JPS59107544A - Icソケツト - Google Patents

Icソケツト

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Publication number
JPS59107544A
JPS59107544A JP21684482A JP21684482A JPS59107544A JP S59107544 A JPS59107544 A JP S59107544A JP 21684482 A JP21684482 A JP 21684482A JP 21684482 A JP21684482 A JP 21684482A JP S59107544 A JPS59107544 A JP S59107544A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
cover
main body
semiconductor device
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP21684482A
Other languages
English (en)
Inventor
Mutsuyo Kanetani
金谷 睦世
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP21684482A priority Critical patent/JPS59107544A/ja
Publication of JPS59107544A publication Critical patent/JPS59107544A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はソケットに関し、特に、半導体装置の選別検査
において半導体装置の自動測定のために用いるソケット
に関する。
従来、半導体装置、たとえば第1図に示すようなフラン
トバソケージよりなる半導体装置を選別検査する場合、
半導体装置を測定位置に固定して測定を行うために第2
図に示すようなICソケソ、トが使用されている。この
ソケットは被測定半導体装置のリード端子の配列に合せ
て配列された多数の測定端子3を持つ測定部2を中央に
設けたソケット本体lと、このソケ・7ト本体lの一側
縁で回動軸4を介して該ソケット本体】に連結され、該
回動軸4を中心に回動して開閉され、該ソケット本体1
との間に被測定半導体装置を挟み付けて測定端子3との
電気的接触を確保する上蓋5とからなる。
ところが、この従来技術では、上蓋5の開閉が手動で行
われるので、操作が面倒であるトに、被測定半導体装置
のリード端子と測定端子との接触が確実に行われず、ま
た選別検査処理の一貫自動化を図るための自動選別機に
使用することができないという問題があった。
本発明の目的は、前記従来技術の問題点を解決し、自動
選別機に使用でき、半導体装置の自動測定を行うことが
でき、またリード端子と測定端子とを自動的に確実に接
触させるこ−ができるICソケットを提供することにあ
る。
以下、本発明を図面に示す一実施例にしたがって詳細に
説明する。
第3図は本発明によるICソケットの一実施例を示す斜
視図である。
この実施例において、ICソケットのソケット本体11
の中央部には、被測定半導体装置の外部リードピンと接
触する測定端子13を持つ測定部12が形成されており
、被測定半導体装置はこの測定部12の孔内にパッケー
ジが嵌まり込み、外部リート−ピンが測定端子13と接
触するよう位置決めされる。
ソケット本体11の一側縁には、回動軸14によって上
蓋15が取り付けられている。この上蓋15は回動軸1
4を中心としてソケット本体11に対して回動し、閉鎖
時には、ソケット本体11の測定部12の測定端子13
と被測定半導体装置の外部リードピンとの接触を確保す
るよう被測定半導体装置をソケット本体11との間に挟
んで押圧力を加える。そのため、上蓋15の中央部には
、ソケ・スト本体11の測定部12と適合した位置にお
いて被測定半導体装置のパッケージを受は入れる略正方
形の孔16と、この孔16の四辺における上蓋15の内
側面には、外部リードピンを測定端子13に押圧する押
え突起17が設りられている。
前記回動軸14の自動的な回動を行うため、回動軸14
の一端にはピニオン18が固定され、また前記上蓋15
の一側面には、一端を回動軸に固定された回動アーム1
9が固定されている。このピニオン18はその歯とかみ
合う歯を持つラックバ−20と係合し、該う・2クバー
20はシリンダ21により上下方向に往復運動すること
ができる。
したがって、シリンダ21によりラックバ−20がたと
えば下降方向に運動すると、ピニオン18は第3図で見
て反時計方向に回動し、上蓋15が回動アーム19と共
にソケット本体11に対して閉鎖方向に動作する。上蓋
15を開く場合には、ラックバ−20を上昇方向に動作
さ・口、ピニオン18を時計方向に回動させればよい。
さらに、本実施例では、上蓋15を閉した時にその閉鎖
状態を保つための上蓋ロック機構22がソケット本体1
1の一例部に設けられている。この上蓋ロック機構22
はフック方式よりなり、ソケット本体11の一側面に回
動ピン24を中心に回動自在に取り付けられた略S字形
のフック23を有している。このフック′13の上端は
閉鎖時の上蓋15の一側縁と自動的に係合して固定する
クランプ爪25として上蓋15の方向に突出している。
また、フック23の下端は、シリンダ26でレバー27
を矢印方向に動作させた時に該レバー27でソケット本
体11の方向に押され、それによって、フック23は回
動ビン24の回りで第3図の反時計方向に回動し、フッ
ク23を上蓋15から外し、上蓋クランプ力を解除する
よう構成されている。
次に、本実施例の作用について説明する。
まず、上蓋15を開いた状態で被測定半導体装置をたと
えば自動挿入機でソケット本体11°の測定部12に自
動挿入し、そのパッケージが測定部1217)孔内に収
容されかつ外部リードピンが測定端子13と接触する状
態とする。
その後、シリンダ21を作動させて、ラックバ−20を
下降方向に動作させると、ピニオン1Bが反時計方向に
