JPH10106706A - 集積回路用テストソケット - Google Patents
集積回路用テストソケットInfo
- Publication number
- JPH10106706A JPH10106706A JP9192609A JP19260997A JPH10106706A JP H10106706 A JPH10106706 A JP H10106706A JP 9192609 A JP9192609 A JP 9192609A JP 19260997 A JP19260997 A JP 19260997A JP H10106706 A JPH10106706 A JP H10106706A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- base
- lid
- platform
- test socket
- latch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/02—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
- H05K7/10—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
- H05K7/1015—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having exterior leads
- H05K7/1023—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having exterior leads co-operating by abutting, e.g. flat pack
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 テストする集積回路の厚さを許容誤差内の最
大厚さまで対応できるテストソケットを提供する。 【解決手段】 テストソケット１１は、ベース１３と蓋
４９とラッチ７５とを含む。ベースは、相対的に直線移
動及び回転移動可能にして上方へばね付勢された支承部
材１５を含む。外部回路基板と集積回路とを電気接続す
る接触ピン３９がベース及び支承部材を貫通して延びて
いる。支承部材の下に支承部支持部材１７を有し、支承
部材の下方移動が所定距離までに限定される。さらに支
承部材は、上方移動を所定距離までに限定すべくベース
に連結する脚部３１を有す。蓋内には、上下に直線移動
できる押圧パッド５３を含む。押圧パッドは、逆Ｖ字状
斜面に接する薄板ばね５５によって付勢される。押圧パ
ッドは蓋内で垂直移動可。従って種々厚さの集積回路に
対応できる。
大厚さまで対応できるテストソケットを提供する。 【解決手段】 テストソケット１１は、ベース１３と蓋
４９とラッチ７５とを含む。ベースは、相対的に直線移
動及び回転移動可能にして上方へばね付勢された支承部
材１５を含む。外部回路基板と集積回路とを電気接続す
る接触ピン３９がベース及び支承部材を貫通して延びて
いる。支承部材の下に支承部支持部材１７を有し、支承
部材の下方移動が所定距離までに限定される。さらに支
承部材は、上方移動を所定距離までに限定すべくベース
に連結する脚部３１を有す。蓋内には、上下に直線移動
できる押圧パッド５３を含む。押圧パッドは、逆Ｖ字状
斜面に接する薄板ばね５５によって付勢される。押圧パ
ッドは蓋内で垂直移動可。従って種々厚さの集積回路に
対応できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に集積回路を
テストする装置に係り、特に、繰り返し使用可能な基板
上で、集積回路のリードとテストソケットの接続ピンと
の間の信頼できる接続をなす、改良されたテストソケッ
トに関する。
テストする装置に係り、特に、繰り返し使用可能な基板
上で、集積回路のリードとテストソケットの接続ピンと
の間の信頼できる接続をなす、改良されたテストソケッ
トに関する。
【０００２】
【従来の技術】これらの回路の大多数は、もし故障の傾
向があるならば非常に短いテスト時間中に切れてしまう
ことが解ったので、重要な集積回路は製品に取り付けら
れる前に高い温度でテストされる。これらの集積回路
は、接触パッドもしくはリードを有する長方形のセラミ
ックスかプラスチックのパッケージにおいて、たびたび
カプセルに入れられる。そしてそれらパッドまたはリー
ドは、電気的に集積回路に接続される。集積回路をテス
トするためには、集積回路のパッケージ上の接続パッド
またはリードに対して一時的な電気的接続をなすことが
必要である。この目的のために作られたテストソケット
は、特別な集積回路をテストするための適当な回路を有
するプリント回路基板にはんだで継がれる。
向があるならば非常に短いテスト時間中に切れてしまう
ことが解ったので、重要な集積回路は製品に取り付けら
れる前に高い温度でテストされる。これらの集積回路
は、接触パッドもしくはリードを有する長方形のセラミ
ックスかプラスチックのパッケージにおいて、たびたび
カプセルに入れられる。そしてそれらパッドまたはリー
ドは、電気的に集積回路に接続される。集積回路をテス
トするためには、集積回路のパッケージ上の接続パッド
またはリードに対して一時的な電気的接続をなすことが
必要である。この目的のために作られたテストソケット
は、特別な集積回路をテストするための適当な回路を有
するプリント回路基板にはんだで継がれる。
【０００３】殆どの先行デザインは、テストソケットの
ベースの１つのエッジに沿ってヒンジ付けされた蓋を含
んでおり、その蓋が閉じられるようにテストソケットの
接続ピン上に集積回路を締め付けるようにされている。
残念ながら、そのヒンジ付けされた蓋は、閉じるときに
非垂直な方向に加わる力の動的な成分を生じることが見
出されている。ここでは、垂直な方向は、テストソケッ
トの平面に対して垂直なベクトルによって規定されてい
る。垂直な方向以外に加えられる力は、如何なる力も、
テストソケットの接続ピンに対して集積回路の移動を生
じるかも知れない。この移動は、集積回路の接触パッド
またはリードを傷つけるかも知れず、また集積回路をカ
プセルにいれているセラミックスまたはプラスチックの
をひび割れさせたり、あるいは損壊したりする恐れがあ
る。この問題の１つの解決策が、米国特許第５,２４７,
２５０号に図示されている。この特許は、本発明の譲受
人に譲渡されており、ここに参考として取り入れられて
