JP2023511550A - 集積システムにおける励起光生成用パルスレーザー光源 - Google Patents
集積システムにおける励起光生成用パルスレーザー光源 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2023511550A JP2023511550A JP2022543050A JP2022543050A JP2023511550A JP 2023511550 A JP2023511550 A JP 2023511550A JP 2022543050 A JP2022543050 A JP 2022543050A JP 2022543050 A JP2022543050 A JP 2022543050A JP 2023511550 A JP2023511550 A JP 2023511550A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser diodes
- signals
- optical
- pulsed
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6452—Individual samples arranged in a regular 2D-array, e.g. multiwell plates
- G01N21/6454—Individual samples arranged in a regular 2D-array, e.g. multiwell plates using an integrated detector array
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
- H01S5/0428—Electrical excitation ; Circuits therefor for applying pulses to the laser
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6408—Fluorescence; Phosphorescence with measurement of decay time, time resolved fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/648—Specially adapted constructive features of fluorimeters using evanescent coupling or surface plasmon coupling for the excitation of fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6486—Measuring fluorescence of biological material, e.g. DNA, RNA, cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/026—Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors, drivers
- H01S5/0268—Integrated waveguide grating router, e.g. emission of a multi-wavelength laser array is combined by a "dragon router"
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
- H01S5/0427—Electrical excitation ; Circuits therefor for applying modulation to the laser
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N2021/6463—Optics
- G01N2021/6471—Special filters, filter wheel
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N2021/6484—Optical fibres
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Lasers (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
- Optical Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
本明細書に開示されるのは、集積生物分析システム(101)における励起光(104)を生成するためのパルスレーザー光源(106)の態様である。光源(106)は1つ以上のレーザーダイオード(102)を備え、そのレーザーダイオードは、1つ以上のチップ(101)上の反応チャンバー(108)内の試料を励起するための、共通のクロック源(130)と同期するパルス光信号(104)を生成する。光源(106)は、コスト、サイズ及び要求電力の低減された大きなセンサアレイを有するシステムに励起を提供するように用いられ得る。
Description
本出願は一般に、パルスレーザー光源、特に生物分析用途に使用され得るパルスレーザー光源に関する。
光パルスはさまざまな分野の研究開発及び商業的用途に有用である。例えば、光パルスは時間領域分光法、光学的測距、時間領域イメージング(TDI)、光コヒーレンストモグラフィ(OCT)、蛍光寿命イメージング(FLI)、及び遺伝子配列決定のための寿命分解蛍光検出に有用であり得る。
光パルスの1つの用途として、生物的または化学的試料の分析がある。そうした用途は特定の波長の光を放出する発光マーカーで試料をタグ付けすることと、タグ付けされた試料を光源で照射することと、光検出器で発光を検出することとを含み得る。そうした技術は、タグ付けされた試料を照射するレーザー光源及びシステム、並びにタグ付けされた試料からの発光を収集する複雑な検出光学系及びエレクトロニクスを含み得る。
いくつかの実施形態では、システムが開示される。該システムは複数のサンプルウェルを備える集積フォトニックデバイスと、1つ以上のレーザーダイオードを備え、前記複数のサンプルウェル内の複数の試料を励起するための1つ以上のパルス光信号を生成するように構成された光源と、前記光源に結合されており、クロック信号を受信するとともに前記クロック信号に基づいて前記1つ以上のパルス光信号のタイミングを制御するように構成されたドライバー回路と、を備える。
いくつかの実施形態では、システムが開示される。該システムは複数のサンプルウェルと1つ以上の導波路とを備えるチップと、前記1つ以上の導波路のうちの対応する導波路を介して前記1つ以上のチップの前記複数のサンプルウェル内の試料を励起するための1つ以上のパルス光信号を生成するように構成された1つ以上のレーザーダイオードと、クロック信号を受信するとともに、前記クロック信号に基づいて、生成した前記1つ以上のパルス光信号のタイミングを同期するように構成されたドライバー回路と、を備える。
いくつかの実施形態では、システムを動作させる方法が開示される。該システムはチップと、1つ以上のレーザーダイオードと、ドライバー回路とを備える。前記チップは複数のサンプルウェルを有する。前記方法は、前記ドライバー回路にてクロック信号を受信する工程と、受信した前記クロック信号に基づいて、前記ドライバー回路により1つ以上のドライブ信号を生成する工程と、前記1つ以上のドライブ信号に基づいて、前記1つ以上のレーザーダイオードにより1つ以上のパルス光信号を生成するパルス光信号生成工程と、前記1つ以上のパルス光信号により前記複数のサンプルウェル内の複数の試料を励起する工程と、を備える。
次の図を参照しながら、本出願の様々な態様及び実施形態を説明する。図は必ずしも一定の縮尺である必要がないことが理解される。複数の図に現れる項目は前記項目が現れる全ての図において同じ参照番号によって示される。
