JP6858868B2 - 金属箔、金属箔の製造方法、二次電池用負極および二次電池用正極 - Google Patents
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Description
すなわち、以下の構成により上記課題を解決することができることを見出した。
銅箔、銀箔、金箔、白金箔、ステンレス箔、チタン箔、タンタル箔、モリブデン箔、ニオブ箔、ジルコニウム箔、タングステン箔、ベリリウム銅箔、燐青銅箔、黄銅箔、洋白箔、錫箔、亜鉛箔、鉄箔、ニッケル箔、パーマロイ箔、ニクロム箔、42アロイ箔、コバール箔、モネル箔、インコネル箔、および、ハステロイ箔からなる群から選択される箔であり、または、この群から選択される箔と、選択された箔とは異なる種類の金属とが積層されてなる金属箔であって、
原子間力顕微鏡を用いて、金属箔の表面の50μm×50μmの範囲を512×512点測定して得られる3次元データから近似三点法により得られる実面積Sxと、幾何学的測定面積S0とから、下記式(i)により求められる表面積比ΔSが2%以上である金属箔。
ΔS=(Sx−S0)/S0×100(%)・・・(i)
[2] 金属箔の厚み方向に貫通する複数の貫通孔を有し、
貫通孔の平均開口径が1〜100μmであり、かつ、貫通孔による平均開口率が0.5〜30%である[1]に記載の金属箔。
[3] 金属箔が、ステンレス箔である[1]または[2]に記載の金属箔。
[4]ステンレス箔の構成元素の質量比がCr+3.3×Mo≧16(wt%)を満たす[3]に記載の金属箔。
[5] 金属箔が銅箔である[1]または[2]に記載の金属箔。
[6] 銅箔が、XRF解析によるハロゲンの検出量が0.4質量%以下である[5]に記載の金属箔。
[7] [1]〜[6]のいずれかに記載の金属箔からなる負極集電体と、
負極集電体の表面に形成される、負極活物質を含む活物質層とを有し、
負極活物質が、シリコン、錫、および、これらの酸化物の少なくとも1つである二次電池用負極。
[8] [1]〜[6]のいずれかに記載の金属箔からなる正極集電体と、
正極集電体の表面に形成される、正極活物質を含む活物質層とを有し、
正極活物質が、硫黄または、硫黄を含む化合物の少なくとも1つである二次電池用正極。
[9] [1]〜[6]のいずれかに記載の金属箔の製造方法であって、
金属箔の表面を粗面化する粗面化工程を有し、
粗面化工程によって、原子間力顕微鏡を用いて、金属箔の表面の50μm×50μmの範囲を512×512点測定して得られる3次元データから近似三点法により得られる実面積Sxと、幾何学的測定面積S0とから、下記式(i)により求められる表面積比ΔSが2%以上である金属箔を作製する金属箔の製造方法。
ΔS=(Sx−S0)/S0×100(%)・・・(i)
[10]
金属箔が銅箔であり、
銅箔に貫通孔を形成する貫通孔形成工程と、
貫通孔を形成した後に、塩酸、アンモニア水、チオ硫酸ナトリウム、および、エタノールからなる群から選択される少なくとも1種で洗浄する残渣除去工程と、を有する[9]に記載の金属箔の製造方法。
以下に記載する構成要件の説明は、本発明の代表的な実施態様に基づいてなされることがあるが、本発明はそのような実施態様に限定されるものではない。
なお、本明細書において、「〜」を用いて表される数値範囲は、「〜」の前後に記載される数値を下限値および上限値として含む範囲を意味する。
本発明の金属箔は、
厚みが5μm以上100μm未満であり、
銅箔、銀箔、金箔、白金箔、ステンレス箔、チタン箔、タンタル箔、モリブデン箔、ニオブ箔、ジルコニウム箔、タングステン箔、ベリリウム銅箔、燐青銅箔、黄銅箔、洋白箔、錫箔、亜鉛箔、鉄箔、ニッケル箔、パーマロイ箔、ニクロム箔、42アロイ箔、コバール箔、モネル箔、インコネル箔、および、ハステロイ箔からなる群から選択される箔であり、または、この群から選択される箔と、選択された箔とは異なる種類の金属とが積層されてなる金属箔であって、
原子間力顕微鏡を用いて、金属箔の表面の50μm×50μmの範囲を512×512点測定して得られる3次元データから近似三点法により得られる実面積Sxと、幾何学的測定面積S0とから、下記式(i)により求められる表面積比ΔSが2%以上である金属箔である。
ΔS=(Sx−S0)/S0×100(%)・・・(i)
厚み方向に貫通する複数の貫通孔を有し、
貫通孔の平均開口径が1〜100μmであり、かつ、貫通孔による平均開口率が0.5〜30%である金属箔である。
図1および図2に示す金属箔10は、厚み方向に複数の貫通孔6を有する。また、金属箔の厚みは5μm以上100μm未満である。また、金属箔の表面は粗面化されており、表面積比ΔSが2%以上である。
ここで、表面積比ΔSは、原子間力顕微鏡を用いて、表面の50μm×50μmの範囲を512×512点測定して得られる3次元データから近似三点法により得られる実面積Sxと、幾何学的測定面積S0とから、下記式(i)により求められる値である。
ΔS=(Sx−S0)/S0×100(%)・・・(i)
すなわち、金属箔を1cm角の大きさに切り取って、ピエゾスキャナー上の水平な試料台にセットし、カンチレバーを試料表面にアプローチし、原子間力が働く領域に達したところで、XY方向にスキャンし、その際、試料の表面形状(波構造)をZ方向のピエゾの変位でとらえる。ピエゾスキャナーは、XY方向について150μm、Z方向について10μm、走査可能なものを使用する。カンチレバーは共振周波数120〜150kHz、バネ定数12〜20N/mのもの(SI−DF20、NANOPROBE社製)を用い、DFMモード(Dynamic Force Mode)で測定する。また、求めた3次元データを最小二乗近似することにより試料のわずかな傾きを補正し基準面を求める。計測の際は、表面の50μm×50μmの範囲を512×512点測定する。XY方向の分解能は1.9μm、Z方向の分解能は1nm、スキャン速度は60μm/secとする。
上記で求められた3次元データ(f(x,y))を用い、隣り合う3点を抽出し、その3点で形成される微小三角形の面積の総和を求め、実面積Sxとする。表面積比ΔSは、得られた実面積Sxと幾何学的測定面積S0とから、上記式(i)により求められる。
