JP6881309B2 - 液晶配向剤、液晶配向膜、及び液晶表示素子 - Google Patents

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Description

本発明は、液晶表示素子に用いられる液晶配向剤、液晶配向膜、液晶表示素子、及び、液晶配向剤に含有する重合体の原料となる新規なジアミン化合物に関する。
液晶表示素子は、スマートフォン、パソコン、携帯電話、テレビ等の表示部として幅広く用いられている。液晶表示素子は、例えば素子基板とカラーフィルタ基板との間に挟持された液晶層、液晶層に電界を印加する画素電極及び共通電極、液晶層の液晶分子の配向性を制御する配向膜、画素電極に供給される電気信号をスイッチングする薄膜トランジスタ(TFT)等を備えている。液晶分子の駆動方式としては、TN方式、VA方式等の縦電界方式や、IPS方式、FFS方式等の横電界方式が知られている。基板の片側のみに電極を形成させ、基板と平行方向に電界を印加する横電界方式では、従来の上下基板に形成された電極に電圧を印加して液晶を駆動させる縦電界方式と比べ、広い視野角特性を有し、また高品位な表示が可能な液晶表示素子として知られている。
横電界方式の液晶セルは視野角特性に優れているものの、基板内に形成される電極部分が少ないために、電圧保持率が低いと液晶に十分な電圧がかからず表示コントラストが低下する。また、液晶配向の安定性が小さいと、液晶を長時間駆動させた際に液晶が初期の状態に戻らなくなり、コントラスト低下や残像の原因となるため、液晶配向の安定性が重要である。また、静電気が液晶セル内に蓄積されやすく、駆動によって生じる正負非対称電圧の印加によっても液晶セル内に電荷が蓄積され、これらの蓄積された電荷が液晶配向の乱れや残像として表示に影響を与え、液晶素子の表示品位を著しく低下させる。また、駆動直後にバックライト光が液晶セルに照射されることによっても電荷が蓄積され、短時間の駆動でも残像が発生する、駆動中にフリッカー(ちらつき)の大きさが変化する等の問題を生じてしまう。
一方、液晶表示素子の製造工程において、液晶配向膜は液晶配向剤を印刷し、乾燥、焼成を行った後にラビング処理を行って形成されるのが一般的である。横電界方式液晶セルでは、基板の片側のみに電極構造を有するため基板の凹凸が大きく、また、窒化珪素などの絶縁体が基板表面に形成されていることもあり、従来の配向剤と比較してより印刷性に優れた液晶配向剤が求められている。さらには、液晶配向の安定性を向上させるために従来の液晶セルよりも強くラビング処理を施すことから、ラビング処理による剥離やラビング削れを引き起こし易く、これらの剥がれや傷が表示品位を低下させる問題点がある。
このような横電界駆動液晶素子に用いた際、電圧保持率に優れ、かつ電荷蓄積を低減した液晶配向剤として、特許文献1には、特定ジアミンと脂肪族テトラカルボン酸誘導体とを含有する液晶配向剤が開示されている。また、液晶配向性、ラビング耐性、光透過率に優れ、広い温度範囲での残像低減に有効な液晶配向膜を形成する手段として、特許文献2には、特定ジアミンと芳香族テトラカルボン酸誘導体を含む液晶配向剤が開示されている。長時間熱ストレスが印加されても電圧保持率が低下することのなく、液晶配向性に優れる液晶配向剤として、特許文献3には、特定構造を有するポリアミック酸及びポリイミドよりなる群から選択される少なくとも一種の重合体を含有する液晶配向剤が開示される。
しかし、液晶表示素子の高性能化に伴い、液晶配向膜に要求される特性も厳しくなってきており、従来の技術のみでは全ての要求特性を満足することは難しい。
国際公開公報WO2004/021076号パンフレット 国際公開公報WO2013/062115号パンフレット 特開2010−026503
本発明は、ラビング耐性に優れ、蓄積電荷の緩和が早く、かつ液晶配向の安定性が高い、特に横電界駆動方式用液晶表示素子に適した液晶配向膜を得ることを課題とする。
本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意検討を行った結果、液晶配向剤に含まれる重合体中に特定構造を導入することで種々の特性が同時に改善されることを見出し、本発明を完成した。
本発明は、下記を要旨とするものである。
1.下記式(1)で表される構造を主鎖に有する重合体を含有する液晶配向剤。
Figure 0006881309
(Rは水素、又は一価の有機基を表す。Arは、置換基を有してもよいフェニル基若しくはナフタレン基である*は他の基に結合する部位を示す。)
本発明の液晶配向剤によれば、ラビング耐性に優れ、蓄積電荷の緩和が早く、かつ配向規制力の高い、特に横電界駆動方式用液晶表示素子に適した液晶配向膜、及び表示特性に優れた、特に横電界駆動方式の液晶表示素子が提供される。
本発明の液晶配向剤は、下記式(1)で表される2価の基を主鎖に有する重合体(以下、特定重合体とも言う)を含有する液晶配向剤である。
Figure 0006881309
式(1)のRは水素、又は一価の有機基を表す。一価の有機基としては、炭素数1〜20のアルキル基やアルケニル基、シクロアルキル基、フェニル基、フッ素原子、又はこれらの組み合わせからなる基などが挙げられる。なかでも、水素原子、又は炭素数1〜3の直鎖アルキル基が好ましく、水素原子、又はメチル基がより好ましくい。
また、Rは、熱により脱離反応を生じ、水素原子に置き換わる保護基であってもよい。液晶配向剤の保存安定性の点から、この保護基は、室温においては脱離せず、好ましくは、80℃以上、より好ましくは100℃以上、特に好ましくは150〜200℃で脱離し、水素原子になるのが好適である。例えば、1,1−ジメチル−2−クロロエトキシカルボニル基、1,1−ジメチル−2−シアノエトキシカルボニル基、tert−ブトキシカルボニル基等が挙げられ、好ましくはtert−ブトキシカルボニル基である。
式(1)のArは、置換基を有してもよいフェニル基若しくはナフタレン基を表す。これらのうち、フェニル基が好ましい。また、これらのフェニル基又はナフタレン基の環部分に置換基が結合されていてもよい。置換基の具体例としては、フッ素原子やメチル基などが挙げられる。
本発明において、式(1)で表される2価の基を主鎖に有する重合体の種類は特に限定されない。具体的にはポリアミド、ポリアミック酸、ポリアミック酸エステル、ポリイミド、ポリウレア、ポリシロキサン、ポリエステル等、一般的に液晶配向膜として用いられる重合体が挙げられる。なかでも、ポリアミック酸やポリアミック酸エステルなどのポリイミド前駆体、又はそれをイミド化して得られるポリイミドのうちの少なくとも1種の重合体が好ましい。
