JP7407131B2 - パルス光源を備えた高度な分析機器に関するデータ取得制御 - Google Patents
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Description
両方とも参照により本明細書に組み込まれる米国特許出願公開第2015/0141267号明細書および米国特許第9,617,594号明細書に記載されているような高度な分析システムでは、試料が大規模並列処理で分析されるサンプルウェルを有する多数のピクセルが存在し得る。いくつかの実施形態では、サンプルウェルは、機器に搭載する光電子チップに統合することができる。例えば、そのようなチップ上のサンプルウェルの数は、約10,000から約100,0000,000の間であり得る。いくつかの実施形態では、チップは使い捨てであり、ユーザによって高度な分析機器のレセプタクルに交換可能に取り付けられ、機器内の光学および電子部品とインタフェースすることができる。実施形態では、機器は携帯可能であり得、チップは使い捨て可能であり、新たなサンプル分析ごとにユーザによって容易に交換することができる。
説明のために、コンパクトなパルス光源(この例ではモードロックレーザモジュール)を使用して、光電子チップ上の複数の反応チャンバ内の蛍光色素分子を励起する生物分析の応用が記載される。蛍光色素分子からの発光を使用して、各反応チャンバ内の試料の特性(例えば、構造情報)が決定され得る。いくつかの事例において、蛍光色素分子からの発光を使用して、DNAまたはタンパク質の配列情報が決定され得る。光源および光電子チップは、携帯型の高度な分析機器の一部とすることができる。実施形態では、「光学的」という用語は、紫外線帯域、可視帯域、近赤外線帯域、および短波長の赤外線スペクトル帯域を参照し得る。光電子チップは、分析対象のサンプルを担持することができ、使い捨てであり、かつ機器に簡単に取り付けることができる。機器のレセプタクルに取り付けられた場合、チップは分析機器内の光学および電子デバイスと光学的および電子的に通信することができる。機器は、チップからのデータを外部ネットワークに通信することができるように、外部インタフェース用のハードウェアを含むことができる。様々なサンプルに対して様々なタイプの分析を実行することができるが、以下の説明では遺伝子シーケンシングについて記載する。しかしながら、本発明は、遺伝子シークエンシングのために構成された機器に限定されない。
(1)サンプルの分析のために一連の光パルスを出力するように構成されたパルス光源と、一連の光パルスから導出された第1のクロック信号および一連の光パルスから導出されていない第2のクロック信号を生成し、サンプルの分析のためのデータ取得を有効にするために第1のクロック信号および第2のクロック信号を提供するように構成されたクロック生成回路とを備える分析機器。
(8)構成(1)から(7)のいずれか1つの分析機器は、クロック生成回路内の発振器をさらに備え、分析機器は、一連の光パルスの中断が発生したときに、データ取得のタイミングをとるために、第1のクロック信号を使用することから発振器から導出された第3のクロック信号を使用することに切り替えるように構成される。
(11)構成(1)から(10)のいずれか1つの分析機器は、分析機器上に配置され、サンプル分析データを受信および処理するように構成されたデータプロセッサをさらに備える。
(13)構成(11)または(12)の分析機器において、データプロセッサは、第1のクロック信号および第2のクロック信号を受信し、受信した第1および第2のクロック信号に基づいて、後続のデータ処理のために少なくともいくつかのデータ取得を受け入れるか、または排除するかを決定するように構成される。
(19)構成(1)から(18)のいずれか1つの分析機器において、光パルスは、DNAをシークエンシングするための1つまたは複数のサンプルウェルにおいて蛍光色素分子を励起するために光電子チップに提供される。
(21)分析機器を動作させる方法であって、方法は、一連の光パルスを検出して、一連の光パルスから導出された第1のクロック信号を生成するステップと、サンプルの分析のための光パルスを提供するステップと、発振器から一連の光パルスに同期していない第2のクロック信号を生成するステップと、サンプルの分析中にデータ取得動作を有効にするために、第1のクロック信号および第2のクロック信号をデータプロセッサに提供するステップとを含む。
(26)(23)から(25)のいずれか1つの方法において、第2の期間の間に発振器から第1のクロック信号を導出するステップは、電子または電気機械式発振器の発振周波数を実質的に一連の光パルスの周波数に変換することを含む。
