JPH01141838A - 回路基板用誘電体材料 - Google Patents
回路基板用誘電体材料Info
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- JPH01141838A JPH01141838A JP29824987A JP29824987A JPH01141838A JP H01141838 A JPH01141838 A JP H01141838A JP 29824987 A JP29824987 A JP 29824987A JP 29824987 A JP29824987 A JP 29824987A JP H01141838 A JPH01141838 A JP H01141838A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
1!」!ソロ1次!
本発明は回路基板として有用な誘電体材料、特に低温焼
成が可能で、かつ低誘電率の誘電体材料に関する。
成が可能で、かつ低誘電率の誘電体材料に関する。
監jJυi亘
LSIなど半導体及び回路部品の高密度実装化に伴い、
近年多層回路基板が広く採用されている。
近年多層回路基板が広く採用されている。
セラミック多層回路基板は、誘電体層と導体層とを交互
に8@層し、同時焼成して一体化することにより製造さ
れるものであり、誘電体材料としては、従来主としてア
ルミナ系セラミックスが使用されてきた。ところでアル
ミナは絶縁性、機械的強度等の特性は優れているが、焼
結温度が1500℃以上と高く、内部配線導体材料には
比較的電気抵抗の高いMOやW等の高融点金属を用いる
ので、導体幅を大きくとらなくてはならないなど、小型
化、高密度化が困難である。そこで電気抵抗が小さく融
点の低いA(] 、Au 、Cuなどの高導電性金属を
導体材料として用いるために、これらの金属の融点以下
で焼結可能な誘電体材料の開発が望まれている。
に8@層し、同時焼成して一体化することにより製造さ
れるものであり、誘電体材料としては、従来主としてア
ルミナ系セラミックスが使用されてきた。ところでアル
ミナは絶縁性、機械的強度等の特性は優れているが、焼
結温度が1500℃以上と高く、内部配線導体材料には
比較的電気抵抗の高いMOやW等の高融点金属を用いる
ので、導体幅を大きくとらなくてはならないなど、小型
化、高密度化が困難である。そこで電気抵抗が小さく融
点の低いA(] 、Au 、Cuなどの高導電性金属を
導体材料として用いるために、これらの金属の融点以下
で焼結可能な誘電体材料の開発が望まれている。
更に誘電体の誘電率は基板内部での信号の伝播速度に大
きく影響するが、アルミナ系セラミックスは誘電率が約
8.5〜10と比較的大きく、信号伝送の高速化に限界
があるため、より低い誘電率を有する誘電体材料が強く
求められている。
きく影響するが、アルミナ系セラミックスは誘電率が約
8.5〜10と比較的大きく、信号伝送の高速化に限界
があるため、より低い誘電率を有する誘電体材料が強く
求められている。
これらの要請に応えて近年、例えば低温焼結セラミック
ス、結晶化ガラス、ガラス−セラミックス混合物など種
々の誘電体材料が提案され、一部実用化されているが、
誘電率などの電気特性や機械的強度等回路基板としての
要求特性を全て満足するものではない。
ス、結晶化ガラス、ガラス−セラミックス混合物など種
々の誘電体材料が提案され、一部実用化されているが、
誘電率などの電気特性や機械的強度等回路基板としての
要求特性を全て満足するものではない。
発明が解決しようとする間 点
本発明の目的は、低温で焼成でき、焼成債は優れた絶縁
特性及び機械的強度を示し、かつアルミナ基板より誘電
率の低い新規な回路基板用V、誘電体材料提供すること
にある。
特性及び機械的強度を示し、かつアルミナ基板より誘電
率の低い新規な回路基板用V、誘電体材料提供すること
にある。
問題点を解決づ”るための手段
本発明は、(A)マグネシウム、硼素、珪素、バリウム
及びジルコニウムを各々酸化物換忰でM(1020〜4
0重量%、 B2O3 10〜30重争%、 SiO210〜35重量%、 8a0 5〜22N!!ffi%、ZrO25〜2
0重量% の比率で含有するガラス、及び(B) (A)のガラス
、を予め熱処理し、結晶化させて得られたガラス−セラ