いる。この先行の発明は、集積回路のプラットフォーム
の回転移動でも直線移動でも許容する。この先行発明は
プラットフォームが移動するのを許容するが、所定位置
での下方への移動を止めるために、プラットフォームの
下でいくつかの支持を有していることがさらに好まし
い。それに加えて、適応性を持ったテストソケットの蓋
は、集積回路が、仕様における許容範囲内の最大厚さを
持つことを可能にする。
ベースの１つのエッジに沿ってヒンジ付けされた蓋を含
んでおり、その蓋が閉じられるようにテストソケットの
接続ピン上に集積回路を締め付けるようにされている。
残念ながら、そのヒンジ付けされた蓋は、閉じるときに
非垂直な方向に加わる力の動的な成分を生じることが見
出されている。ここでは、垂直な方向は、テストソケッ
トの平面に対して垂直なベクトルによって規定されてい
る。垂直な方向以外に加えられる力は、如何なる力も、
テストソケットの接続ピンに対して集積回路の移動を生
じるかも知れない。この移動は、集積回路の接触パッド
またはリードを傷つけるかも知れず、また集積回路をカ
プセルにいれているセラミックスまたはプラスチックの
をひび割れさせたり、あるいは損壊したりする恐れがあ
る。この問題の１つの解決策が、米国特許第５,２４７,
２５０号に図示されている。この特許は、本発明の譲受
人に譲渡されており、ここに参考として取り入れられて
いる。この先行の発明は、集積回路のプラットフォーム
の回転移動でも直線移動でも許容する。この先行発明は
プラットフォームが移動するのを許容するが、所定位置
での下方への移動を止めるために、プラットフォームの
下でいくつかの支持を有していることがさらに好まし
い。それに加えて、適応性を持ったテストソケットの蓋
は、集積回路が、仕様における許容範囲内の最大厚さを
持つことを可能にする。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】集積回路装置において
リードの数が増加するとき、ソケットの接触によって生
じるばね力の合力は大きくなり、大きな力が蓋に加えら
れてそれを掛け止めする。集積回路をテストソケットの
接触ピンに接触させるように下方へ付勢するうえで機械
的な利点を得るための何らかの手段を与えることは有用
である。試験を行う周囲の状況によっては、２つの別の
機構を有することが好ましいであろう。その１つは、閉
じられた蓋を固定するための機構であり、他の１つは、
集積回路を接触ピンに向かって付勢するうえで機械的な
利点を与える機構である。一方では、閉じられた蓋を掛
け止めして、且つ機械的な利点も生じるような唯一の機
構を備えたテストソケットを有することも、ある状況に
おいてはさらに好ましいであろう。
リードの数が増加するとき、ソケットの接触によって生
じるばね力の合力は大きくなり、大きな力が蓋に加えら
れてそれを掛け止めする。集積回路をテストソケットの
接触ピンに接触させるように下方へ付勢するうえで機械
的な利点を得るための何らかの手段を与えることは有用
である。試験を行う周囲の状況によっては、２つの別の
機構を有することが好ましいであろう。その１つは、閉
じられた蓋を固定するための機構であり、他の１つは、
集積回路を接触ピンに向かって付勢するうえで機械的な
利点を与える機構である。一方では、閉じられた蓋を掛
け止めして、且つ機械的な利点も生じるような唯一の機
構を備えたテストソケットを有することも、ある状況に
おいてはさらに好ましいであろう。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、米国特許第
５,２４７,２５０号のソケットを幾つかの方法で改善す
るものである。第１に、テストソケットのベースおよび
プラットフォームは、この先行技術において生じる回転
移動および直線移動に対して自由であるが、と同時に、
蓋の部分が集積回路に対して垂直に直線移動するのを許
容する。この特徴は、集積回路が仕様における許容範囲
内の最大厚さを持っても損傷されるのを防止すると同時
に、回路が信頼できる接続をなすに十分な力を与えるこ
ともできる。蓋のこの部分は、逆Ｖ字状の頂部がわから
延びる斜面を備えた押圧パッドを有しており、この押圧
パッドは、蓋のフレーム内に置かれて且つ該フレームの
範囲内で上下に移動できる。薄板ばねが、蓋フレームに
連結され且つ該薄板ばねと押圧パッドとを含んでいる蓋
カバーによって斜面を横切って固定される。蓋カバー
は、薄板ばねが押圧パッドを垂直に移動させられるよう
に十分に撓むのを許容する開口を有している。
５,２４７,２５０号のソケットを幾つかの方法で改善す
るものである。第１に、テストソケットのベースおよび
プラットフォームは、この先行技術において生じる回転
移動および直線移動に対して自由であるが、と同時に、
蓋の部分が集積回路に対して垂直に直線移動するのを許
容する。この特徴は、集積回路が仕様における許容範囲
内の最大厚さを持っても損傷されるのを防止すると同時
に、回路が信頼できる接続をなすに十分な力を与えるこ
ともできる。蓋のこの部分は、逆Ｖ字状の頂部がわから
延びる斜面を備えた押圧パッドを有しており、この押圧
パッドは、蓋のフレーム内に置かれて且つ該フレームの
範囲内で上下に移動できる。薄板ばねが、蓋フレームに
連結され且つ該薄板ばねと押圧パッドとを含んでいる蓋
カバーによって斜面を横切って固定される。蓋カバー
は、薄板ばねが押圧パッドを垂直に移動させられるよう
に十分に撓むのを許容する開口を有している。
【０００６】第２に本発明は、機械的な利点を生じるラ
ッチ機構を利用することによって蓋を閉じると同時に、
加えられた力を増加させる手段を提供する。この機械的
な利点は、ラッチと蓋との間に少なくとも１つのリンク
を取り付けることによって与えられる。ここで、ラッチ
の長さとリンクの長さは大きく異なっている。
ッチ機構を利用することによって蓋を閉じると同時に、
加えられた力を増加させる手段を提供する。この機械的
な利点は、ラッチと蓋との間に少なくとも１つのリンク
を取り付けることによって与えられる。ここで、ラッチ
の長さとリンクの長さは大きく異なっている。
【０００７】最後に、別発明における別体の支承部材お
よび支承部支持部材は、所定の距離で支承部材またはプ
ラットフォームの下方への移動を止める手段を提供す
る。さらに、支承部支持部材は、支承部材から下方へ下
がっている脚部がベースの下部面に接触するのを避ける
ことによって、その脚部に潜在的な損傷を与えるのを防
止する。
よび支承部支持部材は、所定の距離で支承部材またはプ
ラットフォームの下方への移動を止める手段を提供す