(28)(21)から(27)のいずれか1つの方法は、分析機器の性能を監視するセンサからのデータをネットワークベースの機器サポートサービスに提供するステップをさらに含む。
(30)(21)から(29)のいずれか1つの方法は、データプロセッサが、チップインタフェースモジュールからデータを受信するステップと、チップインタフェースモジュールは、光電子チップを受け入れるように構成されたレセプタクルを含み、光電子チップは、ユーザによってレセプタクル内に配置することができ、光電子チップは、サンプルの分析のためにサンプルを保持するように構成されており、データプロセッサが、受信した第1および第2のクロック信号に基づいて、後続のデータ処理のために少なくともいくつかのデータを受け入れるか、または排除するかを決定するステップと、をさらに含む。
(32)(29)から(31)のいずれか1つの方法は、第1のクロック信号と第2のクロック信号との間の同期の不一致を検出するステップと、同期の不一致の検出に応答してデータ処理動作のタイミングを調整するステップとをさらに含む。
(34)(21)から(33)のいずれか1つの方法は、パルス繰り返し率を自律的に決定する受動モードロックレーザを用いて一連の光パルスを生成するステップをさらに含む。
(39)(37)または(38)の方法において、前記所定量は、データのフレームに対する全ての第1の電荷蓄積間隔の間に光励起パルスから1個の励起光子を検出する確率が、サンプルから1個の放出光子を検出する確率よりも小さくなるように第1の電荷蓄積間隔を設定する。
(41)(37)から(40)のいずれか1つの方法は、光励起パルスを光電子チップ上の複数のサンプルウェルに送達するステップ、光電子チップ上の複数の光検出器の起動、遅延、記録、特定、および設定の動作を実行するステップと、をさらに含む。
(45)(41)から(44)のいずれか1つの方法は、第1のクロック信号を使用して、サンプルウェルからデータプロセッサへのデータをクロッキング伝送するステップをさらに含む。
このように、高度な分析システム1-100に関するシステムアーキテクチャのいくつかの実施形態のいくつかの態様を説明したが、様々な変更、修正、および改善が当業者に容易に想到されることが理解されるべきである。そのような変更、修正、及び改善はこの開示の一部であるように意図されており、本発明の主旨及び範囲内にあることが意図されている。本教示を様々な実施形態及び例に関連して説明したが、本教示がこのような実施形態又は例に限定されることは意図されていない。逆に、本教示は、当業者に理解されうる様々な代替形態、修正、及び均等物を包含する。
また、説明されている技術は、そのうち少なくとも1つの例が設けられている方法として具現化され得る。方法の一部分として実施される動作は、任意の適切な様式で順序付けられてもよい。従って、動作が示されているものとは異なる順序で実施され、たとえ例示的な実施形態においては順次の動作として示されていたとしても、いくつかの動作を同時に実施することを含んでもよい実施形態が構築されてもよい。
以下に、上記実施形態から把握できる技術思想を付記として記載する。
[付記1]
分析機器であって、
サンプルの分析のための一連の光パルスを出力するように構成されたパルス光源と、
前記一連の光パルスから導出された第1のクロック信号および前記一連の光パルスから導出されていない第2のクロック信号を生成して、サンプルの分析のためのデータ取得を有効にするために前記第1のクロック信号および前記第2のクロック信号を提供するように構成されたクロック生成回路と、を備える分析機器。
[付記2]
前記一連の光パルスを検出して、前記クロック生成回路にクロッキング信号を出力するように構成された検出器を有するクロック検出回路と、
光電子チップを受け入れるように構成されたレセプタクルを有するチップインタフェースモジュールと、をさらに備え、前記光電子チップは、ユーザによって前記レセプタクル内に配置することができ、前記光電子チップは、分析のためにサンプルを保持するように構成され、前記クロック生成回路は、前記分析機器の動作中に前記光電子チップの第1のデータ取得動作のタイミングをとるための前記第1のクロック信号を前記チップインタフェースモジュールに出力する、付記1に記載の分析機器。
[付記3]
電圧制御発振器の周波数および位相を前記クロッキング信号の周波数および位相にロックする、前記クロック生成回路内の位相ロックループをさらに備える、付記2に記載の分析機器。
[付記4]