ミックスより選んだ1@又は2種以上からなる回路基板
用誘電体材料である。又第二の発明は、このガラス及び
/又はガラス−セラミックスに、更に結晶性フィラーを
配合した誘電体材料である。
及びジルコニウムを各々酸化物換忰でM(1020〜4
0重量%、 B2O3 10〜30重争%、 SiO210〜35重量%、 8a0 5〜22N!!ffi%、ZrO25〜2
0重量% の比率で含有するガラス、及び(B) (A)のガラス
、を予め熱処理し、結晶化させて得られたガラス−セラ
ミックスより選んだ1@又は2種以上からなる回路基板
用誘電体材料である。又第二の発明は、このガラス及び
/又はガラス−セラミックスに、更に結晶性フィラーを
配合した誘電体材料である。
本発明のガラス(A)は、各成分酸化物の原料化合物を
酸化物換算で上記の組成範囲となるように混合し、通常
のガラスの製法に従って例えば1400〜1600℃の
温度で溶融し、次いで溶融物を急冷してガラス化し、こ
れを粉砕することによって製造される。又ガラス−セラ
ミックス(B)は、このガラスを結晶化温度以上で熱処
理して予め結晶化させた後、粉砕することにより製造さ
れる。
酸化物換算で上記の組成範囲となるように混合し、通常
のガラスの製法に従って例えば1400〜1600℃の
温度で溶融し、次いで溶融物を急冷してガラス化し、こ
れを粉砕することによって製造される。又ガラス−セラ
ミックス(B)は、このガラスを結晶化温度以上で熱処
理して予め結晶化させた後、粉砕することにより製造さ
れる。
結晶性フィラーとしてはアルミナ、ジルコニア、シリカ
、ベリリア、珪酸ジルコニウム、ステアタイト、7オル
ステライト、ムライト等の酸化物や、窒化珪素、窒化ア
ルミニウム、窒化硼素等の窒化物などを使用することが
できる。
、ベリリア、珪酸ジルコニウム、ステアタイト、7オル
ステライト、ムライト等の酸化物や、窒化珪素、窒化ア
ルミニウム、窒化硼素等の窒化物などを使用することが
できる。
1月
本発明のガラスは、800〜900℃付近に結晶化温度
を有しており、結晶化温度以上で焼成することによって
一部結晶化し、ガラス−セラミックスとなる。X線回折
分析の結果、焼成体はBa Zr(803)2を主相と
する結晶相と残部組成のガラス質の二つの相からなって
おり、この結晶相とガラス相との並存により絶縁性の優
れた、低誘電率の、緻密な誘電体が得られるものと考え
られる。
を有しており、結晶化温度以上で焼成することによって
一部結晶化し、ガラス−セラミックスとなる。X線回折
分析の結果、焼成体はBa Zr(803)2を主相と
する結晶相と残部組成のガラス質の二つの相からなって
おり、この結晶相とガラス相との並存により絶縁性の優
れた、低誘電率の、緻密な誘電体が得られるものと考え
られる。
低誘電率発現61@については明確ではないが、3a
Zr (BO3)2を化学量論比で調合し、成形、焼
成してもこの結晶は低誘電率を示さず、又結晶化させた
後に残るガラス相の成分と同一の組成を有するガラスも
誘電率は低くない。更にこのガラスと3a Zr (
803)2結晶とを別々に製造し、巾に混合して焼結し
たものも同様に低誘電率は示さず、本発明の組成範囲内
でガラスを作成し、これを熱処理して結晶化させた場合
にのみ低い誘電率が得られることが判った。
Zr (BO3)2を化学量論比で調合し、成形、焼
成してもこの結晶は低誘電率を示さず、又結晶化させた
後に残るガラス相の成分と同一の組成を有するガラスも
誘電率は低くない。更にこのガラスと3a Zr (
803)2結晶とを別々に製造し、巾に混合して焼結し
たものも同様に低誘電率は示さず、本発明の組成範囲内
でガラスを作成し、これを熱処理して結晶化させた場合
にのみ低い誘電率が得られることが判った。
ガラスの組成範囲を限定した理由は次の通りである。
MqOが20〜40重量%の範囲を外れると前記結晶が
析出しにくくなる。B2O3が30重量%を越えると強
度が低下し、回路基板用に使用できなくなり、又10重
量%未満ではガラス製造時の溶融が困難になる。SiO
2は35重量%を越えると結晶化が遅くなる。又10重
量%より少量ではガラスの結晶化が速まり、焼結性が悪
化する。
析出しにくくなる。B2O3が30重量%を越えると強
度が低下し、回路基板用に使用できなくなり、又10重
量%未満ではガラス製造時の溶融が困難になる。SiO
2は35重量%を越えると結晶化が遅くなる。又10重