また、本発明の金属箔は厚み方向に貫通する複数の貫通孔を有し、貫通孔の平均開口径は1〜100μmであり、かつ、貫通孔による平均開口率は0.5〜30%であるのが好ましい。
蓄電デバイスにおいて、負極にリチウムを過剰に添加することで、エネルギー密度を大きくする技術として、Liプレドープという方法が知られている。これはリチウムイオンキャパシタや、次世代のリチウムイオン二次電池に必要な技術である。集電体となる金属箔が多数の微細な貫通孔を有することで、Liプレドープを効率よく行なうことができる。
これに対して、本発明の金属箔は、上記の群から選択される箔、または、上記群から選択される箔と選択された箔とは異なる種類の金属とが積層されてなる、高い強度の箔を用いるため、金属箔が複数の貫通孔を有する場合でも、充放電時の体積の膨張収縮による破損を防止できる。
プレドープ特性の観点からは、貫通孔の平均開口率は高い方が好ましい。また、隣接する貫通孔同士の孔間距離が大きいと、貫通孔間の領域ではリチウムイオンが到達しにくくなるため、プレドープの完了までの時間が長くなり、プレドープを効率よく行うことができない。すなわち、貫通孔の数密度が大きいほど孔間距離が短くなるため、リチウムイオンの拡散性を高めてプレドープ特性を向上することができる。しかしながら、平均開口率が一定の場合を考えると、貫通孔の数密度が大きすぎると、1つ1つの貫通孔の開口径が小さくなりすぎて、貫通孔内に負極材が浸入しにくくなるためプレドープ特性が低下するおそれがある。したがって、貫通孔の平均開口径および平均開口率は適切な範囲であることが好ましい。
以上、プレドープ特性および強度の観点から、貫通孔の平均開口率は0.5〜30%とするのが好ましく、1〜10%であるのがより好ましく、2〜8%であるのがさらに好ましい。
まず、金属箔の一方の面側に平行光光学ユニットを設置し、平行光を透過させて、金属箔の他方の面から、光学顕微鏡を用いて金属箔の表面を倍率100倍で撮影し、写真を取得する。得られた写真の10cm×10cmの範囲における1mm×1mmの視野(5箇所)について、透過した平行光によって投影される貫通孔の数と視野の面積(幾何学的面積)とから、数密度(貫通孔の数/幾何学的面積)を算出し、各視野(5箇所)における平均値を数密度として算出する。
また、貫通孔の平均開口径が小さすぎると、貫通孔内に活物質が浸入しにくくなるためプレドープ特性が低下するおそれがある。一方、貫通孔の平均開口径が大きすぎると、金属箔の強度が低下してしまう。従って、プレドープ特性および強度をより向上できる観点から、貫通孔の平均開口径は、1μm以上100μm以下が好ましく、1μm以上80μm以下がより好ましく、1μm以上40μm以下がさらに好ましく、1μm以上30μm以下が特に好ましい。
なお、倍率は、貫通孔を20個以上抽出できるSEM写真が得られるように上述した範囲の倍率を適宜選択することができる。また、開口径は、貫通孔部分の端部間の距離の最大値を測定した。すなわち、貫通孔の開口部の形状は略円形状に限定はされないので、開口部の形状が非円形状の場合には、貫通孔部分の端部間の距離の最大値を開口径とする。従って、例えば、2以上の貫通孔が一体化したような形状の貫通孔の場合にも、これを1つの貫通孔とみなし、貫通孔部分の端部間の距離の最大値を開口径とする。
また、本発明の金属箔においては、下記の金属箔を用いる。
具体的には、金属箔として、銅箔、銀箔、金箔、白金箔、ステンレス箔(SUS(Steel Use Stainless)箔)、チタン箔、タンタル箔、モリブデン箔、ニオブ箔、ジルコニウム箔、タングステン箔、ベリリウム銅箔、燐青銅箔、黄銅箔、洋白箔、錫箔、亜鉛箔、鉄箔、ニッケル箔、パーマロイ箔、ニクロム箔、42アロイ箔、コバール箔、モネル箔、インコネル箔、および、ハステロイ箔からなる群から選択される箔が挙げられる。
また、金属箔は上記種類の金属を含む異なる2種以上の金属が積層されたものであってもよい。
金属箔の積層手法は特に限定されないが、メッキまたはクラッド材であることが好ましい。メッキに用いる金属は特に限定はないが、後述する製造方法で貫通孔を形成する場合には、貫通孔の形成に用いるエッチャントに対して溶解する金属原子を含む金属であればよい。メッキ種としては、例えば、ニッケル、クロム、コバルト、鉄、亜鉛、錫、銅、銀、金、白金、パラジウム、アルミニウム、などが挙げられる。
メッキの手法は特に問わず、無電解メッキ、電解メッキ、溶融メッキ、化成処理、などがいずれも用いられる。
また、上記金属箔に対してクラッド材を形成するのに用いる金属も特に限定はされず、エッチャントに対して溶解する金属原子を含む金属であることが好ましい。金属種としては、例えば、上記金属箔に用いられる金属が挙げられる。
後述する金属箔の貫通孔形成処理において、エッチャントと金属箔との組み合わせによっては反応残渣が発生することがある。反応残渣が存在すると経時にて腐食が発生する可能性がある。反応残渣の量はXRF解析によるハロゲンの検出量によって判断することができ、ハロゲンの検出量が0.4質量%以下であると経時による腐食の可能性が低減でき好ましい。
貫通孔を形成されていない状態の金属箔の破断強度を340N/mm2以上とすることで、貫通孔を形成した状態の金属箔の破断強度も高くすることができる。
金属箔の厚みは、5μm以上100μm未満であり、ハンドリング性の観点から5μm〜50μmであることが好ましく、8μm〜30μmであることがより好ましい。
ここで、金属箔の平均厚みは、接触式膜厚測定計(デジタル電子マイクロメータ)を用いて、任意の5点を測定した厚みの平均値をいう。
次に、本発明の金属箔を製造する方法について説明する。
金属箔の製造方法は、
金属箔の表面を粗面化する粗面化工程を有する。
また、金属箔の製造方法は、好適な態様として、厚み方向に貫通する複数の貫通孔を形成する貫通孔形成工程を有する。
貫通孔形成工程は粗面化工程の前に行なってもよいし、後に行なってもよい。あるいは、貫通孔形成処理と粗面化処理を同時に行なってもよい。