いくつかの生物分析システムは、発光アッセイを実施するための集積デバイス及び集積デバイスで分析される試料の励起を提供するための光源を備える。本出願の態様は発光アッセイの励起のための生物分析用途において使用するためのレーザーダイオードを備えるパルスレーザー源に関するものである。
本出願のいくつかの態様は単一分子の同定及び核酸の配列決定を含む、並列に試料を分析することが可能な集積デバイス、装置及び関連システムに関する。そうした装置はコンパクトであり、持ち運びが容易であり、さらに操作が容易であり、医師または他の提供者が装置を容易に使用すること及びケアが必要とされ得る所望の位置へ装置を移動すること可能にする。試料の分析は1つ以上の蛍光マーカーで標識された試料を含んでよく、その蛍光マーカーは試料の検出及び/または試料の単一分子の同定(例えば、核酸の配列決定の一部としての個々のヌクレオチドの同定)に使用されてよい。蛍光マーカーは、励起光(例えば、蛍光マーカーを励起状態へ励起し得る特定の波長を有する光)による蛍光マーカーの照射に応じて、励起され得る。そして、蛍光マーカーは、蛍光マーカーが励起されると、射出光(例えば、励起状態から基底状態へ戻ることにより蛍光マーカーが放出する特定の波長を有する光)を放出する。射出光の検出によって蛍光マーカーの同定が可能となり、したがって、試料(すなわち、蛍光マーカーで標識された試料の分子)の同定が可能となる。いくつかの実施形態によれば、装置は大規模並列試料分析が可能であり得、同時に数万個の試料を扱うように構成され得る。
発明者らは試料を受け取るように構成されているサンプルウェルと集積デバイス上に形成された集積光学系とを有する集積デバイス及び集積デバイスとインターフェース接続するように構成されている装置が係る個数の試料の分析を達成するように使用されていることを認識し、理解するに至った。装置は1つ以上の励起光源を備えてよく、励起光が集積デバイスの一部として形成される集積光学構成要素(例えば、導波路、光カプラ、光スプリッタ)を用いてサンプルウェル上に送達されるように、集積デバイスは装置とインターフェース接続してよい。光学構成要素は集積デバイスのサンプルウェルの間の照度の均一性が改善でき、本来ならば必要とされるかもしれない多くの外部の光学構成要素を減らしてよい。更に、発明者らは光検出器を集積デバイス上に集積することにより、サンプルウェルからの蛍光発光の検出効率が改善でき、本来ならば必要とされるかもしれない光収集構成要素の数を減らすことを認識し、理解するに至った。
1つの照明解決策はモードロックレーザーモジュール(例えば、2019年5月7日に発行された「コンパクトなモードロックレーザーモジュール」と題する米国特許第10,283,928号に記載されるものなどを含み、その全体を参照によって本明細書に援用する)である。モードロックレーザーは100ps未満の半値全幅(FWHM)の高出力で狭いパルスを提供するが、そうしたレーザーモジュールは高コストで、サイズが大きく、そして消費電力が大きい。本明細書に開示されるのは、コスト、サイズ及び要求電力の低減された、システムに励起を提供することができるレーザーダイオードベースのパルスレーザー源を有する生物分析システムの実施形態である。
一態様では、少ない光パワーを使用する間にセンサアレイを照射するために1つ以上のレーザーダイオードが使われてよい。発明者らはフォトニック構造の光収集効率のみならずセンサ感度における継続した改良で、集積デバイスの大きなセンサアレイを照射するために必要なレーザーパワーの量を大いに減少することができることを認識し、理解している。
別の態様では、レーザーダイオードは例えばアッセイに使用される有機分子の光誘発性損傷の低減及び高い光パワーでの導波路の安定性の改善によるシステムの構成要素の寿命を延ばすように、調節可能なパルス幅及びピーク強度を減少するための能力を提供してよい。発明者らは100ps未満のFWHMの非常に狭いパルスを生成するための光源への要求がピクセル操作及び光学的除去構成に依存して緩和されることができることを認識し、理解している。レーザーダイオードでは、パルス幅の要求を緩和することで大きな量の光パワーの取り出しもまた可能にしてよい。
いくつかの態様は、集積デバイスを備える生物分析システムに関するものである。その集積デバイスは単一または複数のレーザーダイオードを有する光源によって照射される、センサチップであってよい。レーザーダイオードはシステム中のドライバー回路により駆動され、集積デバイス上の反応チャンバー内またはサンプルウェル内の試料の励起のためのパルスレーザー光が生成する。
いくつかの実施形態では、生成されたパルスレーザー光信号のタイミングはクロック源からの単一のクロック信号のタイミングに同期している。複数のレーザーダイオードを有する実施形態では、各レーザーダイオードからの光信号はチップ上の異なる位置に結合されてよく、そしてチップ上の複数の位置での励起がチップ上の検出動作のタイミングと同期され得るように単一のクロック信号に同期させる。いくつかの実施形態では、各レーザーダイオードからのパルス光信号のタイミングは、例えば、単一のクロック信号を所定量だけ独立して遅延させることによって調整可能でよい。個々のレーザーダイオードへのタイミング遅延の独立した調整は、単一のクロックからのスキュー(例えば各レーザーダイオードとチップを結合させる光路内の変動による)の低減または除去に使用されてよい。
いくつかの態様は、単一分子の同定及び核酸の配列決定を含む、生物的または化学的試料を並列に分析可能なコンパクトなシステムに関するものである。システムは集積デバイスと、集積デバイスとインターフェース接続するように構成されている装置とを備えてよい。装置は1つ以上の励起光源を備えてよく、集積デバイスの一部として形成された集積光学構成要素(例えば、導波路、光カプラ、光スプリッタ)を用いて励起光がサンプルウェルに送達されるように、集積デバイスは装置とインターフェース接続してよい。集積デバイスはピクセルアレイを備えてよく、各ピクセルはサンプルウェル及び1つ以上の光検出器を含む。集積デバイスの表面は複数のサンプルウェルを備えてよく、サンプルウェルは集積デバイスの表面上に配置される試料から試料を受け取るように構成される。試料は複数の試料を含んでよく、いくつかの実施形態では、別のタイプの試料を含んでよい。少なくとも一部分のサンプルウェルが試料から1つの試料を受け取るように、複数のサンプルウェルは適切なサイズ及び形状でよい。いくつかの実施形態では、いくつかのサンプルウェルが1つの試料を含み、その他のいくつかのサンプルウェルが0個,2個またはそれ以上の試料を含むように、サンプルウェル内の試料数はサンプルウェル間に分散されてよい。
いくつかの実施形態では、試料は核酸(例えば、DNA,RNA)の配列決定またはタンパク質の配列決定のための生物的及び/または化学的試料であってよい。例えば、試料は複数の一本鎖DNAテンプレートを含んでよく、集積デバイスの表面上の個々のサンプルウェルは配列決定テンプレートを受け取るように寸法及び形状が決定されていてよい。配列決定テンプレートは、集積デバイスの少なくとも一部分のサンプルウェルが配列決定テンプレートを含むように、集積デバイスの複数のサンプルウェル間に分散されてよい。試料は次いでサンプルウェルに入る標識ヌクレオチドを含んでよく、サンプルウェルの中の一本鎖DNAテンプレートに相補的なDNAの鎖に取り込まれる際に、ヌクレオチドの同定を可能にしてよい。そうした一例では、「試料(sample)」は配列決定テンプレート及びポリメラーゼにより現在取り込まれている標識ヌクレオチドの両方を指してよい。いくつかの実施形態では、試料は配列決定テンプレートを含んでよく、標識ヌクレオチドはヌクレオチドがサンプルウェル内の相補鎖に取り込まれる際に続いてサンプルウェルに導入されてよい。このように、ヌクレオチドが取り込まれるタイミングは、いつ標識ヌクレオチドが集積デバイスのサンプルウェルに導入されるかによって制御することができる。
励起光は集積デバイスのピクセルアレイから分離した励起源から提供される。励起光は少なくとも一部が集積デバイスの要素によって1つ以上のピクセルの方へ向けられ、サンプルウェル内の照明領域を照射する。マーカーは励起光による照射に応じて、照射領域内に位置する時に次いで射出光を放出してよい。いくつかの実施形態では、1つ以上の励起源は装置の構成要素及び集積デバイスが1つ以上のピクセルの方へ励起光を向けるように構成されているシステムの装置の一部である。