前記位相ロックループ内のループフィルタの積分時間は、約30個の光パルスと約80個の光パルスとの間に及ぶ時間に対応する、付記3に記載の分析機器。
[付記5]
前記クロック生成回路は、第3のクロック信号を前記チップインタフェースモジュールに出力するようにさらに構成され、前記第3のクロック信号は、前記第1のクロック信号よりも低い周波数で発振し、かつ前記分析機器の動作中の前記光電子チップの第2のデータ取得動作のタイミングをとるために使用される、付記2に記載の分析機器。
[付記6]
前記第1のデータ取得動作は、前記光電子チップ上の複数のサンプルウェルからの蛍光発光の光検出を含み、前記第2のデータ取得動作は、前記光電子チップに送達される励起放射線の光検出を含む、付記5に記載の分析機器。
[付記7]
前記第2のデータ取得動作は、光ビームの前記光電子チップへの整列を示すデータを含む、付記5に記載の分析機器。
[付記8]
前記クロック生成回路内の発振器をさらに備え、前記分析機器は、前記一連の光パルスの中断が発生したときに、データ取得のタイミングとるために、前記第1のクロック信号を使用することから、前記発振器から導出された第3のクロック信号を使用することに切り替えるように構成される、付記1乃至7のいずれか一項に記載の分析機器。
[付記9]
前記分析機器は、前記パルス光源が動作していないときに、前記第2のクロック信号をチップインタフェースモジュールに提供するように構成される、付記8に記載の分析機器。
[付記10]
前記第2のクロック信号は、電子または電気機械式発振器から導出される、付記1乃至7のいずれか一項に記載の分析機器。
[付記11]
前記分析機器上に配置され、サンプル分析データを受信および処理するように構成されたデータプロセッサをさらに備える、付記1乃至7のいずれか一項に記載の分析機器。
[付記12]
前記データプロセッサは、フィールドプログラマブルゲートアレイを含む、付記11に記載の分析機器。
[付記13]
前記データプロセッサは、前記第1のクロック信号および前記第2のクロック信号を受信し、受信した第1のおよび第2のクロック信号に基づいて、後続のデータ処理のために少なくともいくつかのデータ取得を受け入れるか、または排除するかを決定するように構成される、付記11に記載の分析機器。
[付記14]
前記データプロセッサは、前記データプロセッサにおけるデータ処理動作のタイミングをとるために前記第2のクロック信号を使用するように構成される、付記11に記載の分析機器。
[付記15]
前記第1のクロック信号は、前記データプロセッサにも提供され、前記データプロセッサは、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とを比較して前記データプロセッサによる後続のデータ処理のための正確な時間にデータが受信されるかどうかを決定することによってデータ取得を有効にするように構成される、付記14に記載の分析機器。
[付記16]
前記第1のクロック信号は、前記データプロセッサにも提供され、前記データプロセッサは、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間の同期の不一致を検出し、同期の不一致の検出に応答して前記データ処理動作のタイミングを調整するように構成される、付記14に記載の分析機器。
[付記17]
前記第1のクロック信号の周波数よりも低い発振周波数で動作する電子または電気機械式発振器をさらに備え、前記クロック生成回路は、前記電子または電気機械式発振器の発振周波数を実質的に前記第1のクロック信号の周波数に変換する、付記14に記載の分析機器。
[付記18]
前記パルス光源は、前記パルス光源のパルス繰り返し率を自律的に決定する受動モードロックレーザを含む、付記1乃至7のいずれか一項に記載の分析機器。
[付記19]
前記光パルスは、DNAをシークエンシングするための1つまたは複数のサンプルウェルにおいて蛍光色素分子を励起するために光電子チップに提供される、付記1乃至7のいずれか一項に記載の分析機器。
[付記20]
前記光パルスは、タンパク質をシークエンシングするための1つまたは複数のサンプルウェルにおいて蛍光色素分子を励起するために光電子チップに提供される、付記1乃至7のいずれか一項に記載の分析機器。
[付記21]
分析機器を動作させる方法であって、
一連の光パルスを検出して、前記一連の光パルスから導出された第1のクロック信号を生成するステップと、
サンプルの分析のための光パルスを提供するステップと、
発振器から前記一連の光パルスに同期していない第2のクロック信号を生成するステップと、
