JP6447997B2 - テストインジケータ - Google Patents

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Description

本発明はテストインジケータに関する。
テストインジケータ(いわゆるてこ式ダイヤルゲージ)が知られている(例えば特許文献1)。テストインジケータは、円周振れ、全振れ、平面度、平行度といった微小変位測定や、マスターワーク(またはブロックゲージ)に対する加工製品の加工誤差といった精密比較検査に使用される。
テストインジケータ100は、本体ケースに回転変位可能に軸支された測定子3を有する。測定子3は、その先端に接触球31を有する。そして、接触球31の変位をてこの原理で拡大する。これにより、テストインジケータ100は、高精度、高分解能の測定器となっている。
回転軸を中心に回動する測定子3の変位(回転変位)をてこの原理で拡大するという構造上の特徴から、テストインジケータ100の使用にあたっては一つ留意すべきことがある。
それは、測定にあたっては、被測定面Wに対して測定子3をできる限り平行にしなければならない、ということである。
例えば、被測定面Wの平面度を測定したいとする。この場合、接触球31を被測定面Wに当接させた状態で両者を相対移動させればよいわけである。ただし、被測定面Wの凹凸(又はうねり)を正しく測定するには、図1(A)に示すように、被測定面Wと測定子3とがほぼ平行であって、被測定面Wと測定子3との間の角がほぼゼロになるようにする。図1(A)のように測定すれば、接触球31の変位方向と測定したい被測定面Wの凹凸方向とが一致している。(接触球の変位方向は、被測定面の法線方向である。)
一方、図1(B)のように、測定子3と被測定面Wとが平行になっておらず、被測定面Wと測定子3との間の角θが大きいと、接触球31の変位方向と測定したい被測定面Wの凹凸方向とが一致しない。
(接触球31の変位方向は、被測定面Wの法線方向に対して傾きをもつ。)
これでは、測定値が被測定面Wの凹凸を正しく反映していないことになる。
もし、(何らかの都合により)図1(B)のようにテストインジケータ100を設置しなければならない場合には、角度θに応じて測定値を補正することで被測定面Wの凹凸を正しく得ることができる。
蛇足であるが、テストインジケータ100そのものの傾きは問題ではない。図2(A)のようにテストインジケータ本体が被測定面Wに対して傾斜しても、測定子3が被測定面Wとほぼ平行であればよい。
特開2008−309687号公報
まず第1の問題として、テストインジケータを使用するユーザが上記留意点を理解していないか、あるいは失念してしまうことがある、という点がある。
テストインジケータの表示部に表示された数値をそのまま鵜呑みにしてしまうと、正しい測定になっていない。
第2の問題として、必要性は理解しているとしても、実際には、角度θに応じた補正をせずに済ましてしまう可能性が残る、という点がある。
仮に、(何らかの都合により)図1(B)のようにテストインジケータを設置しなければならないとしても、角度θに応じて測定値を補正すれば正しい値を得ることはできる。補正のやり方自体は既知である。
しかし、実際には、角度θに応じた正しい補正をしないことが時々有るようである。
原因は一概には言えないが、一つ一つの測定値に補正を掛けるというのが案外面倒である、ということもあるだろう。あるいは、必要性は理解していても重要度までは理解していない、といったことも考えられる。例えば、角度θが50度や60度になってくると、測定値(表示値)と真の値との間には約2倍の開きが生じてしまうが、これほどの開きが生じていることに個々のユーザは気付いていない虞れがある。
また、測定作業に加えて補正作業が必要となると、テストインジケータを使うのに不便さを感じてしまうことにもなるだろう。
本発明の目的は、簡便に正しい測定値を得ることができるテストインジケータを提供することにある。
本発明のテストインジケータは、
先端に接触子を有する測定子と、
前記測定子を枢支する本体ケースと、
前記測定子の回転変位量を検出するロータリーエンコーダと、を備え、
前記ロータリーエンコーダによる検出値に基づいて測定値を表示部に表示するテストインジケータにおいて、
被測定面と前記測定子との間の角度θに応じて測定値の補正を行う補正部を内蔵した
ことを特徴とする。
本発明では、
前記補正部は、
被測定面と測定子との間の角度θを記憶する角度メモリと、
前記角度θに応じて補正係数を算出する補正係数算出部と、
前記ロータリーエンコーダによる検出値に基づく前記接触子の変位量に対し、前記補正係数を乗算する補正演算部と、を備える
ことが好ましい。
本発明では、
ユーザに対し、被測定面と前記測定子との間の角度θを入力するようにメッセージを前記表示部に表示する
ことが好ましい。
本発明では、
当該テストインジケータの側面に、前記測定子の回転軸を中心とする角度目盛りを有する
ことが好ましい。
テストインジケータと被測定面との位置関係を例示する図。 テストインジケータと被測定面との位置関係を例示する図。 テストインジケータの外観図。 テストインジケータの内部構造を部分的に示す斜視図。 内部の制御回路の構成を説明するための機能ブロック図。 補正係数を説明するための図。 角度目盛りを例示する図。
本発明の実施形態を図示するとともに図中の各要素に付した符号を参照して説明する。
