−組成のガラスを作成し、粗粉砕したも
のを900℃で30分間熱処理して結晶化させ、再度粉
砕して平均粒径2,5pのガラス−セラミックス粉末(
B)を得た。
ガラス粉末(^)50重1部、ガラス−セラミックス粉
末(B) 50重量部、アクリル系樹脂12重量部、フ
タル酸系可塑剤3重量部及びケトン系溶剤28重量部を
アルミナ製ボールミルを用いて充分混合してスラリーと
した。次いで脱泡及び粘度調整を行った俊、ドクターブ
レード法により厚さ150μsのグリーンシートを作成
した。6枚のグリーンシートを温度80℃、圧力100
Kg/ctdで加熱加圧して積層し、未焼結基板を青だ
これをベルト炉において600℃で2.5時間保持して
有機物を除去した後、窒素雰囲気中表1に示した温度で
2.5時間保持して焼成を行った。
得られた焼成体について各々比誘電率、絶縁抵抗及び抗
折強度を測定し、結果を表1に示した。
実施例2〜5 ガラスの組成を表1のとおりとする以外は実施例1と同
様にしてグリーンシートを作成し、積層後、焼成した。
得られた焼成体について特性を測定し、結果を表1に併
せて示した。
比較例1〜3 M(10,B2OB 、Si 02 、Ba CO3、
ZrO2,Al 203及びCaOを表1に示した割合
で混合し、実施例と同様にしてグリーンシートを作成し
、vJ層後、焼成した。得られた焼成体について特性を
測定し、結果を表1に併せて示した。
表1より明らかなように、本発明の誘電体材料は回路基
板材料として優れた特性を有しており、特にAl2O3
の添加で抗折強度が著しく向上した。尚比較例3ではA
l2O3の添加量が多いため焼成温度が高く、1100
℃でも焼結しなかった。
実施例7〜9 実施例1においてガラス粉末(^)とガラス−セラミッ
クス粉末(B)の比率を変え、表2のとおりとする以外
は同様にしてグリーンシートを作り、積層した後焼成し
た。
得られた誘電体の特性を表2に示した。
実施例10 実施例1と同一組成のガラス粉末と、平均粒径1.0即
の珪酸ジルコニウム粉末とを重量圧で50:50の割合
で混合し、実施例1と同様にしてグリーンシートを作り
、lfA層した後980℃で2.5FI¥間焼成した。
得られた焼成体の比誘電率、絶縁抵抗及び抗折強度はそ
れぞれ7.8.10  Ωα以上、2100に9/c−
であった。
発明の効果 本発明の誘電体材料は、優れた電気的特性及び高い機械
的強度を有しており、かつ低温での焼結が可能なので、
導体抵抗の低いAa 、Au s Cuなどの金属を配
線材料として使用することができ、高密度実装が可能な
回路基板用材料として極めて有用である。
特許出願人 昭栄化学工業株式会社

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 (A)マグネシウム、硼素、珪素、バリウム、ジル
    コニウム、アルミニウム及びカルシウムを各々酸化物換
    算で MgO20〜40重量%、 B_2O_310〜30重量%、 SiO_210〜35重量%、 BaO5〜22重量%、 ZrO_25〜20重量%、 Al_2O_32〜15重量%、 CaO0〜5重量%、 の比率で含有するガラス 及び (B)(A)のガラスを予め熱処理し、結晶化させて得
    られたガラス−セラミックス より選んだ1種又は2種以上からなる回路基板用誘電体
    材料。 2 (1)(A)マグネシウム、硼素、珪素、バリウム
    、ジルコニウム、アルミニウム及びカルシウムを各々酸
    化物換算で MgO20〜40重量%、 B_2O_310〜30重量%、 SiO_210〜35重量%、 BaO5〜22重量%、 ZrO_25〜20重量%、 Al_2O_32〜15重量%、 CaO0〜5重量%、 の比率で含有するガラス 及び (B)(A)のガラスを予め熱処理し、結晶化させて得
    られたガラス−セラミックス より選んだ1種又は2種以上と、 (2)結晶性フィラー とからなる回路基板用誘電体材料。
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