上記のポリイミド前駆体としては、テトラカルボン酸誘導体とジアミンとの反応で得られるポリアミック酸又はポリアミック酸エステルが挙げられる。このポリイミド前駆体の主鎖に、式(1)で表される2価の基を導入する手段としては、式(1)で表される2価の基を主鎖方向に有するテトラカルボン酸誘導体、又は、式(1)で表される2価の基を主鎖方向に有するジアミンから選ばれる少なくとも1種を、前記の反応に用いるテトラカルボン酸誘導体及びジアミンの一部又は全部に用いる方法が挙げられる。
上記ポリイミド前駆体の製造に用いるテトラカルボン酸誘導体としては、テトラカルボン酸、テトラカルボン酸二無水物、テトラカルボン酸ジハライド、テトラカルボン酸ジアルキルエステル又はテトラカルボン酸ジアルキルエステルジハライドが挙げられる。例えば、式(1)で表される2価の基を主鎖方向に有するテトラカルボン酸は、下記式(1−1)で表すことができる。
Figure 0006881309
式(1−1)中、R及びArは前記式(1)の定義と同じであり、Aは3価の基を表し、2つのAは同一であっても異なってもよい。Aの例としては、シクロブタン環構造、シクロペンタン環構造、シクロヘキサン環構造、ベンゼン環構造及び下記式(A−1)よりなる群から選ばれる少なくとも一種を有する3価の有機基が挙げられる。
Figure 0006881309
また、式(1)で表される2価の基を主鎖方向に有するジアミンは、下記式(1−2)で表すことができる。
Figure 0006881309
式(1−2)中、R及びArは前記式(1)の定義と同じであり、Bは単結合又は2価の基を表し、2つのBは同一であっても異なってもよい。Bが2価の基である場合、その例としては、ベンゼン環構造、炭素数が1〜10、好ましくは1〜5を有する、アルキル構造、アルケニル構造、アルコキシ構造、フルオロアルキル構造、及びアミド構造よりなる群から選ばれる少なくとも一種を有する2価の有機基が挙げられる。
なお、上記式(1−2)で示されるジアミンは、式(1)で表される2価の基を主鎖方向に有するポリウレアを得るのに用いることもできる。ポリウレアはジイソシアネートとジアミンの反応によって得られ、この反応の一部又は全部に式(1−2)のジアミンを用いて得られたポリウレアは、本発明の液晶配向剤に含有される特定重合体の一種となる。
本発明に用いられる特定重合体は、下記式(2)で表される構造単位を含むポリイミド前駆体、及びそれをイミド化して得られるポリイミドから選ばれる少なくとも1種が好ましい。
Figure 0006881309
上記式(2)において、Xはテトラカルボン酸誘導体に由来する4価の有機基である。Yは式(1)の構造を主鎖方向に含むジアミンに由来する2価の有機基である。R2は水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基である。R2は、加熱によるイミド化のしやすさの点から、水素原子、メチル基又はエチル基が好ましい。
は、重合体の溶媒への溶解性や液晶配向剤の塗布性、液晶配向膜とした場合における液晶の配向性、電圧保持率、蓄積電荷など、必要とされる特性の程度に応じて適宜選択され、同一重合体中に1種類でも、2種類以上でもよい。
の具体例を示すならば、国際公開公報2015/119168の13項〜14項に掲載される、式(X−1)〜(X−46)の構造などが挙げられる。
以下に、好ましいXの構造を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。
Figure 0006881309
Figure 0006881309
上記の構造のうち、(A−1)、(A−2)はラビング耐性の更なる向上という観点から特に好ましい。(A−4)は蓄積電荷の緩和速度の更なる向上という観点から特に好ましい。(A−15)〜(A−17)は、液晶配向性と蓄積電荷の緩和速度の更なる向上という観点から特に好ましい。
式(2)において、Yの具体例としては前記式(1−2)のジアミンから2つのアミノ基を除いた構造を挙げることができる。なかでも、Yは下記式(3)の構造であるとより好ましい。
Figure 0006881309
式(3)において、R及びArは前記式(1)の定義と同じである。Rは単結合又は置換基を有してもよいフェニル基を表す。*は―NH−に結合する部位を示す。Rはフェニル基が特に好ましい。
の特に好ましい構造を以下に示す。下記式において、Bocはtert−ブトキシカルボニル基を表し、*は―NH−に結合する部位を表す。
Figure 0006881309
なお、前記式(3)の構造を有するジアミンとしては、下記式(4)で表されるジアミンを挙げることができる。かかるジアミンの製造方法については後述する。
Figure 0006881309
式(4)において、R及びArは上記式(1)の定義と同じである。Rは単結合、又は置換基を有してもよいフェニル基を表す。Rはフェニル基が特に好ましい。
式(2)で表される構造単位を含むポリイミド前駆体は、本発明の効果を損なわない範囲において、下記式(5)で表される構造単位を含んでいてもよい。
Figure 0006881309
式(5)において、Xはテトラカルボン酸誘導体に由来する4価の有機基である。Yは、式(1)におけるY1の構造を主鎖方向に含まないジアミンに由来する2価の有機基である。Rは、前記式(2)における定義と同じであり、Rは水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基である。また、2つあるRの少なくとも一方は水素原子であることが好ましい。
の具体例としては、好ましい例も含めて式(2)のXで例示したものと同じ構造を挙げることができる。また、Yは式(1)の構造を主鎖方向に含まないジアミンに由来する二価の有機基であり、その構造は特に限定されない。また、Yは重合体の溶媒への溶解性や液晶配向剤の塗布性、液晶配向膜とした場合における液晶の配向性、電圧保持率、蓄積電荷など、必要とされる特性の程度に応じて適宜選択され、同一重合体中に1種類でも又は2種類以上でもよい。
の具体例を示すならば、国際公開公報2015/119168の4頁に掲載される式(2)の構造、及び、8〜12頁に掲載される、式(Y−1)〜(Y−97)、(Y−101)〜(Y−118);国際公開公報2013/008906の6項に掲載される、式(2)からアミノ基を2つ除いた2価の有機基;国際公開公報2015/122413の8頁に掲載される式(1)からアミノ基を2つ除いた2価の有機基;国際公開公報2015/060360の8頁に掲載される式(3);日本国公開特許公報2012−173514の8頁に記載される式(1)からアミノ基を2つ除いた二価の有機基;国際公開公報2010−050523の9頁に掲載される式(A)〜(F)からアミノ基を2つ除いた二価の有機基などが挙げられる。