(第1実施形態)
テストインジケータ自体はよく知られたものであるが、簡単に説明しておく。
図3は、本実施形態のテストインジケータの外観図である。
テストインジケータ100は、本体ケース1と、本体ケース1に回動可能に支持された測定子3と、測定子3の回転変位量をデジタル表示する表示部4と、を備える。
測定子3は、本体ケース1に形成された挿入穴11から露出した状態で、本体ケース1の軸受部12、13に形成された各軸受部材14によって軸支されている。測定子3は、その先端に接触球31を有する。表示部4は、扁平な円盤状に形成され、本体ケース1に固定されている。なお、表示部には2つのスイッチ(入力手段)54、55が配設されている。これらスイッチ54、55は、電源オンオフや表示切り替えの他、各種コマンドや設定数値の入力に供される。
図4は、テストインジケータの内部構造を部分的に示す斜視図である。
本体ケース1の内部には、測定子3の回転軸を枢支するようにして測定子3と連結した第1アーム5と、第1アーム5に対して測定子3とは反対側に隣接され、端部にセクタギア61を有する第2アーム6と、セクタギア61と噛合するピニオン71と、ピニオン71の回転量を電気信号として検出可能なロータリーエンコーダ8と、が配設されている。
ロータリーエンコーダ8は、ロータ7とステータ45とを有し、ロータ7の一回転以内の絶対角度を検出するABS(アブソリュート)型ロータリーエンコーダである。
次に、図5は、内部の制御回路の構成を説明するための機能ブロック図である。
制御部200は、CPU(中央処理装置)210、所定の制御プログラムを内蔵したROM(read only memory)211、RAM(random access memory)212に加えて、換算部220と、補正部230と、を有する。
換算部220は、ロータリーエンコーダによる検出値(回転変位量)αを接触球31の(直線)変位量(L2)に換算する。このような換算比は、測定子3の長さやてこ比によって決まる。
補正部230は、被測定面Wと測定子3との間の角度θに応じて測定値の補正を行う。
補正部230は、角度メモリ231と、補正係数算出部232と、補正演算部233と、を有する。
角度メモリ231は、被測定面と測定子との間の角度θを記憶する。ユーザは、測定にあたり、入力手段(スイッチ54、55)を用いて被測定面Wと測定子3との間の角度θを入力しておく。
補正係数算出部232は、前記角度θに応じて補正係数を算出する。補正係数は、cosθである。図6を参照して頂ければわかるように、接触球31の変位であるL2と、測定したい被測定面Wの凹凸量(L1)と、の間には、L1=L2×Cosθの関係がある。
補正演算部233は、換算部220で求められた接触球31の(直線)変位量(L2)に対し、補正係数であるCosθを乗算する。これにより、角度θに応じて補正された正しい測定値(L1)を得る。補正された測定値は、表示部4にて表示される。
このような構成において、まず、ユーザは、テストインジケータ100と被測定面Wとの設置位置関係に応じ、被測定面Wと測定子3との間の角度θをテストインジケータ100に入力しておく。入力された角度θは角度メモリ231に記録され、さらに、補正係数算出部232により補正係数(Cosθ)が算出される。そして、ユーザは、測定子3の接触球31を被測定面Wに当接させる。すると、測定子3が被測定面Wに応じて回転変位する。測定子3の回転変位が、第1、第2のアーム5、6およびセクタギア61を介して、ピニオン71の回転に変換される。ピニオン71の回転量はロータリーエンコーダ8で検出される。ロータリーエンコーダによる検出値(回転変位量)αに基づいて、換算部220により、接触球31の(直線)変位量(L2)が求められる。
そして、この接触球31の(直線)変位量(L2)は補正演算部233に送られ、補正演算部233において補正係数(Cosθ)が乗算される。このようにして求められた補正後の測定値は、表示部4に表示される。
このような構成によれば、表示部4には、補正された正しい測定値が表示される。この表示された値を読み取れば、すなわちそれが求めたい測定値である。したがって、従来のごとくユーザが角度θに応じて測定値を別途補正するような手間は必要無い。また、補正を失念して計測誤差が生じるような事態も回避することができる。
(変形例1)
測定にあたって、ユーザに角度入力を促すように、メッセージを表示することが好ましい。例えば、所定のタイミング(例えば電源投入時)で「角度を入力してください。角度=?」のようなメッセージを表示部4に表示するようにするとよい。これにより、仮にユーザが被測定面Wと測定子3との間の角度θに応じた測定値の補正を失念していたとしても、ユーザに思い出させ、正しい測定に導くことができる。
(変形例2)
測定結果の表示にあたっては、補正前の測定値と、補正後の測定値と、を並べて表示できるようにしてもよい。補正前の測定値とは即ち、接触球31の変位量そのもののことである。この値は、例えば、測定レンジを考慮するにあたっては必要な値となってくる。
(変形例3)
被測定面Wと測定子3との間の角度θを求めやすいように、テストインジケータ100の側面に角度ゲージ(分度器)となる角度目盛り240を付けておいてもよい。例えば、図7に示すように、測定子3の回転軸を中心にして、軸受部(12、13)の側面に角度目盛り240を設けるとよい。