次いで、試料により放出される射出光は1つ以上の集積デバイスのピクセル内で光検出器により検出される。検出される射出光の特徴は、射出光に関連付けられたマーカーの同定の指標を提供してよい。そうした特徴は、任意の適切なタイプの特徴(光検出器により検出される光子の到達時間、光検出器により時間と共に累積した光子量、2つ以上の光検出器の間の光子の分布、波長値、強度、信号パルス幅、寿命、識別、またはそれらの任意の組み合わせを含む)を含んでよい。いくつかの実施形態では、光検出器は試料の射出光(例えば、蛍光寿命)に関連した1つ以上のタイミング特性の検出を可能にする構成を有してよい。光検出器は励起光のパルスが集積デバイスを通して伝搬した後の光子到達時間の分布を検出してよく、到達時間の分布は試料の射出光に関連付けられたタイミング特性の指標(例えば、蛍光寿命の代理)を提供してよい。いくつかの実施形態では、1つ以上の光検出器がマーカーによる射出光の確率の指標(例えば、蛍光強度)を提供する。いくつかの実施形態では、複数の光検出器が射出光の空間分布を捕捉するように寸法及び形状が決定されていてよい。次いで、1つ以上の光検出器からの出力信号は複数のマーカーから1つのマーカーを区別するように使用されてよく、複数のマーカーは試料中の1つの試料を同定するのに使われてよい。いくつかの実施形態では、試料は複数の励起エネルギーにより励起されてよく、射出光及び/または複数の励起エネルギーに応じて試料から放出される射出光のタイミング特性は複数のマーカーから1つのマーカーを区別することができる。
図1は、いくつかの実施形態における1つ以上のレーザーダイオードを有する光源を有するシステム100の一例を示した概略ブロック図である。システム100は装置180とインターフェース接続する集積デバイス101を備える。装置180はクロック源130と結合するドライバー回路120と結合する光源106を備えてよい。いくつかの実施形態では、光源106は、1つ以上のパルス光信号104を生成するとともに集積デバイスに向けるように構成されてよい。いくつかの実施形態では、励起光源は装置180及び集積デバイス101の両方の外部にあってよく、装置180は励起源からの励起光を受け取るとともに、励起光を集積デバイスに向けるように構成されてよい。集積デバイスは集積デバイスを受け励起源と精密な光学位置合わせの状態に集積デバイスを保持する適切なソケットを使用して装置とインターフェース接続してよい。
集積デバイス101は複数のピクセル112を有し、少なくとも一部のピクセルは試料の独立した分析を行ってよい。それら複数のピクセル112は、1つのピクセルが、そのピクセルから分離した光源106からの励起光を受け取り、そうした光源からの励起光は複数のピクセル112の一部または全部を励起するので、「パッシブ・ソース・ピクセル(passive source pixels)」と呼ばれる場合がある。
ピクセル112は試料を受け取るように構成されてよい、反応チャンバーとも呼ばれるサンプルウェル108と光源106により提供される励起光での試料の照射に応じた試料からの射出光の検出のための光検出器110とを有する。いくつかの実施形態では、サンプルウェル108は集積デバイス101の表面に近接して試料を保持してよく、それは励起光の試料への送達及び試料からの射出光の検出を容易にしてよい。
光源106からの励起光を集積デバイス101へ結合させ、パルス光信号104をサンプルウェル108へ導くための光学要素は集積デバイス101上及び集積デバイスの外部の両方に位置してよい。源からウェルまでの光学要素は集積デバイス101上に位置する1つ以上のグレーティングカプラを備えてよく、励起光を集積デバイス及び導波路に結合し、装置104からの励起光をサンプルウェル内のピクセル112に送達する。1つ以上の光スプリッタ要素はグレーティングカプラと導波路との間に配置されてよい。光スプリッタはグレーティングカプラからの励起光と結合し、励起光を1つ以上の導波路へ送達してよい。いくつかの実施形態では、光スプリッタは各々の導波路が実質的に同程度の励起光量を受け取るように実質的に全ての導波路に励起光を均一に送達することを可能にする構成を有してよい。いくつかの実施形態は集積デバイスのサンプルウェルにより受け取られる励起光の均一性を改善することにより集積デバイスの性能を改善してよい。源からウェルまでの光学要素のいくつかの例は、2020年1月3日に出願された「フォトニック要素のアレイへ光を送達するための光学導波路及びカプラ」と題する米国特許第16/733,296号に記載され、その全体はその全体が参照によって本明細書に援用される。集積デバイスに備えるように励起光をサンプルウェルに結合する及び/または励起光を光検出器へ向けるための適切な構成要素の例は、2015年8月7日に出願された「分子をプローブし、検出し、及び分析するための集積デバイス」と題する米国特許第14/821,688号及び2014年11月17日に出願された「分子をプローブし、検出し、及び分析するための外部光源を備えた集積デバイス」と題する米国特許第14/543,865号に記載され、それら各々はその全体が参照によって本明細書に援用される。
励起源からウェルまでの光学の一部及びサンプルウェルから光検出器までの光学の一部であるサンプルウェル108は、集積デバイス101上に位置し、時にはチップまたはセンサチップとも呼ばれる。光源106及び源からウェルまでの構成要素の一部はチップ101から外れて位置する。いくつかの実施形態では、単一の構成要素は励起光のサンプルウェル108への結合及びサンプルウェル108からの励起光の光検出器110への送達の両方の役割を果たしてよい。ピクセル112はそれ自身の個々のサンプルウェル108及び1つ以上の光検出器110に関連付けられる。集積デバイス101の複数のピクセルは適切な形状、サイズ、及び/または寸法をもつように配置されてよい。集積デバイス101は任意の適切な数のピクセルまたはサンプルウェルをもってよい。いくつかの実施形態では、集積デバイス101は、100万、800万、3200万、100~1000万、1000~5000万のアレイ、または光源106により生成される光信号104により励起される任意の適切な数のサンプルウェルをもってよい。
いくつかの実施形態では、ピクセルは512ピクセル×512ピクセルのアレイ上に配置されてよい。集積デバイス101は装置180と任意の適切な様式でインターフェース接続してよい。いくつかの実施形態では、ユーザーが集積デバイス101を使用するための装置180に集積デバイス101を取り付けて試料を分析する及び集積デバイス101を装置180から取り外してその他の集積デバイスが取り付けられることを可能にするように、装置180は集積デバイス101に取り外し可能に結合するインターフェースを有してよい。装置180のインターフェースは集積デバイス101を装置180の回路構成に結合するように配置してよく、1つ以上の光結合器からの読み出し信号を装置180へ伝えることを可能にしてよい。集積デバイス101及び装置180は大きなピクセルアレイ(例えば、10,000ピクセル以上)に関連するデータを扱うためのマルチチャネル高速通信リンクを備えてよい。
図1では、光源106は、3つのレーザーダイオード102を有する。3つのレーザーダイオードが示されているが、それらは単なる例示例であり、本出願の態様はそのように限定されず、光源106は、1つのレーザーダイオード、16個のレーザーダイオード、32個のレーザーダイオード、1~10個のレーザーダイオード、10~50個のレーザーダイオード、または任意の適切な数のレーザーダイオードであってもよいことが理解される。各レーザーダイオード102はドライバー回路120により生成されるドライブ信号122により独立して駆動され、パルスレーザー光信号104を生成する。いくつかの実施形態では、レーザーダイオード102は低い出力パワーで動作し、サンプルウェル中で使用される有機分子への光誘発性損傷を低減し、高い光パワーでの導波路の安定性を改善する。光源106中のレーザーダイオード102へのトータル出力光パワーは5mW,10mW,25mW,100mW,5~200mW,または任意の適切な範囲の出力パワーレベルであってよい。いくつかの実施形態では、集積デバイス101は、5~100mWの光パワーで動作する光源106により励起される100万個以上のサンプルウェルのアレイを有してよい。いくつかの実施形態では、集積デバイス101は、10~100mWの光パワーで動作する光源106により励起される800万個以上のサンプルウェルのアレイを有してよい。いくつかの実施形態では、集積デバイス101は、10~100mWの光パワーで動作する光源106により励起される3200万以上のサンプルウェルのアレイを有してよい。