る。さらに、支承部支持部材は、支承部材から下方へ下
がっている脚部がベースの下部面に接触するのを避ける
ことによって、その脚部に潜在的な損傷を与えるのを防
止する。
【０００８】
【発明の実施形態】本発明は、添付の図面を参照してさ
らに詳細に説明される。これら図面の幾つかの図におい
て同じ参照番号は同様の部分を示している。
らに詳細に説明される。これら図面の幾つかの図におい
て同じ参照番号は同様の部分を示している。
【０００９】図１〜５は、本発明のテストソケット１１
を示している。図１には、改良されたベース１３が、支
承部材１５および支承部支持部材１７と共に分解して示
されている。ベース１３は、ほぼ正方形で平坦な床面な
いし下部面２５を有しており、この面から、内側の空間
を規定するように２つの側壁１９、前部壁２３および後
部壁２７が上方へ延びている。
を示している。図１には、改良されたベース１３が、支
承部材１５および支承部支持部材１７と共に分解して示
されている。ベース１３は、ほぼ正方形で平坦な床面な
いし下部面２５を有しており、この面から、内側の空間
を規定するように２つの側壁１９、前部壁２３および後
部壁２７が上方へ延びている。
【００１０】支承部支持部材１７は、ベース１３の壁に
よって形成された内側の空間の輪郭に概ね形成されてお
り、ベース１３内に配置されている。支承部支持部材１
７は三つの支持壁２１を有しており、支承部材１５の垂
直方向下部ストッパとして作用する。支承部支持部材１
７は、ベース１３の平坦な下部面２５上に載置される。
支承部材１５は、集積回路（図示せず）のための支承部
を規定するように、２つの位置合わせリッジ２９を有し
ている。また、支承部材１５の平坦部分から下方へ延び
る４本の脚部３１も有しており、それらは終端部３３で
外がわへ突出している。これらの脚部３１は、支承部支
持部材１７内の溝３５内に嵌合し、そして脚部の端部３
３がベース側壁１９内の凹部３７に係合する。各凹部３
７は、その上端に肩部３８（図５にも示す）を有してお
り、ベース１３の下部面２５の方向へある距離だけ延び
ている。溝３５は、全ての脚部３１が、あるいはどの脚
部３１も、そして支承部材１５が、ベース１３の下部面
２５に向かって移動するのを、且つ下部面２５からある
距離だけ離れるように移動するのを許容する。その結
果、支承部材１５はベース１３に対して自由に「浮く」
ことができる。すなわち、支承部材１５のどの部分も、
ベース１３に対して、且つ支承部材１５の他のどの部分
に対しても独立して僅かに押し下げることができる。こ
のように、支承部材１５は、集積回路に対して不均等に
加えられる力に応答してどの方向にも僅かに傾くことが
できる。図５に示すように、支承部支持部材１７の高さ
は脚部３１の長さよりも大きく、したがって支承部材１
５がその最も低い位置へ押し下げられても、脚部の突出
部３３は床面２５に接触しない。
よって形成された内側の空間の輪郭に概ね形成されてお
り、ベース１３内に配置されている。支承部支持部材１
７は三つの支持壁２１を有しており、支承部材１５の垂
直方向下部ストッパとして作用する。支承部支持部材１
７は、ベース１３の平坦な下部面２５上に載置される。
支承部材１５は、集積回路（図示せず）のための支承部
を規定するように、２つの位置合わせリッジ２９を有し
ている。また、支承部材１５の平坦部分から下方へ延び
る４本の脚部３１も有しており、それらは終端部３３で
外がわへ突出している。これらの脚部３１は、支承部支
持部材１７内の溝３５内に嵌合し、そして脚部の端部３
３がベース側壁１９内の凹部３７に係合する。各凹部３
７は、その上端に肩部３８（図５にも示す）を有してお
り、ベース１３の下部面２５の方向へある距離だけ延び
ている。溝３５は、全ての脚部３１が、あるいはどの脚
部３１も、そして支承部材１５が、ベース１３の下部面
２５に向かって移動するのを、且つ下部面２５からある
距離だけ離れるように移動するのを許容する。その結
果、支承部材１５はベース１３に対して自由に「浮く」
ことができる。すなわち、支承部材１５のどの部分も、
ベース１３に対して、且つ支承部材１５の他のどの部分
に対しても独立して僅かに押し下げることができる。こ
のように、支承部材１５は、集積回路に対して不均等に
加えられる力に応答してどの方向にも僅かに傾くことが
できる。図５に示すように、支承部支持部材１７の高さ
は脚部３１の長さよりも大きく、したがって支承部材１
５がその最も低い位置へ押し下げられても、脚部の突出
部３３は床面２５に接触しない。
【００１１】支承部材１５は、図１に示すように、６本
のコイルばね４２によってベース１３の下部面２５上に
支持されている。ベース１３内には、６本のコイルばね
４２が着座するための６つの円筒状穴４１が、各側壁１
９上に３つずつ形成されている。コイルばね４２は、ベ
ース１３と支承部材１５との間に配置され、支承部材１
５に対して上向きの力を与える。コイルばね４２は、支
承部材１５を、その載置位置で上方へ付勢する。
のコイルばね４２によってベース１３の下部面２５上に
支持されている。ベース１３内には、６本のコイルばね
４２が着座するための６つの円筒状穴４１が、各側壁１
９上に３つずつ形成されている。コイルばね４２は、ベ
ース１３と支承部材１５との間に配置され、支承部材１
５に対して上向きの力を与える。コイルばね４２は、支
承部材１５を、その載置位置で上方へ付勢する。
【００１２】多数の接触ピン３９（図４に１本示す）
が、集積回路を外部回路基板（図示せず）に電気接続す
る。これらの接触ピン３９は、例えば銅のように弾性を
有する導電性の金属から作られており、中央部分が弓な
りに曲げられた形状にされて接触ピン３９にばね動作を
与えている。接触ピン３９は、支承部材１５内の溝また
は穴４５（図１にも示す）を通り、集積回路上に形成さ
れた接触はんだ球へ延びる。集積回路と反対側の接触ピ
ン３９の端部は、電気接続のためにベース１３の下部面
２５を通り、テストソケット１１が取り付けられる回路
基板の穴へ延びるブレード４７として形成されている。
接触ピン３９は、肩部が拡張された溝内にまたは対応穴
内に嵌合することによって支承部材１５およびベース１
３に対して保持され、この拡張された溝または対応穴
は、ベース１３および支承部材１５の双方に形成されて
いる。
が、集積回路を外部回路基板（図示せず）に電気接続す
る。これらの接触ピン３９は、例えば銅のように弾性を
有する導電性の金属から作られており、中央部分が弓な
りに曲げられた形状にされて接触ピン３９にばね動作を
