JP2013079842A - 寸法測定器 - Google Patents
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Abstract
【課題】測定時間を短縮することができ、疲れにくく、かつ使い勝手の良い寸法測定器を提供する。
【解決手段】寸法測定器１は、一端側に被測定物Ｗに接触する接触子５２，６２がそれぞれ設けられ、他端側に保持部５３，６３がそれぞれ設けられた一対の挟持体５，６と、一対の挟持体５，６を相対的に回転可能とする第１の回転軸７Ａと、一対の挟持体５，６の相対的な回転角を検出する角度検出装置８と、回転角に基づいて、被測定物Ｗの寸法を演算する演算装置２とを備える。演算装置２は、各接触子５２，６２の中心間の長さと回転角に基づく正弦関数の三次近似曲線との比例関係を用いて、被測定物Ｗの寸法を演算する。
【選択図】図１
【解決手段】寸法測定器１は、一端側に被測定物Ｗに接触する接触子５２，６２がそれぞれ設けられ、他端側に保持部５３，６３がそれぞれ設けられた一対の挟持体５，６と、一対の挟持体５，６を相対的に回転可能とする第１の回転軸７Ａと、一対の挟持体５，６の相対的な回転角を検出する角度検出装置８と、回転角に基づいて、被測定物Ｗの寸法を演算する演算装置２とを備える。演算装置２は、各接触子５２，６２の中心間の長さと回転角に基づく正弦関数の三次近似曲線との比例関係を用いて、被測定物Ｗの寸法を演算する。
【選択図】図１
Description
本発明は、被測定物の寸法を測定する寸法測定器に関する。
従来、被測定物の外面寸法や内面寸法の幾何学的測定を行う小型測定器（スモールツール）として、ノギスやマイクロメータが知られている（例えば、特許文献１，２参照）。
このようなノギスやマイクロメータは、長い年月をかけて技術開発が行われており、高精度に被測定物の寸法を測定することができる形態と機能を持ち合わせている。
このようなノギスやマイクロメータは、長い年月をかけて技術開発が行われており、高精度に被測定物の寸法を測定することができる形態と機能を持ち合わせている。
しかしながら、例えば、ノギスやマイクロメータの取り扱いに不慣れな使用者が当該ノギスやマイクロメータを使用する場合には、測定に比較的に多くの時間が掛かるものとなる。特に、ノギスやマイクロメータを用いて多数回の測定を行う場合には、当該使用者に長時間の作業を強いる結果となる。
ノギスやマイクロメータは、長い年月をかけて技術開発が行われ、形態や機能も成熟した域に達しており、大幅な技術的改良は困難なものである。
このため、現状のノギスやマイクロメータよりも測定時間を短縮することができ、疲れにくく、かつ使い勝手の良い寸法測定器が望まれている。
ノギスやマイクロメータは、長い年月をかけて技術開発が行われ、形態や機能も成熟した域に達しており、大幅な技術的改良は困難なものである。
このため、現状のノギスやマイクロメータよりも測定時間を短縮することができ、疲れにくく、かつ使い勝手の良い寸法測定器が望まれている。
本発明の目的は、測定時間を短縮することができ、疲れにくく、かつ使い勝手の良い寸法測定器を提供することにある。
本発明の寸法測定器（第１の形態）は、一端側に被測定物に接触する接触子がそれぞれ設けられ、他端側に保持部がそれぞれ設けられた一対の挟持体と、前記一対の挟持体を相対的に回転可能とする第１の回転軸と、前記一対の挟持体の相対的な回転角を検出する角度検出装置と、前記回転角に基づいて、前記被測定物の寸法を演算する演算装置とを備え、前記演算装置は、各前記接触子の中心間の長さと前記回転角に基づく正弦関数の三次近似曲線との比例関係を用いて、前記被測定物の寸法を演算することを特徴とする。
本発明の寸法測定器（第２の形態）は、一端側に被測定物に接触する接触子がそれぞれ設けられ、他端側に保持部がそれぞれ設けられた一対の挟持体と、前記一対の挟持体を相対的に回転可能とする第１の回転軸と、前記一対の挟持体の相対的な回転角を検出する角度検出装置と、前記回転角に基づいて、前記被測定物の寸法を演算する演算装置とを備え、前記演算装置は、前記回転角に基づく正弦関数を用いて、前記被測定物の寸法を演算することを特徴とする。
本発明では、寸法測定器は、第１，第２の形態で共通して、上述した一対の挟持体及び第１の回転軸を備える。
すなわち、寸法測定器は、使用者にて一対の挟持体の各保持部が把持された状態で、各保持部が近接隔離するように操作されることで、第１の回転軸を中心として一対の挟持体が相対的に回転する所謂「鋏」と略同様の構造を有する。