レーザーダイオード102は熟練者に知られた任意の適切なレーザーダイオードにより実施されてよい。いくつかの実施形態では、レーザーダイオード102はマイクロディスクレーザーであってよい。レーザーダイオード102は利得スイッチモードで動作し、短いパルスの光を生成する。いくつかの実施形態では、レーザーダイオード102により生成される光パルスは100ps以上のFWHM,1000ps以上のFWHM,100~1000psのFWHM,1nsより大きいまたは任意の幅を有してよい。いくつかの実施形態では、レーザーダイオード102により生成される光パルスは488~525nmの波長、640~670nmの波長、または任意の適切な波長を有してよい。いくつかの実施形態では、レーザーダイオード102は振幅変調モードで動作してよく、正弦波信号であり得る入力電気信号により変調し、その入力電気信号は利得スイッチレーザーダイオードを動作するのに使用される電気信号と本質が異なる。パルス幅が1nsより大きいいくつかの実施形態では、レーザーのパルス動作の他の形態は電流変調、または低速または正弦波駆動などが使用されてよい。
レーザーダイオード102はシングルモードエミッターであってよく、一例では緑色波長で5~25mWの出力パワーをもつエミッターであってよい。いくつかの実施形態では、光源106はレーザーダイオードバー上に配置されたレーザーダイオード102のアレイを備えてよい。レーザーダイオードはバー中にモノリシックに集積されてよいが、分離し及び別々のレーザーダイオードはアレイを形成するように用いられるとともに配列されてもよい。任意の適した数のレーザーダイオードまたは空間配置がレーザーダイオードバーに提供されてよく、本出願の態様がそのように限定されないように、レーザーダイオードは密に詰められてもよくまたは互いに離間してもよい。ダイオードエミッターのアレイはパラレル出力とともに駆動してよい。一例では、ダイオードはシングルモードエミッターのモノリシックアレイとして配置される。いくつかの実施形態では、レーザーダイオード102はマルチモード出力を提供してよい。
図1をなお参照すると、ドライバー回路120はクロック源130からのマスタクロック信号132を受信するとともにドライブ信号122を生成して光源106中のレーザーダイオード102によるパルス光信号104の生成を同期する。いくつかの実施形態では、各ドライブ信号のタイミングは調整可能でよく、例えば、1つ以上のプログラマブルディレイラインまたはドライバー回路120内の対応する遅延したタイミング信号(遅延したバージョンのマスタクロック信号132で各ドライブ信号122のタイミングの設定に用いられる)を生成できる任意の適切な遅延回路による。各ドライブ信号に適用されるプログラム可能な遅延の量はチップ101上の試料の励起を光源106中の異なるレーザーダイオード102により生成されるパルス光信号と同期するように選択されてよい。例えば、異なるレーザーダイオードの光路での伝達遅延の相違を相殺するように遅延が調整され、チップ上で同じタイミングでサンプルウェルを励起し、アレイのレーザーダイオード間におけるスキューを低減または解消する。いくつかの実施形態では、異なるレーザーダイオードによるチップ上のサンプルウェルでの励起がチップ上の時間領域センシング動作のタイミングと同期するように、各ドライブ信号に適用される遅延が選択されてよい。いくつかの実施形態では、プログラム可能な遅延の量は校正手順の間に決定されてよく、その校正手順はドライバー回路内の1つ以上の遅延の量を、測定されたスキューの量が所定の閾値以内であるようなタイミングの関係まで反復して調整する。
ドライバー回路120及びクロック源130は任意の適切な方法で実施されてよい。いくつかの実施形態では、ドライバー回路120は半導体基板中に配置される集積回路を備えてよい。いくつかの実施形態では、ドライバー回路120は、1つ以上のプリント基板(PCB)を備えてよい。いくつかの実施形態では、ドライバー回路120は光源内の各レーザーダイオードに対応する複数のドライバーユニットを備えてよい。ドライバー回路120は受信したマスタクロック信号132をコピーしてよく、プログラム可能な遅延に適用してよく、そして複数のドライバーユニットの各々のタイミングのように遅延したクロック信号を生成してよい。いくつかの実施形態では、クロック源130及びドライバー回路120はチップ上のピクセル内の1つ以上の光検出器からの読み出し信号を分析するための集積デバイスとインターフェース接続する装置の一部でよく、クロック信号132はそうした読み出し信号の分析のための装置内のクロックと同期してよい。例えば、光パルスのセンシングから送達された信号は装置のエレクトロニクス(例えば、データ取得サイクル)を光源により生成される光パルスのタイミングと同期させるのに用いることができる電子クロック信号を生成するのに用いられることができる。装置の例は2020年1月3日に出願された「フォトニック要素のアレイへの光の送達のための光導波路及びカプラ」と題する米国特許第16/733,296号に記載され、その全体はその全体が参照によって本明細書に援用される。その他の実施形態では、ドライバー回路120及び/またはクロック源130はそうした装置からは独立して提供されてもよい。
いくつかの実施形態では、レーザーダイオードアレイの極一部を通じて励起光を一度に操向することができ、それはシステムの消費電力を低減し得る。いくつかの実施形態では、ドライバー回路120は光源106内の一部のレーザーダイオードを、ピクセルを励起するように独立してアクティブ化/非アクティブ化してよい。発明者らは少なくともいくらかの消費電力はチップ内の論理ゲートのスイッチングに帰することを認識し、理解するに至り、それはチップ上のピクセルによりみられる励起光パルスの周波数の低減により低減される。非限定的な一例では、レーザーダイオードのアレイ全体が10mWのトータル出力電力で通常駆動する代わりに、半分の時間で半分のアレイに電力を集中させることができ、逆も同様である。これはピクセル中の論理ゲートのトグル周波数が2分の1に低減し、結果として全てのピクセルが半分の数の光パルスを受け取るが、その光パルスは2倍のパワー及び同じ平均パワーを有する。違った駆動部分のレーザーダイオードアレイの他の変形もまた用いられてよいことが理解される。
ピクセル112の列を示す集積デバイス101の断面概略図を図2に示す。集積デバイス101は結合領域201と、ルーティング領域202と、ピクセル領域203とを備えてよい。ピクセル領域203は結合領域201とは別の位置の表面上に配置されたサンプルウェル108を有する複数のピクセル112を備えてよく、そこで励起光(破線矢印として示される)が集積デバイス101と結合する。サンプルウェル108は金属層116を通して形成されてよい。1つのピクセル112(破線の矩形により示される)はサンプルウェル108と1つ以上の光検出器110を有する光検出器領域とを備える集積デバイス101の領域である。