5μm以上100μm未満の薄い金属箔を粗面化する方法としては、金属箔をエッチャントに接触させて、金属箔中の金属間化合物(析出物あるいは晶出物)や金属結晶の欠陥部分などを局所的に溶解させて表面を粗面化する方法がある。この方法の場合、金属箔の材質ごとに金属間化合物の存在状況や固溶金属種が異なるため、材質ごとに事前に条件出しを行い、エッチャントの条件、エッチングの時間等の条件を調整すればよい。
粗面化工程によって、原子間力顕微鏡を用いて、金属箔の表面の50μm×50μmの範囲を512×512点測定して得られる3次元データから近似三点法により得られる実面積Sxと、幾何学的測定面積S0とから、下記式(i)により求められる表面積比ΔSが2%以上である金属箔を作製することができる。
ΔS=(Sx−S0)/S0×100(%)・・・(i)
次に、貫通孔形成工程について説明する。
貫通孔形成工程2は、金属箔の一方の主面に、複数の金属粒子および重合体成分を含有する組成物を用いて、金属粒子の各々の一部が埋設された樹脂層を形成する樹脂層形成工程を有する。
また、貫通孔形成工程2は、樹脂層形成工程の後に、樹脂層を有する金属箔をエッチャントに接触させて金属粒子および金属箔の一部を溶解し、金属箔に貫通孔を形成する溶解工程を有する。
また、貫通孔形成工程2は、溶解工程の後に、樹脂層を除去する樹脂層除去工程を有する。
更に、貫通孔形成工程2は、溶解工程の前に、金属箔の、樹脂層が形成される面とは反対側の主面に、重合体成分を含有する組成物を用いて保護層を形成する保護層形成工程を有していることが好ましい。
すなわち、樹脂層形成工程および溶解工程を有することにより、後述する図3〜図5にも示す通り、金属粒子とともに、金属粒子が埋設していた部分に対応する位置で金属箔が厚み方向に溶解し、貫通孔が形成されるため、簡便に作製できると考えられる。
貫通孔形成工程2は、複数の金属粒子および重合体成分を含有する組成物を用いた樹脂層形成工程により、図3に示すように、貫通孔形成前の金属箔1の一方の主面に、複数の金属粒子2の各々の一部が埋設された樹脂層3が形成される。
また、貫通孔形成工程2は、重合体成分を含有する組成物を用いた任意の保護層形成工程により、図4に示すように、貫通孔形成前の金属箔1の、樹脂層3が形成される面とは反対側の主面に、保護層4を形成することが好ましい。
また、貫通孔形成工程2は、樹脂層を有する金属箔をエッチャントに接触させて金属粒子および金属箔の一部を溶解する溶解工程により、図5に示すように、樹脂層3および金属箔(貫通孔形成後の金属箔7)に貫通孔5が形成される。
また、貫通孔形成工程2は、樹脂層を除去する樹脂層除去工程により、図6に示すように、複数の貫通孔6を有する貫通孔形成後の金属箔7が形成される。なお、保護層形成工程を有している場合、図6に示すように、樹脂層除去工程により、樹脂層および保護層が除去されることにより、複数の貫通孔6を有する貫通孔形成後の金属箔7が形成される。
貫通孔形成工程2が有する樹脂層形成工程は、貫通孔形成前の金属箔の一方の主面に、複数の金属粒子および重合体成分を含有する組成物を用いて、金属粒子の各々の少なくとも一部が埋設された樹脂層を形成する工程である。
樹脂層形成工程で用いる組成物は、少なくとも複数の金属粒子および重合体成分を含有する組成物である。
上記組成物に含まれる金属粒子は、後述する溶解工程で用いるエッチャントに対して溶解する金属原子を含む粒子であれば特に限定されないが、金属および/または金属化合物から構成される粒子であることが好ましく、金属から構成される粒子がより好ましい。
これらのうち、アルミニウム、ニッケル、および、銅であることが好ましく、アルミニウム、および、銅であることがより好ましい。
また、金属粒子の平均粒子径は、組成物における分散性などの観点から、1〜10μmであることが好ましく、2μm超6μm以下であることがより好ましい。
ここで、金属粒子の平均粒子径は、レーザー回折・散乱式粒子径測定装置(日機装(株)製マイクロトラックMT3000)で測定される粒度分布の累積50%径をいう。
上記組成物に含まれる重合体成分は特に限定されず、従来公知の重合体成分を用いることができる。
重合体成分としては、具体的には、例えば、エポキシ系樹脂、シリコーン系樹脂、アクリル系樹脂、ウレタン系樹脂、エステル系樹脂、ウレタンアクリレート系樹脂、シリコーンアクリレート系樹脂、エポキシアクリレート系樹脂、エステルアクリレート系樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、および、フェノール系樹脂などが挙げられ、これらを1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
これらのうち、耐酸性に優れ、後述する溶解工程で用いるエッチャントとして酸性溶液を用いた場合にも、所望の貫通孔が得られやすくなる理由から、重合体成分が、フェノール系樹脂、アクリル系樹脂およびポリイミド系樹脂からなる群から選択される樹脂材料であることが好ましい。
酸性基の具体例としては、フェノール基(−Ar−OH)、スルホンアミド基(−SO2NH−R)、置換スルホンアミド系酸基(以下、「活性イミド基」という。)〔−SO2NHCOR、−SO2NHSO2R、−CONHSO2R〕、カルボキシル基(−CO2H)、スルホ基(−SO3H)、ホスホン基(−OPO3H2)が挙げられる。
なお、Arは置換基を有していてもよい2価のアリール連結基を表し、Rは、置換基を有していてもよい炭化水素基を表す。
特に、m−アミノスルホニルフェニルメタクリレート、N−(p−アミノスルホニルフェニル)メタクリルアミド、N−(p−アミノスルホニルフェニル)アクリルアミド等を好適に使用することができる。
スルホ基を有するアルカリ可溶性高分子としては、例えば、スルホ基と、重合可能な不飽和基と、を分子内にそれぞれ1以上有する化合物に由来する最小構成単位を主要構成単位とする重合体を挙げることができる。
ホスホン基を有するアルカリ水可溶性高分子としては、例えば、ホスホン基と、重合可能な不飽和基と、を分子内にそれぞれ1以上有する化合物に由来する最小構成単位を主要構成成分とする重合体を挙げることができる。