そして、寸法測定器は、上述した一対の挟持体及び第１の回転軸の他、上述した角度検出装置及び演算装置を備える。
すなわち、寸法測定器は、使用者にて一対の挟持体の各保持部が把持された状態で、各保持部が近接隔離するように操作されることで、第１の回転軸を中心として一対の挟持体が相対的に回転する所謂「鋏」と略同様の構造を有する。
そして、寸法測定器は、上述した一対の挟持体及び第１の回転軸の他、上述した角度検出装置及び演算装置を備える。
このことにより、一対の挟持体を相対的に回転させ、被測定物を一対の挟持体の各接触子で挟む、あるいは、被測定物に形成された孔の内面に各接触子を接触させれば、以下に示すように、被測定物の外面寸法や内面寸法を測定することができる。
すなわち、演算装置は、角度検出装置にて検出された一対の挟持体の相対的な回転角に基づいて、被測定物の寸法を演算する。
したがって、所謂「鋏」と同様の操作を行うことで被測定物の寸法を測定することができるので、取り扱いに不慣れな使用者であっても被測定物の寸法を容易に測定することができる。すなわち、現在のノギスやマイクロメータよりも測定時間を短縮することができ、疲れにくく、かつ使い勝手の良い寸法測定器を実現することができる。
すなわち、演算装置は、角度検出装置にて検出された一対の挟持体の相対的な回転角に基づいて、被測定物の寸法を演算する。
したがって、所謂「鋏」と同様の操作を行うことで被測定物の寸法を測定することができるので、取り扱いに不慣れな使用者であっても被測定物の寸法を容易に測定することができる。すなわち、現在のノギスやマイクロメータよりも測定時間を短縮することができ、疲れにくく、かつ使い勝手の良い寸法測定器を実現することができる。
また、第１の形態では、演算装置は、各接触子の中心間の長さと一対の挟持体の相対的な回転角に基づく正弦関数の三次近似曲線との比例関係を用いて、被測定物の寸法を演算する。
このことにより、通常、各接触子の中心間の長さは、一対の挟持体の相対的な回転角に基づく正弦関数で与えられるところ、当該正弦関数を用いなくても、被測定物の寸法に応じた各接触子の中心間の長さを正弦関数の三次近似曲線で算出することができる。
したがって、演算装置での処理構造を簡素化することができる。
このことにより、通常、各接触子の中心間の長さは、一対の挟持体の相対的な回転角に基づく正弦関数で与えられるところ、当該正弦関数を用いなくても、被測定物の寸法に応じた各接触子の中心間の長さを正弦関数の三次近似曲線で算出することができる。
したがって、演算装置での処理構造を簡素化することができる。
本発明の寸法測定器では、前記角度検出装置は、前記一対の挟持体のいずれか一方に設けられ、目盛線からなる目盛パターンが形成された目盛基板と、前記一対の挟持体のいずれか他方に設けられ、前記一対の挟持体の相対的な回転に伴う前記目盛線の変位を検出する検出センサとを備え、前記目盛パターンは、前記第１の回転軸を中心とする回転方向に沿って延びる円弧状に形成されていることが好ましい。
本発明では、角度検出装置は、上述した目盛基板及び検出センサを備えたロータリーエンコーダで構成されている。
ところで、本発明の寸法測定器は、上述したように所謂「鋏」と同様の操作を行うことで、一対の挟持体を相対的に回転させる構成である。すなわち、一対の挟持体の相対的な回転角は、使用者の手の大きさに応じた角度となる。
このため、当該回転角を検出するための目盛パターンとしては、第１の回転軸を中心とする回転方向に沿う全周分を必要とせず、第１の回転軸を中心とする回転方向に沿って延びる部分的な円弧状パターンに形成することができる。
ところで、本発明の寸法測定器は、上述したように所謂「鋏」と同様の操作を行うことで、一対の挟持体を相対的に回転させる構成である。すなわち、一対の挟持体の相対的な回転角は、使用者の手の大きさに応じた角度となる。
このため、当該回転角を検出するための目盛パターンとしては、第１の回転軸を中心とする回転方向に沿う全周分を必要とせず、第１の回転軸を中心とする回転方向に沿って延びる部分的な円弧状パターンに形成することができる。
本発明の寸法測定器では、前記第１の回転軸は、前記一対の挟持体のいずれか一方に取り付けられ、前記一対の挟持体のいずれか他方には、前記第１の回転軸を支える第１の軸受が取り付けられていることが好ましい。
本発明では、一対の挟持体は、上述した第１の回転軸及び第１の軸受を介して相対的に回転可能に接続されている。