図2は励起光のビームの結合領域201及びサンプルウェル108への結合による励起経路(破線で示される)を示す。図2に示されるサンプルウェル108の列は導波路220に光学的に結合するように配置されてよい。励起光による照射に対して試料は励起状態に達してよい。試料が励起状態にあるとき、試料は射出光を放出してよく、その射出光はサンプルウェルに関連する1つ以上の光検出器により検出されてよい。図2はサンプルウェル108からピクセル112の光検出器110への励起光の経路(実線として示される)を概略的に示す。ピクセル112の光検出器110はサンプルウェル108からの射出光を検出するように構成され、配置される。適切な光検出器の例は2015年8月7日に出願された「受け取られた光子の時間ビニングのための集積デバイス」と題する米国特許第14/821,656号に記載され、その全体が参照によって本明細書に援用される。適切な光検出器の追加の例は2017年12月22日に出願された「直接ビニングピクセルを備える集積光検出器」と題する米国特許第15/852,571号に記載され、その全体が参照によって本明細書に援用される。個々のピクセル112のために、サンプルウェル108及びそのそれぞれの光検出器110は共通の軸に沿って(図2に示されるY方向に沿って)整列させられてよい。このように、光検出器はピクセル112内のサンプルウェルと重なり合ってよい。
サンプルウェルからの射出光の指向性は、金属層116に対するサンプルウェル108内の試料の配置に依存してよい。なぜなら、金属層116は射出光を反射するよう機能してよいからである。このように、金属層116とサンプルウェル108中に配置される蛍光マーカーとの間の距離は光検出器110の効率に影響を与え得り、その効率はサンプルウェルと同じピクセル内にある蛍光マーカーにより放出される光を検出するものである。金属層116とサンプルウェルの底面との間の距離(試料が動作の間に配置され得る場所に近接する)は、100mm~500mmの範囲内またはその範囲内の任意の値もしくは値の範囲であってよい。いくつかの実施形態では、金属層116とサンプルウェル108との間の距離は約300mmである。
試料と光検出器との間の距離もまた射出光の検出の効率に影響を与え得る。距離を減少させることにより光は試料と光検出器との間を伝わることとなり射出光の検出効率は改善し得る。加えて、試料と光検出器との間の距離がより短いと、ピクセルが集積デバイスのフットプリントのより小さい領域を占有することを可能にでき、それはより多い数のピクセルを集積デバイス中に備えることを可能にすることができる。サンプルウェル108の底部と光検出器との間の距離は1μm~15μmの範囲内またはその範囲内の任意の値もしくは値の範囲であってよい。
フォトニック構造230はサンプルウェル108と光検出器110との間に配置されてよく、励起光が光検出器110に到達するのを減少させるまたは妨げるように構成されてよく、その励起光はさもなければ射出光の検出において信号ノイズに寄与する可能性がある。図2に示すように、1つ以上のフォトニック構造230は導波路220と光検出器110との間に配置されてよい。フォトニック構造230は分光フィルタ、偏光フィルタ、及び空間フィルタを含む1つ以上の光リジェクションフォトニック構造を備えてよい。フォトニック構造230は個々のサンプルウェル108及びそれらのそれぞれの光検出器110と共通の軸に沿って整列するように配置されてよい。いくつかの実施形態において、金属層240(集積デバイス101の回路構成として機能し得る)は空間フィルタとしても機能し得る。いくつかの実施形態では、1つ以上の金属層240は励起光の一部または全部が光検出器110に到達するのを遮断するように配置されてよい。
結合領域201は外部の励起源からの励起光と結合するように構成されている1つ以上の光学構成要素を備えてよい。結合領域201は励起光ビームの一部または全部を受け取るように配置されるグレーティングカプラ216を備えてよい。適切なグレーティングカプラの例は2017年12月15日に出願された「光カプラ及び導波路システム」と題する米国特許第15/844,403号に記載され、その全体が参照によって本明細書に援用される。グレーティングカプラ216は励起光を導波路220に結合してよく、そのグレーティングカプラは1つ以上のサンプルウェル108の近傍へ励起光を伝えるように構成されてよい。代替として、結合領域201は光を導波路へ結合するためのその他のよく知られた構造を備えてよい。
集積デバイスから外れて位置する構成要素は励起源106を集積デバイスに配置するとともに整列するのに用いられてよい。そうした構成要素はレンズ、ミラー、プリズム、ウィンドウ、アパーチャ、減衰器、及び/または光ファイバーを含む光学構成要素を含んでよい。追加の機械的構成要素は1つ以上のアライメント構成要素の制御を装置内で可能にすることを含んでよい。そうした機械的構成要素はアクチュエータ、ステッパモーター、及び/またはノブを含んでよい。適切な励起源及びアライメント機構の例は2016年5月12日に出願された「パルスレーザー及びシステム」と題する米国特許第15/161,088号に記載され、その全体が参照によって本明細書に援用される。ビームステアリングモジュールのその他の例は2017年12月14日に出願された「コンパクトなビーム形成及びステアリングアセンブリ」と題する米国特許第15/842,720号に記載され、その全体が参照によって本明細書に援用される。
分析される試料はピクセル112のサンプルウェル108中に導入されてよい。試料は生物的な試料または任意の他の適切な試料(化学的な試料など)であってよい。試料は複数の分子を含んでよく、サンプルウェルは単一分子を単離するように構成されてよい。いくつかの例では、サンプルウェルの寸法は単一分子をサンプルウェル内にとどめるように機能してよく、それは単一分子上で測定が行われるのを可能にする。試料または試料に付いているもしくはそうでなければ試料に関連する1つ以上の蛍光マーカーをサンプルウェル108内の照射領域内にある間に励起するように励起光はサンプルウェル108内に送達されてよい。
動作としては、サンプルウェル内の試料の並列分析はウェル内の一部または全部の試料が励起光により励起し、試料発光からの信号を光検出器で検出することで行われる。試料からの射出光は対応する光検出器により検出されてよく、1つ以上の電気信号へ変換されてよい。電気信号は集積デバイスの回路構成内の導電線(例えば金属層240)に沿って伝わってよく、それは集積デバイスとインターフェース接続する装置に接続してよい。次いで、電気信号は処理され及び/または分析されてよい。電気信号の処理または分析は装置上または装置から離れてのどちらかに位置する適切な演算装置で行われてよい。
装置180は装置180及び/または集積デバイス101の制御動作のためのユーザーインターフェースを備えてよい。ユーザーインターフェースはユーザーが装置へ情報(装置の機能を制御するのに用いられるコマンド及び/または設定などの)を入力するのを可能にするように構成されてよい。いくつかの実施形態では、ユーザーインターフェースはボタン、スイッチ、ダイアル、及び音声コマンドのためのマイクを備えてよい。ユーザーインターフェースはユーザーが装置及び/または集積デバイスの性能に対するフィードバック(適切な位置合わせ及び/または集積デバイス上の光検出器からの読み出し信号から得られる情報などの)を受け取るのを可能にしてよい。いくつかの実施形態では、ユーザーインターフェースは可聴なフィードバックを提供するようにスピーカーを使用するフィードバックを提供し得る。
いくつかの実施形態では、装置180は演算装置と接続するように構成されるコンピュータインターフェースを備えてよい。コンピュータインターフェースはUSBインターフェース、ファイアワイヤー(Fire Wire)インターフェース、または任意のその他の適切なコンピュータインターフェースであってよい。演算装置はラップトップコンピュータまたはデスクトップコンピュータなどの汎用コンピュータであってよい。いくつかの実施形態では、演算装置は適切なコンピュータインターフェースを介してワイヤレスネットワークでアクセス可能なサーバー(例えば、クラウドベースのサーバー)であってよい。コンピュータインターフェースは装置180と演算装置との間の情報のやり取りを促進してよい。制御のための入力情報及び/または装置180の構成は演算装置へ提供されてよく、コンピュータインターフェースを介して装置180へ伝わってよい。出力情報は装置180の性能、集積デバイス112の性能、及び/または光検出器110の読み出し信号から生成されるデータについてのフィードバックを含んでよい。