与えている。接触ピン３９は、支承部材１５内の溝また
は穴４５（図１にも示す）を通り、集積回路上に形成さ
れた接触はんだ球へ延びる。集積回路と反対側の接触ピ
ン３９の端部は、電気接続のためにベース１３の下部面
２５を通り、テストソケット１１が取り付けられる回路
基板の穴へ延びるブレード４７として形成されている。
接触ピン３９は、肩部が拡張された溝内にまたは対応穴
内に嵌合することによって支承部材１５およびベース１
３に対して保持され、この拡張された溝または対応穴
は、ベース１３および支承部材１５の双方に形成されて
いる。
【００１３】図２は、主に蓋フレーム５１と、押圧パッ
ド５３と、薄板ばね５５および蓋カバー５７とからなる
改良された蓋４９を示している。蓋フレーム５１は、２
つの側壁５９と、前部壁６１および後部壁６３とでほぼ
正方形の形状を有しており、その内側を貫通する開口空
間を形成している。蓋フレーム５１内には、押圧パッド
５３が着座するための４つの座溝６５が、各側壁５９の
それぞれの両端に形成されている。
ド５３と、薄板ばね５５および蓋カバー５７とからなる
改良された蓋４９を示している。蓋フレーム５１は、２
つの側壁５９と、前部壁６１および後部壁６３とでほぼ
正方形の形状を有しており、その内側を貫通する開口空
間を形成している。蓋フレーム５１内には、押圧パッド
５３が着座するための４つの座溝６５が、各側壁５９の
それぞれの両端に形成されている。
【００１４】さらに図２においては、押圧パッド５３
は、蓋フレーム５１によって形成された内側空間の大き
さおよび形状にほぼ等しい剛性の金属片である。４つの
シートタブ６７が押圧パッド５３から延びており、その
うちの２つは、２つの側縁６９のそれぞれから延びて、
蓋フレーム５１内の座溝６５の中へ嵌合するように配置
されている。斜面７１は、押圧パッド５３の頂部面上に
一体的に形成されている。斜面７１は２つの面７２を有
しており、それらは押圧パッド５３の頂部面の上のリッ
ジまたはピーク７４から、それぞれ押圧パッド５３の反
対側の側縁６９に向かって下方へ傾斜しており、押圧パ
ッド５３の頂部面よりも少し下の深さまで下っている。
各面７２は、押圧パッド５３の中央から長さ方向に、押
圧パッド５３の反対側の側縁６９までの距離のほぼ半分
の長さ延びている。斜面７１の幅は、斜面７１の頂部上
に配置された薄板ばね５５の幅よりも僅かに大きい。押
圧パッド５３の頂部面の残りの部分は実質的に平坦であ
る。
は、蓋フレーム５１によって形成された内側空間の大き
さおよび形状にほぼ等しい剛性の金属片である。４つの
シートタブ６７が押圧パッド５３から延びており、その
うちの２つは、２つの側縁６９のそれぞれから延びて、
蓋フレーム５１内の座溝６５の中へ嵌合するように配置
されている。斜面７１は、押圧パッド５３の頂部面上に
一体的に形成されている。斜面７１は２つの面７２を有
しており、それらは押圧パッド５３の頂部面の上のリッ
ジまたはピーク７４から、それぞれ押圧パッド５３の反
対側の側縁６９に向かって下方へ傾斜しており、押圧パ
ッド５３の頂部面よりも少し下の深さまで下っている。
各面７２は、押圧パッド５３の中央から長さ方向に、押
圧パッド５３の反対側の側縁６９までの距離のほぼ半分
の長さ延びている。斜面７１の幅は、斜面７１の頂部上
に配置された薄板ばね５５の幅よりも僅かに大きい。押
圧パッド５３の頂部面の残りの部分は実質的に平坦であ
る。
【００１５】押圧パッド５３の頂部面上に配置された薄
板ばね５５は、斜面７１のリッジ７４に対して接触する
だけである。薄板ばね５５を正規の位置に保持するため
に、蓋カバー５７が蓋フレーム５１に連結されており、
このことによって、薄板ばね５５の両端を揺動可能に保
持している。蓋カバー５７は、内側に長方形の空間７３
を有している。この空間は、少なくとも薄板ばね５５と
同じ幅を有しており、押圧パッド５３が蓋４９の内側で
垂直方向上方へ移動するときに薄板ばね５５の余裕部分
が上方へ撓むのを許容する。
板ばね５５は、斜面７１のリッジ７４に対して接触する
だけである。薄板ばね５５を正規の位置に保持するため
に、蓋カバー５７が蓋フレーム５１に連結されており、
このことによって、薄板ばね５５の両端を揺動可能に保
持している。蓋カバー５７は、内側に長方形の空間７３
を有している。この空間は、少なくとも薄板ばね５５と
同じ幅を有しており、押圧パッド５３が蓋４９の内側で
垂直方向上方へ移動するときに薄板ばね５５の余裕部分
が上方へ撓むのを許容する。
【００１６】ラッチ７５およびリンク７６は図２，３お
よび４にも示すように、蓋４９を閉位置に固定し、蓋４
９を閉じるときに機械的利点を提供する。ラッチ７５
は、２つのヒンジスロット７７と、ヒンジスロット７７
に直接隣接するラッチグリップまたはラッチハンドル７
８と、ヒンジスロット７７から下方へ延びる脚部７９と
を有している。ラッチ７５は、ラッチリップ８７に係合
するためのラッチフック８０を、その自由端に有してい
る。リンク７６は、大略Ｔ字状を呈しており、ラッチ７
５の２つのヒンジスロット７７の間に嵌合する狭幅の端
部がラッチピンスロット８１を備えている。この狭幅端
部は、リンク７６を円柱状のラッチピン８２によってラ
ッチ７５に揺動可能に連結する。リンク７６の広幅の端
部はヒンジピンスロット８３を有しており、蓋フレーム
５１の前部壁６１から延びている２つのヒンジ延長部８
４の間に嵌合して、リンク７６を円柱状のヒンジピン８
５によって蓋４９に揺動可能に連結する。リンク７６
は、ラッチハンドル７８とヒンジスロット７７との間の
距離が、リンク７６上のラッチピンスロット８１とヒン
ジピンスロット８３との間の距離よりもかなり大きいの
で、閉じられた蓋４９に力を与える際に大きな機械的利
点をもたらす。これらの距離の差を大きくすれば、機械
的利点はさらに大きなものとすることも可能である。
よび４にも示すように、蓋４９を閉位置に固定し、蓋４
９を閉じるときに機械的利点を提供する。ラッチ７５
は、２つのヒンジスロット７７と、ヒンジスロット７７
に直接隣接するラッチグリップまたはラッチハンドル７
８と、ヒンジスロット７７から下方へ延びる脚部７９と
を有している。ラッチ７５は、ラッチリップ８７に係合
するためのラッチフック８０を、その自由端に有してい
る。リンク７６は、大略Ｔ字状を呈しており、ラッチ７
５の２つのヒンジスロット７７の間に嵌合する狭幅の端
部がラッチピンスロット８１を備えている。この狭幅端
部は、リンク７６を円柱状のラッチピン８２によってラ
ッチ７５に揺動可能に連結する。リンク７６の広幅の端
部はヒンジピンスロット８３を有しており、蓋フレーム