(m2)アクリル酸メチル、アクリル酸エチル、アクリル酸プロピル、アクリル酸ブチル、アクリル酸アミル、アクリル酸ヘキシル、アクリル酸オクチル、アクリル酸ベンジル、アクリル酸−2−クロロエチル、グリシジルアクリレート、N−ジメチルアミノエチルアクリレート等のアルキルアクリレート。
(m3)メタクリル酸メチル、メタクリル酸エチル、メタクリル酸プロピル、メタクリル酸ブチル、メタクリル酸アミル、メタクリル酸ヘキシル、メタクリル酸シクロヘキシル、メタクリル酸ベンジル、メタクリル酸−2−クロロエチル、グリシジルメタクリレート、N−ジメチルアミノエチルメタクリレート等のアルキルメタクリレート。
(m4)アクリルアミド、メタクリルアミド、N−メチロールアクリルアミド、N−エチルアクリルアミド、N−ヘキシルメタクリルアミド、N−シクロヘキシルアクリルアミド、N−ヒドロキシエチルアクリルアミド、N−フェニルアクリルアミド、N−ニトロフェニルアクリルアミド、N−エチル−N−フェニルアクリルアミド等のアクリルアミドもしくはメタクリルアミド。
(m5)エチルビニルエーテル、2−クロロエチルビニルエーテル、ヒドロキシエチルビニルエーテル、プロピルビニルエーテル、ブチルビニルエーテル、オクチルビニルエーテル、フェニルビニルエーテル等のビニルエーテル類。
(m6)ビニルアセテート、ビニルクロロアセテート、ビニルブチレート、安息香酸ビニル等のビニルエステル類。
(m7)スチレン、α−メチルスチレン、メチルスチレン、クロロメチルスチレン等のスチレン類。
(m8)メチルビニルケトン、エチルビニルケトン、プロピルビニルケトン、フェニルビニルケトン等のビニルケトン類。
(m9)エチレン、プロピレン、イソブチレン、ブタジエン、イソプレン等のオレフィン類。
(m10)N−ビニルピロリドン、N−ビニルカルバゾール、4−ビニルピリジン、アクリロニトリル、メタクリロニトリル等。
(m11)マレイミド、N−アクリロイルアクリルアミド、N−アセチルメタクリルアミド、N−プロピオニルメタクリルアミド、N−(p−クロロベンゾイル)メタクリルアミド等の不飽和イミド。
上記組成物は、塗布性の観点から、特開昭62−251740号や特開平3−208514号に記載されているような非イオン界面活性剤、特開昭59−121044号、特開平4−13149号に記載されているような両性界面活性剤を添加することができる。
上記組成物は、樹脂層を形成する際の作業性の観点から、溶媒を添加することができる。
溶媒としては、具体的には、例えば、エチレンジクロライド、シクロヘキサノン、メチルエチルケトン、メタノール、エタノール、プロパノール、エチレングリコールモノメチルエーテル、1−メトキシ−2−プロパノール、2−メトキシエチルアセテート、1−メトキシ−2−プロピルアセテート、ジメトキシエタン、乳酸メチル、乳酸エチル、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、テトラメチルウレア、N−メチルピロリドン、ジメチルスルホキシド、スルホラン、γ−ブチロラクトン、トルエン、水等が挙げられ、これらを1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
上述した組成物を用いた樹脂層の形成方法は特に限定されないが、貫通孔形成前の金属箔上に組成物を塗布して樹脂層を形成する方法が好ましい。
貫通孔形成前の金属箔上への塗布方法は特に限定されず、例えば、バーコート法、スリットコート法、インクジェット法、スプレー法、ロールコート法、回転塗布法、流延塗布法、スリットアンドスピン法、転写法等の方法を用いることができる。
n<r ・・・(1)
ここで、式(1)中、nは、形成される樹脂層の厚みを表し、rは、組成物に含まれる粒子の平均粒子径を表し、nおよびrの単位はいずれもμmを表す。
ここで、樹脂層の平均厚みは、ミクロトームを用いて切削し、断面を電子顕微鏡で観察した際に測定された任意の5点の厚みの平均値をいう。
更に、貫通孔形成工程2は、後述する溶解工程における作業性の観点から、溶解工程の前に、貫通孔形成前の金属箔の、樹脂層が形成される面とは反対側の主面に、重合体成分を含有する組成物を用いて保護層を形成する保護層形成工程を有していることが好ましい。
ここで、重合体成分としては、上述した樹脂層形成工程で用いる組成物に含まれる重合体成分と同一のものが挙げられる。すなわち、任意の保護層形成工程で形成される保護層は、上述した金属粒子が埋設されていない以外は、上述した樹脂層と同様の層であり、保護層の形成方法についても、上述した金属粒子を用いない以外は、上述した樹脂層と同様の方法で形成することができる。
なお、保護層形成工程を有する場合、溶解工程の前の工程であれば、特に順序は限定されず、上述した樹脂層形成工程の前後または同時に行う工程であってもよい。
貫通孔形成工程2が有する溶解工程は、上述した樹脂層形成工程の後に、樹脂層を有する貫通孔形成前の金属箔をエッチャントに接触させて、金属粒子および貫通孔形成前の金属箔の一部を溶解し、金属箔に貫通孔を形成する工程であり、いわゆる化学エッチング処理により金属箔に貫通孔を形成する工程である。
エッチャントとしては、金属粒子および金属箔の金属種に適したエッチャントであれば、酸またはアルカリの化学溶液などを適宜用いることが可能である。
酸の例としては、塩酸、硫酸、硝酸、フッ酸、過酸化水素、酢酸などが挙げられる。
また、アルカリの例としては、カセイソーダ、カセイカリなどが挙げられる。
また、アルカリ金属塩としては、例えば、タケイ酸ソーダ、ケイ酸ソーダ、メタケイ酸カリ、ケイ酸カリ等のアルカリ金属ケイ酸塩;炭酸ソーダ、炭酸カリ等のアルカリ金属炭酸塩;アルミン酸ソーダ、アルミン酸カリ等のアルカリ金属アルミン酸塩;グルコン酸ソーダ、グルコン酸カリ等のアルカリ金属アルドン酸塩;第二リン酸ソーダ、第二リン酸カリ、第三リン酸ソーダ、第三リン酸カリ等のアルカリ金属リン酸水素塩が挙げられる。
また、塩化鉄(III)、塩化銅(II)などの無機塩も用いることができる。
また、これらは1種類でも、2種類以上混合して使用してもよい。
貫通孔を形成する処理は、樹脂層を有する貫通孔形成前の金属箔を上述したエッチャントに接触させることにより行う。