このことにより、被測定物の寸法を測定するにあたって、一対の挟持体をガタなく円滑に回転させることができ、安定した測定を実現することができる。
本発明では、一対の挟持体は、上述した第１の回転軸及び第１の軸受を介して相対的に回転可能に接続されている。
このことにより、被測定物の寸法を測定するにあたって、一対の挟持体をガタなく円滑に回転させることができ、安定した測定を実現することができる。
本発明の寸法測定器では、前記接触子には、被測定物に接触する平坦状の平面部が設けられていることが好ましい。
本発明では、接触子に上述した平面部が設けられているので、例えば、平坦状の外面や内面を有する被測定物の外面を各接触子（平面部）で安定に挟む、あるいは、当該被測定物の内面に各接触子（平面部）を安定に接触させることができ、被測定物の外面寸法や内面寸法を安定に測定することができる。
本発明では、接触子に上述した平面部が設けられているので、例えば、平坦状の外面や内面を有する被測定物の外面を各接触子（平面部）で安定に挟む、あるいは、当該被測定物の内面に各接触子（平面部）を安定に接触させることができ、被測定物の外面寸法や内面寸法を安定に測定することができる。
本発明の寸法測定器では、前記接触子には、被測定物に接触する円弧部が設けられ、前記円弧部は、前記第１の回転軸に沿う方向から見て直線状に延び、前記第１の回転軸に沿う方向に円弧形状を有することが好ましい。
本発明では、接触子に上述した円弧部が設けられているので、例えば、円筒状の被測定物の内面に対して各接触子を線接触させることが可能となり、当該被測定物の内径寸法を良好に測定することができる。
本発明では、接触子に上述した円弧部が設けられているので、例えば、円筒状の被測定物の内面に対して各接触子を線接触させることが可能となり、当該被測定物の内径寸法を良好に測定することができる。
本発明の寸法測定器では、前記接触子には、被測定物に接触する円弧部が設けられ、前記円弧部は、前記第１の回転軸に沿う方向から見て円弧状に延び、前記第１の回転軸に沿う方向に円弧形状を有することが好ましい。
本発明では、接触子に上述した円弧部が設けられているので、例えば、円筒状の被測定物の内面に対して各接触子を点接触させることが可能となり、当該被測定物の内径寸法を良好に測定することができる。
本発明では、接触子に上述した円弧部が設けられているので、例えば、円筒状の被測定物の内面に対して各接触子を点接触させることが可能となり、当該被測定物の内径寸法を良好に測定することができる。
本発明の寸法測定器では、前記接触子には、前記被測定物に接触する円弧部が設けられ、前記円弧部は、前記第１の回転軸に沿う方向から見て円弧状に延び、外周に向うにしたがって断面積が小さくなるテーパ形状を有することが好ましい。
ところで、被測定物によっては、傾斜加工されたものやテーパ加工されたものもある。そして、例えば、テーパ加工された被測定物では、軸方向の所定の場所で外面寸法や外径寸法、あるいは内面寸法や内径寸法を測定したい場合が発生する。
本発明では、接触子に上述した円弧部が設けられているので、当該接触子を被測定物に接触させることで、例えば、テーパ加工された被測定物における軸方向の所定の場所での外面寸法や外径寸法、あるいは内面寸法や内径寸法を良好に測定することができる。
ところで、被測定物によっては、傾斜加工されたものやテーパ加工されたものもある。そして、例えば、テーパ加工された被測定物では、軸方向の所定の場所で外面寸法や外径寸法、あるいは内面寸法や内径寸法を測定したい場合が発生する。
本発明では、接触子に上述した円弧部が設けられているので、当該接触子を被測定物に接触させることで、例えば、テーパ加工された被測定物における軸方向の所定の場所での外面寸法や外径寸法、あるいは内面寸法や内径寸法を良好に測定することができる。
本発明の寸法測定器では、前記挟持体は、挟持体本体と、前記挟持体本体の一端及び他端にそれぞれ設けられた前記接触子及び前記保持部とを備え、前記接触子は、前記挟持体本体に対して前記第１の回転軸に平行する第２の回転軸を介して回転可能に支持されていることが好ましい。
本発明では、接触子が上述した挟持体本体に対して回転可能に支持されているので、被測定物に対して接触子を安定に接触させることができ、被測定物を良好に測定することができる。
特に、接触子に上述した平面部や円弧部を設けた構成を採用した場合には、当該平面部や円弧部を被測定物に確実に接触させることができる。