５１の前部壁６１から延びている２つのヒンジ延長部８
４の間に嵌合して、リンク７６を円柱状のヒンジピン８
５によって蓋４９に揺動可能に連結する。リンク７６
は、ラッチハンドル７８とヒンジスロット７７との間の
距離が、リンク７６上のラッチピンスロット８１とヒン
ジピンスロット８３との間の距離よりもかなり大きいの
で、閉じられた蓋４９に力を与える際に大きな機械的利
点をもたらす。これらの距離の差を大きくすれば、機械
的利点はさらに大きなものとすることも可能である。
【００１７】作用において、蓋４９は、蓋フレーム５１
の後部壁６３からベース１３の後部壁２７まで揺動可能
に連結されており、ベース１３は回路基板（図示せず）
に取り付けられる。図３および４は、テストソケット１
１の開き方および閉じ方を説明している。蓋４９を閉じ
るためには、最初に、図４に示すように、ベース１３の
前部壁２３内のラッチリップ８７の下に、ラッチフック
８０が引掛けられる。そして、ラッチ７５がほぼ垂直位
置になる向きまで蓋４９が下方へ押し下げられる。その
時点で、ラッチハンドル７８は上方へ向けて引き上げら
れ、そのことによってラッチピン８２をヒンジピン８５
を越えて回転させ、ラッチ７５を本来の位置にロックす
る。蓋４９を開くには、ラッチハンドル７８が下方へ引
き下げられ、このことによってラッチピン８２をヒンジ
ピン８５を越えて戻す。そしてラッチフック８０がラッ
チリップ８７から取り外され蓋４９がベース１３から離
れるように回転させられる。
の後部壁６３からベース１３の後部壁２７まで揺動可能
に連結されており、ベース１３は回路基板（図示せず）
に取り付けられる。図３および４は、テストソケット１
１の開き方および閉じ方を説明している。蓋４９を閉じ
るためには、最初に、図４に示すように、ベース１３の
前部壁２３内のラッチリップ８７の下に、ラッチフック
８０が引掛けられる。そして、ラッチ７５がほぼ垂直位
置になる向きまで蓋４９が下方へ押し下げられる。その
時点で、ラッチハンドル７８は上方へ向けて引き上げら
れ、そのことによってラッチピン８２をヒンジピン８５
を越えて回転させ、ラッチ７５を本来の位置にロックす
る。蓋４９を開くには、ラッチハンドル７８が下方へ引
き下げられ、このことによってラッチピン８２をヒンジ
ピン８５を越えて戻す。そしてラッチフック８０がラッ
チリップ８７から取り外され蓋４９がベース１３から離
れるように回転させられる。
【００１８】蓋４９が開位置にあるとき、集積回路は支
承部材１５上に配置され、接触ピン３９がこの集積回路
と回路基板との間で電気的接続をなす。図５に示すよう
に、支承部材１５は載置位置で上方にあり、６本のコイ
ルばね４２によって上方へ付勢され、脚部端部３３でベ
ース凹部３７の上方肩部３８に係合する。蓋４９の内側
で、押圧パッド５３は載置位置で下方にあり、薄板ばね
５５によって下方へ付勢される。押圧パッド５３のシー
トタブ６７は、蓋フレーム５１の座溝６５上の肩部と接
触する。図４は、不完全な開位置にあるテストソケット
１１を示しているが、この位置が完全に開いた位置と違
っているのは、ラッチフック８０がベース１３の前部壁
２３におけるラッチリップ８７の下に置かれている点だ
けである。完全に開いた位置にあるときのように、不完
全な開位置では蓋４９または集積回路には下向きの力は
加わらない。
承部材１５上に配置され、接触ピン３９がこの集積回路
と回路基板との間で電気的接続をなす。図５に示すよう
に、支承部材１５は載置位置で上方にあり、６本のコイ
ルばね４２によって上方へ付勢され、脚部端部３３でベ
ース凹部３７の上方肩部３８に係合する。蓋４９の内側
で、押圧パッド５３は載置位置で下方にあり、薄板ばね
５５によって下方へ付勢される。押圧パッド５３のシー
トタブ６７は、蓋フレーム５１の座溝６５上の肩部と接
触する。図４は、不完全な開位置にあるテストソケット
１１を示しているが、この位置が完全に開いた位置と違
っているのは、ラッチフック８０がベース１３の前部壁
２３におけるラッチリップ８７の下に置かれている点だ
けである。完全に開いた位置にあるときのように、不完
全な開位置では蓋４９または集積回路には下向きの力は
加わらない。
【００１９】蓋４９を閉じるとき、押圧パッド５３は集
積回路に接触し、且つ支承部材１５の底が支承部支持部
材１７の壁２１の頂部に達するまでコイルばね４２およ
び接触ピン３９に抗して支承部材１５を下方へ押す。そ
の時点で、さらに集積回路の厚さを吸収する垂直方向の
空間が必要である場合には、押圧パッド５３が上に押さ
れて薄板ばね５５を撓ませる。押圧パッド５３を移動さ
せて薄板ばね５５を上方へ撓ませるに必要な力は、支承
部材１５を下方へ撓ませるに必要な力よりも大きい。
積回路に接触し、且つ支承部材１５の底が支承部支持部
材１７の壁２１の頂部に達するまでコイルばね４２およ
び接触ピン３９に抗して支承部材１５を下方へ押す。そ
の時点で、さらに集積回路の厚さを吸収する垂直方向の
空間が必要である場合には、押圧パッド５３が上に押さ
れて薄板ばね５５を撓ませる。押圧パッド５３を移動さ
せて薄板ばね５５を上方へ撓ませるに必要な力は、支承
部材１５を下方へ撓ませるに必要な力よりも大きい。
【００２０】本発明は、先行文献に記載された発明を凌
ぐ幾つかの利点を有している。第１に、「浮動」支承部
材を組み込むことで、集積回路に加わる動的な力をその
表面にわたって均一に分散させることができ、且つ非垂
直な力によって生じる損傷を最小限に止めるのに寄与
し、このことによって蓋を閉じるときに集積回路を保護
する。第２に、テストソケットが閉じられるとき、蓋内
でばね荷重が与えられている押圧パッドは、集積回路の
損傷に対するさらなる保護を与える。押圧パッドの蓋に
対する垂直方向の移動を許容することは、集積回路に加
わる力をさらに均等化するだけではなく、最大許容厚さ
の集積回路の適用も可能にする。最後に、単一のプラッ
トフォームを支承部材と支承部支持部材とに分離するこ
とで、所定の距離で支承部材の下方への移動を抑止する
ための積極的なストッパを提供できる。
ぐ幾つかの利点を有している。第１に、「浮動」支承部
材を組み込むことで、集積回路に加わる動的な力をその
表面にわたって均一に分散させることができ、且つ非垂
直な力によって生じる損傷を最小限に止めるのに寄与
し、このことによって蓋を閉じるときに集積回路を保護
する。第２に、テストソケットが閉じられるとき、蓋内
でばね荷重が与えられている押圧パッドは、集積回路の
損傷に対するさらなる保護を与える。押圧パッドの蓋に
対する垂直方向の移動を許容することは、集積回路に加