接触させる方法は特に限定されず、例えば、浸せき法、スプレー法が挙げられる。
浸せき処理の時間は、15秒〜10分であることが好ましく、30秒〜6分であることがより好ましい。
また、浸漬させる際のエッチャントの液温は、25〜70℃であることが好ましく、30〜60℃であることがより好ましい。
貫通孔形成工程2が有する樹脂層除去工程は、上述した溶解工程の後に、樹脂層を除去する工程である。
樹脂層を除去する方法は特に限定されないが、重合体成分として上述したアルカリ水可溶性高分子を用いる場合には、アルカリ性水溶液を用いて樹脂層を溶解して除去する方法が好ましい。
アルカリ性水溶液としては、具体的には、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア水等の無機アルカリ類;エチルアミン、n−プロピルアミン等の第一アミン類;ジエチルアミン、ジ−n−ブチルアミン等の第二アミン類;トリエチルアミン、メチルジエチルアミン等の第三アミン類;ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン等のアルコールアミン類;テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド等の第四級アンモニウム塩;ピロール、ピヘリジン等の環状アミン類;などが挙げられ、これらを1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
なお、上記アルカリ性水溶液に、アルコール類、界面活性剤を適当量添加して使用することもできる。
樹脂層を除去する処理は、例えば、溶解工程後の樹脂層を有する金属箔を上述したアルカリ性水溶液に接触させることにより行う。
接触させる方法は特に限定されず、例えば、浸せき法、スプレー法が挙げられる。
浸せき処理の時間は、5秒〜5分であることが好ましく、10秒〜2分であることがより好ましい。
また、浸漬させる際のアルカリ性水溶液は、25〜60℃であることが好ましく、30〜50℃であることがより好ましい。
貫通孔形成工程2は、防食処理を施す工程を有していることが好ましい。
また、防食処理を施すタイミングは特に限定されず、例えば、樹脂層形成工程で用いる金属箔に対して施す処理であってもよく、樹脂層除去工程においてアルカリ性水溶液に対して後述するトリアゾール類などを添加する処理であってもよく、樹脂層除去工程後に施す処理であってもよい。
また、トリアゾール類とともに、各種の有機防錆材、チアゾール類、イミダゾール類、メルカプタン類、トルエタノールアミンなども使用することができる。
また、溶液の温度は室温であればよいが、必要に応じては加温して使用してもよい。
また、金属箔の浸漬時間は、形成する無機誘電体皮膜の厚みなどにより適宜に選定される。
貫通孔形成工程2においては、カットシート状の金属箔を用いて、いわゆる枚葉式で各工程の処理を施すものであってもよいし、長尺な金属箔を、所定の搬送経路で長手方向に搬送しつつ各工程の処理を施す、いわゆるロール・ツー・ロール(Roll to Roll)(以下、「RtoR」ともいう。)による処理を行うものであってもよい。
本発明におけるRtoRとは、長尺な金属箔を巻回してなるロールから金属箔を送り出して、長手方向に搬送しつつ、搬送経路上に配置された各処理装置によって、上述した樹脂層形成工程、溶解工程などの処理を連続的に順次、行い、処理済の金属箔(すなわち、貫通孔形成後の金属箔)を、再度、ロール状に巻回する製造方法である。
貫通孔形成工程2をRtoRで行うことで生産性をより向上できる。
また、粗面化工程および貫通孔形成工程2の各工程をRtoRにより連続的に順次行なうようにしてもよい。
貫通孔形成工程2では、樹脂層形成工程の後、溶解工程を行なうことで、金属粒子および金属箔の一部をエッチャントに接触させて溶解し、金属箔に貫通孔を形成し、その後、樹脂層を除去する構成としたが、貫通孔形成工程3は、図8〜図11に示すように、樹脂層形成工程(図8)の後、溶解工程の前に粒子を除去する粒子除去工程(図8および図9)を経て、溶解工程(図9および図10)を行なって金属箔に貫通孔を形成し、その後、樹脂層除去工程(図10および図11)を行う構成である。なお、貫通孔形成工程3の各工程は、粒子除去工程以外は貫通孔形成工程2の各工程と同様である。
このように、樹脂層形成工程および粒子除去工程を経ることにより、粒子が埋設していた部分に凹部が形成された樹脂層が得られ、その後の溶解工程において、樹脂層の凹部を起点に貫通孔が形成される。樹脂層の凹部を起点に貫通孔が形成される理由に関して、凹部の最深部においては、極めて薄い樹脂層が残存しているか、または、金属箔が露出している部分があるため、他の部位よりも優先的に凹部からエッチャントが浸入し、金属箔に貫通孔が形成されると考えられる。
具体的には、ガラス、酸化亜鉛、シリカ、アルミナ、酸化ジルコン、酸化錫、チタン酸カリウム、チタン酸ストロンチウム、硼酸アルミニウム、酸化マグネシウム、硼酸マグネシウム、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、水酸化カルシウム、水酸化チタン、塩基性硫酸マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、硫酸カルシウム、硫酸マグネシウム、ケイ酸カルシウム、ケイ酸マグネシウム、リン酸カルシウム、窒化珪素、窒化チタン、窒化アルミ、炭化珪素、炭化チタン、硫化亜鉛、および、これらの少なくとも2種以上の複合化物等が挙げられる。
これらのうち、ガラス、シリカ、アルミナ、チタン酸カリウム、チタン酸ストロンチウム、硼酸アルミニウム、酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ケイ酸カルシウム、ケイ酸マグネシウム、リン酸カルシウム、および、硫酸カルシウムであることが好ましい。