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更した構成は本発明の技術的範囲に属する。
1…本体ケース、3…測定子、4…表示部、5…第1アーム、6…第2アーム、7…ロータ、8…ロータリーエンコーダ、11…挿入穴、12…軸受部、14…軸受部材、31…接触球、45…ステータ、54、55…スイッチ、61…セクタギア、71…ピニオン、100…テストインジケータ、200…制御部、230…補正部、231…角度メモリ、232…補正係数算出部、233…補正演算部、W…被測定面。

Claims (4)

  1. 先端に接触子を有する測定子と、
    前記測定子を枢支する本体ケースと、
    前記測定子の回転変位量を検出するロータリーエンコーダと、を備え、
    前記ロータリーエンコーダによる検出値に基づいて測定値を表示部に表示するテストインジケータにおいて、
    被測定面と前記測定子との間の角度θに応じて測定値の補正を行う補正部を内蔵した
    ことを特徴とするテストインジケータ。
  2. 請求項1に記載のテストインジケータにおいて、
    前記補正部は、
    被測定面と測定子との間の角度θを記憶する角度メモリと、
    前記角度θに応じて補正係数を算出する補正係数算出部と、
    前記ロータリーエンコーダによる検出値に基づく前記接触子の変位量に対し、前記補正係数を乗算する補正演算部と、を備える
    ことを特徴とするテストインジケータ。
  3. 請求項1または請求項2に記載のテストインジケータにおいて、
    ユーザに対し、被測定面と前記測定子との間の角度θを入力するようにメッセージを前記表示部に表示する
    ことを特徴とするテストインジケータ。
  4. 請求項1から請求項3のいずれかに記載のテストインジケータにおいて、
    当該テストインジケータの側面に、前記測定子の回転軸を中心とする角度目盛りを有する
    ことを特徴とするテストインジケータ。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6447997B2 (ja) * 2015-02-09 2019-01-09 株式会社ミツトヨ テストインジケータ
JP6918599B2 (ja) * 2017-06-23 2021-08-11 株式会社ミツトヨ 表面性状測定機、表面性状測定システム及びプログラム
US11175121B2 (en) * 2017-12-28 2021-11-16 GUILIN JINGZHUN Meas. and Control Tech. Co., Ltd. Lever indicator
EP3752790B1 (en) 2018-02-18 2023-01-25 The L.S. Starrett Company Metrology device with automated compensation and/or alert for orientation errors
JP7261560B2 (ja) * 2018-10-31 2023-04-20 株式会社ミツトヨ 表面性状測定方法および表面性状測定装置
JP6743115B2 (ja) * 2018-12-14 2020-08-19 Dmg森精機株式会社 接触検知装置
DE102019105059A1 (de) * 2018-12-19 2020-06-25 Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh Verfahren zum Betreiben eines Oberflächenmessgeräts
CN109773290B (zh) * 2019-02-21 2020-06-02 清华大学 微球电接触反馈的绝缘材料工件表面对准系统及方法
DE102020108182A1 (de) 2019-05-07 2020-11-12 Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh Oberflächenmessgerät
JP7448323B2 (ja) * 2019-09-06 2024-03-12 株式会社ミツトヨ 粗さ測定機
JP7286512B2 (ja) * 2019-10-30 2023-06-05 株式会社ミツトヨ テストインジケータ
DE102020108406A1 (de) * 2020-03-26 2021-09-30 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Taktiler oder/und optischer Abstandssensor, System mit einem solchen Abstandssensor und Verfahren zur Kalibrierung eines solchen Abstandssensors oder eines solchen Systems
CN114325919A (zh) * 2020-09-30 2022-04-12 镭亚电子(苏州)有限公司 校正设备

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5710411A (en) * 1980-06-23 1982-01-20 Tokyo Seimitsu Co Ltd Measuring device for profile