わる力をさらに均等化するだけではなく、最大許容厚さ
の集積回路の適用も可能にする。最後に、単一のプラッ
トフォームを支承部材と支承部支持部材とに分離するこ
とで、所定の距離で支承部材の下方への移動を抑止する
ための積極的なストッパを提供できる。
【００２１】本発明は、その形態の幾つかのみが示され
たが、それらが限定的なものではなく、且つ本発明の範
囲から逸脱することなく種々の変更をなすことが可能で
あることは、その分野における熟練技術者にとっては明
らかであろう。例えば、薄板ばねを押圧パッドに取り付
け、撓ませる部分のリッジを下向きにしてこの部分を蓋
に取り付けることによっても同じ結果をもたらすことが
できる。
たが、それらが限定的なものではなく、且つ本発明の範
囲から逸脱することなく種々の変更をなすことが可能で
あることは、その分野における熟練技術者にとっては明
らかであろう。例えば、薄板ばねを押圧パッドに取り付
け、撓ませる部分のリッジを下向きにしてこの部分を蓋
に取り付けることによっても同じ結果をもたらすことが
できる。
【図１】 本発明のベースと支承部支持部材と支承部材
の分解斜視図である。
の分解斜視図である。
【図２】 本発明の蓋の分解斜視図であり、蓋フレーム
と、押圧パッドと、薄板ばねと、蓋カバーと、リンクお
よびラッチとを含んでいる。
と、押圧パッドと、薄板ばねと、蓋カバーと、リンクお
よびラッチとを含んでいる。
【図３】 閉位置における本発明の部分破断側面図であ
る。
る。
【図４】 部分的に開位置における本発明の部分破断側
面図である。
面図である。
【図５】 図４のＶ−Ｖ線に沿う本発明の断面図であ
る。
る。
１１ テストソケット １３ ベース １５ 支承部材 １７ 支承部支持部材 １９ ベースの側壁 ２１ 支承部支持部材の支持壁 ２３ ベースの前部壁 ２５ ベースの下部面または床面 ２７ ベースの後部壁 ２９ 位置合わせリッジ ３１ 脚部 ３３ 脚部の終端部または突出部 ３５ 溝 ３７ 凹部 ３８ 肩部 ３９ 接触ピン ４１ 円筒状穴 ４２ コイルばね ４５ 穴 ４７ ブレード ４９ 蓋 ５１ 蓋フレーム ５３ 押圧パッド ５５ 薄板ばね ５７ 蓋カバー ５９ 蓋フレームの側壁 ６１ 蓋フレームの前部壁 ６３ 蓋フレームの後部壁 ６５ 座溝 ６７ シートタブ ６９ 押圧パッドの側縁 ７１ 押圧パッドの斜面 ７２ 斜面の２つの面 ７３ 空間 ７４ 斜面のリッジまたはピーク ７５ ラッチ ７６ リンク ７７ ヒンジスロット ７８ ラッチハンドル ７９ ラッチの脚部 ８０ ラッチフック ８１ ラッチピンスロット ８２ ラッチピン ８３ ヒンジピンスロット ８４ ヒンジ延長部 ８５ ヒンジピン ８７ ラッチリップ
Claims (9)
- 【請求項１】 集積回路のための改良されたテストソケ
ットであって、 ベースと、 上記ベースに揺動可能に連結されていて閉位置と開位置
との間で回転可能な蓋と、 上記蓋の下で集積回路を支持するために上記ベースによ
って担持されたプラットフォームと、 上記集積回路に対する電気接続のために上記プラットフ
ォームを貫通して延びる複数の電気接触子と、 上記蓋が閉じられるときに上記集積回路を上記プラット
フォームと上記電気接触子に押し付けるために蓋の一部
分を形成する押圧パッドと、 上記蓋に閉じる力が加えられるときに、上記押圧パッド
に対して蓋が独立して移動するのを許容する蓋適応化手
段と、 上記蓋を閉位置に固定するラッチ手段との組合わせから
なり、 上記蓋適応化手段が、 薄板ばねと、 上記薄板ばねに接触している撓ませ部とを備え、 上記薄板ばねおよび撓ませ部のいずれか一方が上記押圧
パッドによって保持され、且つ該薄板ばねおよび撓ませ
部の他方が上記蓋によって保持されており、上記押圧パ
ッドの静止時に上記蓋に加わっている十分に大きな力
が、該押圧パッドに対する該蓋の独立した移動を許容し
ながら、上記撓ませ部をして上記薄板ばねに曲げを生じ
させる、テストソケット。 - 【請求項２】 上記プラットフォームを上記ベースに対
して載置位置に保持するための手段であって、且つ上記
蓋が閉位置へ動かされるときに該プラットフォームが該
載置位置からベースに向かって移動するのを許容するた
めのベース適応化手段を、さらに備えている、請求項１
記載のテストソケット。 - 【請求項３】 上記ベース適応化手段が、 上記ベース内に、且つ上記プラットフォームの下に位置
して形成された複数の垂直穴と、 複数のコイルばねとを備え、 上記コイルばねのそれぞれが上記垂直穴の１つの中に配
置され、各コイルばねの一端が該穴の外へ延出して上記
プラットフォームに接触しており、各コイルばねが該プ
ラットフォーム上に、上記ベースから遠ざかる方向へ力
を作用させる、請求項２記載のテストソケット。 - 【請求項４】 上記ベース適応化手段が、 上記プラットフォームから上記ベースに向かって下がっ
ている複数の脚部を備え、該脚部の先端が、該脚部に実
質的に直角な方向へ突出部を有しており、 上記脚部の突出部と相互に作用し、そして上記ベースに
向かって且つ該ベースから所定の距離だけ離れて該脚部
が移動するのを許容するように、該ベース内に形成され
た複数の肩部を上記ベース適応化手段がさらに備えてい
る、請求項２記載のテストソケット。 - 【請求項５】 上記プラットフォームが、 上記集積回路を支持するためにベース内に担持され、且
つ該ベースの床面に向かう方向にも離れる方向にも移動
可能な支承部材を備え、 上記支承部材は、実質的に平坦な上面と、該支承部材か
らベースに向かって下がっている複数の脚部とを有して
おり、該脚部の先端が、該脚部に実質的に直角な方向へ
突出部を有しており、 上記支承部材を支持するために少なくとも２つの壁を有
する支承部支持体を上記プラットフォームがさらに備
え、該壁は、ベースに接触している下部エッジと、支承
部材の上面に接触している上部エッジとを有しており、
該支承部支持体は、上記脚部の突出部がベースの床面に
接触する前に、支承部材の下方への移動を所定の距離で
抑止する、請求項１記載のテストソケット。 - 【請求項６】 上記撓ませ部が上記押圧パッドの上面に
取り付けられ、上記薄板ばねが上記蓋に取り付けられて
いる、請求項１記載のテストソケット。 - 【請求項７】 上記撓ませ部は、上記押圧パッドの上面
の傾斜部分を備え、上記薄板ばねは、上記蓋内に形成さ
れて対向している肩部の上に位置する対向側縁を有し、 蓋カバーが、上記蓋の肩部の上の薄板ばねの上記側縁を
該蓋に固定すると共に保持する、請求項１記載のテスト
ソケット。 - 【請求項８】 上記プラットフォームを上記ベースに対
