JP6822112B2 - 半導体検査治具 - Google Patents
半導体検査治具 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6822112B2 JP6822112B2 JP2016240326A JP2016240326A JP6822112B2 JP 6822112 B2 JP6822112 B2 JP 6822112B2 JP 2016240326 A JP2016240326 A JP 2016240326A JP 2016240326 A JP2016240326 A JP 2016240326A JP 6822112 B2 JP6822112 B2 JP 6822112B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- semiconductor device
- inspection jig
- leads
- base
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
- G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
- G01R1/045—Sockets or component fixtures for RF or HF testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
図1は、検査対象である半導体装置を示す斜視図である。半導体装置1は高い電力を扱う高周波電力増幅器である。半導体装置1は、半導体チップが封止された本体部2と、本体部2から互いに反対方向に突出したリード3a,3bとを有する。本体部2の内部においてリード3a,3bは半導体チップに接続されている。なお、本体部2における半導体チップの封止方法は、例えば樹脂封止であるが、これに限定されない。
図5は、本発明の実施の形態2に係る半導体検査治具を示す斜視図である。アルミナ基板6a,6bの導電パターン5a,5bは、ベース4に載せられた半導体装置1のリード3a,3bに直接的に接触せず、離間している。コンタクトシート8は、リード3a,3bに対し垂直方向に導電パターン9a,9bが設けられた樹脂製のフィルムである。コンタクトシート8には、半導体装置1の本体部2の外径寸法に合わせた形状の穴10が設けられている。
図7は、本発明の実施の形態3に係る半導体検査治具を示す斜視図である。実施の形態2のコンタクトシート8の代わりに、本実施の形態ではリード3a,3bに対し垂直方向に導電パターン9a,9bがそれぞれ形成されたリード押さえ11a,11bを用いる。その他の構成は実施の形態2と同様である。
図9は、本発明の実施の形態4に係る半導体検査治具を示す斜視図である。導電性のバネ式のプローブ12がベース4の上面から突出している。アルミナ基板6a,6bの上面に、それぞれリード3a,3bの幅に合わせて凹部13a,13bが設けられている。導電パターン5a,5bはそれぞれ凹部13a,13b内に設けられている。
Claims (1)
- 下面と前記下面に直交する側面を持つ本体部と、前記本体部の前記側面から突出したリードとを有する半導体装置を載せるベースと、
前記ベースの上に設けられ、導電パターンを有する基板とを備え、
前記リードは、前記本体部の前記側面に対して垂直な第1の方向に沿って直線状に延び、
前記基板は、上面と前記上面に直交する側面を持ち、
前記導電パターンは、前記基板の前記上面に設けられ、前記ベースの上面に対して垂直方向から見た平面視において、前記基板の前記側面に平行な第2の方向に沿って延びる直線状であり、
前記本体部の前記下面が前記ベースの前記上面に対向し、前記本体部の前記側面の下側部分が前記基板の前記側面に対向し、前記リードが前記基板の前記上面の上に配置されるように前記半導体装置が前記ベースに載せられた場合に、前記導電パターンは前記第1の方向とは異なる前記第2の方向から前記リードに交差し、前記リードの先端に接触することなく前記リードの中間部分に接触し、
前記リードの先端が前記平面視で前記導電パターンのどの部分とも重ならないことを特徴とする半導体検査治具。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016240326A JP6822112B2 (ja) | 2016-12-12 | 2016-12-12 | 半導体検査治具 |
US15/679,186 US10895586B2 (en) | 2016-12-12 | 2017-08-17 | Semiconductor inspection jig |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016240326A JP6822112B2 (ja) | 2016-12-12 | 2016-12-12 | 半導体検査治具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018096777A JP2018096777A (ja) | 2018-06-21 |
JP6822112B2 true JP6822112B2 (ja) | 2021-01-27 |
Family
ID=62489285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016240326A Active JP6822112B2 (ja) | 2016-12-12 | 2016-12-12 | 半導体検査治具 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10895586B2 (ja) |
JP (1) | JP6822112B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6897505B2 (ja) * | 2017-11-08 | 2021-06-30 | 三菱電機株式会社 | 半導体検査治具 |
JP7270348B2 (ja) * | 2018-09-10 | 2023-05-10 | 三菱電機株式会社 | 電気特性検査治具 |
JP7303543B2 (ja) * | 2019-08-30 | 2023-07-05 | ヤマハファインテック株式会社 | 高周波特性検査装置、及び高周波特性検査方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5438481A (en) * | 1987-11-17 | 1995-08-01 | Advanced Interconnections Corporation | Molded-in lead frames |
JPH01184478A (ja) | 1988-01-19 | 1989-07-24 | Mitsubishi Electric Corp | 光半導体測定用ソケツト |
JPH01217269A (ja) | 1988-02-26 | 1989-08-30 | Hitachi Ltd | 半導体デバイス製造装置 |