いくつかの実施形態では、集積デバイス101の1つ以上の光検出器から受け取るデータを分析するように及び/または励起源106へ制御信号を送るように構成されている装置180は処理装置を備えてよい。いくつかの実施形態では、処置装置は汎用プロセッサー、特別に適合されたプロセッサー(例えば、1つ以上のマイクロプロセッサーまたはマイクロコントローラコアなどの中央処理装置(CPU)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)、特定用途向け集積回路(ASIC)、カスタム集積回路、デジタルシグナルプロセッサー(DSP)またはそれらの組み合わせ)を備えてよい。いくつかの実施形態では、1つ以上の光検出器からのデータの処理は装置180の処理装置と外部の演算装置との両方により行われてよい。その他の実施形態では、外部の演算装置は省略されてよく、1つ以上の光検出器からのデータの処理は集積デバイス101の処理装置により単独で行われてよい。
図3Aはいくつかの実施形態におけるシステム300内の光結合の一例を示した概略図である。図3Aでは、レーザーダイオード302により生成されるパルス光信号は1つ以上の光路によりチップ301の表面と結合する。レンズ340及びミラー342は整列し、形状が決定し、パルス光信号をチップ301の一部に向けるように光路250中に配置される。
図3Bは、いくつかの実施形態における図3Aに示したシステム300の概略上面図である。図3Bは複数のレーザーダイオード302が単一のバー206を形成するようにグループ化される様子を示す。ここでは生成される光信号がチップ301上に配置された一団のグレーティングカプラ310上でレンズ340及びそれぞれの光路350を介して結像する。N個のレーザーダイオード302の各々はN個のグレーティングカプラの個々のグレーティングカプラと光結合する。レーザーダイオード302は個々に駆動でき、ドライバー回路120などのドライバー回路による単一クロックと同期できる。だが一方、一部または全部のレーザーダイオード302がグループ化され、シリアル方式で駆動されてもよい。
図3A及び図3Bはミラー及びレンズなどの同じ光学構成要素を共有する複数の光路を示すが、本出願の態様は本出願の態様はそのように限定されず、任意の適切な数の光学構成要素が提供されてよい。いくつかの実施形態では、例えば異なる部分のチップ301を照射するように、異なるレーザーダイオードに由来する光路が異なる配向及び長さを有してよい。いくつかの実施形態では、チップ上の対応するグレーティングカプラのピッチ及び位置が一致するように、1つ以上のレンズが焦点を合わせ、レーザーダイオードからの光信号を拡大するように用いられてよい。
図3Bでは、グレーティングカプラ310は導波路及びチップ301上のサンプルウェルとさらに光結合してよい。グレーティングカプラは限定されないが、テーパ型グレーティングカプラ、スライスグレーティングカプラ、導波路テーパ型カプラ、導波路エバネッセントカプラなどの任意の適切なタイプのカプラであってよい。
図4は、いくつかの実施形態における図3Aに示したシステムの変形例であるシステム400の概略上面図である。図4では、複数のレーザーダイオード402a,402b,402c,402dが互いに別で、チップ401の異なる側に配置される。例えば、レーザーダイオード402aからの光路450aがレーザーダイオード402cからの光路450cから約180度回転するように、チップ401はレーザーダイオード402aと402cとの間に配置される。レーザーダイオード402aからの光路450aはレーザーダイオード402bからの光路450bから約90度回転する。複数のレーザーダイオードを別々に配置することの1つの利点はレーザーダイオードからの光路が互いに離間できることで、それはチップ401上のグレーティングカプラが密集するとき、互いに近接している光ビームを接近させるのを防ぐ。その他の利点としては、レーザーダイオードをチップ401の各側面に接近して配置することは、励起光が伝導する光路長を減少してよく、それゆえに遅延及び導波路光損失が低減し、システム効率が向上する。例えば、上面から比較的遠くの位置から結合する光を送る長い導波路を必要とせずに、チップ401の上部のより近くに位置するサンプルウェルをチップ401の上部のより近くに位置するグレーティングカプラを介して励起するのに光路450bは用いられてよい。
図5は、いくつかの実施形態における別々の光路及び集積型モード変換器を用いた複数のレーザーダイオードの光結合の一例を示した概略図である。図5は各レーザーダイオード502により生成する光信号がモード変換器540、光路550、及びモード変換器542によってチップ501に結合することを示す。いくつかの実施形態では、別々の光路550が別々のレーザーダイオード520に対して提供される。モード変換器はマイクロ光学素子、集積フォトニック構造、または任意の適切な構造であってよく、いくつかの実施形態ではレーザーダイオードとチップとの間の高い結合効率を達成するのに必要な位置合わせ精度が緩和される。システム500は部品故障を避けるように、露出した光インターフェースでの最小の光強度を提供してよく、モノリシックなマイクロ/ナノ加工のために3D印刷法を用いて実施されてよい。態様によれば、モード変換器を用いた結合はレーザーダイオード502のチップ501へのパッシブアライメントを可能にしてよい。
図3A、図3B、図4では、光路350を自由空間内に示しているが、本出願の態様はそのように限定されないことが理解される。図6は、いくつかの実施形態における光ファイバーを用いた光結合を使用したシステムの一例を示した概略ブロック図である。図6はレーザーダイオード602をチップ601へ結合する一団の光ファイバー650を示す。各レーザーダイオード602は光ファイバー650に結合され、その光ファイバーはカプラ610を介してチップ601へ結合される。
いくつかの態様によれば、光ファイバー650は回折限界スポットを出力するモードフィルタとして機能してよい。任意で及びこれに加えてレーザーダイオード602から光ファイバー650への光信号の結合効率は1つ以上のレンズ640により高められてよい。いくつかの実施形態では、光ファイバー650の出力端はチップ601の近くに配置されたファイバーアレイに配置し、各光ファイバーからの光を対応するグレーティングカプラに結合する。ファイバーアレイは全ての光ファイバーの結合角を共に簡便に設定してよい。いくつかの実施形態では、ファイバーアレイの配置及び/または角度はそれぞれのグレーティングカプラとの位置合わせが整列及び安定し、結合効率を最適化するようにモーターなどのプログラム可能なマニピュレータにより調整されてよい。いくつかの実施形態では、カプラ610はチップ上にプラグ接続可能なレセプタクルを備えてよく、ファイバーアレイはレセプタクルに接続し、グレーティングカプラに関してファイバーアレイの配置及び角度を設定するのを助ける。
本出願の一態様はチップ上に隣接するセンサ間のクロストークの低減に関するものである。デバイスがスケーリングされる間、集積デバイス上の隣接するピクセル間または反応チャンバー間の間隔はより小さい領域に詰め込まれる。場合によってはそうしたスケーリングはセンサ間の信号の「クロストーク(cross-talk)」をもたらし得る。発明者らは複数の励起入力が提供されるとき、近くのセンサ間の励起のタイミングをオフセットするとき、クロストークは低減または最小にできることを認識し、理解するに至った。
図7Aは、いくつかの実施形態における複数の入力で集積デバイスを発光する一例を示した概略上面図である。図7Aは、グレーティングカプラ710a,720bを介して各々の光源が光信号をそれぞれの導波路720a,720bと結合する複数の光源702a,702bを示す。光源702aはレーザーダイオードL1を備える一方で、光源702bはレーザーダイオード702bを備える。ピクセルP1及びピクセルP2は各々導波路720a,720bとそれぞれ結合する。クロストークはピクセルP1,P2が空間的に互いに近接する時に起こり得る。