して載置位置に保持するための手段であって、且つ上記
蓋が閉位置へ動かされるときに該プラットフォームが該
載置位置からベースに向かって移動するのを許容するた
めのベース適応化手段をさらに備えており、上記蓋適応
化手段が上記押圧パッドに対する蓋の移動を許容するの
に必要とされる力が、該ベース適応化手段が上記ベース
に対するプラットフォームの移動を許容するのに必要と
される力よりも大きい、請求項１記載のテストソケッ
ト。 - 【請求項９】 上記ラッチ手段が、 上記ベース上のリップと、 リンクと、 上記リンクに揺動可能に連結されて、且つ上記リップに
係合するために下端部にフックを有するラッチと、 上記ラッチに閉じ力を与える該ラッチ上のハンドルとを
備え、 上記リンクは上記蓋に揺動可能に連結され、該リンクと
蓋との可揺動連結と、リンクとラッチとの可揺動連結と
の間の距離が、リンクとラッチとの可揺動連結と、上記
ラッチ上のハンドルとの間の距離よりも小さく、その結
果、上記蓋を閉じて固定すべく該ハンドルに力を加える
と同時に機械的利点が生じる、請求項１記載のテストソ
ケット。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/683,752 US5788526A (en) | 1996-07-17 | 1996-07-17 | Integrated circuit test socket having compliant lid and mechanical advantage latch |
| US08/683752 | 1996-07-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10106706A true JPH10106706A (ja) | 1998-04-24 |
Family
ID=24745305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9192609A Pending JPH10106706A (ja) | 1996-07-17 | 1997-07-17 | 集積回路用テストソケット |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5788526A (ja) |
| JP (1) | JPH10106706A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7042238B2 (en) * | 2001-12-28 | 2006-05-09 | Nhk Spring Co., Ltd. | Socket for inspection |
| KR20190028048A (ko) * | 2017-09-08 | 2019-03-18 | 주식회사 탑 엔지니어링 | 카메라 모듈용 소켓 |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6259263B1 (en) * | 1999-06-11 | 2001-07-10 | Micron Technology, Inc. | Compliant contactor for testing semiconductors |
| US6353329B1 (en) * | 2000-03-14 | 2002-03-05 | 3M Innovative Properties Company | Integrated circuit test socket lid assembly |
| US6690184B1 (en) * | 2000-08-31 | 2004-02-10 | Micron Technology, Inc. | Air socket for testing integrated circuits |
| US6945798B2 (en) * | 2003-04-30 | 2005-09-20 | Tyco Electronics Corporation | Electronic package with socket and reinforced cover assembly |
| FI121100B (fi) * | 2006-11-10 | 2010-06-30 | Yokowo Seisakusho Kk | Releliitin |
| CN201075475Y (zh) * | 2007-05-28 | 2008-06-18 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器 |
| SG193040A1 (en) * | 2012-02-21 | 2013-09-30 | Test Max Mfg Pte Ltd | Test socket with hook-like pin contact edge |
| CN108738355B (zh) * | 2015-11-25 | 2020-11-06 | 佛姆法克特股份有限公司 | 用于测试插座的浮动嵌套 |
| JP7281250B2 (ja) * | 2018-05-11 | 2023-05-25 | 株式会社アドバンテスト | 試験用キャリア |
| TW202121778A (zh) * | 2019-11-21 | 2021-06-01 | 日商友華股份有限公司 | 插座及工具 |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4378139A (en) * | 1981-07-14 | 1983-03-29 | Wells Electronics, Inc. | Integrated circuit carrier connector |
| JPS59107544A (ja) * | 1982-12-13 | 1984-06-21 | Hitachi Ltd | Ｉｃソケツト |
| JPS6143453A (ja) * | 1984-08-08 | 1986-03-03 | Hitachi Ltd | 接続装置 |
| JPS6276274A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-08 | 日本電気株式会社 | Ｉｃソケツト |
| JPH0412284A (ja) * | 1990-04-28 | 1992-01-16 | Fujitsu Ltd | Ｉｃソケット |
| JP2959827B2 (ja) * | 1990-10-17 | 1999-10-06 | 東芝ケミカル株式会社 | Ｉｃソケット |