の好ましい構造を以下に示すが、これらに限定されるものではない。
Figure 0006881309
Figure 0006881309
Figure 0006881309
Figure 0006881309
上記のうち、(B−28)、(B−29)は、ラビング耐性の更なる向上という観点から特に好ましい。(B−1)〜(B−3)は、液晶配向性の更なる向上という観点から特に好ましい。(B−14)〜(B−18)及び(B−27)は、蓄積電荷の緩和速度の更なる向上という観点から特に好ましい。
式(2)で表される構造単位を含むポリイミド前駆体が、式(5)で表される構造単位を含む場合、式(2)で表される構造単位は、式(2)と式(5)の合計に対して10モル%以上であることが好ましく、より好ましくは20モル%以上であり、特に好ましくは30モル%以上である。
本発明に用いるポリイミド前駆体の分子量は、重量平均分子量で2,000〜500,000が好ましく、より好ましくは5,000〜300,000であり、さらに好ましくは、10,000〜100,000である。
式(1)で表される2価の基を主鎖に有するポリイミドとしては、前記のポリイミド前駆体を閉環させて得られるポリイミドが挙げられる。このポリイミドにおいては、アミド酸基の閉環率(イミド化率ともいう)は必ずしも100%である必要はなく、用途や目的に応じて任意に調整できる。
ポリイミド前駆体をイミド化させる方法としては、ポリイミド前駆体の溶液をそのまま加熱する熱イミド化、又はポリイミド前駆体の溶液に触媒を添加する触媒イミド化が挙げられる。
本発明の液晶配向剤は、上記特定重合体を含有するものであるが、異なる構造の特定重合体を2種以上含有していてもよい。また、特定重合体に加えて、その他の重合体、即ち式(1)で表される2価の基を主鎖に有さない重合体を含有していてもよい。その他の重合体の種類としては、ポリアミック酸、ポリイミド、ポリアミック酸エステル、ポリエステル、ポリアミド、ポリオルガノシロキサン、セルロース誘導体、ポリアセタール、ポリスチレン又はその誘導体、ポリ(スチレン−フェニルマレイミド)誘導体、ポリ(メタ)アクリレートなどを挙げることができる。本発明の液晶配向剤がその他の重合体を含有する場合、含有される全重合体成分に対する特定重合体の割合は5質量%以上であることが好ましく、その一例として5〜95質量%が挙げられる。
液晶配向剤は、液晶配向膜を作製するために用いられるものであり、均一な薄膜を形成させるという観点から、一般的には溶液の形態をとる。本発明の液晶配向剤においても前記した重合体成分と、この重合体成分を溶解させる有機溶媒とを含有する溶液であることが好ましい。その際、液晶配向剤中の重合体の濃度は、形成させようとする塗膜の厚みの設定によって適宜変更することができる。均一で欠陥のない塗膜を形成させるという点からは、1質量%以上であることが好ましく、溶液の保存安定性の点からは、10質量%以下とすることが好ましい。特に好ましい重合体の濃度は、2〜8質量%である。
液晶配向剤に含有される有機溶媒は、重合体成分が均一に溶解するものであれば特に限定されない。その具体例を挙げるならば、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン、N−エチル−2−ピロリドン、ジメチルスルホキシド、γ−ブチロラクトン、1,3−ジメチル−イミダゾリジノン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、4−ヒドロキシ−4−メチル−2−ペンタノンなどを挙げることができる。なかでも、N−メチル−2−ピロリドン、N−エチル−2−ピロリドン、又はγ−ブチロラクトンを用いることが好ましい。
また、液晶配向剤に含有される有機溶媒は、上記のような溶媒に加えて液晶配向剤を塗布する際の塗布性や塗膜の表面平滑性を向上させる溶媒を併用した混合溶媒を使用することが一般的であり、本発明の液晶配向剤においてもこのような混合溶媒は好適に用いられる。併用する有機溶媒の具体例は、液晶配向剤に関する公知の文献に種々開示されているとおりであるが、その一例を示すなら、国際公開公報2015/060357号パンフレットの53頁[0104]〜55頁[0105]に開示されている溶媒などが挙げられる。このような溶媒の種類及び含有量は、液晶配向剤の塗布装置、塗布条件、塗布環境などに応じて適宜選択される。
本発明の液晶配向剤は、本発明の効果を損なわない範囲において、重合体成分及び有機溶媒以外の成分を追加的に含有してもよい。このような追加成分としては、液晶配向膜と基板との密着性や液晶配向膜とシール材との密着性を高めるための密着助剤、液晶配向膜の強度を高めるための架橋剤、液晶配向膜の誘電率や電気抵抗を調整するための誘電体や導電物質などが挙げられる。これら追加成分の具体例としては、液晶配向剤に関する公知の文献に種々開示されているとおりであるが、その例を示すなら、国際公開公報2015/060357号パンフレットの53頁[0105]〜55頁[0116]に開示されている成分などが挙げられる。
本発明の液晶配向剤から液晶配向膜を得る方法の一例を挙げるなら、塗布液形態の液晶配向剤を基板に塗布し、乾燥し、焼成して得られた膜に対してラビング処理法又は光配向処理法で配向処理を施す方法が挙げられる。
液晶配向剤を塗布する基板としては、透明性の高い基板であれば特に限定されず、ガラス基板、窒化珪素基板とともに、アクリル基板やポリカーボネート基板などのプラスチック基板等を用いることもできる。その際、液晶を駆動させるためのITO電極などが形成された基板を用いると、プロセスの簡素化の点から好ましい。また、反射型の液晶表示素子では、片側の基板のみにならば、シリコンウエハーなどの不透明な物でも使用でき、この場合の電極にはアルミニウムなどの光を反射する材料も使用できる。
液晶配向剤の塗布方法は、特に限定されないが、スクリーン印刷、オフセット印刷、フレキソ印刷、インクジェット法などが一般的である。その他の塗布方法としては、ディップ法、ロールコータ法、スリットコータ法、スピンナー法、スプレー法などがあり、目的に応じてこれらを用いてもよい。