サンプルの分析中にデータ取得動作を有効にするために、前記第1のクロック信号および前記第2のクロック信号をデータプロセッサに提供するステップと、を含む方法。
[付記22]
検出器を用いて前記一連の光パルスを検出して、クロッキング信号を出力するステップと、
第1の期間の間に前記クロッキング信号から前記第1のクロック信号を導出するステップと、
チップインタフェースモジュールに前記第1のクロック信号を提供するステップと、をさらに含み、前記チップインタフェースモジュールは、光電子チップを受け入れるように構成されたレセプタクルを含み、前記光電子チップはユーザによって前記レセプタクル内に配置することができ、前記光電子チップは、サンプルの分析のためにサンプルを保持するように構成される、付記21に記載の方法。
[付記23]
前記第1のクロック信号を使用した前記分析機器の動作中に、前記光電子チップの第1のデータ取得動作のタイミングをとるステップをさらに含む、付記22に記載の方法。
[付記24]
第2の期間の間に発振器から前記第1のクロック信号を導出するステップと、
前記第1の期間中の前記第1のクロック信号を使用した前記分析機器の動作中に、前記光電子チップの第1のデータ取得動作のタイミングをとるステップと、
前記第2の期間中の前記第1のクロック信号を使用した前記分析機器の動作中に、前記光電子チップの第2のデータ取得動作のタイミングをとるステップと、をさらに含む、付記22に記載の方法。
[付記25]
前記一連の光パルスの中断が発生したときに、前記発振器から前記第1のクロック信号を導出するように切り替えるステップをさらに含む、付記24に記載の方法。
[付記26]
前記第2の期間の間に発振器から前記第1のクロック信号を導出するステップは、電子または電気機械式発振器の発振周波数を実質的に前記一連の光パルスの周波数に変換することを含む、付記24に記載の方法。
[付記27]
前記データ取得動作によるデータをネットワークベースのデータ分析サービスに提供するステップをさらに含む、付記22に記載の方法。
[付記28]
前記分析機器の性能を監視するセンサからのデータをネットワークベースの機器サポートサービスに提供するステップをさらに含む、付記22に記載の方法。
[付記29]
電子的または電気機械式発振器から前記第2のクロック信号を導出するステップをさらに含む、付記21乃至28のいずれか一項に記載の方法。
[付記30]
前記データプロセッサにおいて、チップインタフェースモジュールからデータを受信するステップと、前記チップインタフェースモジュールは、光電子チップを受け入れるように構成されたレセプタクルを含み、前記光電子チップは、ユーザによって前記レセプタクル内に配置することができ、前記光電子チップは、サンプルの分析のためにサンプルを保持するように構成されており、
前記データプロセッサが、受信した第1および第2のクロック信号に基づいて、後続のデータ処理のためにデータの少なくともいくつかのデータを受け入れるか、または排除するかを決定するステップと、をさらに含む、付記21乃至28のいずれか一項に記載の方法。
[付記31]
前記データプロセッサは、フィールドプログラマブルゲートアレイを含む、付記30に記載の方法。
[付記32]
前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間の同期の不一致を検出するステップと、同期の不一致の検出に応答して、データ処理動作のタイミングを調整するステップと、をさらに含む、付記30に記載の方法。
[付記33]
前記第2のクロック信号を用いて前記データプロセッサのデータ処理動作のタイミングをとるステップをさらに含む、付記30に記載の方法。
[付記34]
パルス繰り返し率を自律的に決定する受動モードロックレーザを用いて前記一連の光パルスを生成するステップをさらに含む、付記21乃至28のいずれか一項に記載の方法。
[付記35]
クロック生成回路が、第3のクロック信号をチップインタフェースモジュールに出力するステップと、前記第3のクロック信号は、前記第1のクロック信号よりも低い周波数で発振し、前記チップインタフェースモジュールは、光電子チップを受け入れるように構成されたレセプタクルを含み、前記光電子チップは、ユーザによって前記レセプタクル内に配置することができ、前記光電子チップは、サンプルの分析のためにサンプルを保持するように構成されており、
前記第1のクロック信号を用いて前記光電子チップの第1のデータ取得動作のタイミングをとるステップと、
前記第3のクロック信号を用いて前記光電子チップの第2のデータ取得動作のタイミングをとるステップと、をさらに含む、付記21乃至28のいずれか一項に記載の方法。
[付記36]