本発明では、接触子が上述した挟持体本体に対して回転可能に支持されているので、被測定物に対して接触子を安定に接触させることができ、被測定物を良好に測定することができる。
特に、接触子に上述した平面部や円弧部を設けた構成を採用した場合には、当該平面部や円弧部を被測定物に確実に接触させることができる。
本発明の寸法測定器では、前記挟持体は、挟持体本体と、前記挟持体本体の一端及び他端にそれぞれ設けられた前記接触子及び前記保持部とを備え、前記挟持体本体は、前記他端から前記一端側に向けて直線状に延びる腕部を備え、前記接触子は、前記挟持体本体の一端において、前記腕部における前記直線状に延びる部位を仮想的に延長させた仮想線上からずれた位置に設けられていることが好ましい。
本発明では、接触子が上述した仮想線上からずれた位置に設けられているので、被測定物の寸法を測定する際に、腕部が被測定物に接触することなく、接触子を被測定物に接触させることができる。すなわち、測定可能とする被測定物の範囲が腕部によって制限されることがない。
本発明の寸法測定器では、各前記接触子は、前記一対の挟持体を側面から見た場合に、前記第１の回転軸に沿う方向の各中心が互いに一致するように設けられていることが好ましい。
本発明では、各接触子が一対の挟持体を側面から見た場合に上述したように設けられているので、一対の挟持体を相対的に回転させ、被測定物を各接触子で挟む等を行った際に、被測定物が各接触子からの押圧力によって回転等することがない。
すなわち、被測定物を各接触子で安定に挟む、あるいは、被測定物に形成された孔の内面に各接触子を安定に接触させることができ、被測定物における所望の部位間の寸法を良好に測定することができる。
本発明では、各接触子が一対の挟持体を側面から見た場合に上述したように設けられているので、一対の挟持体を相対的に回転させ、被測定物を各接触子で挟む等を行った際に、被測定物が各接触子からの押圧力によって回転等することがない。
すなわち、被測定物を各接触子で安定に挟む、あるいは、被測定物に形成された孔の内面に各接触子を安定に接触させることができ、被測定物における所望の部位間の寸法を良好に測定することができる。
本発明の寸法測定器では、前記一対の挟持体には、各前記接触子が互いに近接する方向、または互いに離間する方向に付勢する付勢部材が取り付けられていることが好ましい。
本発明では、一対の挟持体に上述した付勢部材が取り付けられているので、当該付勢部材により、接触子間を常時、閉じた状態、または、開いた状態に設定することができる。
このため、例えば、付勢部材が接触子間を常時、閉じた状態に設定するように構成されている場合には、以下の効果がある。
すなわち、使用者は、被測定物の外面寸法や外径寸法を測定する際、付勢部材の付勢力に抗して、各保持部が離間する（各接触子が離間する）ように操作して一対の挟持体を相対的に回転させる。
そして、使用者は、接触子間に被測定物を挿入し、上記操作を止める。一対の挟持体は付勢部材にて上述したように付勢されているため、上記操作を止めることで、各接触子にて被測定物が挟まれる。
この状態で、被測定物に対して寸法測定器を移動させれば（各接触子が被測定物の外面上を摺動するように寸法測定器を移動させれば）、一対の挟持体が付勢部材にて上述したように付勢されているため、各接触子は、被測定物の外面に倣うように近接隔離する。
したがって、被測定物における種々の場所での外面寸法や外径寸法を測定する際に、各保持部を近接隔離させる操作を不要とし、操作性を向上させることができる。
本発明では、一対の挟持体に上述した付勢部材が取り付けられているので、当該付勢部材により、接触子間を常時、閉じた状態、または、開いた状態に設定することができる。
このため、例えば、付勢部材が接触子間を常時、閉じた状態に設定するように構成されている場合には、以下の効果がある。
すなわち、使用者は、被測定物の外面寸法や外径寸法を測定する際、付勢部材の付勢力に抗して、各保持部が離間する（各接触子が離間する）ように操作して一対の挟持体を相対的に回転させる。
そして、使用者は、接触子間に被測定物を挿入し、上記操作を止める。一対の挟持体は付勢部材にて上述したように付勢されているため、上記操作を止めることで、各接触子にて被測定物が挟まれる。
この状態で、被測定物に対して寸法測定器を移動させれば（各接触子が被測定物の外面上を摺動するように寸法測定器を移動させれば）、一対の挟持体が付勢部材にて上述したように付勢されているため、各接触子は、被測定物の外面に倣うように近接隔離する。