液晶配向剤を基板上に塗布した後は、ホットプレート、熱循環型オーブン、IR(赤外線)型オーブンなどの加熱手段により、溶媒を蒸発させ、焼成する。液晶配向剤を塗布した後の乾燥、焼成工程は、任意の温度と時間を選択することができる。通常は、含有される溶媒を十分に除去するために、50〜120℃で1〜10分焼成し、その後、150〜300℃で、5〜120分焼成する手段が挙げられる。
焼成後の液晶配向膜の厚みは、特に限定されないが、薄すぎると液晶表示素子の信頼性が低下する場合があるので、5〜300nmであることが好ましく、10〜200nmがより好ましい。
本発明の液晶配向膜は、IPS方式やFFS方式などの横電界方式の液晶表示素子の液晶配向膜として好適であり、特に、FFS方式の液晶表示素子の液晶配向膜として有用である。
本発明の液晶表示素子は、上記液晶配向剤から得られる液晶配向膜付きの基板を得た後、既知の方法で液晶セルを作製し、該液晶セルを使用して素子としたものである。
液晶セルの作製方法の一例として、パッシブマトリクス構造の液晶表示素子を例にとり説明する。なお、画像表示を構成する各画素部分にTFT(Thin Film Transistor)などのスイッチング素子が設けられたアクティブマトリクス構造の液晶表示素子であってもよい。
具体的には、透明なガラス製の基板を準備し、一方の基板の上にコモン電極を、他方の基板の上にセグメント電極を設ける。これらの電極は、例えばITO電極とすることができ、所望の画像表示ができるようパターニングされている。次いで、各基板の上に、コモン電極とセグメント電極を被覆するようにして絶縁膜を設ける。絶縁膜は、例えば、ゾル−ゲル法によって形成されたSiO−TiOからなる膜とすることができる。次に、前記のような条件で、各基板の上に液晶配向膜を形成する。
次いで、液晶配向膜を形成した2枚の基板のうちの一方の基板上の所定の場所に例えば紫外線硬化性のシール材を配置し、さらに液晶配向膜面上の所定の数カ所に液晶を配置した後、液晶配向膜が対向するように他方の基板を貼り合わせて圧着することにより液晶を液晶配向膜前面に押し広げた後、基板の全面に紫外線を照射してシール材を硬化することで液晶セルを得る。
また、基板の上に液晶配向膜を形成した後の工程として、一方の基板上の所定の場所にシール材を配置する際に、外部から液晶を充填可能な開口部を設けておき、液晶を配置しないで基板を貼り合わせた後、シール材に設けた開口部を通じて液晶セル内に液晶材料を注入し、次いで、この開口部を接着剤で封止して液晶セルを得る。液晶材料の注入には、真空注入法でもよいし、大気中で毛細管現象を利用した方法でもよい。
上記のいずれの方法においても、液晶セル内に液晶材料が充填される空間を確保する為に、一方の基板上に柱状の突起を設けるか、一方の基板上にスペーサーを散布するか、シール材にスペーサーを混入するか、又はこれらを組み合わせるなどの手段を取ることが好ましい。
上記の液晶材料としては、ネマチック液晶及びスメクチック液晶を挙げることができ、その中でもネマチック液晶が好ましく、ポジ型液晶材料やネガ型液晶材料のいずれを用いてもよい。次に、偏光板の設置を行う。具体的には、2枚の基板の液晶層とは反対側の面に一対の偏光板を貼り付けることが好ましい。
なお、本発明の液晶配向膜及び液晶表示素子は、本発明の液晶配向剤を用いている限り上記の記載に限定されるものではなく、その他の公知の手法で作製されたものであってもよい。液晶配向剤から液晶表示素子を得るまでの工程は、例えば日本特開2015−135393の17頁[0074]〜19頁[0081]に開示されている。
<本発明のジアミン>
以下に、前述した下記式(4)で表されるジアミンを得る方法について説明する。
Figure 0006881309
式(4)において、R及びArは上記式(1)の定義と同じである。Rは単結合、又は置換基を有してもよいフェニル基を表す。Rはフェニル基が特に好ましい。
式(4)で表されるジアミンの好ましい具体例としては、下記式(4−1)〜(4−7)のジアミンを挙げることができる。式中、Bocは、tert−ブトキシカルボニル基を表し、Meはメチル基を表す。
Figure 0006881309
上記式(4)で表されるジアミンを製造する方法は特に限定されないが、好ましい方法としては、以下の製法が挙げられる。
チアゾール骨格を有するアミン化合物(a1)と、ニトロ化合物(a2)を反応させることにより以下のジニトロ体(a3)を製造する。その後ニトロ基を還元することで目的のジアミン(a4)を得ることができる。
Figure 0006881309
Figure 0006881309
上記反応式[1]、[2]中、R’、R”は1価の有機基であり、Xはハロゲン原子を示し、F、Cl、Br又はI原子を意味する。
上記は式(4)におけるRが水素原子である場合の例であるが、Rが水素原子以外の場合はジニトロ体(a3)に、Rに対応する1価の有機基を導入すればよい。1価の有機基を導入するにあたっては、アミン類と反応が可能な化合物であればよく、例えば、酸ハライド、酸無水物、イソシアネート類、エポキシ類、オキセタン類、ハロゲン化アリール類、ハロゲン化アルキル類が挙げられる。また、アルコールの水酸基をOMs、OTf、OTs等の脱離基に置換したアルコール類などが使用できる。
チアゾール骨格を有するアミン化合物(a1)の合成法は特に限定されないが、一般的な合成法として、下記に示すように、ニトロ基を有するα-ハロケトン(a5)とチオ尿素との反応により合成することができる。
Figure 0006881309
使用する塩基は、例えば、炭酸水素ナトリウム、炭酸水素カリウム、燐酸カリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、炭酸リチウム、炭酸セシウムなどの無機塩基、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリイソプロピルアミン、トリブチルアミン、ジイソプロピルエチルアミン、ピリジン、キノリン、コリジンなどのアミン類、水素化ナトリウム、水素化カリウムなどの塩基を使用できる。