前記第1のデータ取得動作は、前記光電子チップ上の複数のサンプルウェルからの蛍光発光の光検出を含み、前記第2のデータ取得動作は、前記光電子チップに送達される励起放射線の光検出を含む、付記35に記載の方法。
[付記37]
光検出器における電荷蓄積間隔のタイミングをとるための方法であって、
サンプルを励起するための光励起パルスを提供するステップと、
光励起パルスに同期する第1のクロック信号を生成するステップと、
前記第1のクロック信号を用いて前記光検出器に対する第1の電荷蓄積間隔の開始時間を始動するステップと、
前記光検出器からの出力を検出している間、前記第1のクロック信号を遅延させるステップと、
前記第1のクロック信号の遅延に応じて第1の電荷蓄積間隔からの信号レベルを記録するステップと、
記録された信号レベルの基準点を特定するステップと、
前記開始時間が前記基準点から所定量だけ遅延するように、前記第1のクロック信号の遅延を設定するステップと、を含む方法。
[付記38]
前記光検出器は、前記第1の電荷蓄積間隔に続く、前記第1の電荷蓄積間隔よりも長い第2の電荷蓄積間隔を有する、付記37に記載の方法。
[付記39]
前記所定量は、データのフレームに対する全ての第1の電荷蓄積間隔の間に光励起パルスから1個の励起光子を検出する確率が、サンプルから1個の発光光子を検出する確率よりも小さくなるように前記第1の電荷蓄積間隔を設定する、付記37または38に記載の方法。
[付記40]
前記所定量は、記録された信号レベルのほぼ最小値において前記第1の電荷蓄積間隔の開始時間を設定する、付記37または38に記載の方法。
[付記41]
光励起パルスを光電子チップ上の複数のサンプルウェルに送達するステップと、
前記光電子チップ上の複数の光検出器に対する始動、遅延、記録、特定、および設定の動作を実行するステップと、をさらに含む、付記37または38に記載の方法。
[付記42]
前記サンプルウェルで検出された光励起パルスからの信号の量に基づいて、前記サンプルウェルが動作可能であるかどうかを決定するステップをさらに含む、付記41に記載の方法。
[付記43]
前記第1のクロック信号とは異なる周波数を有する第2のクロック信号を生成するステップと、
前記第2のクロック信号を前記光電子チップに提供するステップと、を含み、前記第2のクロック信号は、光励起パルスの前記光電子チップへの整列を感知する1つまたは複数の整列光検出器に対する電荷蓄積間隔の開始時間を制御する、付記41に記載の方法。
[付記44]
前記第1のクロック信号は、一連の光励起パルスを検出するクロック検出回路から導出される、付記41に記載の方法。
[付記45]
前記第1のクロック信号を使用して、前記サンプルウェルからデータプロセッサにデータをクロッキング伝送するステップをさらに含む、付記41に記載の方法。
Claims (23)
- 分析機器であって、
サンプルの分析のための一連の光パルスを出力するように構成されたパルス光源と、
前記一連の光パルスから導出された第1のクロック信号および前記一連の光パルスから導出されていない第2のクロック信号を生成して、サンプルの分析のためのデータ取得を有効にするために前記第1のクロック信号および前記第2のクロック信号を提供するように構成されたクロック生成回路と、
前記クロック生成回路内の発振器と、を備え、前記分析機器は、前記一連の光パルスの中断が発生したときに、データ取得のタイミングとるために、前記第1のクロック信号を使用することから、前記発振器から導出された第3のクロック信号を使用することに切り替えるように構成される、分析機器。 - 前記一連の光パルスを検出して、前記クロック生成回路にクロッキング信号を出力するように構成された検出器を有するクロック検出回路と、
光電子チップを受け入れるように構成されたレセプタクルを有するチップインタフェースモジュールと、をさらに備え、前記光電子チップは、ユーザによって前記レセプタクル内に配置することができ、前記光電子チップは、分析のためにサンプルを保持するように構成され、前記クロック生成回路は、前記分析機器の動作中に前記光電子チップの第1のデータ取得動作のタイミングをとるための前記第1のクロック信号を前記チップインタフェースモジュールに出力する、請求項1に記載の分析機器。 - 電圧制御発振器の周波数および位相を前記クロッキング信号の周波数および位相にロックする、前記クロック生成回路内の位相ロックループをさらに備える、請求項2に記載の分析機器。
- 前記位相ロックループ内のループフィルタの積分時間は、約30個の光パルスと約80個の光パルスとの間に及ぶ時間に対応する、請求項3に記載の分析機器。