量%より少量ではガラスの結晶化が速まり、焼結性が悪
化する。
8aOは22重量%より多いと誘電率が高くなり、5重
量%未満ではZ「02が分相を起こし、均質なガラス−
セラミックスが青られない。z「02が20重量%を越
えると溶融困難になり、又5重量%より少ない場合は結
晶化反応が緩慢になり、不完全な結晶相しか得られない
。
量%未満ではZ「02が分相を起こし、均質なガラス−
セラミックスが青られない。z「02が20重量%を越
えると溶融困難になり、又5重量%より少ない場合は結
晶化反応が緩慢になり、不完全な結晶相しか得られない
。
更にガラス(^)を予め結晶化させ、粉砕してガラス−
セラミック質の誘電体材料(B)とし、これを焼結させ
ることによっても同様な低調電率の誘電体を得ることが
可能である。
セラミック質の誘電体材料(B)とし、これを焼結させ
ることによっても同様な低調電率の誘電体を得ることが
可能である。
ガラス(A)及びガラス−セラミックス(B)はそれぞ
れ単独で用いてもよいが、両者を混合して使用すること
もできる。尚ガラス(A)は単独で使用すると、焼成時
の脱バインダが不十分になる傾向があり、焼成体中にカ
ーボンが残留し易いから、フィラーとして予め結晶化さ
せたガラス−セラミックス(B)や、その他通常使用さ
れる結晶性フィラーと混合使用するのが望ましい。特に
ガラス−セラミックス(B)をフィラーとして用いる場
合は、焼成後は均質体となって組成及び特性を大きく変
化させないので有利であり、かつ多量に配合することも
可能で混合比を自由に選択することができる利点がある
。これらのフィラーは、脱バインダ性の改善の他、機械
的強度、成形性等を改善したり、焼成時の収縮率を制御
する効果がある。
れ単独で用いてもよいが、両者を混合して使用すること
もできる。尚ガラス(A)は単独で使用すると、焼成時
の脱バインダが不十分になる傾向があり、焼成体中にカ
ーボンが残留し易いから、フィラーとして予め結晶化さ
せたガラス−セラミックス(B)や、その他通常使用さ
れる結晶性フィラーと混合使用するのが望ましい。特に
ガラス−セラミックス(B)をフィラーとして用いる場
合は、焼成後は均質体となって組成及び特性を大きく変
化させないので有利であり、かつ多量に配合することも
可能で混合比を自由に選択することができる利点がある
。これらのフィラーは、脱バインダ性の改善の他、機械
的強度、成形性等を改善したり、焼成時の収縮率を制御
する効果がある。
本発明の誘電体材料は、回路基板や、多層回路の誘電体
層として使用される。
層として使用される。
例えば多層回路基板に使用する場合は、本発明のガラス
又はガラス−セラミックスをボールミルにて平均粒径1
〜5頭程度まで粉砕し、この粉末に必要に応じて結晶性
フィラー、結合剤、可塑剤、湿潤剤を添加し、溶剤中で
充分に混合してスラリーを作り、ドクターブレード法な
ど公知の方法により成形してグリーンシートを作成する
。このグリーンシートに導体を印刷し、複数枚積層して
加熱加圧した後、焼成することにより一体化する。
又はガラス−セラミックスをボールミルにて平均粒径1
〜5頭程度まで粉砕し、この粉末に必要に応じて結晶性
フィラー、結合剤、可塑剤、湿潤剤を添加し、溶剤中で
充分に混合してスラリーを作り、ドクターブレード法な
ど公知の方法により成形してグリーンシートを作成する
。このグリーンシートに導体を印刷し、複数枚積層して
加熱加圧した後、焼成することにより一体化する。
焼成はガラスの結晶化温度以上で行えばよく、例えば1
050℃以下の低温で焼成することができる。
050℃以下の低温で焼成することができる。
焼成雰囲気は使用する導体材料により、酸化性雰囲気、
非酸化性雰囲気のいずれでもよい。尚グリーンシートの
代わりに誘電体ペーストとして、ペーストv4層法によ
る多層回路基板の製造に用いることもできる。
非酸化性雰囲気のいずれでもよい。尚グリーンシートの
代わりに誘電体ペーストとして、ペーストv4層法によ
る多層回路基板の製造に用いることもできる。
実施例
実施例1
MO(OH)2 、B20S 、Si 02、 BaC
O3及びZr 02をそれぞれ酸化物換粋で表1に示し
た割合となるように秤量し、自動乳鉢で混合し、白金ル
ツボ中で1500℃に30分保持して溶融した債、双ロ
ールで急冷してガラスを製造した。
O3及びZr 02をそれぞれ酸化物換粋で表1に示し