溶媒に関しても、原料と反応しない溶媒であれば使用することができ、非プロトン性極性有機溶媒(N,N−ジメチルホルムアミド 、ジメチルスルホキシド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン など)、エーテル類(ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、メチルtertブチルエーテル 、シクロペンチルメチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサンなど)、脂肪族炭化水素類(ペンタン、へキサン、ヘプタン、石油エーテルなど)、芳香族炭化水素類(ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン、ニトロベンゼン、テトラリンなど)、ハロゲン系炭化水素類(クロロホルム、ジクロロメタン、四塩化炭素、ジクロロエタンなど)、低級脂肪酸エステル類(酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、プロピオン酸メチル等)、ニトリル類(アセトニトリル、プロピオニトリル、ブチロニトリル等)が使用できる。これらの溶媒は、反応の起こり易さなどを考慮して適宜選択することができ、この場合、上記溶媒は1種単独で又は2種以上混合して用いることができる。また場合によっては、適当な脱水剤や乾燥剤を用いて非水溶媒として用いることもできる。反応温度は−100℃から使用する溶媒の沸点までの範囲で任意の温度を選択することができるが、好ましくは−50〜150℃の範囲である。反応時間は0.1〜1000時間の範囲で任意に選択することができる。生成物は、再結晶、蒸留、シリカゲルカラムクロマトグラフィーなどで精製してもよい。
上記反応式[1]に関して、XがF又はClであって、かつ、NO基がXに対して2位、又は4位にあれば、塩基の存在下、ハロゲン化アリールと脂肪族アミン化合物とを反応させ、ジニトロ体(a3)を得ることができる。使用する塩基は、前述の塩基を使用することができる。反応溶媒、反応温度は前記の記載に準ずる。生成物は、再結晶、蒸留、シリカゲルカラムクロマトグラフィーなどで精製してもよい。
また、Xが、Br又はIであれば、NO基がXに対して2位でも3位でも4位でもよく、適当な金属触媒、配位子、塩基存在下でC−Nクロスカップリング反応を用いることでもジニトロ体を得ることができる。金属触媒の例としては、酢酸パラジウム、塩化パラジウム、塩化パラジウム-アセトニトリル錯体、パラジウム−活性炭、ビス(ジベンジリデンアセトン)パラジウム、トリス(ジベンジリデンアセトン)ジパラジウム、ビス(アセトニトリル)ジクロロパラジウム、ビス(ベンゾニトリル)ジクロロパラジウム、CuCl、CuBr、CuI、CuCN等が挙げられる。配位子の例としては、トリフェニルホスフィン、トリ−o−トリルホスフィン、ジフェニルメチルホスフィン、フェニルジメチルホスフィン、1,2−ビス(ジフェニルホスフィノ)エタン、1,3−ビス(ジフェニルホスフィノ)プロパン、1,4−ビス(ジフェニルホスフィノ)ブタン、1,1’−ビス(ジフェニルホスフィノ)フェロセン、トリメチルホスファイト、トリエチルホスファイト、トリフェニルホスファイト、トリ−tert−ブチルホスフィン等が挙げられる。塩基の例としては前述の塩基を用いることができる。反応溶媒、反応温度は、前記の記載に準ずる。生成物は、再結晶、蒸留、シリカゲルカラムクロマトグラフィーなどで精製してもよい。
上記反応[2]にかける還元反応は、触媒の存在下における水素添加反応、プロトンの共存下に行う還元反応、蟻酸を水素源とする還元、ヒドラジンを水素源とする還元反応などがあり、これらの還元反応を組み合わせでもよい。ジニトロ化合物の構造と還元反応の反応性を考慮し、水素添加反応が好ましい。
還元反応に用いられる触媒は、市販品として入手できる活性炭担持金属が好ましく、例えば、パラジウム−活性炭、白金−活性炭、ロジウム−活性炭などが挙げられる。また、水酸化パラジウム、酸化白金、ラネーニッケルなど必ずしも活性炭担持型の金属触媒でなくてもよい。一般的に広く使用されているパラジウム−活性炭が、良好な結果が得られるので好ましい。
還元反応をより効果的に進行させるため、活性炭の共存下で反応を実施することもある。この時、使用する活性炭の量は特に限定されないが、ジニトロ化合物(a3,X1)に対して1〜30質量%の範囲が好ましく、10〜20質量%がより好ましい。同様な理由により、加圧下で反応を実施する場合もある。この場合、ベンゼン核の還元を避けるため、20気圧までの加圧範囲で行う。好ましくは10気圧までの範囲で反応を実施する。
溶媒は、各原料と反応しない溶媒であれば、制限なく使用することができる。例えば、非プロトン性極性有機溶媒(N,N−ジメチルホルムアミド 、ジメチルスルホキシド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン など);エーテル類(ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、メチルtertブチルエーテル 、シクロペンチルメチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサンなど);脂肪族炭化水素類(ペンタン、へキサン、ヘプタン、石油エーテルなど);芳香族炭化水素類(ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン、ニトロベンゼン、テトラリンなど);ハロゲン系炭化水素類(クロロホルム、ジクロロメタン、四塩化炭素、ジクロロエタンなど);低級脂肪酸エステル類(酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、プロピオン酸メチル等);ニトリル類(アセトニトリル、プロピオニトリル、ブチロニトリル等);などが使用できる。これらの溶媒は、反応の起こり易さなどを考慮して適宜選択することができ、1種単独で又は2種以上混合して用いることができる。必要に応じて、適当な脱水剤や乾燥剤を用いて溶媒を乾燥し、非水溶媒として用いることもできる。
溶媒の使用量(反応濃度)は特に限定されないが、ジニトロ化合物に対し、0.1〜100質量倍である。好ましくは0.5〜30質量倍であり、さらに好ましくは1〜10質量倍である。
反応温度は特に限定されないが、−100℃から使用する溶媒の沸点までの範囲、好ましくは、−50〜150℃である。反応時間は、通常0.05〜350時間、好ましくは0.5〜100時間である。
以下に実施例等を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、以下における化合物の略号及び特性評価の方法は、以下のとおりである。
Figure 0006881309
Figure 0006881309
<有機溶媒>
NMP:N−メチル−2−ピロリドン、 GBL:γ―ブチロラクトン
BCS:ブチルセロソルブ、 Pd/C:パラジウムカーボン
DMSO:ジメチルスルオキシド、 THF:テトラヒドロフラン
<添加剤>
LS−4668:3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン
(1H−NMRの測定)
装置:Varian NMR system 400NB(400MHz)(Varian社製)、及びJMTC−500/54/SS(500MHz)(JEOL社製)
測定溶媒:CDCl3(重水素化クロロホルム),DMSO−d6(重水素化ジメチルスルホキシド)
基準物質:TMS(テトラメチルシラン)(δ:0.0ppm,1H)及びCDCl3(δ:77.0ppm,13C)
<ジアミン化合物(DA-1)の合成>
Figure 0006881309
2L(リットル)の四つ口フラスコに2−ブロモー4−ニトロフェニルアセトフェノン(100g,410mmol)、チオ尿素(31.2g, 410mmol)、及びNMP(600g)を仕込み、羽攪拌下に60℃にまで昇温し、トリエチルアミン(83.0g,820mmol)を10分掛けて滴下し,1時間攪拌した。HPLC(高速液体クロマトグラフィ)にて反応終了を確認した後、メタノール(1500g)加え、5℃に冷却後1時間攪拌した。析出した結晶を減圧濾過し、2−プロパノール(200g)で洗浄した後、乾燥し、粉末結晶(1)を得た(収量87g,収率96%)。
1H-NMR(CDCl3,δppm);8.25-8.20(2H, m), 8.10-8.03(2H, m),7.42(1H, s), 7.25(1H, s)
Figure 0006881309
1Lの四つ口フラスコに化合物(1)(50g,226mmol)、4−フルオロニトロベンゼン(38.3g, 271mmol)、炭酸セシウム(73.6g, 226mmol)、DMSO(500g)、水(10g)を仕込み、羽攪拌下に60℃にまで昇温し、12時間攪拌した。その後更に炭酸セシウム(73.6g, 226mmol)を加え、12時間撹拌した。得られた反応液を濾過することにより、塩を除去し、メタノール(500g)―水(500g)を滴下し、5℃に冷却後1時間攪拌した。析出した結晶を減圧濾過し、メタノール(500g)で3回リパルプ洗浄した後、乾燥し、粉末結晶(2)を得た(収量42g,収率54%)。
1H-NMR(DMSO-d6,δppm);11.2(1H, s), 8.30-8.22(6H, m), 7.98-7.94(3H, m)
Figure 0006881309
化合物(2)(20g,29.2mmol)、5質量%Pd/C(50%含水型)、及びTHF(200g)の混合物を、水素加圧条件下に60℃で12時間攪拌した。反応終了後、触媒をろ過した後、濃縮を行い、トルエン(200g)にてスラリー洗浄した。析出した結晶を減圧濾過し、トルエン(40g)で洗浄した後、乾燥し、粉末結晶DA−1を得た(収量16g,収率91%)。
1H-NMR(DMSO-d6,δppm);9.55(1H, s), 7.55-7.50(2H, m), 7.28-7.25(2H, m),6.72(1H, s),6.58-6.45(m-4H),5.20(1H, s), 4.82(2H, s)
<化合物(DA-3)の合成>
Figure 0006881309
合成原料である2−アミノ−6−ニトロベンゾチアゾールは、東京化成工業社の製品をそのまま使用した。2−アミノ−6−ニトロベンゾチアゾール(97.6g、0.50mol)、5質量%Pd/C(50%含水型)、及びエタノール(3000g)の混合物を、水素加圧条件下に60℃で12時間攪拌した。反応終了後、触媒をろ過した後、濃縮を行い、得られた結晶を2−プロパノール(200g)にてスラリー洗浄した。結晶を減圧濾過し、2−プロパノール(40g)で洗浄した後、乾燥し、粉末結晶DA−3を得た(収量44.8g,収率54%)。
<重合体の合成>
[合成例1]
撹拌装置付き及び窒素導入管付きの50ml四つ口フラスコにDA−1を(2.26g,8.0mmol)加えた後、NMP26.0gを加え、窒素を送りながら撹拌し溶解させた。このジアミン溶液を撹拌しながらCA−2を(1.57g,8.0mmol)加え、NMPを6.5g加えた後、さらに25℃条件下にて12時間攪拌することで樹脂固形分濃度12質量%のポリアミック酸溶液(PAA−1)を得た。このポリアミック酸溶液の粘度は300mPa・sであった。
[合成例2]
撹拌装置付き及び窒素導入管付きの50ml四つ口フラスコにDA−1を(1.98g,7.0mmol)加えた後、NMP23.4gを加え、窒素を送りながら撹拌し溶解させた。このジアミン溶液を撹拌しながらCA−1を(1.39g,6.4mmol)加え、NMPを5.9g加えた後、さらに50℃条件下にて12時間攪拌することで樹脂固形分濃度12質量%のポリアミック酸溶液(PAA−2)を得た。このポリアミック酸溶液の粘度は275mPa・sであった。
[合成例3]
撹拌装置付き及び窒素導入管付きの50ml四つ口フラスコにDA−1を(1.81g,6.4mmol)、DA−4を(0.39g、1.6mmol)加えた後、NMP20.4gを加え、窒素を送りながら撹拌し溶解させた。このジアミン溶液を撹拌しながらCA−2を(0.64g,3.3mmol)加え、NMPを2.1g加えた後、25℃条件下にて1時間攪拌した。その後、CA−1を(0.87g,4.0mmol)加え、NMPを3.0g加えた後、さらに50℃条件下にて12時間攪拌することで樹脂固形分濃度15質量%のポリアミック酸溶液(PAA−3)を得た。このポリアミック酸溶液の粘度は593mPa・sであった。
[合成例4]
合成例1で得られたポリアミック酸溶液(PAA−1)を8.3g分取し、攪拌しながらNMPを6.5g、BCSを5.2g、LS−4668を1重量%含むNMP溶液を0.8g加え、更に室温で2時間撹拌し液晶配配向剤(Q−1)を得た。
[合成例5]
合成例2で得られたポリアミック酸溶液(PAA−2)を10.2g分取し、攪拌しながらNMPを5.8g、BCSを5.7g、LS−4668を1重量%含むNMP溶液を1.0g加え、更に室温で2時間撹拌し液晶配配向剤(Q−2)を得た。
[合成例6]
合成例3で得られたポリアミック酸溶液(PAA−3)を7.1g分取し、攪拌しながらNMPを4.1g、BCSを4.9g、GBLを7.42g、LS−4668を1重量%含むNMP溶液を1.1g加え、更に室温で2時間撹拌し液晶配配向剤(Q−3)を得た。
[比較合成例1]