- 前記クロック生成回路は、第4のクロック信号を前記チップインタフェースモジュールに出力するようにさらに構成され、前記第4のクロック信号は、前記第1のクロック信号よりも低い周波数で発振し、かつ前記分析機器の動作中の前記光電子チップの第2のデータ取得動作のタイミングをとるために使用される、請求項2に記載の分析機器。
- 前記第1のデータ取得動作は、前記光電子チップ上の複数のサンプルウェルからの蛍光発光の光検出を含み、前記第2のデータ取得動作は、前記光電子チップに送達される励起放射線の光検出を含むこと、または、
前記第2のデータ取得動作は、光ビームの前記光電子チップへの整列を示すデータを含むこと、を特徴とする請求項5に記載の分析機器。 - 前記分析機器は、前記パルス光源が動作していないときに、前記第2のクロック信号をチップインタフェースモジュールに提供するように構成される、請求項1に記載の分析機器。
- 前記第2のクロック信号は、電子または電気機械式発振器から導出される、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の分析機器。
- 前記分析機器上に配置され、サンプル分析データを受信および処理するように構成されたデータプロセッサをさらに備える、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の分析機器。
- 前記データプロセッサは、
i)フィールドプログラマブルゲートアレイを含み、
ii)前記第1のクロック信号および前記第2のクロック信号を受信し、受信した第1のおよび第2のクロック信号に基づいて、後続のデータ処理のために少なくともいくつかのデータ取得を受け入れるか、または排除するかを決定するように構成されるか、または
iii)前記データプロセッサにおけるデータ処理動作のタイミングをとるために前記第2のクロック信号を使用するように構成される、請求項9に記載の分析機器。 - iii)に関して、前記第1のクロック信号は、前記データプロセッサにも提供され、前記データプロセッサは、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とを比較して前記データプロセッサによる後続のデータ処理のための正確な時間にデータが受信されるかどうかを決定することによってデータ取得を有効にするように構成されるか、または
前記第1のクロック信号は、前記データプロセッサにも提供され、前記データプロセッサは、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間の同期の不一致を検出し、同期の不一致の検出に応答して前記データ処理動作のタイミングを調整するように構成されること、または
前記分析機器は、前記第1のクロック信号の周波数よりも低い発振周波数で動作する電子または電気機械式発振器をさらに備え、前記クロック生成回路は、前記電子または電気機械式発振器の発振周波数を実質的に前記第1のクロック信号の周波数に変換すること、を特徴とする請求項10に記載の分析機器。 - 前記パルス光源は、前記パルス光源のパルス繰り返し率を自律的に決定する受動モードロックレーザを含む、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の分析機器。
- 前記光パルスは、DNAをシークエンシングするか、またはタンパク質をシークエンシングするための1つまたは複数のサンプルウェルにおいて蛍光色素分子を励起するために光電子チップに提供される、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の分析機器。
- 分析機器を動作させる方法であって、
一連の光パルスを検出して、前記一連の光パルスから導出された第1のクロック信号を生成するステップと、
サンプルの分析のための光パルスを提供するステップと、
発振器から前記一連の光パルスに同期していない第2のクロック信号を生成するステップと、
サンプルの分析中にデータ取得動作を有効にするために、前記第1のクロック信号および前記第2のクロック信号をデータプロセッサに提供するステップと、
前記一連の光パルスの中断が発生したときに、データ取得のタイミングとるために、前記第1のクロック信号を使用することから、前記発振器から導出された第3のクロック信号を使用することに切り替えるステップと、を含む方法。 - 検出器を用いて前記一連の光パルスを検出して、クロッキング信号を出力するステップと、
第1の期間の間に前記クロッキング信号から前記第1のクロック信号を導出するステップと、
