JPH01132194A - 配線基板 - Google Patents
配線基板Info
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- JPH01132194A JPH01132194A JP63210667A JP21066788A JPH01132194A JP H01132194 A JPH01132194 A JP H01132194A JP 63210667 A JP63210667 A JP 63210667A JP 21066788 A JP21066788 A JP 21066788A JP H01132194 A JPH01132194 A JP H01132194A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、アルミナ質とガラス質から成る新規な配線基
板に関するものである。さらに詳しくいえば、本発明は
、1000°0以下という低温での焼結で得られ、結晶
化を容易にコントロールでき、耐マイグレーション性に
憂れ、低誘電率であり、しかも高強度を有する絶縁性基
板に関するものである。
板に関するものである。さらに詳しくいえば、本発明は
、1000°0以下という低温での焼結で得られ、結晶
化を容易にコントロールでき、耐マイグレーション性に
憂れ、低誘電率であり、しかも高強度を有する絶縁性基
板に関するものである。
従来の技術
近年、電子応用機器の急速な発展とともに、半導体チッ
プ用の絶縁性配線基板の需要が急激に増大してきている
。このような基板の材料としては、とれまでアルミナ、
ホルステライト、スラアタイト、コーディエライト、ム
ライトなどが用いられているが、これらに共通した欠点
は焼結温度が1200°C以上と高いことである。この
ほか、アルカリ金属及び酸化銅(PbO)を含有させる
ことにより焼結温度を低下させた磁器組成物も知られて
いるが(特公昭59−22399号公報、特公昭60−
8229号公報)、PbOを主要に用いる材料系は、焼
成温度を低くすることができるが、焼成時にPbOが蒸
発しやすいため、製造上の問題が多い。また、導体や抵
抗材料と同時焼成が困難という問題点を有する。
プ用の絶縁性配線基板の需要が急激に増大してきている
。このような基板の材料としては、とれまでアルミナ、
ホルステライト、スラアタイト、コーディエライト、ム
ライトなどが用いられているが、これらに共通した欠点
は焼結温度が1200°C以上と高いことである。この
ほか、アルカリ金属及び酸化銅(PbO)を含有させる
ことにより焼結温度を低下させた磁器組成物も知られて
いるが(特公昭59−22399号公報、特公昭60−
8229号公報)、PbOを主要に用いる材料系は、焼
成温度を低くすることができるが、焼成時にPbOが蒸
発しやすいため、製造上の問題が多い。また、導体や抵
抗材料と同時焼成が困難という問題点を有する。
他方、Li、 Na、 K等のアルカリ金属を用いる材
料系は耐湿性等の信頼性に問題がある。
料系は耐湿性等の信頼性に問題がある。
さらにCa系やMg系のガラス材料を含有させることに
より、焼成温度を低下させるとともに、誘電率を低下さ
せたり、抗折強度を向上させた材料も知られている(特
開昭60−257195号公報、特開昭60−2604
65号公報、特開昭62−113758号公報)。
より、焼成温度を低下させるとともに、誘電率を低下さ
せたり、抗折強度を向上させた材料も知られている(特
開昭60−257195号公報、特開昭60−2604
65号公報、特開昭62−113758号公報)。
他方、AQ203及びZrSiO4から成る無機酸化物
成分と、5102.1Q203、BzOi、ZnOZn
O5BaO1及びCaOから成るガラス質成分とを混合
して使用して、焼結温度を低くした配線基板材料も提案
されているが(特開昭61−278195号公報)、焼
結後における無機酸化物の焼結生成物とガラス質との熱
膨張率が異なる上に、ガラス質自体の強度が不十分なた
め、得られる配線基板は強度が低いものとなるのを免れ
ない。
成分と、5102.1Q203、BzOi、ZnOZn
O5BaO1及びCaOから成るガラス質成分とを混合
して使用して、焼結温度を低くした配線基板材料も提案
されているが(特開昭61−278195号公報)、焼
結後における無機酸化物の焼結生成物とガラス質との熱
膨張率が異なる上に、ガラス質自体の強度が不十分なた
め、得られる配線基板は強度が低いものとなるのを免れ
ない。
また、ガラス−セラミックス系の基板材料においては、
強度向上の点でガラス成分の結晶化度の制御が重要であ
るが、MgO系等の他のガラス材料ではこの制御が困難
であるという問題がある。また、この結晶化度の制御(
残存ガラス成分量の制御)は基板に設ける導体、抵抗部
の耐マイグレーション性に影響し、基板寿命の低下とい
う重大な問題につながる。
強度向上の点でガラス成分の結晶化度の制御が重要であ
るが、MgO系等の他のガラス材料ではこの制御が困難
であるという問題がある。また、この結晶化度の制御(
残存ガラス成分量の制御)は基板に設ける導体、抵抗部
の耐マイグレーション性に影響し、基板寿命の低下とい
う重大な問題につながる。
発明が解決しようとする問題点
本発明は、従来の絶縁性配線基板、特に無機酸化物成分
とガラス質成分から成る基板がもつ欠点を克服し、低温
での焼結で製造することができる上に、結晶化度を容易
にコントロールでき、耐マイグレーション性に優れ、低
誘電率であり、しかも高強度を有する新規な絶縁性配線
基板を提供することを目的としてなされt二ものである
。
とガラス質成分から成る基板がもつ欠点を克服し、低温
での焼結で製造することができる上に、結晶化度を容易
にコントロールでき、耐マイグレーション性に優れ、低
誘電率であり、しかも高強度を有する新規な絶縁性配線
基板を提供することを目的としてなされt二ものである
。
問題点を解決するための手段
発明者らは、絶縁性配線基板用の材料について種々研究
を重ねた結果、アルミナ成分と、SrOを主体としたア
ルカリ土類金属の酸化物を含むガラス成分とから成る絶
縁性磁器は、l000°C以下という低温で焼結可能で
あり、高強度を示すということを見出し、この知見に基
づいて本発明をなすに至った。
を重ねた結果、アルミナ成分と、SrOを主体としたア
ルカリ土類金属の酸化物を含むガラス成分とから成る絶
縁性磁器は、l000°C以下という低温で焼結可能で
あり、高強度を示すということを見出し、この知見に基
づいて本発明をなすに至った。
すなわち、本発明は、アルミナ成分30〜50重量%及
びガラス成分70〜50重量%とを含み、かつ該ガラス
成分がSiO246〜60重量%、B20.0.5〜5
重量%、kQxos 6〜17.5重量%及びアルカリ
土類金属酸化物25〜45重量%の組成を有し、該アル
カリ土類金属酸化物中の少なくとも60重量%がSrO
である絶縁性磁器から成る配線基板を提供するものであ
る。
びガラス成分70〜50重量%とを含み、かつ該ガラス
成分がSiO246〜60重量%、B20.0.5〜5
重量%、kQxos 6〜17.5重量%及びアルカリ
土類金属酸化物25〜45重量%の組成を有し、該アル
カリ土類金属酸化物中の少なくとも60重量%がSrO
である絶縁性磁器から成る配線基板を提供するものであ
る。
本発明の配線基板の素材である絶縁性磁器は、アルミナ
成分30〜50重量%、好ましくは35〜45重量%及
びガラス成分70〜50重量%、好ましくは65〜55
重量%から成ることが必要である。アルミナ成分が30
重量%未満すなわちガラス成分が70重量%よりも多く
なると焼結可能な温度範囲が著しく狭くなり、実用性が
低下するし、またガラス成分が50重量%未満すなわち
アルミナ成分が50重量%よりも多くなると、1000