撹拌装置付き及び窒素導入管付きの50ml四つ口フラスコにDA−2を(1.39g,7.0mmol)加えた後、NMP19.4gを加え、窒素を送りながら撹拌し溶解させた。このジアミン溶液を撹拌しながらCA−2を(1.15g,5.9mmol)加え、NMPを4.2g加えた後、さらに25℃条件下にて12時間攪拌することで樹脂固形分濃度12質量%のポリアミック酸溶液(PAA−4)を得た。このポリアミック酸溶液の粘度は280mPa・sであった。
[比較合成例2]
撹拌装置付き及び窒素導入管付きの100ml四つ口フラスコにDA−4を(4.89g,20.0mmol)加えた後、NMP59.1gを加え、窒素を送りながら撹拌し溶解させた。このジアミン溶液を撹拌しながらCA−2(1.57g,8.0mmol)、CA−1を(2.18g,10.0mmol)加え、NMPを14.8g加えた後、さらに50℃条件下にて12時間攪拌することで樹脂固形分濃度12質量%のポリアミック酸溶液(PAA−5)を得た。このポリアミック酸溶液の粘度は270mPa・sであった。
[比較合成例3]
撹拌装置付き及び窒素導入管付きの50ml四つ口フラスコにDA−3を(1.32g,8.0mmol)加えた後、NMP24.6gを加え、窒素を送りながら撹拌し溶解させた。このジアミン溶液を撹拌しながらCA−1を(1.69g,7.8mmol)加え、NMPを6.2g加えた後、さらに25℃条件下にて12時間攪拌することで樹脂固形分濃度10質量%のポリアミック酸溶液(PAA−6)を得た。このポリアミック酸溶液の粘度は150mPa・sであった。
[比較合成例4]
比較合成例1で得られたポリアミック酸溶液(PAA−4)を10.8g分取し、攪拌しながらNMPを6.8g、BCSを6.2g、LS−4668を1重量%含むNMP溶液を1.1g加え、更に室温で2時間撹拌し液晶配配向剤(Q−4)を得た。
[比較合成例5]
比較合成例2で得られたポリアミック酸溶液(PAA−5)を7.3g分取し、攪拌しながらNMPを6.8g、BCSを4.7g、LS−4668を1重量%含むNMP溶液を0.9g加え、更に室温で2時間撹拌し液晶配配向剤(Q−5)を得た。
[比較合成例6]
比較合成例3で得られたポリアミック酸溶液(PAA−6)を10.7g分取し、攪拌しながらNMPを5.5g、BCSを5.0g、LS−4668を1重量%含むNMP溶液を1.1g加え、更に室温で2時間撹拌し液晶配配向剤(Q−6)を得た。
<ポリイミド前駆体及びイミド化重合体の分子量測定>
ポリイミド前駆体及びイミド化重合体の分子量は、常温ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)装置(GPC−101)(昭和電工社製)、及びカラム(KD−803,KD−805)(Shodex社製)を用いて、以下のようにして測定した。
カラム温度:50℃
溶離液:N,N’−ジメチルホルムアミド(添加剤として、臭化リチウム−水和物(LiBr・H2O)が30mmol/L(リットル)、リン酸・無水結晶(o−リン酸)が30mmol/L、テトラヒドロフラン(THF)が10ml/L)
流速:1.0ml/分
検量線作成用標準サンプル:TSK 標準ポリエチレンオキサイド(分子量;約900,000、150,000、100,000、及び30,000)(東ソー社製)及びポリエチレングリコール(分子量;約12,000、4,000、及び1,000)(ポリマーラボラトリー社製)。
<粘度測定>
ポリアミック酸溶液の粘度は、E型粘度計TVE−22H(東機産業社製)を用い、サンプル量1.1mL、コーンロータTE−1(1°34’、R24)にて、25℃で測定した。
<ラビング耐性評価>
得られた液晶配向剤を1.0μmのフィルターで濾過した後、透明電極付きガラス基板上にスピンコートし、80℃のホットプレート上で5分間乾燥させた後、230℃で20分間焼成して、膜厚100nmのポリイミド膜を得た。このポリイミド膜をレーヨン布で1回ラビング(ロール径120mm、回転数1000rpm、移動速度20mm/sec、押し込み量0.4mm)した。この膜表面を、共焦点レーザー顕微鏡を用いて表面状態を観察し、倍率100倍で削れカスの有無と傷の有無を観察した。削れカスや傷がほとんど見られないものを「良好」と定義して評価し、多くの削れカスやラビング傷が見られるものは「不良」と定義して評価した。
<液晶表示素子の作製>
始めに電極付きの基板を準備した。基板は、30mm×35mmの大きさで、厚さが0.7mmのガラス基板である。基板上には第1層目として対向電極を構成する、ベタ状のパターンを備えたIZO電極が形成されている。第1層目の対向電極の上には第2層目として、CVD法により成膜されたSiN(窒化珪素)膜が形成されている。第2層目のSiN膜の膜厚は500nmであり、層間絶縁膜として機能する。第2層目のSiN膜の上には、第3層目としてIZO膜をパターニングして形成された櫛歯状の画素電極が配置され、第1画素及び第2画素の2つの画素を形成している。各画素のサイズは、縦10mmで横約5mmである。このとき、第1層目の対向電極と第3層目の画素電極とは、第2層目のSiN膜の作用により電気的に絶縁されている。
第3層目の画素電極は、日本国特開2014−77845に記載の図と同様、中央部分が屈曲したくの字形状の電極要素を複数配列して構成された櫛歯状の形状を有する。各電極要素の短手方向の幅は3μmであり、電極要素間の間隔は6μmである。各画素を形成する画素電極が、中央部分の屈曲したくの字形状の電極要素を複数配列して構成されているため、各画素の形状は長方形状ではなく、電極要素と同様に中央部分で屈曲する、太字の「くの字」に似た形状を備える。そして、各画素は、その中央の屈曲部分を境にして上下に分割され、屈曲部分の上側の第1領域と下側の第2領域を有する。
各画素の第1領域と第2領域とを比較すると、それらを構成する画素電極の電極要素の形成方向が異なるものとなっている。すなわち、後述する液晶配向膜のラビング方向を基準とした場合、画素の第1領域では画素電極の電極要素が+10°の角度(時計回り)をなすように形成され、画素の第2領域では画素電極の電極要素が−10°の角度(時計回り)をなすように形成されている。すなわち、各画素の第1領域と第2領域とでは、画素電極と対向電極との間の電圧印加によって誘起される液晶の、基板面内での回転動作(インプレーン・スイッチング)の方向が互いに逆方向となるように構成されている。