た割合となるように秤量し、自動乳鉢で混合し、白金ル
ツボ中で1500℃に30分保持して溶融した債、双ロ
ールで急冷してガラスを製造した。
このガラスをスタンプミルで粗粉砕し、次いで溶剤とし
てメタノールを用いてアルミナ製ボールミルで48時間
粉砕し、平均粒径2.5頭のガラス粉末(A)を得た。
てメタノールを用いてアルミナ製ボールミルで48時間
粉砕し、平均粒径2.5頭のガラス粉末(A)を得た。
一方、これと同一組成のガラスを作成し、粗粉砕したも
のを900℃で30分間熱処理して結晶化させ、再度粉
砕して平均粒径2.5緒のガラス−セラミックス粉末(
B)を青だ。
のを900℃で30分間熱処理して結晶化させ、再度粉
砕して平均粒径2.5緒のガラス−セラミックス粉末(
B)を青だ。
ガラス粉末(A) 50重量部、ガラス−セラミックス
粉末(e)so重重量、アクリル系樹脂12重量部、フ
タル酸系可塑剤3重量部及びケトン系溶剤28重量部を
アルミナ製ボールミルを用いて充分混合してスラリーと
した。次いで脱泡及び粘度調整を行った後、ドクターブ
レード法により厚さ150頭のグリーンシートを作成し
た。6枚のグリーンシートを温度80℃、圧力100K
fI101で加熱加圧して積層し、未焼結基板を冑だ。
粉末(e)so重重量、アクリル系樹脂12重量部、フ
タル酸系可塑剤3重量部及びケトン系溶剤28重量部を
アルミナ製ボールミルを用いて充分混合してスラリーと
した。次いで脱泡及び粘度調整を行った後、ドクターブ
レード法により厚さ150頭のグリーンシートを作成し
た。6枚のグリーンシートを温度80℃、圧力100K
fI101で加熱加圧して積層し、未焼結基板を冑だ。
これをベルト炉において600℃で2.5時間保持して
有機物を除去した後、窒素雰囲気中1050℃で2.5
時間保持して焼成を行った。
有機物を除去した後、窒素雰囲気中1050℃で2.5
時間保持して焼成を行った。
得られた焼成体について各々比誘電率、絶縁抵抗及び抗
折強度を測定し、結果を表1に示した。
折強度を測定し、結果を表1に示した。
実施例2〜6
ガラスの組成を表1に示すとおりにする以外は実施例1
と同様にしてグリーンシートを作成し、積M後、焼成し
た。得られた焼成体の特性を測定し、結果を表1に併せ
て示した。
と同様にしてグリーンシートを作成し、積M後、焼成し
た。得られた焼成体の特性を測定し、結果を表1に併せ
て示した。
表1より明らかなように、本発明の誘電体材料は回路基
板材料として優れた特性を有している。
板材料として優れた特性を有している。
比較例1〜10
M(+ (OH)2.B2O3 、Si 02、 B
aCO3及びz「02を表1に示した割合で混合し、実
施例と同様にしてグリーンシートを作成し、積層後、焼
成した。得られた焼成体について特性を測定し、結果を
表1に併せて示した。
aCO3及びz「02を表1に示した割合で混合し、実
施例と同様にしてグリーンシートを作成し、積層後、焼
成した。得られた焼成体について特性を測定し、結果を
表1に併せて示した。
これらの比較例はいずれもガラスの組成が本発明の範囲
を外れるものであるが、表1より明らかなように、比較
例1.2.4.6.7及び9では抗折強度が小さく回路
基板材料として実用に供し得ない。又比較例8では誘電
率が大きく、比較例3.10ではガラス製造時に酸化物
が完全に溶融せず、均一なガラスが製造できなかった。
を外れるものであるが、表1より明らかなように、比較
例1.2.4.6.7及び9では抗折強度が小さく回路
基板材料として実用に供し得ない。又比較例8では誘電
率が大きく、比較例3.10ではガラス製造時に酸化物
が完全に溶融せず、均一なガラスが製造できなかった。
比較例5では誘電体が焼結せず、基板として使用できな
いものであった。
いものであった。
実施例7〜10
実施例3においてガラス粉末(A)とガラス−セラミッ
クス粉末(B)の比率を変え、表2のとおりとする以外
は同様にしてグリーンシートを作り、積層した後焼成し
た。
クス粉末(B)の比率を変え、表2のとおりとする以外
は同様にしてグリーンシートを作り、積層した後焼成し
た。
青られた誘電体の特性を測定し、結果を表2に示した。
表2
実施例重量
実施例3と同一組成のガラス粉末と平均粒径1.0−の
珪酸ジルコニウム粉末とを重量化で70:30の割合で
混合し、実施例1と同様にしてグリーンシートを作り、