したがって、被測定物における種々の場所での外面寸法や外径寸法を測定する際に、各保持部を近接隔離させる操作を不要とし、操作性を向上させることができる。
[第１実施形態]
以下、本発明の第１実施形態を図面に基づいて説明する。
〔寸法測定器の構成〕
図１は、第１実施形態における寸法測定器１の構成を示す模式図である。
寸法測定器１は、被測定物Ｗの寸法を測定する装置であり、図１に示すように、演算装置としてのＰＣ２と、インターフェースボックス３と、測定器本体４とを備える。
以下、本発明の第１実施形態を図面に基づいて説明する。
〔寸法測定器の構成〕
図１は、第１実施形態における寸法測定器１の構成を示す模式図である。
寸法測定器１は、被測定物Ｗの寸法を測定する装置であり、図１に示すように、演算装置としてのＰＣ２と、インターフェースボックス３と、測定器本体４とを備える。
〔測定器本体の構成〕
図２及び図３は、測定器本体４の構造を示す模式図である。具体的に、図２は測定器本体４の平面図であり、図３は測定器本体４の一部を破断した側面図である。
測定器本体４は、図２または図３に示すように、使用者にて一対の挟持体５，６の各保持部５３，６３が把持された状態で、各保持部５３，６３が近接隔離するように操作されることで、第１の回転軸７Ａを中心として一対の挟持体５，６が相対的に回転する所謂「鋏」と略同様の構造を有する。
なお、測定器本体４は、図２または図３に示すように、一対の挟持体５，６及び第１の回転軸７Ａの他、角度検出装置８も備える。
以下では、説明の便宜上、挟持体５を第１挟持体５、挟持体６を第２挟持体６とする。
図２及び図３は、測定器本体４の構造を示す模式図である。具体的に、図２は測定器本体４の平面図であり、図３は測定器本体４の一部を破断した側面図である。
測定器本体４は、図２または図３に示すように、使用者にて一対の挟持体５，６の各保持部５３，６３が把持された状態で、各保持部５３，６３が近接隔離するように操作されることで、第１の回転軸７Ａを中心として一対の挟持体５，６が相対的に回転する所謂「鋏」と略同様の構造を有する。
なお、測定器本体４は、図２または図３に示すように、一対の挟持体５，６及び第１の回転軸７Ａの他、角度検出装置８も備える。
以下では、説明の便宜上、挟持体５を第１挟持体５、挟持体６を第２挟持体６とする。
第１挟持体５は、図２または図３に示すように、第１挟持体本体５１と、第１接触子５２（図２）と、第１保持部５３とを備える。
第１挟持体本体５１は、第１腕部５１１と、センサ収納部５１２とを備える。
第１腕部５１１は、図２に示すように、第１保持部５３が設けられた他端から、第１接触子５２が設けられた一端側に向けて直線状に延びるとともに、一端側において、後述の第２接触子６２側に折れ曲がって延びるように形成されている。
センサ収納部５１２は、第１腕部５１１の略中央位置に一体形成されたものであり、角度検出装置８を構成する後述の検出センサ８２が収納される部分である。
第１挟持体本体５１は、第１腕部５１１と、センサ収納部５１２とを備える。
第１腕部５１１は、図２に示すように、第１保持部５３が設けられた他端から、第１接触子５２が設けられた一端側に向けて直線状に延びるとともに、一端側において、後述の第２接触子６２側に折れ曲がって延びるように形成されている。
センサ収納部５１２は、第１腕部５１１の略中央位置に一体形成されたものであり、角度検出装置８を構成する後述の検出センサ８２が収納される部分である。
図４は、第１，第２接触子５２，６２の構造を示す模式図である。具体的に、図４（Ａ）は第１接触子５２の構造を示す図であり、図４（Ｂ）は第２接触子６２の構造を示す図である。
第１接触子５２は、軸方向が第１の回転軸７Ａと平行する略円筒状に形成され、測定器本体４の使用時に被測定物Ｗに接触する部位である。
この第１接触子５２において、図２中、第２挟持体６（第２接触子６２）に近接する側には、図２または図４（Ａ）に示すように、平坦状の第１平面部５２Ａが設けられている。
また、第１接触子５２において、図２中、第２挟持体６（第２接触子６２）から離間する側には、図２または図４（Ａ）に示すように、第１の回転軸７Ａに沿う方向から見て直線状に延び、第１の回転軸７Ａに沿う方向に円弧形状を有する第１円弧部５２Ｂが設けられている。