チップインタフェースモジュールに前記第1のクロック信号を提供するステップと、をさらに含み、前記チップインタフェースモジュールは、光電子チップを受け入れるように構成されたレセプタクルを含み、前記光電子チップはユーザによって前記レセプタクル内に配置することができ、前記光電子チップは、サンプルの分析のためにサンプルを保持するように構成される、請求項14に記載の方法。 - i)前記第1のクロック信号を使用した前記分析機器の動作中に、前記光電子チップの第1のデータ取得動作のタイミングをとるステップをさらに含むこと、または
ii)方法は、
第2の期間の間に発振器から前記第1のクロック信号を導出するステップと、
前記第1の期間中の前記第1のクロック信号を使用した前記分析機器の動作中に、前記光電子チップの第1のデータ取得動作のタイミングをとるステップと、
前記第2の期間中の前記第1のクロック信号を使用した前記分析機器の動作中に、前記光電子チップの第2のデータ取得動作のタイミングをとるステップと、をさらに含むこと、を特徴とする請求項15に記載の方法。 - ii)に関して、前記一連の光パルスの中断が発生したときに、前記発振器から前記第1のクロック信号を導出するように切り替えるステップをさらに含むか、または
前記第2の期間の間に発振器から前記第1のクロック信号を導出するステップは、電子または電気機械式発振器の発振周波数を実質的に前記一連の光パルスの周波数に変換することを含むこと、または
iii)方法は、前記データ取得動作によるデータをネットワークベースのデータ分析サービスに提供するステップをさらに含むこと、または
iv)方法は、前記分析機器の性能を監視するセンサからのデータをネットワークベースの機器サポートサービスに提供するステップをさらに含むこと、を特徴とする請求項16に記載の方法。 - 電子的または電気機械式発振器から前記第2のクロック信号を導出するステップをさらに含む、請求項14乃至17のいずれか一項に記載の方法。
- 前記データプロセッサにおいて、チップインタフェースモジュールからデータを受信するステップと、前記チップインタフェースモジュールは、光電子チップを受け入れるように構成されたレセプタクルを含み、前記光電子チップは、ユーザによって前記レセプタクル内に配置することができ、前記光電子チップは、サンプルの分析のためにサンプルを保持するように構成されており、
前記データプロセッサが、受信した第1および第2のクロック信号に基づいて、後続のデータ処理のためにデータの少なくともいくつかのデータを受け入れるか、または排除するかを決定するステップと、をさらに含む、請求項14乃至17のいずれか一項に記載の方法。 - 前記データプロセッサは、フィールドプログラマブルゲートアレイを含むこと、または
方法は、
前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間の同期の不一致を検出するステップと、
同期の不一致の検出に応答して、データ処理動作のタイミングを調整するステップと、をさらに含むこと、または
方法は、前記第2のクロック信号を用いて前記データプロセッサのデータ処理動作のタイミングをとるステップをさらに含むこと、を特徴とする請求項19に記載の方法。 - パルス繰り返し率を自律的に決定する受動モードロックレーザを用いて前記一連の光パルスを生成するステップをさらに含む、請求項14乃至17のいずれか一項に記載の方法。
- クロック生成回路が、第4のクロック信号をチップインタフェースモジュールに出力するステップと、前記第4のクロック信号は、前記第1のクロック信号よりも低い周波数で発振し、前記チップインタフェースモジュールは、光電子チップを受け入れるように構成されたレセプタクルを含み、前記光電子チップは、ユーザによって前記レセプタクル内に配置することができ、前記光電子チップは、サンプルの分析のためにサンプルを保持するように構成されており、
前記第1のクロック信号を用いて前記光電子チップの第1のデータ取得動作のタイミングをとるステップと、
前記第4のクロック信号を用いて前記光電子チップの第2のデータ取得動作のタイミングをとるステップと、をさらに含む、請求項14乃至17のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第1のデータ取得動作は、前記光電子チップ上の複数のサンプルウェルからの蛍光発光の光検出を含み、前記第2のデータ取得動作は、前記光電子チップに送達される励起放射線の光検出を含む、請求項22に記載の方法。
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