JPH03246879A (ja) * | 1990-02-23 | 1991-11-05 | Hitachi Ltd | 半導体装置用ソケット |
JP3307470B2 (ja) * | 1993-04-05 | 2002-07-24 | 三菱電機株式会社 | 半導体検査装置 |
JPH0618613A (ja) | 1992-07-03 | 1994-01-28 | Nec Kyushu Ltd | ハンドラのコンタクト機構 |
JP2739031B2 (ja) * | 1992-12-08 | 1998-04-08 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置用ソケット |
JPH075228A (ja) * | 1993-06-18 | 1995-01-10 | Tokyo Electron Ltd | バーンインテスト用接触装置 |
KR950033507A (ko) * | 1994-02-08 | 1995-12-26 | 오가 노리오 | Ic 측정시험장치 및 이것을 사용한 ic 측정시험방법 |
US5557212A (en) * | 1994-11-18 | 1996-09-17 | Isaac; George L. | Semiconductor test socket and contacts |
DE10001117A1 (de) * | 2000-01-13 | 2001-07-26 | Infineon Technologies Ag | Testvorrichtung für ein Halbleiterbauelement |
JP2004047336A (ja) * | 2002-07-12 | 2004-02-12 | Advantest Corp | コンタクトシートおよびそれを備える半導体装置用ソケット |
JP2010014585A (ja) | 2008-07-04 | 2010-01-21 | Sumitomo Electric Ind Ltd | フレームリードの導通検査方法 |
JP6131622B2 (ja) | 2013-02-13 | 2017-05-24 | 三菱電機株式会社 | 測定装置 |
-
2016
- 2016-12-12 JP JP2016240326A patent/JP6822112B2/ja active Active
-
2017
- 2017-08-17 US US15/679,186 patent/US10895586B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018096777A (ja) | 2018-06-21 |
US20180164344A1 (en) | 2018-06-14 |
US10895586B2 (en) | 2021-01-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6822112B2 (ja) | 半導体検査治具 | |
TWI821332B (zh) | 檢查工具及檢查裝置 | |
JP6525831B2 (ja) | コンタクトユニット及び検査治具 | |
TWI779192B (zh) | 探針、檢查夾具、檢查裝置、以及探針的製造方法 | |
KR100337588B1 (ko) | 반도체 검사장치 및 이를 사용한 검사방법 | |
TW202035994A (zh) | 接觸端子、檢查治具以及檢查裝置 | |
CN111670489B (zh) | 楔形工具、键合装置以及键合检查方法 | |
JP4567063B2 (ja) | 電気的接続装置の組み立て方法 | |
TWI635281B (zh) | Contact unit and inspection fixture | |
KR101342174B1 (ko) | 기판 검사 치구 | |
JP2007109414A (ja) | 集積回路用ソケット | |
TWI829696B (zh) | 探針、檢查治具、檢查裝置以及探針的製造方法 | |
TW201409035A (zh) | 電性接觸件及電性接觸件之接觸方法 | |
KR101591501B1 (ko) | 접촉율이 향상된 컨택트 핀 | |
JP2005055194A (ja) | プローブユニット及びその製造方法 | |
JP2005337904A (ja) | 半導体装置特性測定用治具および半導体装置特性測定方法 | |
KR100920847B1 (ko) | 프로브 공급장치 | |
JP4264310B2 (ja) | 基板検査装置 | |
JP2020016625A (ja) | 測定装置 | |
JP7499609B2 (ja) | 垂直接触型プローブ、プローブカード及びソケット | |
JP4413680B2 (ja) | 電気コネクタ | |
KR100716805B1 (ko) | 반도체 패키지용 인쇄회로기판 및 이를 이용한 접속 검사방법 | |
KR20230118263A (ko) | 고전류 핀 및 그 제조방법 | |
JP2002228686A (ja) | 破損防止機能を有するコンタクトプローブ及びプローブ装置 | |
TW202249234A (zh) | 元件、元件製造裝置、及元件製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190225 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191211 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200107 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200204 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200804 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201012 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20201012 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20201021 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20201027 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20201208 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20201221 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6822112 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |