JP2001264383A - Ｉｃ測定用ソケット - Google Patents
Ｉｃ測定用ソケットInfo
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- JP2001264383A JP2001264383A JP2000078513A JP2000078513A JP2001264383A JP 2001264383 A JP2001264383 A JP 2001264383A JP 2000078513 A JP2000078513 A JP 2000078513A JP 2000078513 A JP2000078513 A JP 2000078513A JP 2001264383 A JP2001264383 A JP 2001264383A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】基板実装後のＩＣを取り外して特性を再測定す
る際、リード端子の変形・破損にも容易に対応するソケ
ットを提供することにある。 【解決手段】ＩＣ載置台３を備え、ソケット端子２を植
設したソケット本体部１と、この本体部１上に配置され
且つ一端がソケット端子２に接触し、他端にはＩＣリー
ド端子１１に接触するリード接触部７を形成した接触子
８を備えるリード端子圧接用可動部５と、リード端子圧
接用可動部５をソケット本体部１に対して固定する可動
部ロック機構６とを有する。これにより、接触子８は、
リード端子１０の根元に上方より接触させられ、ＩＣ１
０のリード端子１１の先端が変形していても、特性を測
定することができる。
る際、リード端子の変形・破損にも容易に対応するソケ
ットを提供することにある。 【解決手段】ＩＣ載置台３を備え、ソケット端子２を植
設したソケット本体部１と、この本体部１上に配置され
且つ一端がソケット端子２に接触し、他端にはＩＣリー
ド端子１１に接触するリード接触部７を形成した接触子
８を備えるリード端子圧接用可動部５と、リード端子圧
接用可動部５をソケット本体部１に対して固定する可動
部ロック機構６とを有する。これにより、接触子８は、
リード端子１０の根元に上方より接触させられ、ＩＣ１
０のリード端子１１の先端が変形していても、特性を測
定することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＩＣ測定用ソケット
に関し、特にリード成形後のＩＣ測定用ソケットに関す
る。
に関し、特にリード成形後のＩＣ測定用ソケットに関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、ＩＣを実装するソケットあるいは
特性を測定するためのソケットとしては、例えば特開平
１１−１９５７３５号公報あるいは実開平０２−０４３
６６９号公報などに各種の構造のものが開示されてい
る。
特性を測定するためのソケットとしては、例えば特開平
１１−１９５７３５号公報あるいは実開平０２−０４３
６６９号公報などに各種の構造のものが開示されてい
る。
【０００３】図５従来の一例を示すＩＣ測定用ソケット
の断面図である。図５に示すように、このようなリード
成形後にＩＣの特性を再度測定するＩＣ測定用ソケット
としては、中央底部にスプリング４を介してＩＣ載置台
３を備えるとともに、ソケット端子２を貫通させた箱型
のソケット本体部１ａと、このソケット本体部１ａの一
辺に軸支され且つ下面に突起状のリード押圧部１４を形
成したリード端子圧接用可動部５ａと、ソケット本体部
１ａのリード端子圧接用可動部５ａが軸支される辺とは
対向した一辺に軸支され、リード端子圧接用可動部５ａ
を固定するための鍵型状をした固定部６とを有した構造
のものが知られている。
の断面図である。図５に示すように、このようなリード
成形後にＩＣの特性を再度測定するＩＣ測定用ソケット
としては、中央底部にスプリング４を介してＩＣ載置台
３を備えるとともに、ソケット端子２を貫通させた箱型
のソケット本体部１ａと、このソケット本体部１ａの一
辺に軸支され且つ下面に突起状のリード押圧部１４を形
成したリード端子圧接用可動部５ａと、ソケット本体部
１ａのリード端子圧接用可動部５ａが軸支される辺とは
対向した一辺に軸支され、リード端子圧接用可動部５ａ
を固定するための鍵型状をした固定部６とを有した構造
のものが知られている。
【０００４】このソケットにおいては、ＩＣ１０を載置
し、リード端子圧接用可動部５ａを固定すると、ソケッ
ト本体部１ａのソケット端子２と一体になった弾性のあ
る導電性接触子７ａに対し、搭載台３に載置したＩＣ１
０のリード端子１１の下側の面がリード押圧部１４によ
り圧接される構造となっている。すなわち、導電性接触
子７ａはＩＣ１０の搭載台３の上方よりリード端子１１
の先端を圧接され、ＩＣ１０の特性を再度測定する構造
となっている。
し、リード端子圧接用可動部５ａを固定すると、ソケッ
ト本体部１ａのソケット端子２と一体になった弾性のあ
る導電性接触子７ａに対し、搭載台３に載置したＩＣ１
０のリード端子１１の下側の面がリード押圧部１４によ
り圧接される構造となっている。すなわち、導電性接触
子７ａはＩＣ１０の搭載台３の上方よりリード端子１１
の先端を圧接され、ＩＣ１０の特性を再度測定する構造
となっている。
【０００５】図６は図５におけるリード先端変形時のソ
ケット中央部の拡大断面図である。図６に示すように、
上述したソケット構造によると、基板実装したＩＣ１０
を基板（図示省略）より取外したとき等にＩＣ１０のリ
ード端子１１の先端部１３が変形したり、あるいは破損
した場合、リード押圧部１４があっても、リード端子１
１を導電性接触子７ａに圧接できなくなる恐れがある。
ケット中央部の拡大断面図である。図６に示すように、
上述したソケット構造によると、基板実装したＩＣ１０
を基板（図示省略）より取外したとき等にＩＣ１０のリ
ード端子１１の先端部１３が変形したり、あるいは破損
した場合、リード押圧部１４があっても、リード端子１
１を導電性接触子７ａに圧接できなくなる恐れがある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のＩＣ測
定用ソケットは、導電性接触子をリード端子の下側より
接触させたり、あるいはリード端子の先端にだけ接触す
るような構造を採用しているため、ＩＣのリード端子の
先端部が変形したり、あるいは破損した場合には、リー
ド端子が導電性接触子に接触できなくなるという問題が
ある。この結果、ＩＣのリード成形後の特性再測定を困
難にしたり、あるいは不正確にするという欠点がある。
定用ソケットは、導電性接触子をリード端子の下側より
接触させたり、あるいはリード端子の先端にだけ接触す
るような構造を採用しているため、ＩＣのリード端子の
先端部が変形したり、あるいは破損した場合には、リー
ド端子が導電性接触子に接触できなくなるという問題が
ある。この結果、ＩＣのリード成形後の特性再測定を困
難にしたり、あるいは不正確にするという欠点がある。
【０００７】本発明の目的は、リード成形後、すなわち
基板実装したＩＣを基板より取外したとき等に、ＩＣの
リード端子の先端部が変形したり破損した場合でも、Ｉ
Ｃの特性を再度しかも確実に測定することを可能ならし
めるＩＣ測定用ソケットを提供することにある。
基板実装したＩＣを基板より取外したとき等に、ＩＣの
リード端子の先端部が変形したり破損した場合でも、Ｉ
Ｃの特性を再度しかも確実に測定することを可能ならし
めるＩＣ測定用ソケットを提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明のＩＣ測定用ソケ
ットは、中央底部にバネ材を介してＩＣ載置台を備える
とともに、ソケット端子を植設したソケット本体部と、
前記ソケット本体部上に配置され且つ一端が前記ソケッ
ト端子に接触するとともに他端には前記ＩＣ載置台上の
ＩＣのリード端子に接触させるためのリード接触部を形
成した接触子を備えたリード端子圧接用可動部と、前記
ソケット本体部に軸支され、前記リード端子圧接用可動
部を前記ソケット本体部に対して固定する可動部ロック
機構とを有し、前記ＩＣ載置台上に置かれた前記ＩＣの
前記リード端子を前記接触子により上方より接触させる
ように構成される。
ットは、中央底部にバネ材を介してＩＣ載置台を備える
とともに、ソケット端子を植設したソケット本体部と、
前記ソケット本体部上に配置され且つ一端が前記ソケッ
ト端子に接触するとともに他端には前記ＩＣ載置台上の
ＩＣのリード端子に接触させるためのリード接触部を形
成した接触子を備えたリード端子圧接用可動部と、前記
ソケット本体部に軸支され、前記リード端子圧接用可動
部を前記ソケット本体部に対して固定する可動部ロック
機構とを有し、前記ＩＣ載置台上に置かれた前記ＩＣの
前記リード端子を前記接触子により上方より接触させる
ように構成される。
【０００９】また、本発明のＩＣ測定用ソケットにおけ
る前記接触子は、その先端に形成される前記リード接触
部の形状を前記ＩＣの前記リード端子の成形後の形状に
合わせて形成することができる。
る前記接触子は、その先端に形成される前記リード接触
部の形状を前記ＩＣの前記リード端子の成形後の形状に
合わせて形成することができる。
【００１０】また、本発明のＩＣ測定用ソケットにおけ
る前記接触子は、その先端に形成される前記リード接触
部の形状を中心から外側に向って開いたテーパー状に形
成することができる。
る前記接触子は、その先端に形成される前記リード接触
部の形状を中心から外側に向って開いたテーパー状に形
成することができる。
【００１１】また、本発明のＩＣ測定用ソケットにおけ
る前記接触子は、縦の中心軸に対し対称に且つ放射状に
形成することができる。
る前記接触子は、縦の中心軸に対し対称に且つ放射状に
形成することができる。
【００１２】また、本発明のＩＣ測定用ソケットにおけ
る前記リード端子圧接用可動部は、前記接触子の先端に
形成されるリード接触部に囲まれた中央部に前記ＩＣを
押える押え部を形成することができる。
る前記リード端子圧接用可動部は、前記接触子の先端に
形成されるリード接触部に囲まれた中央部に前記ＩＣを
押える押え部を形成することができる。
【００１３】さらに、本発明における前記ソケット端子
と前記ソケット端子に接続される前記接触子とは、嵌合
構造に形成することができる。
と前記ソケット端子に接続される前記接触子とは、嵌合
構造に形成することができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
【００１５】図１は本発明の第１の実施例を示すＩＣ測
定用ソケットの断面図である。図１に示すように、本実
施の形態は、箱型形状をしたソケット本体部１と、この
本体部１に対する蓋機能を備えたリード端子圧接用可動
部５と、この可動部５を本体部１に対して固定する可動
部ロック機構６とを有する。このソケット本体部１は、
中央底部にスプリング４などのバネ材を介してＩＣ載置
台３を備えるとともに、ソケット端子２を植設して形成
される。また、リード端子圧接用可動部５は、ソケット
本体部１上に配置され、一端がソケット端子２に接触す
るとともに他端にはＩＣ載置台３上のＩＣ１０のリード
端子１１に接触させるためのリード接触部７を形成した
導電性接触子８を備え且つリード接触部７に囲まれた中
央部にＩＣ押え部９を設けて形成される。さらに、可動
部ロック機構６は、ソケット本体部１の対向する辺、あ
るいは４辺すべてにに軸支され、リード端子圧接用可動
部５をソケット本体部１に対して固定するように形成さ
れる。このため、かかる構造のソケットは、ＩＣ載置台
３上に置かれたＩＣ１０のリード端子１１を接触子８の
先端に形成したリード接触部７により上方より圧接する
とともに、リード端子１１の根元で接触させることがで
きる。
定用ソケットの断面図である。図１に示すように、本実
施の形態は、箱型形状をしたソケット本体部１と、この
本体部１に対する蓋機能を備えたリード端子圧接用可動
部５と、この可動部５を本体部１に対して固定する可動
部ロック機構６とを有する。このソケット本体部１は、
中央底部にスプリング４などのバネ材を介してＩＣ載置
台３を備えるとともに、ソケット端子２を植設して形成
される。また、リード端子圧接用可動部５は、ソケット
本体部１上に配置され、一端がソケット端子２に接触す
るとともに他端にはＩＣ載置台３上のＩＣ１０のリード