図7Bは、いくつかの実施形態における信号クロストークを減少させるように図7Aの光源及び導波路によって生成されたパルス信号のタイミング図群を示す。図7Bでは、図71はL1により生成されるレーザーパルスのタイミング図であり、図72はL2により生成されるレーザーパルスのタイミング図であり、図73はP1における検知信号の収集のタイミング図であり、図73はP2における検知信号の収集のタイミング図である。図7Bに示すように、L1,L2パルスは時間的にずれており、P1,P2収集期間もまた時間的にずれている。特定の理論に束縛されることを望むものではないが、タイミング構成はピクセルP1,P2内のセンサでのクロストークを低減できる。なぜなら、調整されたセンサは収集期間外の異なる時間に励起するからである。図7Bに示されるタイミング図は単なる例であり、任意の適切な量のタイミングオフセットが一部または全部の収集及び励起タイミングにおいて用いられ、クロストークを低減することが理解される。
技術の様々な態様は単独で、組み合わせて、または前記に記載した実施形態において具体的に論じられていない様々な配置で用いられてよく、それゆえに前述の説明に明記したまたは図面に示したその適用の詳細及び構成要素の配置に限定されない。例えば、いくつかの例では単一のチップが示されている一方で、システムは1つ以上のチップを有してよく、本出願の態様における光源は複数のチップの励起に用いられてもよいことが理解される。一実施形態で記載される態様は他の実施形態で記載される態様と任意の方法で結合されてよい。
また、技術の態様は方法として具体化されてよく、その一例は提供されている。方法の一部として行われる行為は任意の適切な方法で順序付けられてもよい。それに応じて、示されているものと異なる順序で行為が行われる実施形態が構成され得、例示実施形態において逐次的な行為として示されていたとしても、その実施形態はいくつかの行為が同時に行われることを含み得る。
そうした変更形態、改変形態、及び改良形態は本開示の一部であると意図されており、本発明の精神及び範囲内であると意図されている。さらに、本発明の利点が示されるが、発明の全ての実施形態が記載される全ての利点が含まれるとは限らないことが理解される。いくつかの実施形態では、本明細書及びいくつかの例において有利と記載される任意の特徴が実施されなくてよい。それに応じて、前述した説明及び図面は単なる例である。
用語「約(approximately)」及び「約(about)」はいくつかの実施形態における目標値の±20%以内、いくつかの実施形態における目標値の±10%以内、いくつかの実施形態における目標値の±5%以内、及びさらにいくつかの実施形態における目標値の±2%以内を意味するように用いられ得る。用語「約(approximately)」及び「約(about)」は目標値を含み得る。
Claims (20)
- システムであって、
複数のサンプルウェルを備える集積フォトニックデバイスと、
1つ以上のレーザーダイオードを備え、前記複数のサンプルウェル内の複数の試料を励起するための1つ以上のパルス光信号を生成するように構成された光源と、
前記光源に結合されており、クロック信号を受信するとともに前記クロック信号に基づいて前記1つ以上のパルス光信号のタイミングを制御するように構成されたドライバー回路と、を備えるシステム。 - 前記1つ以上のレーザーダイオードは複数のレーザーダイオードを備え、前記ドライバー回路は、前記クロック信号に基づいたタイミングを有する複数のドライブ信号を生成するとともに前記ドライブ信号を用いて前記複数のレーザーダイオードのそれぞれのレーザーダイオードを駆動するようにさらに構成されている、請求項1に記載のシステム。
- 前記ドライバー回路は、調整可能な遅延を前記複数のドライブ信号の一部または全部におけるタイミングに適用するようにさらに構成されている、請求項2に記載のシステム。
- 前記1つ以上のレーザーダイオードは、振幅変調モードで動作するように構成されている、請求項1に記載のシステム。
- 前記集積フォトニックデバイスは、100万個以上のサンプルウェルを備え、前記1つ以上のレーザーダイオードは、前記1つ以上のパルス光信号を100mW未満の光パワーレベルで生成するように構成されている、請求項1に記載のシステム。
- 前記1つ以上のパルス光信号を前記複数のサンプルウェルの一部または全部に光学的に結合するように構成されている1つ以上の導波路をさらに備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記集積フォトニックデバイスは、前記1つ以上のパルス光信号を前記1つ以上の導波路に光学的に結合するように構成されている1つ以上のグレーティングカプラをさらに備える、請求項6に記載のシステム。
- 前記光源は、レーザーダイオードアレイを備え、前記1つ以上のグレーティングカプラは、複数のグレーティングカプラであり、前記システムは、前記レーザーダイオードアレイのレーザーダイオードを前記複数のグレーティングカプラの対応するグレーティングカプラに各々結合する複数の光路をさらに備える、請求項7に記載のシステム。
- 前記複数の光路は、90度以上の角度を形成する第1の光路及び第2の光路を備える、請求項8に記載のシステム。
- 前記1つ以上のパルス光信号を前記1つ以上の導波路に光学的に結合するように構成された1つ以上の光学要素をさらに備え、前記1つ以上の光学要素は、ミラー、レンズ、光ファイバーまたはそれらの組み合わせである、請求項6に記載のシステム。
- 前記1つ以上のレーザーダイオードは、利得スイッチレーザーダイオードを備え、前記1つ以上のパルス光信号は、100~1000psの間の半値全幅を有する、請求項1に記載のシステム。
- システムであって、
複数のサンプルウェルと1つ以上の導波路とを備えるチップと、
前記1つ以上の導波路のうちの対応する導波路を介して前記チップの前記複数のサンプルウェル内の試料を励起するための1つ以上のパルス光信号を生成するように構成された1つ以上のレーザーダイオードと、
クロック信号を受信するとともに、前記クロック信号に基づいて、生成した前記1つ以上のパルス光信号のタイミングを同期するように構成されたドライバー回路と、を備えるシステム。 - 前記1つ以上のレーザーダイオードは、複数のレーザーダイオードを備え、前記ドライバー回路は、前記クロック信号に基づいたタイミングを有する複数のドライブ信号を生成するとともに前記ドライブ信号を用いて前記複数のレーザーダイオードのそれぞれのレーザーダイオードを駆動するようにさらに構成されている、請求項12に記載のシステム。
- 前記チップは100万個以上のサンプルウェルを備え、前記1つ以上のレーザーダイオードは、前記1つ以上のパルス光信号を100mW未満の光パワーレベルで生成するように構成されている、請求項12に記載のシステム。
- 前記チップは、前記1つ以上のパルス光信号を前記1つ以上の導波路に光学的に結合するように構成されている1つ以上のグレーティングカプラをさらに備える、請求項12に記載のシステム。
- チップと、1つ以上のレーザーダイオードと、ドライバー回路とを備えるシステムを動作させる方法であって、前記チップは複数のサンプルウェルを有し、前記方法は、
前記ドライバー回路にてクロック信号を受信する工程と、
受信した前記クロック信号に基づいて、前記ドライバー回路により1つ以上のドライブ信号を生成する工程と、
前記1つ以上のドライブ信号に基づいて、前記1つ以上のレーザーダイオードにより1つ以上のパルス光信号を生成するパルス光信号生成工程と、
前記1つ以上のパルス光信号により前記複数のサンプルウェル内の複数の試料を励起する工程と、を備える、方法。 - 前記1つ以上のレーザーダイオードは複数のレーザーダイオードを備え、前記方法は、
前記クロック信号に基づいて複数の同期したパルス光信号を生成する同期パルス光信号生成工程をさらに備える、請求項16に記載の方法。 - 前記同期パルス光信号生成工程は、
前記ドライバー回路により、前記クロック信号に基づいたタイミングを各々有する複数のドライブ信号を生成するドライブ信号生成工程と、
前記複数のレーザーダイオードの各レーザーダイオードを対応するドライブ信号により駆動する工程と、を備える、請求項17に記載の方法。 - 前記ドライブ信号生成工程は、
プログラム可能な遅延を各々有する複数の遅延したタイミング信号を生成するように前記クロック信号を遅延させる工程と、
前記ドライブ信号の各々の前記タイミングを対応する遅延したタイミング信号に基づいて設定する工程と、を備え、