積層した後焼成した。得られた焼成体の比誘電率、絶縁
抵抗及び抗折強度はそれぞれ7.5.10 Ωα以上
、14008fl/cdであった。
珪酸ジルコニウム粉末とを重量化で70:30の割合で
混合し、実施例1と同様にしてグリーンシートを作り、
積層した後焼成した。得られた焼成体の比誘電率、絶縁
抵抗及び抗折強度はそれぞれ7.5.10 Ωα以上
、14008fl/cdであった。
実施例12
実施例3と同一組成のガラス粉末と平均粒径0.5μm
の窒化アルミニウム粉末とを重量化で70:30の割合
で混合し、実施例1と同様にしてグリーンシートを作り
、積層した後焼成した。焼成体の比誘電率、絶縁抵抗及
び抗折強度はそれぞれ7.7.1014Ωα以上、13
00Kg/calであった。
の窒化アルミニウム粉末とを重量化で70:30の割合
で混合し、実施例1と同様にしてグリーンシートを作り
、積層した後焼成した。焼成体の比誘電率、絶縁抵抗及
び抗折強度はそれぞれ7.7.1014Ωα以上、13
00Kg/calであった。
発明の効果
本発明の誘電体材料は、優れた電気的特性及び高いn械
的強度を有しており、低温での焼結が可能なので、導体
抵抗の低いA(+ 、Au 、Cuなどの金属を配線材
料として使用することができ、高密度実装が可能な回路
基板用材料として極めて有用である。
的強度を有しており、低温での焼結が可能なので、導体
抵抗の低いA(+ 、Au 、Cuなどの金属を配線材
料として使用することができ、高密度実装が可能な回路
基板用材料として極めて有用である。
特許出願人 昭栄化学工業株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 (A)マグネシウム、硼素、珪素、バリウム及びジ
ルコニウムを各々酸化物換算で MgO20〜40重量%、 B_2O_310〜30重量%、 SiO_210〜35重量%、 BaO5〜22重量%、 ZrO_25〜20重量% の比率で含有するガラス 及び (B)(A)のガラスを予め熱処理し、結晶化させて得
られたガラス−セラミックス より選んだ1種又は2種以上からなる回路基板用誘電体
材料。 2 (1)(A)マグネシウム、硼素、珪素、バリウム
及びジルコニウムを各々酸化物換算で MgO20〜40重量%、 B_2O_310〜30重量%、 SiO_210〜35重量%、 BaO5〜22重量%、 ZrO_25〜20重量% の比率で含有するガラス 及び (B)(A)のガラスを予め熱処理し、結晶化させて得
られたガラス−セラミックス より選んだ1種又は2種以上と、 (2)結晶性フィラー とからなる回路基板用誘電体材料。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29824987A JPH01141838A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 回路基板用誘電体材料 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29824987A JPH01141838A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 回路基板用誘電体材料 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01141838A true JPH01141838A (ja) | 1989-06-02 |
JPH0559054B2 JPH0559054B2 (ja) | 1993-08-30 |
Family
ID=17857172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29824987A Granted JPH01141838A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 回路基板用誘電体材料 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01141838A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5763339A (en) * | 1996-02-06 | 1998-06-09 | Shoei Chemical Inc. | Insulating glass composition |