℃以下でち密な焼結体が得られなくなる。
成分30〜50重量%、好ましくは35〜45重量%及
びガラス成分70〜50重量%、好ましくは65〜55
重量%から成ることが必要である。アルミナ成分が30
重量%未満すなわちガラス成分が70重量%よりも多く
なると焼結可能な温度範囲が著しく狭くなり、実用性が
低下するし、またガラス成分が50重量%未満すなわち
アルミナ成分が50重量%よりも多くなると、1000
℃以下でち密な焼結体が得られなくなる。
次に、本発明における前記のガラス成分は、SL0□4
6〜60重量%、好ましくは47〜55重量%、B20
゜0.5〜5重量%、好ましくは1〜3重量%、AQ2
O30゜6〜17.5重量%、好ましくは7〜16.5
重量%及びアルカリ土類金属酸化物25〜45重量%好
ましくは30〜40重量%の組成を有することが必要で
ある。
6〜60重量%、好ましくは47〜55重量%、B20
゜0.5〜5重量%、好ましくは1〜3重量%、AQ2
O30゜6〜17.5重量%、好ましくは7〜16.5
重量%及びアルカリ土類金属酸化物25〜45重量%好
ましくは30〜40重量%の組成を有することが必要で
ある。
このSiO□が46重量%未満ではガラス化が困難にな
るし、60重量%を超えると融点が高くなりすぎて低温
焼結ができなくなる。また、B20.は5重量%よりも
多くすると、焼結後における耐湿性の低下を招くし、ま
た0、5重量%よりも少なすぎるとガラス化温度が若干
高くなるとともに焼結温度が高くなりすぎるので好まし
くない。さらにAQ20.が6重量%未満では、ガラス
成分の強度が低下するし、17.5重量%を超えるとガ
ラス化が困難になる。
るし、60重量%を超えると融点が高くなりすぎて低温
焼結ができなくなる。また、B20.は5重量%よりも
多くすると、焼結後における耐湿性の低下を招くし、ま
た0、5重量%よりも少なすぎるとガラス化温度が若干
高くなるとともに焼結温度が高くなりすぎるので好まし
くない。さらにAQ20.が6重量%未満では、ガラス
成分の強度が低下するし、17.5重量%を超えるとガ
ラス化が困難になる。
このガラス成分中のアルカリ土類金属酸化物としては、
lJgQ、CaO,BaO及びSrOがあるが、その合
計量の少なくとも60重量%、好ましくは80重量%以
上がSrOであることが必要である。この量が60重量
%未満では、熱膨張係数の整合性がとれなくなり、アル
ミナ成分の熱膨張係数との差が大きくなるため高強度の
磁器が得られない。
lJgQ、CaO,BaO及びSrOがあるが、その合
計量の少なくとも60重量%、好ましくは80重量%以
上がSrOであることが必要である。この量が60重量
%未満では、熱膨張係数の整合性がとれなくなり、アル
ミナ成分の熱膨張係数との差が大きくなるため高強度の
磁器が得られない。
そして、他のCab、 MgO,BaOの若干を複合添
加することにより、溶解ガラスの粘性を低下させ、焼結
温度幅を拡大することができ、製造が容易になるので、
これらを混合使用することが好ましい。
加することにより、溶解ガラスの粘性を低下させ、焼結
温度幅を拡大することができ、製造が容易になるので、
これらを混合使用することが好ましい。
添加効果の点では、前記アルカリ土類金属酸化物中のC
aOとMgOとBaOは合計で1重量%以上にするのが
好ましく、さらにCaOとMgOはそれぞれ0.2重量
%以上、特に0.5重量%以上にするのが好ましい。前
記アルカリ土類金属酸化物中のCaOは、10重量%未
満、MgOは4重量%以下にするのが好ましい。
aOとMgOとBaOは合計で1重量%以上にするのが
好ましく、さらにCaOとMgOはそれぞれ0.2重量
%以上、特に0.5重量%以上にするのが好ましい。前
記アルカリ土類金属酸化物中のCaOは、10重量%未
満、MgOは4重量%以下にするのが好ましい。
これらの酸化物の量がそれよりも多くなると熱膨張係数
