JP7157699B2 - 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法および当該方法を実行させるプログラム - Google Patents

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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7410678B2 (ja) 2019-09-19 2024-01-10 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
FR3119708B1 (fr) * 2021-02-11 2023-08-25 Trixell Détecteur numérique à étages de conversion superposés
JP7737236B2 (ja) 2021-04-16 2025-09-10 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP2023111636A (ja) 2022-01-31 2023-08-10 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
US12339408B2 (en) 2022-02-16 2025-06-24 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
JP2024075034A (ja) * 2022-11-22 2024-06-03 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JPWO2024154438A1 (https=) * 2023-01-18 2024-07-25
WO2024161771A1 (ja) * 2023-02-02 2024-08-08 富士フイルム株式会社 放射線撮影制御装置、方法およびプログラム
JPWO2024161772A1 (https=) * 2023-02-02 2024-08-08

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008120293A1 (ja) 2007-03-01 2008-10-09 Shimadzu Corporation Ｘ線撮影装置
JP2018186468A (ja) 2017-04-27 2018-11-22 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム
WO2019093168A1 (ja) 2017-11-10 2019-05-16 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010056396A (ja) 2008-08-29 2010-03-11 Fujifilm Corp Ｘ線検出素子
JP2011022132A (ja) * 2009-06-17 2011-02-03 Fujifilm Corp 放射線検出装置及び放射線画像検出システム
JP5731444B2 (ja) * 2011-07-07 2015-06-10 富士フイルム株式会社 放射線検出器、放射線画像撮影装置、及び放射線画像撮影システム
JP5954983B2 (ja) 2011-12-21 2016-07-20 キヤノン株式会社 撮像装置及び放射線撮像システム、並びに撮像装置の製造方法
JP6057511B2 (ja) 2011-12-21 2017-01-11 キヤノン株式会社 撮像装置及び放射線撮像システム
JP2014003542A (ja) 2012-06-20 2014-01-09 Canon Inc 検出装置、検出システム及び検出装置の駆動方法
JP2014110352A (ja) 2012-12-03 2014-06-12 Canon Inc 検出装置の製造方法
JP6463136B2 (ja) 2014-02-14 2019-01-30 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP6585910B2 (ja) 2014-05-01 2019-10-02 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP6339853B2 (ja) 2014-05-01 2018-06-06 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP6480670B2 (ja) 2014-05-01 2019-03-13 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP6442163B2 (ja) 2014-06-02 2018-12-19 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP6595803B2 (ja) 2014-06-13 2019-10-23 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システムおよびその制御方法
US9948871B2 (en) 2014-07-25 2018-04-17 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
JP6378573B2 (ja) 2014-08-06 2018-08-22 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP6491434B2 (ja) 2014-08-12 2019-03-27 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線検出システム
JP6555909B2 (ja) 2015-03-20 2019-08-07 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP6570315B2 (ja) 2015-05-22 2019-09-04 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP6626301B2 (ja) 2015-09-28 2019-12-25 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム
JP6649775B2 (ja) 2016-01-13 2020-02-19 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その駆動方法及び放射線撮像システム
JP6644027B2 (ja) * 2016-07-29 2020-02-12 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影システム、放射線画像撮影方法、及び放射線画像撮影プログラム
JP6695232B2 (ja) * 2016-07-29 2020-05-20 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影システム
JP6639353B2 (ja) * 2016-07-29 2020-02-05 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影システム、放射線画像撮影方法、及び放射線画像撮影プログラム
JP6929104B2 (ja) 2017-04-05 2021-09-01 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム
JP6853729B2 (ja) 2017-05-08 2021-03-31 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム
JP6788547B2 (ja) 2017-05-09 2020-11-25 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、その制御方法、制御装置、及び、放射線撮像システム
WO2019012846A1 (ja) 2017-07-10 2019-01-17 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP7045834B2 (ja) 2017-11-10 2022-04-01 キヤノン株式会社 放射線撮像システム
JP7079113B2 (ja) 2018-02-21 2022-06-01 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
WO2019181494A1 (ja) 2018-03-19 2019-09-26 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP7198003B2 (ja) 2018-06-22 2022-12-28 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法およびプログラム
EP3661190B1 (en) 2018-11-27 2024-05-22 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus and radiation imaging system
JP7546393B2 (ja) 2020-07-08 2024-09-06 キヤノン株式会社 放射線撮像装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008120293A1 (ja) 2007-03-01 2008-10-09 Shimadzu Corporation Ｘ線撮影装置
JP2018186468A (ja) 2017-04-27 2018-11-22 キヤノン株式会社 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム
WO2019093168A1 (ja) 2017-11-10 2019-05-16 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム

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