合成樹脂粒子としては、具体的には、例えば、アクリル樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレンオキシド、ポリプロピレンオキシド、ポリエチレンイミン、ポリスチレン、ポリウレタン、ポリウレア、ポリエステル、ポリアミド、ポリイミド、カルボキシメチルセルロールス、ゼラチン、デンプン、キチン、および、キトサンなどの樹脂粒子が挙げられる。
これらのうち、アクリル樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンの樹脂粒子であることが好ましい。
ここで、「粒子の各々の少なくとも一部が埋設された樹脂層の表面」とは、図8に示ように各粒子の一部が樹脂層に埋設されている場合には、各粒子および樹脂層の表面をいい、各粒子の全部が樹脂層に埋設されている場合には、樹脂層の表面をいう。
上記溶媒としては、樹脂層を溶解させる溶媒であれば特に限定されず、例えば、上述した樹脂層形成工程で用いる組成物の任意成分として記載した溶媒と同様の溶媒を用いることができる。
また、樹脂層の表面を擦る方法は特に限定されず、例えば、スポンジやブラシ(例えば、ワイヤーブラシ、ナイロンブラシロール)などを用いて擦る方法が挙げられる。
本発明においては、貫通孔を形成した後に、反応残渣を除去する残渣除去工程を有していてもよい。
前述のとおり、貫通孔形成処理において、金属箔を溶解する工程におけるエッチャントと金属箔との組み合わせによっては反応残渣が発生することがある。反応残渣が存在すると経時にて腐食が発生する可能性がある。そのため、貫通孔形成工程の後に、反応残渣を除去するために処理液で洗浄する工程を有していてもよい。
例えば、金属箔として銅箔を用い、エッチャントとして塩化鉄(III)水溶液を用いた場合には、処理液として、塩酸、アンモニア水、チオ硫酸ナトリウム、および、エタノールからなる群から選択される少なくとも1種で洗浄する残渣除去工程を施すことによって、反応残渣を除去することができる。洗浄は、液中に浸漬する方法や、スプレーなどで液をかける方法が使用できる。
残渣除去工程は、金属箔を溶解して貫通孔を形成した後であれば、樹脂層除去工程の前に行なっても後に行なってもよい。
本発明の金属箔は、蓄電デバイス用集電体(以下、「集電体」ともいう)として利用可能である。
集電体は、金属箔の厚みが5μm以上100μm未満であることにより、蓄電デバイスを小型軽量化することができ、あるいは、活物質の厚みを増やして高エネルギー密度化することができる。
集電体は、金属箔の表面の表面積比ΔSが2%以上であることにより、活物質層や活性炭との密着性が良好となり活物質層の剥離を抑制できる。また、サイクル特性や出力特性、塗布適性等の生産性に優れる蓄電デバイスを作製することができる。
特に、本発明の金属箔を用いる集電体は、厚みが薄いにも関わらず、表面積比ΔSが2%以上であるので、二次電池の負極材および正極材として充放電時の体積の膨張収縮が大きい材料を用いた場合でも、充放電時の体積の膨張収縮により負極材および正極材が集電体から剥離することを防止できる。
また、集電体は、金属箔が高い強度を有するので、二次電池の負極材および正極材として充放電時の体積の膨張収縮が大きい材料を用いた場合でも、充放電時の体積の膨張収縮により破損することを防止できる。
特に、本発明の金属箔を用いる集電体は、複数の貫通孔を有するにも関わらず、高い強度を有するので、二次電池の負極材および正極材として充放電時の体積の膨張収縮が大きい材料を用いた場合でも、充放電時の体積の膨張収縮により破損することを防止できる。
活物質層としては特に限定はなく、従来の蓄電デバイスにおいて用いられる公知の活物質層が利用可能である。
具体的には、金属箔を正極(二次電池用正極)の集電体として用いる場合の、活物質および活物質層に含有していてもよい導電材、結着剤、溶媒等については、特開2012−216513号公報の[0077]〜[0088]段落に記載された材料を適宜採用することができ、その内容は本明細書に参照として取り込まれる。
中でも、正極の活物質として、硫黄または硫黄を含む化合物を用いる場合に、充放電時の体積の膨張収縮が大きくなる。そのため、このような活物質を用いる場合に、正極の集電体として、充放電時の体積の膨張収縮による剥離および破損を抑制できる本発明の金属箔が好適に用いられる。
また、金属箔を負極(二次電池用負極)の集電体として用いる場合の、活物質については、特開2012−216513号公報の[0089]段落に記載された材料を適宜採用することができ、その内容は本明細書に参照として取り込まれる。
中でも、負極の活物質として、SnおよびSiなどのリチウムと合金形成可能な金属を含む材料、例えば、酸化錫、酸化ケイ素、アモルファススズ酸化物、スズ珪素酸化物等を用いる場合に、充放電時の体積の膨張収縮が大きくなる。そのため、このような活物質を用いる場合に、負極の集電体として、充放電時の体積の膨張収縮による剥離および破損を抑制できる本発明の金属箔が好適に用いられる。
本発明の金属箔を集電体として利用する電極は、蓄電デバイスの正極あるいは負極として用いることができる。
ここで、蓄電デバイス(特に、二次電池)の具体的な構成や適用される用途については、特開2012−216513号公報の[0090]〜[0123]段落に記載された材料や用途を適宜採用することができ、その内容は本明細書に参照として取り込まれる。
本発明の金属箔を集電体として用いた正極は、金属箔を正極に用いた正極集電体と、正極集電体の表面に形成される正極活物質を含む層(正極活物質層)とを有する正極(二次電池用正極)である。
ここで、上記正極活物質や、上記正極活物質層に含有していてもよい導電材、結着剤、溶媒等については、特開2012−216513号公報の[0077]〜[0088]段落に記載された材料を適宜採用することができ、その内容は本明細書に参照として取り込まれる。
本発明の金属箔を集電体として用いた負極は、金属箔を負極に用いた負極集電体と、負極集電体の表面に形成される負極活物質を含む層とを有する負極(二次電池用負極)である。
ここで、上記負極活物質については、特開2012−216513号公報の[0089]段落に記載された材料を適宜採用することができ、その内容は本明細書に参照として取り込まれる。