が小さくなりすぎて、前記したように、高強度の磁器が
得られず、また、ガラスの結晶化度の制御が困難になる
。製造の容易性と磁器の強度のバランスの点からは、ア
ルカリ土類金属酸化物中CaOとMgOの合計で10重
量%未満、CaOは5重量%がさらに好ましい。
が小さくなりすぎて、前記したように、高強度の磁器が
得られず、また、ガラスの結晶化度の制御が困難になる
。製造の容易性と磁器の強度のバランスの点からは、ア
ルカリ土類金属酸化物中CaOとMgOの合計で10重
量%未満、CaOは5重量%がさらに好ましい。
また、この中のBaOは5重量%以下にするのが好まし
く、5重量%よりも多くすると誘電率が高くなりすぎて
好ましくない。
く、5重量%よりも多くすると誘電率が高くなりすぎて
好ましくない。
本発明の配線基板を製造するには、例えば前記のアルミ
ナ成分及びガラス成分の原料をそれぞれ平均粒径lOp
m以下、好ましくは1〜4μmの粉末として混合し、こ
れに水若しくは溶剤及び必要に応じ適当なバインダーを
加えてペーストを調製する。次にこのペーストをドクタ
ーブレード、押出機などを用いて厚さ帆1−1.0mm
程度のシート状に成形し、800〜1000°Cで焼結
する。また、各成分の粉末状混合物をそのまま乾式プレ
スしてシート状に成形し焼結してもよい。この際、導体
、抵抗体、オーバーコート、サーミスターなどを施し、
同時焼成することもできる。
ナ成分及びガラス成分の原料をそれぞれ平均粒径lOp
m以下、好ましくは1〜4μmの粉末として混合し、こ
れに水若しくは溶剤及び必要に応じ適当なバインダーを
加えてペーストを調製する。次にこのペーストをドクタ
ーブレード、押出機などを用いて厚さ帆1−1.0mm
程度のシート状に成形し、800〜1000°Cで焼結
する。また、各成分の粉末状混合物をそのまま乾式プレ
スしてシート状に成形し焼結してもよい。この際、導体
、抵抗体、オーバーコート、サーミスターなどを施し、
同時焼成することもできる。
このような焼成操作中において、一部アルミナを核形成
材として結晶化し、長石が形成されると考えられる。こ
の際の結晶化は容易にコントロールできる。他のガラス
、特にMgO系のものでは結晶化のコントロールが困難
である。前記の形成された長石と残ガラスとアルミナの
バランスが良好であると、これらの間の接合が極めて良
好になり、強度が向上するとともに配線された基板とし
て用いた時に導体のマイグレーション性が抑制されるも
のと考えられる。
材として結晶化し、長石が形成されると考えられる。こ
の際の結晶化は容易にコントロールできる。他のガラス
、特にMgO系のものでは結晶化のコントロールが困難
である。前記の形成された長石と残ガラスとアルミナの
バランスが良好であると、これらの間の接合が極めて良
好になり、強度が向上するとともに配線された基板とし
て用いた時に導体のマイグレーション性が抑制されるも
のと考えられる。
また、結晶化が進みすぎるとち密化する前に結晶化して
しまってち密にならないため強度が不十分となるし、ま
たガラス分が多く残りすぎると強度が弱くなるものと考
えられる。
しまってち密にならないため強度が不十分となるし、ま
たガラス分が多く残りすぎると強度が弱くなるものと考
えられる。
また、添付図面はガラス成分とアルミナ成分とを含む絶
縁性磁器から成る配線基板の誘電率を、ガラス成分中に
含まれるSrOとBaOとCaOの三成分に基づく三元
図で示したものである。これからみて、SrOの割合が
多くなるほど誘電率が低下することが明らかであり、本
発明の配線基板が誘電率においても優れていることが分
る。
縁性磁器から成る配線基板の誘電率を、ガラス成分中に
含まれるSrOとBaOとCaOの三成分に基づく三元
図で示したものである。これからみて、SrOの割合が
多くなるほど誘電率が低下することが明らかであり、本
発明の配線基板が誘電率においても優れていることが分