第１接触子５２は、軸方向が第１の回転軸７Ａと平行する略円筒状に形成され、測定器本体４の使用時に被測定物Ｗに接触する部位である。
この第１接触子５２において、図２中、第２挟持体６（第２接触子６２）に近接する側には、図２または図４（Ａ）に示すように、平坦状の第１平面部５２Ａが設けられている。
また、第１接触子５２において、図２中、第２挟持体６（第２接触子６２）から離間する側には、図２または図４（Ａ）に示すように、第１の回転軸７Ａに沿う方向から見て直線状に延び、第１の回転軸７Ａに沿う方向に円弧形状を有する第１円弧部５２Ｂが設けられている。
上述した第１接触子５２は、第１腕部５１１に対して、以下に示すように、取り付けられている。
すなわち、第１腕部５１１の一端側には、図２または図３に示すように、第１の回転軸７Ａに平行する円柱状の第２の回転軸９Ａが固定されている。
また、第１接触子５２の内部には、図４（Ａ）に示すように、第２の回転軸９Ａを支える第２の軸受９Ｂが取り付けられている。
ここで、第２の軸受９Ｂは、図４（Ａ）に示すように、転がり軸受で構成されている。
すなわち、第１腕部５１１の一端側には、図２または図３に示すように、第１の回転軸７Ａに平行する円柱状の第２の回転軸９Ａが固定されている。
また、第１接触子５２の内部には、図４（Ａ）に示すように、第２の回転軸９Ａを支える第２の軸受９Ｂが取り付けられている。
ここで、第２の軸受９Ｂは、図４（Ａ）に示すように、転がり軸受で構成されている。
そして、第１接触子５２は、第２の回転軸９Ａ及び第２の軸受９Ｂを介して、第１腕部５１１に対して図２中、紙面奥側（図３中、下側）にずれた位置に取り付けられるとともに、第１腕部５１１に対して回転可能に取り付けられている。
なお、第１腕部５１１が上述した形状を有していることから、第１接触子５２は、図２に示すように、第１腕部５１１における他端から一端側に向けて直線状に延びる部位を仮想的に延長させた仮想線ＶＬからずれた位置（第２接触子６２側にずれた位置）に位置付けられることとなる。
なお、第１腕部５１１が上述した形状を有していることから、第１接触子５２は、図２に示すように、第１腕部５１１における他端から一端側に向けて直線状に延びる部位を仮想的に延長させた仮想線ＶＬからずれた位置（第２接触子６２側にずれた位置）に位置付けられることとなる。
第１保持部５３は、使用者が測定器本体４を把持する部分であり、使用者の手の指を挿入可能とする第１孔５３Ａが設けられている。
そして、第１保持部５３は、第１腕部５１１の他端において、第１腕部５１１に対して図２中、紙面奥側（図３中、下側）にずれた位置に取り付けられている。
そして、第１保持部５３は、第１腕部５１１の他端において、第１腕部５１１に対して図２中、紙面奥側（図３中、下側）にずれた位置に取り付けられている。
第２挟持体６は、図２または図３に示すように、第１の回転軸７Ａに直交する平面（図２の紙面に平行する平面）を基準として、第１挟持体５を反転させた構造と略同様のものであり、センサ収納部５１２の代わりに目盛基板取付部６１２が設けられている点が異なるのみである。
なお、第２挟持体６の構成については、第１挟持体５の構成に対して、序数を「第１」から「第２」に変更し、符号の「５」を「６」に変更したものとする。例えば、第２挟持体６において、第１挟持体５の第１挟持体本体５１に対応する構成は、第２挟持体本体６１である。他も同様である。
なお、第２挟持体６の構成については、第１挟持体５の構成に対して、序数を「第１」から「第２」に変更し、符号の「５」を「６」に変更したものとする。例えば、第２挟持体６において、第１挟持体５の第１挟持体本体５１に対応する構成は、第２挟持体本体６１である。他も同様である。
そして、第１，第２挟持体５，６を上述したように形成することで、第１，第２接触子５２，６２は、測定器本体４を側面から見た場合に、図３に示すように、第１の回転軸７Ａに沿う方向の各中心軸Ｏｃ１が互いに一致するように設けられる。
すなわち、第１，第２接触子５２，６２が近接するように第１，第２挟持体５，６を回転させると、第１，第２接触子５２，６２は互いに接触することとなる。
なお、第１，第２保持部５３，６３も同様である。
目盛基板取付部６１２は、軸方向が第１の回転軸７Ａと平行する略円筒状に形成され、第２腕部６１１の略中央位置に一体形成されている。
そして、目盛基板取付部６１２には、角度検出装置８を構成する後述の目盛基板８１が取り付けられる。
