JPH03246879A - 半導体装置用ソケット - Google Patents
半導体装置用ソケットInfo
- Publication number
- JPH03246879A JPH03246879A JP4368490A JP4368490A JPH03246879A JP H03246879 A JPH03246879 A JP H03246879A JP 4368490 A JP4368490 A JP 4368490A JP 4368490 A JP4368490 A JP 4368490A JP H03246879 A JPH03246879 A JP H03246879A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- socket
- lead pin
- wiring pattern
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 50
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 4
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 27
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 abstract description 4
- 231100000241 scar Toxicity 0.000 abstract 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003387 muscular Effects 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置を装填するためのソケットの保持構
造の改良技術、特に、フラットパッケージによる半導体
装置のり−ドピンを変形させことなく支持するために用
いて効果のある技術に関するものである。
造の改良技術、特に、フラットパッケージによる半導体
装置のり−ドピンを変形させことなく支持するために用
いて効果のある技術に関するものである。
半導体装置の試験、検査などの測定のためには、着脱を
迅速に行うために、ソケットを用いている。
迅速に行うために、ソケットを用いている。
このソケットは、装填される半導体装置を載置する台座
部と、そのリードピンまたは端子に電気的に接続される
接点部とを有している。
部と、そのリードピンまたは端子に電気的に接続される
接点部とを有している。
この種のソケットの1つに、ウェルズエレクトロニクス
社(Wells ElectronicS)カタログ
1989年rWelcon@Burn−In/Te5t
5ockets(ウェルコン バーン・イン/テス
トソケッ))」22頁〜23頁に記載のもの、あるいは
山−電機株式会社製、製品型式rIC53−0644−
393Jがある。
社(Wells ElectronicS)カタログ
1989年rWelcon@Burn−In/Te5t
5ockets(ウェルコン バーン・イン/テス
トソケッ))」22頁〜23頁に記載のもの、あるいは
山−電機株式会社製、製品型式rIC53−0644−
393Jがある。
ところで、本発明者は、ソケットに対しフラットパッケ
ージ型の半導体装置を着脱操作の際にリードを変形させ
る問題について検討した。
ージ型の半導体装置を着脱操作の際にリードを変形させ
る問題について検討した。
すなわち、従来のフラットパッケージ型の半導体装置用
のソケットは、第5図の如き構成がとられ、ソケット台
座1の上部中央にはリードピン7を有する半導体装置2
のパッケージ部分を載置するための台座部3が突設され
ている。また、台座部30両側(あるいは4方向)に隣
接してリードピン4がソケット台座1から立設している
。このリードピン4は、上端部が曲げ加工され、ソケッ
ト台座1に埋め込まれた部分はU字形に折り曲げられ、
抜は落ちや回転を防止している。また、リードピン4の
下端はソケット台座1から露出し、測定装置などとの接
続が行えるようにしている。
のソケットは、第5図の如き構成がとられ、ソケット台
座1の上部中央にはリードピン7を有する半導体装置2
のパッケージ部分を載置するための台座部3が突設され
ている。また、台座部30両側(あるいは4方向)に隣
接してリードピン4がソケット台座1から立設している
。このリードピン4は、上端部が曲げ加工され、ソケッ
ト台座1に埋め込まれた部分はU字形に折り曲げられ、
抜は落ちや回転を防止している。また、リードピン4の
下端はソケット台座1から露出し、測定装置などとの接
続が行えるようにしている。
ソケット台座1には、合成樹脂などの絶縁材による押圧
板5の一辺が蝶着され、押圧板5を開閉することができ
る。この押圧板5の開放側の端部内面には凹部が設けら
れ、ソケット台座1の側面に設けられた小突起に係着可
能にされている。さらに、押圧板5のリードピン4に対
向する部分には、板状の突起6が立設されている。
板5の一辺が蝶着され、押圧板5を開閉することができ
る。この押圧板5の開放側の端部内面には凹部が設けら
れ、ソケット台座1の側面に設けられた小突起に係着可
能にされている。さらに、押圧板5のリードピン4に対
向する部分には、板状の突起6が立設されている。
この構成において、半導体装置2の電気的測定や検査を
行う場合、押圧板5を開けて台座部3に、リードピン4
上にリードピン7が対向するように位置決めしながら半
導体装置2のパッケージ部分を載せ、このまま押圧板5
を閉じる。これにより、第5図に示すように、半導体装
置2のリードピン7が突起6で押圧されてJJ−ドピン
4に圧接し、リードピン4とリードピン7が電気的に接
続される。
行う場合、押圧板5を開けて台座部3に、リードピン4
上にリードピン7が対向するように位置決めしながら半
導体装置2のパッケージ部分を載せ、このまま押圧板5
を閉じる。これにより、第5図に示すように、半導体装
置2のリードピン7が突起6で押圧されてJJ−ドピン
4に圧接し、リードピン4とリードピン7が電気的に接
続される。
ところが、前記の如くリードピンがソケット台座に立設
されているため、半導体装置2の装填時及び取り出し時
に、半導体装置2が回転するなどしてリードビン同士が
接触し、半導体装置のり一ドピンの変形(曲げなど)や
疵を生じさせるという問題のあることが本発明者によっ
て見出された。
されているため、半導体装置2の装填時及び取り出し時
に、半導体装置2が回転するなどしてリードビン同士が
接触し、半導体装置のり一ドピンの変形(曲げなど)や
疵を生じさせるという問題のあることが本発明者によっ
て見出された。
そこで、本発明の目的は、半導体装置のリードピンに曲
げや疵を生じさせることのない技術を提供することにあ
る。
げや疵を生じさせることのない技術を提供することにあ
る。
本発明の前記目的と新規な特徴は、本明細書の記述およ
び添付図面から明らかになるであろう。
び添付図面から明らかになるであろう。
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、以下の通りである。
要を簡単に説明すれば、以下の通りである。
すなわち、フラットパッケージ型の半導体装置を脱着自
在に載置する台座と、載置された前記半導体装置のリー
ドピンの先端に近接するように配設される電極と、前記
半導体装置を位置決め保持するための押圧板と、該押圧
板に設けられ、その覆蓋使用時に前記半導体装置のリー
ドピンを前記電極に電気的に接続する中継接続部とを設
ける構成にしている。
在に載置する台座と、載置された前記半導体装置のリー
ドピンの先端に近接するように配設される電極と、前記
半導体装置を位置決め保持するための押圧板と、該押圧
板に設けられ、その覆蓋使用時に前記半導体装置のリー
ドピンを前記電極に電気的に接続する中継接続部とを設
ける構成にしている。
上記した手段によれば、抑圧板側に設けられた突起物を
有する中継接続部が、半導体装置の着脱時には台座から
離れ、半導体装置のリードピンに触れるものが台座上に
存在しない。したがって、半導体装置のリードピンに曲
げを生じさせず、また、疵を付けることもない。
有する中継接続部が、半導体装置の着脱時には台座から
離れ、半導体装置のリードピンに触れるものが台座上に
存在しない。したがって、半導体装置のリードピンに曲
げを生じさせず、また、疵を付けることもない。
〔実施例1〕
第1図は本発明による半導体装置用ソケットの一例を示
す部分断面図である。
す部分断面図である。
絶縁材料を用いて平板状に形成したソケット台座8上に
は、半導体装置2を載置するための台座部9が接合され
ている。台座部9に半導体装置2が装着された場合のそ
のリードピン7の先端位置に隣接させて、ソケット台座
8にはリードピン10が、その下部が露出するようにし
て埋め込まれ、その上端には円板状の電極11が設けら
れている。
は、半導体装置2を載置するための台座部9が接合され
ている。台座部9に半導体装置2が装着された場合のそ
のリードピン7の先端位置に隣接させて、ソケット台座
8にはリードピン10が、その下部が露出するようにし
て埋め込まれ、その上端には円板状の電極11が設けら
れている。
さらに、ソケット台座8には、プラスチックなどの絶縁
材料を用いた押圧板12が脱着自在に形成され、その内
面のリードピン10に対向する部位には、半導体装置2
方向に延伸させて導電性の配線パターン13が設けられ
ている。この配線パターン13には、電極11及びリー
ドピン7に対向する位置に導電材によるリング状の接触
部材14が接合されている。この配線パターン13と電
極11が、中継接続部を形成している。
材料を用いた押圧板12が脱着自在に形成され、その内
面のリードピン10に対向する部位には、半導体装置2
方向に延伸させて導電性の配線パターン13が設けられ
ている。この配線パターン13には、電極11及びリー
ドピン7に対向する位置に導電材によるリング状の接触
部材14が接合されている。この配線パターン13と電
極11が、中継接続部を形成している。
配線パターン13は、プリント基板と同様に作製しても
よいし、銅などの導電材の薄板を貼着するようにしても
よい。そして、接触部材14は、配線パターン13に、
はんだやろう付けなどにより電気的ならびに機械的に固
定する。また、接触部材14は、弾力性を有し容易に変
形可能な材料及び形状(肉圧及び輻)にし、その外径は
抑圧板12を閉じたときにリードピン7及び電極11に
弾力性をもって圧接可能なサイズに設定する。
よいし、銅などの導電材の薄板を貼着するようにしても
よい。そして、接触部材14は、配線パターン13に、
はんだやろう付けなどにより電気的ならびに機械的に固
定する。また、接触部材14は、弾力性を有し容易に変
形可能な材料及び形状(肉圧及び輻)にし、その外径は
抑圧板12を閉じたときにリードピン7及び電極11に
弾力性をもって圧接可能なサイズに設定する。
以上の構成において、使用に際しては、押圧板12を開
け、台座部9上に半導体装置2をリードピン7が電極1
1に対向するように位置決めして載置する。この状態を
保持したまま、押圧板12を静かに閉じていくと、2つ
の接触部材14がリードピン7及び電極11に圧接する
。このとき接触部材14は、圧接状態に応じて変形し、
リードピン7及び電極11に対し、適度の圧力で接触す
る。
け、台座部9上に半導体装置2をリードピン7が電極1
1に対向するように位置決めして載置する。この状態を
保持したまま、押圧板12を静かに閉じていくと、2つ
の接触部材14がリードピン7及び電極11に圧接する
。このとき接触部材14は、圧接状態に応じて変形し、
リードピン7及び電極11に対し、適度の圧力で接触す
る。
これにより、リードピン7と電極11の対向する同士が
接触部材14及び配線パターン13を介して電気的に接
続される。半導体装置2の脱着に際しては、押圧板12
を開けることによって接触部材14は半導体装置2の出
し入れの邪魔にならない位置に移動していてソケット台
座8上に突出するものが無いため、リードピン7が他の
ものに接触する状況は生じない。したがって、リードピ
ン7を変形させ、或いは疵を付けるなどにはならない。
接触部材14及び配線パターン13を介して電気的に接
続される。半導体装置2の脱着に際しては、押圧板12
を開けることによって接触部材14は半導体装置2の出
し入れの邪魔にならない位置に移動していてソケット台
座8上に突出するものが無いため、リードピン7が他の
ものに接触する状況は生じない。したがって、リードピ
ン7を変形させ、或いは疵を付けるなどにはならない。
〔実施例2〕
第2図は本発明の他の実施例を示す分解斜視図である。
第2図においては、第1図と同一または同一機能を有す
るものには同一引用数字を用いたので、以下においては
重複する説明を省略する。
るものには同一引用数字を用いたので、以下においては
重複する説明を省略する。
本実施例は、前記実施例が押圧板12を蝶番により開閉
する構造としていたのに対し、ソケット台座8の四隅に
ガイド15を立設し、このガイド15に添って抑圧板1
6を昇降できるようにしたところに特徴がある。押圧板
16は、ガイド15を嵌入可能な貫通穴17を有し、両
側端には把手を兼ねた係着部18が設けられている。一
方、ソケット台座8には、係着部18に嵌合する突起1
9が設けられている。
する構造としていたのに対し、ソケット台座8の四隅に
ガイド15を立設し、このガイド15に添って抑圧板1
6を昇降できるようにしたところに特徴がある。押圧板
16は、ガイド15を嵌入可能な貫通穴17を有し、両
側端には把手を兼ねた係着部18が設けられている。一
方、ソケット台座8には、係着部18に嵌合する突起1
9が設けられている。
押圧板16に設けられた配線パターン13には、第1図
に示した接触部材14を用いることもできるが、ここで
は第3図に示す接触部材20を用いている。
に示した接触部材14を用いることもできるが、ここで
は第3図に示す接触部材20を用いている。
第3図に示す接触部材20は、弾力性を備えた導電金属
を3字形に加工し、先端曲げ部がリードピン7及び電極
11に接触する。他端は配線パターン13に接合固定し
ている。
を3字形に加工し、先端曲げ部がリードピン7及び電極
11に接触する。他端は配線パターン13に接合固定し
ている。
第2図の構成における使用法は、まず、QFP(クワッ
ド・フラット・パッケージ)型の半導体装置2を台座部
9上に載置し、リードピン7の各々を電極11に対向す
るように位置決めする。ついで、押圧板16の貫通穴1
7にガイド15を挿入し、このまま押圧板16を降下さ
せる。降下が完了した時点で強く押し下げると、係着部
18が突起19に嵌合し、リードピン7及び電極11に
接触部材20が圧接したまま、押圧板16は係着部18
に内蔵する弾性部材(不図示)の附勢力によって、ソケ
ット台座8に押圧状態で密着保持される。そして、リー
ドピン7と電極11は、接触部材20及び配線パターン
13を介して電気的に接続されている。
ド・フラット・パッケージ)型の半導体装置2を台座部
9上に載置し、リードピン7の各々を電極11に対向す
るように位置決めする。ついで、押圧板16の貫通穴1
7にガイド15を挿入し、このまま押圧板16を降下さ
せる。降下が完了した時点で強く押し下げると、係着部
18が突起19に嵌合し、リードピン7及び電極11に
接触部材20が圧接したまま、押圧板16は係着部18
に内蔵する弾性部材(不図示)の附勢力によって、ソケ
ット台座8に押圧状態で密着保持される。そして、リー
ドピン7と電極11は、接触部材20及び配線パターン
13を介して電気的に接続されている。
この実施例においても、ソケット台座8上には、リード
ピン7に接触する恐れのある部材は存在しないため、リ
ードピン7に曲げや疵を生じさせることがない。
ピン7に接触する恐れのある部材は存在しないため、リ
ードピン7に曲げや疵を生じさせることがない。
以上本発明によってなされた発明を実施例に基づき具体
的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるもの
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
あることは言うまでもない。
的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるもの
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
あることは言うまでもない。
例えば、上記各実施例においては、配線パターン13と
接触部材を別個に設けるものとしたが、第4図に示すよ
うに、一体化した中継接続部21を用いるものとしても
よい。
接触部材を別個に設けるものとしたが、第4図に示すよ
うに、一体化した中継接続部21を用いるものとしても
よい。
また、接触部材14.20に代えて、移動自在なビンを
スプリングによって附勢する構造にしてもよい。
スプリングによって附勢する構造にしてもよい。
さらに、前記実施例においては、リードピン7と電極1
1を対向するように配設するものとしたが、本発明では
両者の接続を中継接続部を介して行っているため、一方
に対し他方が斜め配置であってもよい。
1を対向するように配設するものとしたが、本発明では
両者の接続を中継接続部を介して行っているため、一方
に対し他方が斜め配置であってもよい。
本願において開示される発明のうち、代表的なものによ
って得られる効果を簡単に説明すれば下記の通りである
。
って得られる効果を簡単に説明すれば下記の通りである
。
すなわち、フラットパッケージ型の半導体装置を脱着自
在に載置する台座と、載置された前記半導体装置のリー
ドピンの先端に近接するように配設される電極と、前記
半導体装置を位置決め保持するための押圧板と、該押圧
板に設けられ、その覆蓋使用時に前記半導体装置のリー
ドピンを前記電極に電気的に接続する中継接続部とを設
ける構成にしたので、半導体装置のリードピンに曲げを
生じさせず、また、疵を付けることもない。
在に載置する台座と、載置された前記半導体装置のリー
ドピンの先端に近接するように配設される電極と、前記
半導体装置を位置決め保持するための押圧板と、該押圧
板に設けられ、その覆蓋使用時に前記半導体装置のリー
ドピンを前記電極に電気的に接続する中継接続部とを設
ける構成にしたので、半導体装置のリードピンに曲げを
生じさせず、また、疵を付けることもない。
第1図は本発明による半導体装置用ソケットの一例を示
す部分断面図、 第2図は本発明の他の実施例を示す分解斜視図、第3図
は第2図の実施例に用いる接触部材の構成を示す正面図
、 第4図は配線パターン及び接触部材に代えて用いること
のできる中継接続部の構成を示す正面図、第5図は従来
の半導体装置用ソケットを示す断面図である。 1.8・・・ソケット台座、2・・・半導体装置、3.
9・・・台座部、4,7.10・・・リードピン、5,
12.16・・・押圧板、6・・・突起、11・・・電
極、13・・・配線パターン、14.20・・・接触部
材、15・・・ガイド、17・・・貫通穴、18・・・
係着部、19・・・突起、21・・・中継接続部。
す部分断面図、 第2図は本発明の他の実施例を示す分解斜視図、第3図
は第2図の実施例に用いる接触部材の構成を示す正面図
、 第4図は配線パターン及び接触部材に代えて用いること
のできる中継接続部の構成を示す正面図、第5図は従来
の半導体装置用ソケットを示す断面図である。 1.8・・・ソケット台座、2・・・半導体装置、3.
9・・・台座部、4,7.10・・・リードピン、5,
12.16・・・押圧板、6・・・突起、11・・・電
極、13・・・配線パターン、14.20・・・接触部
材、15・・・ガイド、17・・・貫通穴、18・・・
係着部、19・・・突起、21・・・中継接続部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、フラットパッケージ型の半導体装置を脱着自在に載
置する台座と、載置された前記半導体装置のリードピン
の先端に近接するように配設される電極と、前記半導体
装置を位置決め保持するための押圧板と、該押圧板に設
けられ、その覆蓋使用時に前記半導体装置のリードピン
を前記電極に電気的に接続する中継接続部とを具備する
ことを特徴とする半導体装置用ソケット。 2、前記中継接続部は、配線パターンと、該配線パター
ンに取り付けられて前記電極及び前記リードピンの各々
に接触可能な接触部材とから成ることを特徴とする請求
項1記載の半導体装置用ソケット。 3、前記台座にガイドを設け、このガイドにそって前記
押圧板を昇降させることを特徴とする請求項1記載の半
導体装置用ソケット。 4、前記接触部材が、弾性を有する突起または環状の導
電材であることを特徴とする請求項1記載の半導体装置
用ソケット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4368490A JPH03246879A (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 半導体装置用ソケット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4368490A JPH03246879A (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 半導体装置用ソケット |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03246879A true JPH03246879A (ja) | 1991-11-05 |
Family
ID=12670671
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4368490A Pending JPH03246879A (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | 半導体装置用ソケット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03246879A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002075570A (ja) * | 2000-08-28 | 2002-03-15 | Nec Kyushu Ltd | Icソケット |
JP2018096777A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | 三菱電機株式会社 | 半導体検査治具 |
-
1990
- 1990-02-23 JP JP4368490A patent/JPH03246879A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002075570A (ja) * | 2000-08-28 | 2002-03-15 | Nec Kyushu Ltd | Icソケット |
JP2018096777A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | 三菱電機株式会社 | 半導体検査治具 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW305097B (ja) | ||
US6782614B2 (en) | Contact pin assembly, contact pin assembly manufacturing method, contact pin assembling structure, contact pin assembling structure manufacturing method, and socket for electrical parts | |
KR200334763Y1 (ko) | 베어 ic 칩 시험용 시스템 및 이러한 칩을 위한 소켓 | |
US5249972A (en) | Electrical socket | |
TWI397690B (zh) | 用於針對電子元件之測試裝置的構件及電子元件之測試方法 | |
JPH07505255A (ja) | 集積回路用テストソケット | |
US5161984A (en) | Electrical socket | |
JPH09289068A (ja) | Icソケット | |
JPH01113680A (ja) | 電子回路のテスト器 | |
JP4266466B2 (ja) | ソケット及び電子部品装着装置 | |
JPH03246879A (ja) | 半導体装置用ソケット | |
KR101212945B1 (ko) | 수직형 프로브를 갖는 검사용 소켓 | |
JPH09320720A (ja) | 接続装置 | |
JP2724675B2 (ja) | Ic測定治具 | |
JPH0566243A (ja) | Lsi評価用治具 | |
JP2001264383A (ja) | Ic測定用ソケット | |
JP3256455B2 (ja) | ソケット | |
JP2002062312A (ja) | コンタクト装置 | |
JPH10177038A (ja) | 電子部品の試験用の電気的接続装置 | |
JPH10112365A (ja) | Icソケット | |
JPH09306624A (ja) | ソケット | |
JPS62276861A (ja) | 半導体評価装置 | |
JP2693385B2 (ja) | 電子部品の検査用ソケット装置 | |
JPH0218539Y2 (ja) | ||
JPH11295384A (ja) | 半導体素子の検査治具 |