る。
発明の効果
本発明に従えば、1000°C以下という低い焼結温度
を用いて、結晶化を容易にコントロールでき、耐マイグ
レーション性に優れ、CaO系やBaO系のものに比し
低誘電率であり、しかも2400kgf/cm2という
アルミナ基板に匹敵する抗折強度等の高強度を有する絶
縁性配線基板が得られるので、導体、碍子などの絶縁材
、チップ低抗体などの抵抗体、オーバーコート、サーミ
スターなどの厚膜ペーストと′の同時焼成による各種電
子装置の製造に好適に利用することができ、これらの工
業的な生産に大きなメリットをもたらすことができる。
を用いて、結晶化を容易にコントロールでき、耐マイグ
レーション性に優れ、CaO系やBaO系のものに比し
低誘電率であり、しかも2400kgf/cm2という
アルミナ基板に匹敵する抗折強度等の高強度を有する絶
縁性配線基板が得られるので、導体、碍子などの絶縁材
、チップ低抗体などの抵抗体、オーバーコート、サーミ
スターなどの厚膜ペーストと′の同時焼成による各種電
子装置の製造に好適に利用することができ、これらの工
業的な生産に大きなメリットをもたらすことができる。
実施例
次に実施例により本発明をさらに詳細に説明する。
参考例1
酸化物換算で、第1表に示すガラス組成になるように、
SiO□、B2O3、AQ203及びアルカリ土類金属
炭酸塩を秤量し、これらをボールミルで混合し、乾燥す
る。次いでこの混合物を1400℃以上の温度に加熱し
て融解後冷却してガラス試料を調製し、その熱膨張係数
を測定した。その結果を第1表に示す。
SiO□、B2O3、AQ203及びアルカリ土類金属
炭酸塩を秤量し、これらをボールミルで混合し、乾燥す
る。次いでこの混合物を1400℃以上の温度に加熱し
て融解後冷却してガラス試料を調製し、その熱膨張係数
を測定した。その結果を第1表に示す。
本発明のガラス成分としては、熱膨張係数が6.OX
to−’〜7.2X to−’の範囲が適当であるので
、No、7は不適当である。
to−’〜7.2X to−’の範囲が適当であるので
、No、7は不適当である。
参考例2
Si0252.5重量%及びB2O31−5重量%のほ
か、第2表に示す成分になるような割合で原料を混合し
、参考例1と同様にしてガラス成分を調製した。
か、第2表に示す成分になるような割合で原料を混合し
、参考例1と同様にしてガラス成分を調製した。
このガラス成分の熱膨張係数を第2表に示す。
No、11はアルカリ土類金属酸化物の合計量に対する
SrOの割合が60重量%未満であるため熱膨張係数が
小さくなりすぎ、またNo、12はAQ20.の含有量
が6.0重量%未満であるためガラス成分の強度が低く
、いずれも不適当である。
SrOの割合が60重量%未満であるため熱膨張係数が
小さくなりすぎ、またNo、12はAQ20.の含有量
が6.0重量%未満であるためガラス成分の強度が低く
、いずれも不適当である。
参考例3
参考例1と同様にして、第3表に示す組成のガラス成分
を調製した。このガラス成分の熱膨張係数を第3表に示
す。
を調製した。このガラス成分の熱膨張係数を第3表に示
す。
No、16はAO,20,の含有量が17.5重量%を
超えているため、ガラス化することができなかった。
超えているため、ガラス化することができなかった。
No、17はSiO□の含有量が46重量%未満のため
、ガラス化することができなかった。
、ガラス化することができなかった。
No、18はB、O,の含有量か5重量%を超えている
ため、吸湿性が高く、かつ強度が不足し絶縁性配線基板
としては不適当であった。
ため、吸湿性が高く、かつ強度が不足し絶縁性配線基板
としては不適当であった。
実施例1〜7、比較例1〜6
各参考例で得たガラス試料を粗粉砕後、ボールミルで2
4時間微粉砕し、平均粒径2μmのガラス粉末を調製し
た。次にこのガラス粉末とアルミナ粉末(平均粒径1.
5μm)とを、第4表に示す割合で混合し、水を加えて
ペースト化し、ドクターブレードで厚さ帆5mmに展延
し、シート状に成形後、第4表に示す温度で帆5時間焼
成し、配線基板を作成し l二。
4時間微粉砕し、平均粒径2μmのガラス粉末を調製し
た。次にこのガラス粉末とアルミナ粉末(平均粒径1.
5μm)とを、第4表に示す割合で混合し、水を加えて
ペースト化し、ドクターブレードで厚さ帆5mmに展延
し、シート状に成形後、第4表に示す温度で帆5時間焼
成し、配線基板を作成し l二。
得られた配線基板の相対焼成密度及び抗折強度を第4表
に示す。
に示す。
比較例1はアルミナ成分の含有量が少ないため強度が低
く、比較例2は逆にアルミナ成分の含有量が多いため焼
成温度が高い。
く、比較例2は逆にアルミナ成分の含有量が多いため焼
成温度が高い。
また、比較例3はアルカリ土類金属酸化物含有量の低い
ガラス成分を用いているため強度が低くなっている。
ガラス成分を用いているため強度が低くなっている。
比較例4は、AQ20.含有量の多いガラス成分を用い
ているためガラス化が不十分で焼成温度を低下させるこ
とができなかった。
ているためガラス化が不十分で焼成温度を低下させるこ
とができなかった。
比較例5は、B20.の含有量が多いガラス成分を用い
ているため強度か不足する上に、熱水に溶解するという
欠点を示す。
ているため強度か不足する上に、熱水に溶解するという
欠点を示す。
比較例6は、SrOの占有率の低いガラス成分を用いて
いるため、強度が低い。
いるため、強度が低い。
また、比較例2及び4における焼成温度を、他の例の、
あるいはそれに近い、950°Cに低下させるとそれぞ
れ相対焼成密度が81%及び85%、抗折強度が150
0′に9f 、7cm2及び1700kgf/ cm2
といずれも大幅に低下する。
あるいはそれに近い、950°Cに低下させるとそれぞ
れ相対焼成密度が81%及び85%、抗折強度が150
0′に9f 、7cm2及び1700kgf/ cm2
といずれも大幅に低下する。
実施例8、比較例7
Si0253wt%、AQ203 11wt%、B2O
34wt%、Mg02wt%、Ca02wt%、SrO
27wt%及びBaOl wt%から成るガラス成分6
0重量%とアルミナ成分40重量%とを実施例1〜7と
同様に処理して成形後、得られた成形体を、Ag95重
量部とPd5重量部とガラス20重量部から成る少なく
とも2個の導体とともに成形体−導体一成形体一導体一
成形体・・・の順序に積層して900°Cで15分焼成
し、各導体の間隔が30μmの配線基板を作成した。こ
のものはガラス残存量が原料ガラス成分に対し20%で
あり、300°Cで300■の電圧を印加して加速信頼
性試験を行ったところ、平均寿命は1400時間と極め
て優れた耐マイグレーション性を示した。
34wt%、Mg02wt%、Ca02wt%、SrO
27wt%及びBaOl wt%から成るガラス成分6
0重量%とアルミナ成分40重量%とを実施例1〜7と
同様に処理して成形後、得られた成形体を、Ag95重
量部とPd5重量部とガラス20重量部から成る少なく
とも2個の導体とともに成形体−導体一成形体一導体一
成形体・・・の順序に積層して900°Cで15分焼成
し、各導体の間隔が30μmの配線基板を作成した。こ
のものはガラス残存量が原料ガラス成分に対し20%で
あり、300°Cで300■の電圧を印加して加速信頼
性試験を行ったところ、平均寿命は1400時間と極め
て優れた耐マイグレーション性を示した。
次に比較のため、ガラス成分としてSin253wt%
、AIAl22(hl1%、Bz(h 4 wt%、M
g02wt%、CaO27,5wt%、SrOo、sw
t%及びBa02wL%から成るものを用いt:以外は
、実施例8と同様にして作成したガラス残存量50%の
配線基板に実施例8と同様の試験を行った結果、平均寿
命は53時間にすぎなかった。
、AIAl22(hl1%、Bz(h 4 wt%、M
g02wt%、CaO27,5wt%、SrOo、sw
t%及びBa02wL%から成るものを用いt:以外は
、実施例8と同様にして作成したガラス残存量50%の
配線基板に実施例8と同様の試験を行った結果、平均寿
命は53時間にすぎなかった。
添付図面はガラス成分とアルミナ成分とを含む絶縁性磁
器から成る配線基板の誘電率を、ガラス成分中に含まれ
るSrOとBaOとCaOの三成分に基づく三元図で示
したものである。
器から成る配線基板の誘電率を、ガラス成分中に含まれ
るSrOとBaOとCaOの三成分に基づく三元図で示
したものである。
Claims (1)
- 1 アルミナ成分30〜50重量%及びガラス成分70
〜50重量%とを含み、かつ該ガラス成分がSiO_2
46〜60重量%、B_2O_30.5〜5重量%、A
l_2O_36〜17.5重量%及びアルカリ土類金属
酸化物25〜45重量%の組成を有し、該アルカリ土類
金属酸化物中の少なくとも60重量%がSrOである絶
縁性磁器から成る配線基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63210667A JP2641521B2 (ja) | 1987-08-31 | 1988-08-26 | 配線基板 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21524287 | 1987-08-31 | ||
JP62-215242 | 1987-08-31 | ||
JP63210667A JP2641521B2 (ja) | 1987-08-31 | 1988-08-26 | 配線基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01132194A true JPH01132194A (ja) | 1989-05-24 |
JP2641521B2 JP2641521B2 (ja) | 1997-08-13 |
Family
ID=26518197
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63210667A Expired - Lifetime JP2641521B2 (ja) | 1987-08-31 | 1988-08-26 | 配線基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2641521B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5260237A (en) * | 1991-03-11 | 1993-11-09 | Tdk Corporation | Overcoating inorganic composition |
JP2001010868A (ja) * | 1999-06-22 | 2001-01-16 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック基板用組成物およびセラミック回路部品 |
JP2013058538A (ja) * | 2011-09-07 | 2013-03-28 | Tdk Corp | 積層型コイル部品 |
US10043608B2 (en) | 2011-09-07 | 2018-08-07 | Tdk Corporation | Laminated coil component |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5574343B2 (ja) | 2009-03-03 | 2014-08-20 | Tdk株式会社 | 誘電体磁器組成物、誘電体、セラミックス基板及び電子部品、並びに誘電体の製造方法 |
-
1988
- 1988-08-26 JP JP63210667A patent/JP2641521B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5260237A (en) * | 1991-03-11 | 1993-11-09 | Tdk Corporation | Overcoating inorganic composition |
JP2001010868A (ja) * | 1999-06-22 | 2001-01-16 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック基板用組成物およびセラミック回路部品 |
JP2013058538A (ja) * | 2011-09-07 | 2013-03-28 | Tdk Corp | 積層型コイル部品 |
US10043608B2 (en) | 2011-09-07 | 2018-08-07 | Tdk Corporation | Laminated coil component |
US10600540B2 (en) | 2011-09-07 | 2020-03-24 | Tdk Corporation | Laminated coil component |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2641521B2 (ja) | 1997-08-13 |
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