JP7173915B2 - 電源回路 - Google Patents
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Description
通常動作に引き続いてスリープ動作に切り替わる電源回路であって、
前記スリープ動作のとき、前記スリープ動作のための電圧であるスリープ電圧を生成し、前記スリープ電圧を出力端子へ出力するサブLDO部と、
前記通常動作のとき、ソースが第1の電圧に接続されており、前記ソース及びドレイン間に流れる電流の大きさの制御により規定される前記ドレインの電圧である第2の内部電圧を前記出力端子へ出力するPMOSトランジスタと、
前記スリープ動作のとき、前記PMOSトランジスタの前記ゲート及びバックゲートに、前記スリープ電圧より高い電圧が印加されるメインLDO部と、を含む。
以下、本発明に係る実施形態の電源回路について説明する。
図1は、実施形態の電源回路の構成を示す。以下、実施形態の電源回路について、図1を参照して説明する。
実施形態のメインLDOの動作について説明する。
メインLDO部1は、制御部5から、通常動作で動作すべき旨を示す制御信号CT(図1、図2に図示)を入力される。当該制御信号CTに応答して、メインLDO部1では、トランジスタTR2、TR4が、オフ状態(遮断状態)になり、他方で、トランジスタTR3、及び、スイッチSW1、SW2が、オン状態(導通状態)になる。
メインLDO部1は、制御部5から、スリープ状態で動作すべき旨を示す制御信号CT(図1、図2に図示)を入力される。当該制御信号CTに応答して、メインLDO部1では、スリープ動作のときは反対に、トランジスタTR2、TR4が、オン状態(導通状態)になり、他方で、トランジスタTR3、及び、スイッチSW1、SW2が、オフ状態(遮断状態)になる。
上記したように、実施形態のメインLDOでは、スリープ動作のとき、ソースに第1の内部電圧Vin1が印加されており、かつ、ドレインにスリープ電圧Vspが印加されているトランジスタTR1のゲート及びバックゲートに、第1の内部電圧Vin1及びスリープ電圧Vspより大きい外部電圧Vexが、印加される。これにより、トランジスタTR1が、遮断状態になるとともに、トランジスタTR1のボディーダイオードが、遮断状態になる。後者のボディーダイオードが遮断状態になることにより、図4での図示と異なり、第1の内部電圧Vin1が徐々に低下することに起因して、ボディーダイオードが導通状態になり、これにより、トランジスタTR1にリーク電流が流れるという事態を回避することができる。
上述した実施形態のメインLDO部1中のトランジスタTR1~TR4に、PMOSFETを用いることに代えて、NMOSFET(N-channel Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)を用いることも可能である。NMOSFETを用いる場合、トランジスタTR2~TR4、及び、スイッチSW1、SW2における、通常動作及びスリープ動作のときのオン状態及びオフ状態は、図3に図示された、PMOSFETを用いる場合と同様である。
Claims (2)
- 通常動作に引き続いてスリープ動作に切り替わる電源回路であって、
前記スリープ動作のとき、前記スリープ動作のための電圧であるスリープ電圧を生成し、前記スリープ電圧を出力端子へ出力するサブLDO部と、
前記通常動作のとき、ソースが第1の内部電圧に接続されており、ゲートに印加される電圧の大きさに応じた、前記ソース及びドレイン間に流れる電流の大きさの制御により規定される前記ドレインの電圧である第2の内部電圧を前記出力端子へ出力するPMOSトランジスタを備え、前記スリープ動作のとき、前記PMOSトランジスタの前記ゲート及びバックゲートに、前記スリープ電圧より高い他の電圧が印加されるメインLDO部と、
を含む電源回路。 - 前記メインLDO部は、
ソースが前記他の電圧に接続され、かつ、ドレインが前記PMOSトランジスタの前記ゲートに接続された第2のPMOSトランジスタと、
ソースが前記第1の内部電圧に接続され、かつ、ドレインが前記PMOSトランジスタの前記バックゲートに接続された第3のPMOSトランジスタと、
ソースが前記他の電圧に接続され、かつ、ドレインが前記PMOSトランジスタのバックゲートに接続された第4のPMOSトランジスタと、
を更に含み、
前記通常動作のとき、前記第3のPMOSトランジスタが、導通状態であり、かつ、前記第2のPMOSトランジスタ及び前記第4のPMOSトランジスタが、遮断状態であり、
前記スリープ動作のとき、前記第3のPMOSトランジスタが、遮断状態であり、かつ、前記第2のPMOSトランジスタ及び前記第4のPMOSトランジスタが、導通状態である、請求項1に記載の電源回路。
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