端子１１に接触させるためのリード接触部７を形成した
導電性接触子８を備え且つリード接触部７に囲まれた中
央部にＩＣ押え部９を設けて形成される。さらに、可動
部ロック機構６は、ソケット本体部１の対向する辺、あ
るいは４辺すべてにに軸支され、リード端子圧接用可動
部５をソケット本体部１に対して固定するように形成さ
れる。このため、かかる構造のソケットは、ＩＣ載置台
３上に置かれたＩＣ１０のリード端子１１を接触子８の
先端に形成したリード接触部７により上方より圧接する
とともに、リード端子１１の根元で接触させることがで
きる。
【００１６】このソケットにおいては、リード成形を行
って基板に実装したＩＣ１０を取り外し、再度ＩＣ１０
の測定を行う際、ＩＣ１０の上方よりリード圧接用可動
部５を被せることにより、導電性接触子８はそのリード
接触部７をＩＣ１０のリード端子１１のＬ字型に曲がっ
た上部に圧接することができる。
って基板に実装したＩＣ１０を取り外し、再度ＩＣ１０
の測定を行う際、ＩＣ１０の上方よりリード圧接用可動
部５を被せることにより、導電性接触子８はそのリード
接触部７をＩＣ１０のリード端子１１のＬ字型に曲がっ
た上部に圧接することができる。
【００１７】図２は図１におけるリード先端変形時のソ
ケット中央部の拡大断面図である。図２に示すように、
上述した構造のソケットは、リード端子圧接用可動部５
を搭載して固定したとき、押え部９によってＩＣ１０を
固定するとともに、ソケット端子２と導電する導電性接
触子８は、ＩＣ１０のリード端子１１の上部に且つ根元
で接触するため、ＩＣ１０のリード端子１１の先端が変
形し、リード先端変形部１２を形成したときでも、特性
の再測定を容易に且つ正確に実現することができる。
ケット中央部の拡大断面図である。図２に示すように、
上述した構造のソケットは、リード端子圧接用可動部５
を搭載して固定したとき、押え部９によってＩＣ１０を
固定するとともに、ソケット端子２と導電する導電性接
触子８は、ＩＣ１０のリード端子１１の上部に且つ根元
で接触するため、ＩＣ１０のリード端子１１の先端が変
形し、リード先端変形部１２を形成したときでも、特性
の再測定を容易に且つ正確に実現することができる。
【００１８】つぎに、かかるソケットの操作について説
明する。まず、ＩＣ１０を測定するにあたり、ＩＣ１０
を載置台３に装着後、リード端子圧接用可動部５をＩＣ
１０の上方より被せ、可動部ロック機構６により固定す
る。これにより、リード端子圧接用可動部５に有してい
る導電性接触子８のリード接触部７がＩＣ１０のリード
端子１１の上部面と接触する。このリード接触部７は接
触子８と一体となっている。また、可動部ロック機構６
は、リード端子圧接用可動部５を固定することで、リー
ド接触部７と一体となった接触子８がソケット本体部１
に有しているソケット端子２に嵌合接触する。この結
果、ＩＣ１０のリード端子１１は導電性接触子８、リー
ド接触子７を介してソケット端子２に確実に接続される
ので、特性の測定が可能となる。
明する。まず、ＩＣ１０を測定するにあたり、ＩＣ１０
を載置台３に装着後、リード端子圧接用可動部５をＩＣ
１０の上方より被せ、可動部ロック機構６により固定す
る。これにより、リード端子圧接用可動部５に有してい
る導電性接触子８のリード接触部７がＩＣ１０のリード
端子１１の上部面と接触する。このリード接触部７は接
触子８と一体となっている。また、可動部ロック機構６
は、リード端子圧接用可動部５を固定することで、リー
ド接触部７と一体となった接触子８がソケット本体部１
に有しているソケット端子２に嵌合接触する。この結
果、ＩＣ１０のリード端子１１は導電性接触子８、リー
ド接触子７を介してソケット端子２に確実に接続される
ので、特性の測定が可能となる。
【００１９】図３は本発明の第２の実施例を示すＩＣ測
定用ソケットの断面図である。図３に示すように、本実
施の形態は、基本的構造については前述した第１の実施
の形態と同様であるが、リード端子圧接用可動部５の内
側に形成する接触子８のリード接触部７の形状を変更し
たものである。この導電性接触子８の先端に形成される
リード接触部７形状は、ＩＣ１０のリード端子１１のＬ
字型に曲がった形状に合わせてＬ字型の形状にし、リー
ド端子１１と導電性接触子８との接触をより安定させる
よう工夫している。
定用ソケットの断面図である。図３に示すように、本実
施の形態は、基本的構造については前述した第１の実施
の形態と同様であるが、リード端子圧接用可動部５の内
側に形成する接触子８のリード接触部７の形状を変更し
たものである。この導電性接触子８の先端に形成される
リード接触部７形状は、ＩＣ１０のリード端子１１のＬ
字型に曲がった形状に合わせてＬ字型の形状にし、リー
ド端子１１と導電性接触子８との接触をより安定させる
よう工夫している。
【００２０】すなわち、本実施の形態におけるソケット
を構成している接触子８は、リード接触部７の形状を中
心から外側に向って開いたテーパー状に形成するととも
に、縦の中心軸に対し対称に且つ放射状に形成される。
また、リード端子圧接用可動部５に形成されるＩＣ１０
の押え部９も接触子８の先端に形成されるリード接触部
７に囲まれた中央部に形成され、ソケット端子２とこの
ソケット端子２に接続される接触子８とは、嵌合形成さ
れる。
を構成している接触子８は、リード接触部７の形状を中
心から外側に向って開いたテーパー状に形成するととも
に、縦の中心軸に対し対称に且つ放射状に形成される。
また、リード端子圧接用可動部５に形成されるＩＣ１０
の押え部９も接触子８の先端に形成されるリード接触部
７に囲まれた中央部に形成され、ソケット端子２とこの
ソケット端子２に接続される接触子８とは、嵌合形成さ
れる。
【００２１】図４は図３におけるリード先端変形時のソ
ケット中央部の拡大断面図である。図４に示すように、
かかるソケットの導電性接触子８の先端に形成されるリ
ード接触部８は、その形状をＬ字型、すなわち外側に向
って開いた形状にしてＩＣ１０のリード端子１１との接
触面積を増大し、しかもリード端子１１の根元に上方よ
り接触できる構造とすることにより、ＩＣ１０のリード
端子１１の先端がリード先端変形部１３を形成していて
も、安定してＩＣ１０を測定することができる。
ケット中央部の拡大断面図である。図４に示すように、
かかるソケットの導電性接触子８の先端に形成されるリ
ード接触部８は、その形状をＬ字型、すなわち外側に向
って開いた形状にしてＩＣ１０のリード端子１１との接
触面積を増大し、しかもリード端子１１の根元に上方よ
り接触できる構造とすることにより、ＩＣ１０のリード
端子１１の先端がリード先端変形部１３を形成していて
も、安定してＩＣ１０を測定することができる。
【００２２】なお、上述した実施の形態においては、接
触子とソケット端子が嵌合する構造をとっていたが、嵌
合せずに両者が実質的に接続する構造であれば良いこと
は、言及するまでもないことである。
触子とソケット端子が嵌合する構造をとっていたが、嵌
合せずに両者が実質的に接続する構造であれば良いこと
は、言及するまでもないことである。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のＩＣ測定
用ソケットは、ソケット端子を植設したソケット本体部
と、このソケット本体部上に配置し、一端をソケット端
子に接触させるとともに他端にはＩＣリード端子に接触
させるためのリード接触部を形成した接触子を備えたリ
ード端子圧接用可動部と、可動部ロック機構とを有する
ことにより、リード端子の根元の上部を接触子のリード
接触部が押えられるので、一度基板実装されたＩＣを基
板より取外す際の端子先端の変形や破損が生じても対応
することができ、ＩＣ特性の再測定を容易にできるとい
う効果がある。
用ソケットは、ソケット端子を植設したソケット本体部
と、このソケット本体部上に配置し、一端をソケット端
子に接触させるとともに他端にはＩＣリード端子に接触
させるためのリード接触部を形成した接触子を備えたリ
ード端子圧接用可動部と、可動部ロック機構とを有する
ことにより、リード端子の根元の上部を接触子のリード
接触部が押えられるので、一度基板実装されたＩＣを基
板より取外す際の端子先端の変形や破損が生じても対応
することができ、ＩＣ特性の再測定を容易にできるとい
う効果がある。
【図１】本発明の第１の実施例を示すＩＣ測定用ソケッ
トの断面図である。
トの断面図である。
【図２】図１におけるリード先端変形時のソケット中央
部の拡大断面図である。
部の拡大断面図である。
【図３】本発明の第２の実施例を示すＩＣ測定用ソケッ
トの断面図である。
トの断面図である。
【図４】図３におけるリード先端変形時のソケット中央
部の拡大断面図である。
部の拡大断面図である。
【図５】従来の一例を示すＩＣ測定用ソケットの断面図
である。
である。
【図６】図５におけるリード先端変形時のソケット中央
部の拡大断面図である。
部の拡大断面図である。
１ ソケット本体部 ２ ソケット端子 ３ ＩＣ載置台 ４ スプリング ５ リード端子圧接用可動部 ６ 可動部ロック機構 ７ リード接触部 ８ 接触子 ９ 押え部 １０ ＩＣ １１ リード端子 １２，１３ リード先端変形部
Claims (6)
- 【請求項１】 中央底部にバネ材を介してＩＣ載置台を
備えるとともに、ソケット端子を植設したソケット本体
部と、前記ソケット本体部上に配置され且つ一端が前記
ソケット端子に接触するとともに他端には前記ＩＣ載置
台上のＩＣのリード端子に接触させるためのリード接触
部を形成した接触子を備えたリード端子圧接用可動部
と、前記ソケット本体部に軸支され、前記リード端子圧
接用可動部を前記ソケット本体部に対して固定する可動
部ロック機構とを有し、前記ＩＣ載置台上に置かれた前
記ＩＣの前記リード端子を前記接触子により上方より接
触させることを特徴とするＩＣ測定用ソケット。 - 【請求項２】 前記接触子は、その先端に形成される前
記リード接触部の形状を前記ＩＣの前記リード端子の成
形後の形状に合わせて形成した請求項１記載のＩＣ測定
用ソケット。 - 【請求項３】 前記接触子は、その先端に形成される前
記リード接触部の形状を中心から外側に向って開いたテ
ーパー状に形成した請求項１記載のＩＣ測定用ソケッ
ト。 - 【請求項４】 前記接触子は、縦の中心軸に対し対称に
且つ放射状に形成される請求項１記載のＩＣ測定用ソケ
ット。 - 【請求項５】 前記リード端子圧接用可動部は、前記接
触子の先端に形成されるリード接触部に囲まれた中央部
に前記ＩＣを押える押え部を形成した請求項１記載のＩ
Ｃ測定用ソケット。 - 【請求項６】 前記ソケット端子と前記ソケット端子に
接続される前記接触子とは、嵌合構造に形成した請求項
１記載のＩＣ測定用ソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000078513A JP2001264383A (ja) | 2000-03-21 | 2000-03-21 | Ｉｃ測定用ソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000078513A JP2001264383A (ja) | 2000-03-21 | 2000-03-21 | Ｉｃ測定用ソケット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001264383A true JP2001264383A (ja) | 2001-09-26 |
Family
ID=18595916
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000078513A Pending JP2001264383A (ja) | 2000-03-21 | 2000-03-21 | Ｉｃ測定用ソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001264383A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100681156B1 (ko) | 2006-01-25 | 2007-02-09 | 삼성전자주식회사 | 전기적 검사 장치용 소켓 |
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