本発明の金属箔は、蓄電デバイス用の集電体の他、耐熱フィルター、耐熱微粒子フィルター、防音材、オイル回収フィルター、静電フィルター、抗菌フィルター、液体改質フィルター、水電解フィルター、排ガス浄化フィルター、食品濾過フィルター、海洋生物濾過フィルター、ダストフィルター、DNA(deoxyribonucleic acid)フィルター、微粉分級フィルター、固液分離フィルター、脱臭フィルター、光触媒担持体、水素発生触媒担体、酵素電極、貴金属吸収材の担体、抗菌用担体、吸着剤、吸収剤、光学フィルター、遠赤外線カットフィルター、防音・吸音材、電磁波シールド、直接型燃料電池のガス拡散層・セパレータ、微生物保管容器酸素供給口用ネット、建築用材料、照明用途、金属調装飾用途等にも用いることができる。
・SUS箔A:新日鉄住金マテリアルズ(株)製 NSSCFW2 厚さ10μm
・SUS箔B:新日鉄住金マテリアルズ(株)製 SUS304 厚さ10μm
・SUS箔C:新日鉄住金マテリアルズ(株)製 NSSCFW1 厚さ10μm
・アルミニウム箔:(株)UACJ製 1085材 厚さ20μm
・電解銅箔:福田金属箔粉工業(株)製 電解銅箔 SV 厚さ10μm
なお、各SUS箔の構成元素のCr+3.3×Moの質量比は、SUS箔Aが19wt%であり、SUS箔Bが21wt%であり、SUS箔Cは15wt%である。
金属箔を脱脂した後、35℃に保温したエッチャント〔塩化鉄(III)濃度:30質量%、塩酸濃度:3.65質量%〕に40秒間浸漬させることで、貫通孔の形成および粗面化を行なった。
この処理により、SUS箔AおよびSUS箔Bは粗面化されると共に、多数の微細な貫通孔が形成された。SUS箔Cは粗面化されるのみで貫通孔は形成されなかった。
金属箔上の片面に、下記組成に調製した樹脂層形成用組成物1を塗布し、乾燥させ、厚みが約1μmの樹脂層A1を形成した。
また、金属箔の逆側の面には、銅粒子を除いた以外は下記樹脂層形成用組成物1と同様の比率で調製した組成物を塗布し、乾燥させ、厚みが約1μmの保護層B1を形成した。
―――――――――――――――――――――――――――――――――
樹脂層形成用組成物1
―――――――――――――――――――――――――――――――――
・m,p−クレゾールノボラック
(m/p比=6/4、重量平均分子量4100) 1.2g
・HXR−Cu(銅粒子、平均粒子径:5.0μm、
日本アトマイズ加工(株)製) 0.4g
・メガファックF−780−F(界面活性剤、DIC(株)製)0.1g
・メチルエチルケトン 1.0g
・1−メトキシ−2−プロパノール 5.0g
―――――――――――――――――――――――――――――――――
次いで、40℃に保温したエッチャント〔塩化鉄(III)濃度:30質量%、塩酸濃度:3.65質量%〕に、樹脂層A1および保護層B1を有する金属箔を3分間浸漬し、その後、スプレーによる水洗を行い、乾燥させることにより、貫通孔を形成した。
次いで、貫通孔形成後の金属箔を、液温50℃のアルカリ性水溶液(水酸化ナトリウム濃度:0.4質量%)中に120秒間浸漬させることにより、樹脂層A1および保護層B1を溶解し、除去した。
その後、スプレーによる水洗を行い、乾燥させることにより、貫通孔を有する金属箔を作製した。
Siを負極材として含む負極用活物質を作製した金属箔の両面に塗布し、負極電極(負極1)を作製した。
負極用活物質として、粉砕したSi、70質量部と、バインダー(日本ゼオン(株)製BM−400B)、30質量部とを、水に添加して分散することにより、スラリーを調製した。
次に、調製したスラリーを、作製した金属箔の両面に、ダイコーターによって合計200μmの厚みになるように塗工し、120℃で30分間乾燥し、金属箔の表面に活物質層を形成し負極電極を作製した。
LiCoO2を正極材として含む正極用活物質を作製した金属箔の両面に塗布し、正極電極(正極1)を作製した。
正極用活物質として、LiCoO2の粉末90質量部と、バインダー((株)クレハ製 KFポリマー)10質量部とを、水に添加して分散することにより、スラリーを調製した。
次に、調製したスラリーを、作製した金属箔の両面に、ダイコーターによって合計200μmの厚みになるように塗工し、120℃で30分間乾燥し、金属箔の表面に活物質層を形成し正極電極を作製した。
上記粗面化工程および貫通孔形成工程1を行ったSUS箔Aを負極用集電体として、上記の負極1を作製した。また、上記のようにして貫通孔を形成したアルミニウム箔を正極用集電体として、上記の正極1を作製した。
負極用集電体として、粗面化工程および貫通孔形成工程を行ったSUS箔Bを用いた以外は実施例1と同様にして負極1および正極1を作製した。
負極用集電体として、粗面化工程および貫通孔形成工程を行ったSUS箔Cを用いた以外は実施例1と同様にして負極1および正極1を作製した。
負極用集電体として、粗面化工程および貫通孔形成工程を行っていない、未処理のSUS箔Aを用いた以外は実施例1と同様にして負極1および正極1を作製した。
実施例1〜3および比較例1で作製した負極1および正極1を用いてコイン型電池を作製し、充放電サイクルおよび密着性の評価を行った。
具体的には、コイン型電池は、CR2032型(直径20mm 厚さ3.2mm)とし、上記で作製した正極電極及び負極電極を用いて作製した。
作製したコイン型電池を用いて充放電サイクル試験を行なった。
充放電サイクル試験は、25℃下で充放電条件0.5Cで20サイクル行い、初期状態の容量に対する、試験後の容量の比率を求め、以下の基準で評価した。
容量は、東洋システム(株)製 TOSCAT−3000を用いて測定した。A、B評価が合格である。
A:容量80%以上
B:容量70%以上80%未満
C:容量70%未満
充放電サイクル試験後に、コイン型電池を解体し、負極電極の外観を観察し、剥離やクラックの程度について目視で確認し、以下の基準で評価を行った。A〜C評価が合格である。
A:異常なし
B:電極材一部表面にクラック発生
C:電極材一部剥離
D:電極材全面剥離
評価結果を表1に示す。
カーボングラファイトを負極材として含む負極用活物質を作製した金属箔の両面に塗布し、負極電極(負極2)を作製した。