すなわち、第１，第２接触子５２，６２が近接するように第１，第２挟持体５，６を回転させると、第１，第２接触子５２，６２は互いに接触することとなる。
なお、第１，第２保持部５３，６３も同様である。
目盛基板取付部６１２は、軸方向が第１の回転軸７Ａと平行する略円筒状に形成され、第２腕部６１１の略中央位置に一体形成されている。
そして、目盛基板取付部６１２には、角度検出装置８を構成する後述の目盛基板８１が取り付けられる。
上述した第２挟持体６は、第１挟持体５に対して、以下に示すように、取り付けられている。
第１の回転軸７Ａは、軸方向が図２中、紙面に直交する方向となる円柱形状を有し、第１挟持体本体５１（センサ収納部５１２）に固定されている。
また、目盛基板取付部６１２の内部には、図３に示すように、第１の回転軸７Ａを支える第１の軸受７Ｂが取り付けられている。
ここで、第１の軸受７Ｂは、第２の軸受９Ｂと同様に、転がり軸受で構成されている。
そして、第２挟持体６は、第１腕部５１１に対して第２腕部６１１が図２中、紙面奥側（図３中、下側）に位置付けられた状態で、第１の回転軸７Ａ及び第１の軸受７Ｂを介して、第１挟持体５に対して回転可能に取り付けられている。
第１の回転軸７Ａは、軸方向が図２中、紙面に直交する方向となる円柱形状を有し、第１挟持体本体５１（センサ収納部５１２）に固定されている。
また、目盛基板取付部６１２の内部には、図３に示すように、第１の回転軸７Ａを支える第１の軸受７Ｂが取り付けられている。
ここで、第１の軸受７Ｂは、第２の軸受９Ｂと同様に、転がり軸受で構成されている。
そして、第２挟持体６は、第１腕部５１１に対して第２腕部６１１が図２中、紙面奥側（図３中、下側）に位置付けられた状態で、第１の回転軸７Ａ及び第１の軸受７Ｂを介して、第１挟持体５に対して回転可能に取り付けられている。
角度検出装置８は、ロータリーエンコーダで構成され、第１，第２挟持体５，６の相対的な回転角を検出するものであり、図２または図３に示すように、目盛基板８１と、検出センサ８２とを備える。
目盛基板８１は、目盛パターン８１Ａ（図２）が形成された板体であり、目盛基板取付部６１２における図２中、紙面手前側（図３中、上側）の端面に取り付けられている。
すなわち、目盛基板８１は、第２挟持体６とともに第１の回転軸７Ａを中心として回転することとなる。
目盛パターン８１Ａは、具体的な図示は省略するが、第１の回転軸７Ａの中心位置Ｏから放射状に延びる微細な目盛線で構成されている。
なお、本実施形態では、目盛パターン８１Ａは、図２に示すように、第１の回転軸７Ａの中心位置Ｏを中心とする回転方向に延びる部分的な円弧状パターンに形成されている。
目盛基板８１は、目盛パターン８１Ａ（図２）が形成された板体であり、目盛基板取付部６１２における図２中、紙面手前側（図３中、上側）の端面に取り付けられている。
すなわち、目盛基板８１は、第２挟持体６とともに第１の回転軸７Ａを中心として回転することとなる。
目盛パターン８１Ａは、具体的な図示は省略するが、第１の回転軸７Ａの中心位置Ｏから放射状に延びる微細な目盛線で構成されている。
なお、本実施形態では、目盛パターン８１Ａは、図２に示すように、第１の回転軸７Ａの中心位置Ｏを中心とする回転方向に延びる部分的な円弧状パターンに形成されている。
検出センサ８２は、図３に示すように、目盛パターン８１Ａに対向した状態で、センサ収納部５１２に収納されている。
すなわち、検出センサ８２は、第１挟持体５とともに第１の回転軸７Ａを中心として回転することとなる。
そして、検出センサ８２は、第１，第２挟持体５，６の回転に伴って検出センサ８２を通過する目盛線に対応した検出信号を出力する。
すなわち、検出センサ８２は、第１挟持体５とともに第１の回転軸７Ａを中心として回転することとなる。
そして、検出センサ８２は、第１，第２挟持体５，６の回転に伴って検出センサ８２を通過する目盛線に対応した検出信号を出力する。
〔インターフェースボックスの構成〕
インターフェースボックス３は、ケーブルを介してＰＣ２及び検出センサ８２間に接続され、検出センサ８２に電力を供給するとともに、検出センサ８２から出力された検出信号を処理する。
具体的に、インターフェースボックス３は、検出センサ８２から出力された検出信号（正弦波信号）に対して内挿分割処理を施し、パルス列（方形波）をＰＣ２に出力する。
インターフェースボックス３は、ケーブルを介してＰＣ２及び検出センサ８２間に接続され、検出センサ８２に電力を供給するとともに、検出センサ８２から出力された検出信号を処理する。