| JP2983277B2 (ja) * | 1990-10-18 | 1999-11-29 | 富士通株式会社 | 蓋付きｉｃソケットの蓋閉じ機構 |
| JP2983278B2 (ja) * | 1990-10-18 | 1999-11-29 | 富士通株式会社 | 蓋付きｉｃソケットの蓋開き機構 |
| JPH04162755A (ja) * | 1990-10-26 | 1992-06-08 | Fujitsu Ltd | Ｉｃソケット |
| JPH04194680A (ja) * | 1990-11-27 | 1992-07-14 | Mitsubishi Electric Corp | Ｉｃソケット |
| JPH05275575A (ja) * | 1992-03-27 | 1993-10-22 | Nec Corp | Ｉｃソケット |
| US5247250A (en) * | 1992-03-27 | 1993-09-21 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Integrated circuit test socket |
| JPH05343142A (ja) * | 1992-06-02 | 1993-12-24 | Minnesota Mining & Mfg Co <3M> | Ｉｃソケット |
| JP2758790B2 (ja) * | 1992-09-18 | 1998-05-28 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | Ｉｃソケット |
-
1996
- 1996-07-17 US US08/683,752 patent/US5788526A/en not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-07-17 JP JP9192609A patent/JPH10106706A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7042238B2 (en) * | 2001-12-28 | 2006-05-09 | Nhk Spring Co., Ltd. | Socket for inspection |
| KR20190028048A (ko) * | 2017-09-08 | 2019-03-18 | 주식회사 탑 엔지니어링 | 카메라 모듈용 소켓 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5788526A (en) | 1998-08-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0632950B1 (en) | Integrated circuit test socket | |
| US6782614B2 (en) | Contact pin assembly, contact pin assembly manufacturing method, contact pin assembling structure, contact pin assembling structure manufacturing method, and socket for electrical parts | |
| US4801273A (en) | Socket | |
| US5387120A (en) | Latching IC connector | |
| US20050250363A1 (en) | Socket for semiconductor device | |
| EP1113273A2 (en) | System for testing bare IC chips and a socket for such chips | |
| US6547580B1 (en) | Socket apparatus particularly adapted for land grid array type semiconductor devices | |
| JPS63305537A (ja) | ソケットデバイス | |
| JPH10106706A (ja) | 集積回路用テストソケット | |
| JPH0717024Y2 (ja) | Ｔａｂ集積回路のバーンイン及びテスト用ソケット | |
| US4560217A (en) | Chip carrier connector | |
| JP3776331B2 (ja) | 電気部品用ソケット | |
| US6644981B2 (en) | Socket for electrical parts having horizontal guide portion | |
| US20030057980A1 (en) | Socket apparatus particularly adapted for lga type semiconductor devices | |
| US7862363B2 (en) | IC socket with floatable pressing device for receiving testing IC packages of different sizes | |
| JP3302046B2 (ja) | Ｉｃソケット | |
| JP3007179U (ja) | 電子デバイス用テストソケット | |
| US5547389A (en) | Integrated circuit chip socket | |
| US20020160641A1 (en) | Socket for electrical parts | |
| US6790069B2 (en) | IC socket with resistant mechanism | |
| KR100503683B1 (ko) | 케이지디 캐리어 및 상기 캐리어를 탑재하는 집적 회로탑재 소켓 | |
| US20110318943A1 (en) | Socket connector assembly having reinforcing member for supporting loading device | |
| JP4014961B2 (ja) | Ｉｃソケット | |
| JP3842037B2 (ja) | 電気部品用ソケット | |
| WO1999014603A1 (en) | Test contactor |