各ドライブ信号に対する前記プログラム可能な遅延は、前記複数の同期したパルス光信号が前記チップにおける前記複数の試料を所定のタイミング関係によって励起するように選択される、請求項18に記載の方法。 - 前記チップは、100万個以上のサンプルウェルを有し、前記パルス光信号生成工程は、100mW未満の光パワーレベルでパルス光信号を生成するように前記1つ以上のレーザーダイオードを動作させる工程を含む、請求項16に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US202062961127P | 2020-01-14 | 2020-01-14 | |
US62/961,127 | 2020-01-14 | ||
PCT/US2021/013512 WO2021146479A1 (en) | 2020-01-14 | 2021-01-14 | Pulsed laser light source for producing excitation light in an integrated system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023511550A true JP2023511550A (ja) | 2023-03-20 |
Family
ID=74572867
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022543050A Pending JP2023511550A (ja) | 2020-01-14 | 2021-01-14 | 集積システムにおける励起光生成用パルスレーザー光源 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20210218224A1 (ja) |
EP (1) | EP4088101A1 (ja) |
JP (1) | JP2023511550A (ja) |
KR (1) | KR20220137659A (ja) |
CN (1) | CN116472450A (ja) |
AU (1) | AU2021209125A1 (ja) |
CA (1) | CA3167700A1 (ja) |
IL (1) | IL294730A (ja) |
WO (1) | WO2021146479A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7212030B2 (ja) * | 2017-07-24 | 2023-01-24 | クアンタム-エスアイ インコーポレイテッド | 光拒絶フォトニック構造 |
US11509411B2 (en) * | 2020-03-18 | 2022-11-22 | Wipro Limited | Method and system for correcting clock skew using precision time protocol |
US11899211B2 (en) * | 2021-06-24 | 2024-02-13 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Pulse-modulated laser-based near-eye display |
US11656467B2 (en) | 2021-06-24 | 2023-05-23 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Compact laser-based near-eye display |
US20230258562A1 (en) * | 2022-02-10 | 2023-08-17 | ColdQuanta, Inc. | Miniature atomic spectroscopy reference cell system |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
MX2017001808A (es) * | 2014-08-08 | 2018-02-08 | Quantum Si Inc | Dispositivo integrado con fuente de luz externa para el sondeo, deteccion y analisis de moleculas. |
US10246742B2 (en) * | 2015-05-20 | 2019-04-02 | Quantum-Si Incorporated | Pulsed laser and bioanalytic system |
US10283928B2 (en) | 2016-12-16 | 2019-05-07 | Quantum-Si Incorporated | Compact mode-locked laser module |
-
2021
- 2021-01-14 CA CA3167700A patent/CA3167700A1/en active Pending
- 2021-01-14 KR KR1020227027646A patent/KR20220137659A/ko unknown
- 2021-01-14 WO PCT/US2021/013512 patent/WO2021146479A1/en active Application Filing
- 2021-01-14 US US17/149,400 patent/US20210218224A1/en active Pending
- 2021-01-14 CN CN202180021093.4A patent/CN116472450A/zh active Pending
- 2021-01-14 EP EP21704361.1A patent/EP4088101A1/en not_active Withdrawn
- 2021-01-14 AU AU2021209125A patent/AU2021209125A1/en active Pending
- 2021-01-14 JP JP2022543050A patent/JP2023511550A/ja active Pending
- 2021-01-14 IL IL294730A patent/IL294730A/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20210218224A1 (en) | 2021-07-15 |
EP4088101A1 (en) | 2022-11-16 |
KR20220137659A (ko) | 2022-10-12 |
AU2021209125A1 (en) | 2022-09-08 |
WO2021146479A1 (en) | 2021-07-22 |
CA3167700A1 (en) | 2021-07-22 |
IL294730A (en) | 2022-09-01 |
CN116472450A (zh) | 2023-07-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2023511550A (ja) | 集積システムにおける励起光生成用パルスレーザー光源 | |
TWI778993B (zh) | 光學耦合器及波導系統 | |
US11774674B2 (en) | Optical waveguides and couplers for delivering light to an array of photonic elements | |
US20240096924A1 (en) | Integrated sensor for lifetime characterization | |
US20210318238A1 (en) | Integrated sensor with reduced skew | |
CA3167892A1 (en) | Waveguide excitation uniformity | |
US20220329037A1 (en) | Optical pulse stretcher | |
US20240088178A1 (en) | Backside illuminated structures with parallel charge transfer |