WO2008132887A1 (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Asahi Glass Company, Limited | 無アルカリガラスの製造方法 |
WO2011076091A1 (zh) * | 2009-12-22 | 2011-06-30 | 广东风华高新科技股份有限公司 | 一种与镍内电极匹配的陶瓷介质材料及所得电容器的制备方法 |
WO2011076090A1 (zh) * | 2009-12-22 | 2011-06-30 | 广东风华高新科技股份有限公司 | 一种与铜内电极匹配的抗还原性高频低温烧结陶瓷介质材料 |
-
1987
- 1987-11-26 JP JP29824987A patent/JPH01141838A/ja active Granted
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5763339A (en) * | 1996-02-06 | 1998-06-09 | Shoei Chemical Inc. | Insulating glass composition |
WO2008132887A1 (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Asahi Glass Company, Limited | 無アルカリガラスの製造方法 |
KR101133480B1 (ko) * | 2007-04-17 | 2012-04-10 | 아사히 가라스 가부시키가이샤 | 무알칼리 유리의 제조 방법 |
JP5304643B2 (ja) * | 2007-04-17 | 2013-10-02 | 旭硝子株式会社 | 無アルカリガラスの製造方法 |
WO2011076091A1 (zh) * | 2009-12-22 | 2011-06-30 | 广东风华高新科技股份有限公司 | 一种与镍内电极匹配的陶瓷介质材料及所得电容器的制备方法 |
WO2011076090A1 (zh) * | 2009-12-22 | 2011-06-30 | 广东风华高新科技股份有限公司 | 一种与铜内电极匹配的抗还原性高频低温烧结陶瓷介质材料 |
JP2012529412A (ja) * | 2009-12-22 | 2012-11-22 | 広東風華高新科技股▲ふん▼有限公司 | 銅内電極と整合する耐還元性高周波低温焼結セラミック媒体材料 |
JP2012530355A (ja) * | 2009-12-22 | 2012-11-29 | 広東風華高新科技股▲ふん▼有限公司 | ニッケル内電極と整合されるセラミック媒体材料及びそれによって得られたコンデンサの製備方法 |
US8709962B2 (en) | 2009-12-22 | 2014-04-29 | Guangdong Fenghua Advanced Technology Holding Co., Ltd. | Anti-reductive high-frequency ceramic dielectric material sintered at low temperature and matched with copper internal electrode |
US8753995B2 (en) | 2009-12-22 | 2014-06-17 | Guangdong Fenghua Advanced Technology Holding Co., Ltd. | Ceramic dielectric material matched with nickel internal electrode and method for producing capacitor using same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0559054B2 (ja) | 1993-08-30 |
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---|---|---|---|
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