次に、得られた液晶配向剤を1.0μmのフィルターで濾過した後、準備された上記電極付き基板と対向基板として裏面にITO膜が成膜されており、かつ高さ4μmの柱状のスペーサーを有するガラス基板のそれぞれにスピンコートした。次いで、80℃のホットプレート上で5分間乾燥後、230℃で20分間焼成して膜厚60nmの塗膜として、各基板上にポリイミド膜を得た。このポリイミド膜上を、所定のラビング方向で、レーヨン布によりラビング(ロール径120mm、回転数500rpm、移動速度30mm/sec、押し込み量0.3mm)した後、純水中にて1分間超音波照射を行い、80℃で10分間乾燥した。
その後、上記液晶配向膜付きの2種類の基板を用いて、それぞれのラビング方向が逆平行になるように組み合わせ、液晶注入口を残して周囲をシールし、セルギャップが3.8μmの空セルを作製した。この空セルに液晶(MLC−3019、メルク社製)を常温で真空注入したのち、注入口を封止してアンチパラレル配向の液晶セルとした。得られた液晶セルは、FFSモード液晶表示素子を構成する。その後、得られた液晶セルを120℃で1時間加熱し、一晩放置してから各評価に使用した。
<残像消去時間の評価>
以下の光学系等を用いて残像の評価を行った。作製した液晶セルを偏光軸が直交するように配置された2枚の偏光板の間に設置し、電圧無印加の状態でLEDバックライトを点灯させておき、透過光の輝度が最も小さくなるように、液晶セルの配置角度を調整した。
次に、この液晶セルに周波数30Hzの交流電圧を印加しながらV−Tカーブ(電圧−透過率曲線)を測定し、相対透過率が23%となる交流電圧を駆動電圧として算出した。
残像評価では、相対透過率が23%となる周波数30Hzの交流電圧を印加して液晶セルを駆動させながら、同時に1Vの直流電圧を印加し、30分間駆動させた。その後、印加直流電圧値を0Vにして直流電圧の印加のみを停止し、その状態でさらに15分駆動した。
残像評価は、直流電圧の印加を開始した時点から60分間が経過するまでに、相対透過率が30%以下に低下した時間を数値化した。相対透過率が30%以下に低下するまでに60分間以上を要した場合には、残像消去不可と定義して評価した。そして、上述した方法に従う残像評価は、液晶セルの温度が23℃の状態の温度条件下で行った。
<液晶配向の安定性評価>
この液晶セルを用い、60℃の恒温環境下、周波数30Hzで10VPPの交流電圧を168時間印加した。その後、液晶セルの画素電極と対向電極との間を短絡させた状態にし、そのまま室温に一日放置した。
放置の後、液晶セルを偏光軸が直交するように配置された2枚の偏光板の間に設置し、電圧無印加の状態でバックライトを点灯させておき、透過光の輝度が最も小さくなるように液晶セルの配置角度を調整した。そして、第1画素の第2領域が最も暗くなる角度から第1領域が最も暗くなる角度まで液晶セルを回転させたときの回転角度を角度Δとして算出した。第2画素でも同様に、第2領域と第1領域とを比較し、同様の角度Δを算出した。そして、第1画素と第2画素の角度Δ値の平均値を液晶セルの角度Δとして算出した。この液晶セルの角度Δの値が低いほど良好、高いほど不良として評価した。
<実施例1〜3>
合成例4〜6で得られた液晶配向剤を(Q−1〜Q−3)を用いて、ラビング耐性評価、残像消去時間の評価、液晶配向の安定性評価を行った。結果を表1に示す。
<比較例1〜3>
比較合成例4〜6で得られた液晶配向剤(Q−4〜Q−6)を用いて、ラビング耐性、残像消去時間、及び液晶配向の安定性の各評価を行った。結果を表1に示す。
Figure 0006881309
以上の結果より、本発明の液晶配向剤によって、ラビング耐性に優れ、蓄積電荷の緩和が早く、かつ液晶配向の安定性が高いなどの特性を同時に実現することが可能な液晶配向膜が得られることが判る。
本発明の液晶配向剤は、スマートフォン、携帯電話、パソコン、テレビ等の表示部に使用される液晶表示素子、特に、横電界方式の液晶表示素子における液晶配向膜の形成に広く使用される。
なお、2015年10月14日に出願された日本特許出願2015−203278号の明細書、特許請求の範囲、図面、及び要約書の全内容をここに引用し、本発明の明細書の開示として、取り入れるものである。

Claims (9)

  1. 下記式(1)で表される構造を主鎖に有する重合体を含有することを特徴とする液晶配向剤。
    Figure 0006881309
    (Rは水素、又は一価の有機基である。Arは、置換基を有してもよいフェニル基若しくはナフタレン基である。*は他の基に結合する部位を示す。)
  2. 式(1)で表される構造を主鎖に有する重合体が、ポリイミド前駆体、及びそれをイミド化して得られるポリイミドからなる群から選ばれる少なくとも1種の重合体である請求項1に記載の液晶配向剤。
  3. 前記重合体が、下記式(2)で表される構造単位を含むポリイミド前駆体、及びそれをイミド化して得られるポリイミドのうちの少なくとも1種の重合体である請求項1又は2に記載の液晶配向剤。
    Figure 0006881309
    (式(2)中、Xは4価の有機基である。Yは式(1)の構造を主鎖方向に含む2価の有機基である。Rは水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基である。)
  4. 式(2)において、Yが下記式(3)で表される構造を有する請求項3に記載の液晶配向剤。
    Figure 0006881309
    (Rは水素、又は一価の有機基である。Arは、置換基を有してもよいフェニル若しくはナフタレンである。Rは単結合、又は置換基を有してもよいフェニル基を表す。*は―NH−に結合する部位を示す。)
  5. 式(3)が、下記に式(3−1)〜式(3−7)のいずれかである請求項4に記載の液晶配向剤。
    Figure 0006881309
  6. 前記式(2)で表される構造単位を含むポリイミド前駆体が、下記式(5)で表される構造単位を含む請求項3〜5に液晶配向剤。
    Figure 0006881309
    (式(5)中、Xはテトラカルボン酸誘導体に由来する4価の有機基である。Yは、式(1)におけるY1の構造を主鎖方向に含まないジアミンに由来する2価の有機基である。R、Rは、それぞれ独立して、水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基である。)
  7. 請求項1〜6のいずれか1項に記載の液晶配向剤から得られる液晶配向膜。
  8. 請求項7の液晶配向膜を具備する液晶表示素子。
  9. 液晶表示素子が横電界駆動方式である請求項8に記載の液晶表示素子。
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