CA1299362C (en) * 1986-12-10 1992-04-28 Gregory James Mcdonald Coordinate measuring system
CH679334A5 (ja) * 1989-09-11 1992-01-31 Weber Hans R
US6304825B1 (en) * 1999-01-19 2001-10-16 Xerox Corporation Rotary encoder error compensation system and method for photoreceptor surface motion sensing and control
JP4323212B2 (ja) * 2003-05-08 2009-09-02 株式会社ミツトヨ 表面性状測定機の校正方法、表面性状測定機の校正プログラム、この校正プログラムを記録した記録媒体および表面性状測定機
JP4708992B2 (ja) * 2005-12-12 2011-06-22 日立オートモティブシステムズ株式会社 位置検出装置及びこれを用いた同期モータ駆動装置
JP2008309687A (ja) * 2007-06-15 2008-12-25 Mitsutoyo Corp テストインジケータ
US7913411B2 (en) * 2008-03-21 2011-03-29 Dorsey Metrology International Digital bore gage handle
JP2009300301A (ja) * 2008-06-16 2009-12-24 Toyota Motor Corp 変位量測定治具及び変位量測定装置
JP3145854U (ja) * 2008-08-11 2008-10-23 株式会社ミツトヨ 表面粗さ測定機
CN101858739B (zh) * 2009-04-10 2013-03-20 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 误差补正方法及采用该误差补正方法的工件测量方法
JP5417222B2 (ja) * 2010-03-05 2014-02-12 株式会社ミツトヨ 真円度測定機の公差検出方法及び装置
EP2372302A1 (de) * 2010-03-26 2011-10-05 Leica Geosystems AG Messverfahren für eine oberflächenvermessende Messmaschine
CN102049731B (zh) * 2010-09-30 2012-11-28 常州工学院 对盘形凸轮进行精确轮廓测量及精确加工的方法
JP2012093215A (ja) * 2010-10-27 2012-05-17 Omron Automotive Electronics Co Ltd 回転角度検出装置
JP5749968B2 (ja) * 2011-04-27 2015-07-15 株式会社ミツトヨ 測定器の防塵構造
JP5802517B2 (ja) * 2011-10-21 2015-10-28 オークマ株式会社 工作機械及びそのモータ制御方法
JP6084364B2 (ja) * 2012-03-08 2017-02-22 株式会社ミツトヨ 測定器
JP2013200248A (ja) * 2012-03-26 2013-10-03 Mitsutoyo Corp デジタル式インジケータおよび多点測定装置
JP6144050B2 (ja) * 2013-01-08 2017-06-07 株式会社ミツトヨ 三次元測定装置、入力方法及びプログラム
JP6122312B2 (ja) * 2013-02-28 2017-04-26 株式会社ミツトヨ 形状測定機
JP6047045B2 (ja) * 2013-03-25 2016-12-21 株式会社ミツトヨ 輪郭測定機
US9772173B2 (en) * 2013-06-27 2017-09-26 Faro Technologies, Inc. Method for measuring 3D coordinates of a surface with a portable articulated arm coordinate measuring machine having a camera
JP2015023201A (ja) 2013-07-22 2015-02-02 パナソニック株式会社 半導体レーザモジュール
FR3012214B1 (fr) * 2013-10-18 2023-07-14 Hexagon Metrology Sas Procede de mesure avec amelioration de la precision de l'acquisition d'un point de mesure
JP1525003S (ja) * 2014-03-10 2015-06-01
JP6282517B2 (ja) * 2014-04-09 2018-02-21 株式会社ミツトヨ 形状測定機
JP6447997B2 (ja) * 2015-02-09 2019-01-09 株式会社ミツトヨ テストインジケータ
JP1552842S (ja) * 2015-09-30 2016-06-27
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