負極用活物質として、粉砕したSiO(またはSi)70質量部と、バインダー(日本ゼオン(株)製BM−400B)30質量部と、を、水に添加して分散することにより、スラリーを調整した。
次に、調製したスラリーを、作製した金属箔の両面に、ダイコーターによって合計200μmの厚みになるように塗工し、120℃で30分間乾燥し、金属箔の表面に活物質層を形成し負極電極を作製した。
正極活物質として、硫黄とカーボンの複合材を用いた正極電極(正極2)を作製した。
正極用活物質として、硫黄とカーボン微粒子を1:1で混合し焼成した硫黄−カーボン複合材を用いた。これを粉砕したものに、導電助剤アセチレンブラックと、CMC(カルボキシメチルセルロース)を加え、正極用スラリーを調製した。硫黄−カーボン複合材、アセチレンブラック、CMCの比率は、90:5:5とした。
次に、調製したスラリーを、作製した金属箔の両面に、ダイコーターによって合計200μmの厚みになるように塗工し、120℃で30分間乾燥し、金属箔の表面に活物質層を形成し正極電極を作製した。
上記粗面化工程および貫通孔形成工程1を行ったSUS箔Aを正極用集電体として、上記の正極2を作製した。また、上記のようにして貫通孔を形成した電解銅箔を負極用集電体として、上記の負極2を作製した。
正極用集電体として、粗面化工程および貫通孔形成工程を行ったSUS箔Bを用いた以外は実施例1と同様にして正極2および負極2を作製した。
正極用集電体として、粗面化工程および貫通孔形成工程を行ったSUS箔Cを用いた以外は実施例1と同様にして正極2および負極2を作製した。
上記(c)樹脂層除去工程の後に、下記(d)残渣除去工程を行なった以外は実施例4と同様にして負極用集電体を作製し、負極2を作製した。正極2は実施例4と同様とした。
1%塩酸に10秒浸漬し、その後、スプレーによる水洗を行い、乾燥させることによって、貫通孔を有する金属箔を作製した。残渣除去工程の前後でXRF解析によるハロゲンの検出を行なって反応残渣を測定したところ、残渣除去工程の前の塩素原子の検出量は0.44質量%であったのに対して、残渣除去工程の後は0.0095質量%であった。
正極用集電体として、粗面化工程および貫通孔形成工程を行っていない、未処理のアルミニウム箔を用いた以外は実施例1と同様にして正極2および負極2を作製した。
実施例4〜7および比較例2で作製した正極2および負極2を用いて上記と同様にしてコイン型電池を作製し、充放電サイクルおよび密着性の評価を行った。
実施例4および実施例7の負極用集電体について、温度60℃、相対湿度70%の雰囲気に1週間放置した後、腐食の有無を目視で確認した。
その結果、実施例4で使用した負極集電体は表面に腐食が確認され、実施例7で使用した負極集電体では表面に腐食が発生していなかった。
結果を表2に示す。
一方、表面積比ΔSが小さい金属箔を集電体として用いた比較例は、サイクル特性が低く、また、密着性が低いことがわかる。
また、実施例1と実施例3との対比、ならびに、実施例4と実施例6との対比から、貫通孔を有するのが好ましいことがわかる。
以上の結果から本発明の効果は明らかである。
2 金属粒子
3 樹脂層
4 保護層
5、6 貫通孔
10 金属箔
Claims (10)
- 厚みが5μm以上100μm未満であり、
銅箔、銀箔、金箔、白金箔、ステンレス箔、チタン箔、タンタル箔、モリブデン箔、ニオブ箔、ジルコニウム箔、タングステン箔、ベリリウム銅箔、燐青銅箔、黄銅箔、洋白箔、錫箔、亜鉛箔、鉄箔、ニッケル箔、パーマロイ箔、ニクロム箔、42アロイ箔、コバール箔、モネル箔、インコネル箔、および、ハステロイ箔からなる群から選択される箔であり、または、前記群から選択される箔と、選択された箔とは異なる種類の金属とが積層されてなる金属箔であって、
原子間力顕微鏡を用いて、前記金属箔の表面の50μm×50μmの範囲を512×512点測定して得られる3次元データから近似三点法により得られる実面積Sxと、幾何学的測定面積S0とから、下記式(i)により求められる表面積比ΔSが2%以上である金属箔。
ΔS=(Sx−S0)/S0×100(%)・・・(i) - 前記金属箔の厚み方向に貫通する複数の貫通孔を有し、
前記貫通孔の平均開口径が1〜100μmであり、かつ、前記貫通孔による平均開口率が0.5〜30%である請求項1に記載の金属箔。 - 前記金属箔が、ステンレス箔である請求項1または2に記載の金属箔。
- 前記ステンレス箔の構成元素の質量比がCr+3.3×Mo≧16(wt%)を満たす請求項3に記載の金属箔。
- 前記金属箔が銅箔である請求項1または2に記載の金属箔。
- 前記銅箔が、XRF解析によるハロゲンの検出量が0.4質量%以下である請求項5に記載の金属箔。
- 請求項1〜6のいずれか一項に記載の金属箔からなる負極集電体と、
前記負極集電体の表面に形成される、負極活物質を含む活物質層とを有し、
前記負極活物質が、シリコン、錫、および、これらの酸化物の少なくとも1つである二次電池用負極。 - 請求項1〜6のいずれか一項に記載の金属箔からなる正極集電体と、
前記正極集電体の表面に形成される、正極活物質を含む活物質層とを有し、
前記正極活物質が、硫黄または、硫黄を含む化合物の少なくとも1つである二次電池用正極。 - 請求項1〜6のいずれか一項に記載の金属箔の製造方法であって、
前記金属箔の表面を粗面化する粗面化工程を有し、
前記粗面化工程によって、原子間力顕微鏡を用いて、前記金属箔の表面の50μm×50μmの範囲を512×512点測定して得られる3次元データから近似三点法により得られる実面積Sxと、幾何学的測定面積S0とから、下記式(i)により求められる表面積比ΔSが2%以上である金属箔を作製する金属箔の製造方法。
ΔS=(Sx−S0)/S0×100(%)・・・(i) - 前記金属箔が銅箔であり、
前記銅箔に貫通孔を形成する貫通孔形成工程と、
前記貫通孔を形成した後に、塩酸、アンモニア水、チオ硫酸ナトリウム、および、エタノールからなる群から選択される少なくとも1種で洗浄する残渣除去工程と、を有する請求項9に記載の金属箔の製造方法。
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