回動する。このピニオン18の回動と共に回動軸I4も
同一方向に回動し、該回動軸14と同調して回動アーム
19も反時計方向に回動し、上蓋I5は回動アーム19
と一緒にソケット本体11に対して閉鎖方向に回動する
その結果、上蓋15ばソケ・2ト本体11との間に被測
定半導体装置を挟み付け、そのパッケージを上M15の
孔I6の中に受は入れると共に、外部リードピンを押え
突起17で測定端子13に対して押圧し、外部リードピ
ンと測定端子I3との接触を確実にする。また、上蓋1
5の閉鎖により、上蓋ロック機構22は上蓋15とソケ
ット本体11をその閉鎖状態に固定し、外部リードピン
と測足端子13との接触を確実に維持しながら被測定半
導体装置の測定を行うことができる。
このように、本実施例によれば、ソケットの上Ml 5
をシリンダ21、ランクパー20、ピニオン18、回転
軸14、回動アーム19よりなる上蓋開閉機構によって
自動的に開閉できるので、自動選別機やエージング装置
等に使用して測定の一貫自動化を実現することができ、
作業能率が向上し、また外部リードピンとICソケット
の測定端子13との接触を確保でき、正確な測定が可能
である。
なお、本発明は前記実施例に限定されるものではなく、
たとえば上蓋開閉機構を前記実施例とは違って、回動ア
ーム19がピニオン18に直接連動する構造等にするこ
とができ、シリンダ21.26もエアシリンダの他に、
油圧シリンダ、モータ等を用いること等も可能である。
また、シリンダ2Iをラックバ−20の上方に設置して
上方から駆動力を与えることもできる。
Jた、ソケット本体11と上蓋15をいずれもプラスチ
ック材料の成型品で形成すれば、それぞれの回転軸14
に対するかみ合い誤差も最小限にすることができ、コン
パクトな一体構造が得られる。。
本発明はフラット形半導体装置の他、シングルインライ
ン(S I L)形、リードレスチップキャリア(LC
C)形等の半導体装置に広(適用できる。
以上説明したように、本発明によれば、ICソケットの
上蓋の開閉を自動的に行うことができ、自動選別機やエ
ージング装置等に使用できることにより、−貫自動化に
よる作業能率の向上が可能となる他、被測定半導体装置
の外部端子とICソケットの測定端子との接触が確実と
なり、正確な測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はフラットパッケージを有する半導体装置の一例
の斜視図、 第2図は従来のICソケットの斜視図、第3図は本発明
によるICソケットの一実施例を示す斜視図である。 11・・・ソケット本体、12・・・測定部、13・・
・測定端子、14・・・回動軸、15・・・上蓋、18
・・・ピニオン、19・・・回動アーム、20・・・ラ
ックバ−121・・・シリンダ、22・・・上蓋口、り
機構。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、半導体装置の測定を行うために用いるICソケット
    において、半導体装置の測定部を有するソケット本体と
    、このソケット本体に対して回動軸を中心にして回動し
    、ソケット本体との間に半導体装置を挟み込む開閉可能
    な上蓋と、この上蓋を前記ソケット本体に対して係止す
    るロック機構と、前記上蓋を自動的に開閉する上蓋開閉
    機構とを備えてなることを特徴とするICソケット。 2、前記上蓋開閉機構は、前記回動軸の端部に設けたピ
    ニオンと係合して上下方向に往復動作するランクバーと
    、該ラックバ−を駆動する駆動手段とを有することを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載のICソケット。
JP21684482A 1982-12-13 1982-12-13 Icソケツト Pending JPS59107544A (ja)

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JP21684482A JPS59107544A (ja) 1982-12-13 1982-12-13 Icソケツト

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JP21684482A JPS59107544A (ja) 1982-12-13 1982-12-13 Icソケツト

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ID=16694785

Family Applications (1)

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JP21684482A Pending JPS59107544A (ja) 1982-12-13 1982-12-13 Icソケツト

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4853716A (en) * 1985-05-29 1989-08-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Printer having specially arrayed ink holes
EP0380342A2 (en) * 1989-01-27 1990-08-01 Stag Microsystems Ltd. Electrical contact
US5788526A (en) * 1996-07-17 1998-08-04 Minnesota Mining And Manufacturing Company Integrated circuit test socket having compliant lid and mechanical advantage latch
WO2014170102A1 (de) * 2013-04-16 2014-10-23 Robert Bosch Gmbh Elektronische komponente

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