具体的に、インターフェースボックス３は、検出センサ８２から出力された検出信号（正弦波信号）に対して内挿分割処理を施し、パルス列（方形波）をＰＣ２に出力する。
〔ＰＣの構成〕
ＰＣ２は、ＣＰＵ(Central Processing Unit)及びハードディスク等を備えたパーソナルコンピュータで構成され、インターフェースボックス３から出力されたパルス列を計数し、当該計数値に応じた第１，第２挟持体５，６の相対的な回転角２θを算出する。
そして、ＰＣ２は、算出した回転角２θに基づいて、被測定物Ｗの寸法Ｌを演算し、当該寸法Ｌを適宜、ディスプレイ等の表示部に表示させる。
ＰＣ２は、ＣＰＵ(Central Processing Unit)及びハードディスク等を備えたパーソナルコンピュータで構成され、インターフェースボックス３から出力されたパルス列を計数し、当該計数値に応じた第１，第２挟持体５，６の相対的な回転角２θを算出する。
そして、ＰＣ２は、算出した回転角２θに基づいて、被測定物Ｗの寸法Ｌを演算し、当該寸法Ｌを適宜、ディスプレイ等の表示部に表示させる。
次に、被測定物Ｗの寸法Ｌの測定原理について説明する。
図５ないし図８は、被測定物Ｗの寸法の測定原理を示す図である。
なお、図５において、Ｏは、第１の回転軸７Ａの中心位置（平面視（図２の状態）での中心位置）とする。また、Ａ，Ｂは、第１，第２接触子５２，６２の中心位置（平面視（図２の状態）での中心位置）とする。さらに、２θは、角度検出装置８から出力される検出信号に基づく第１，第２挟持体５，６の相対的な回転角とする。
そして、中心位置Ａ，Ｂ間の距離Ｌｏは、図５に示すように、中心位置Ｏと中心位置Ａ，Ｂとの各距離Ｒ、及び回転角θを用いて、以下の式（１）で表すことができる。
図５ないし図８は、被測定物Ｗの寸法の測定原理を示す図である。
なお、図５において、Ｏは、第１の回転軸７Ａの中心位置（平面視（図２の状態）での中心位置）とする。また、Ａ，Ｂは、第１，第２接触子５２，６２の中心位置（平面視（図２の状態）での中心位置）とする。さらに、２θは、角度検出装置８から出力される検出信号に基づく第１，第２挟持体５，６の相対的な回転角とする。
そして、中心位置Ａ，Ｂ間の距離Ｌｏは、図５に示すように、中心位置Ｏと中心位置Ａ，Ｂとの各距離Ｒ、及び回転角θを用いて、以下の式（１）で表すことができる。
〔数１〕
式（１）に示すように、距離Ｌｏは、回転角θに基づく正弦関数（sinθ）で与えられるものである。
しかし、第１実施形態では、被測定物Ｗの寸法Ｌに対応した距離Ｌｏを一定の長さまでに制限して、距離Ｌｏとsinθの三次近似曲線との比例関係を利用する。
具体的に、距離Ｌｏを一定の長さまでに制限するとき、sinθの三次近似曲線にあてはめるならば、以下の式（２）が与えられる。
しかし、第１実施形態では、被測定物Ｗの寸法Ｌに対応した距離Ｌｏを一定の長さまでに制限して、距離Ｌｏとsinθの三次近似曲線との比例関係を利用する。
具体的に、距離Ｌｏを一定の長さまでに制限するとき、sinθの三次近似曲線にあてはめるならば、以下の式（２）が与えられる。
〔数２〕
そして、sinθの代わりに式（２）を用いて、式（１）を書き換えれば、以下の式（３）が得られる。
〔数３〕
すなわち、距離Ｌｏは、sinθの三次近似曲線との比例関係で表せる。
第１実施形態はこのsinθの三次近似曲線を利用して距離Ｌｏを算出するもので、実際、sinθと式（２）との差を極めて小さくすることができる。
因みに、sinθとその三次近似曲線との差分ΔＬｏは、図６に示すように、θをθ=π／１２（距離Ｌｏで約３６mm）までに制限した場合、Ｒ＝７０mmとして高々ΔＬｏ＝±０．０４μｍと計算される。この値は、式（１）で距離Ｌｏを求めるために用いたθによって、式（３）の係数α、β、γ及びδを最小二乗法で決定し、両者の距離Ｌｏの差の最大値を表したものである。
実用的には本発明の測定器の製造誤差もあるので、式（３）の各係数は、本発明の寸法測定器でゲージブロックを測った場合のデータに基づき、最小二乗法で決定することもできる。
第１実施形態はこのsinθの三次近似曲線を利用して距離Ｌｏを算出するもので、実際、sinθと式（２）との差を極めて小さくすることができる。
因みに、sinθとその三次近似曲線との差分ΔＬｏは、図６に示すように、θをθ=π／１２（距離Ｌｏで約３６mm）までに制限した場合、Ｒ＝７０mmとして高々ΔＬｏ＝±０．０４μｍと計算される。この値は、式（１）で距離Ｌｏを求めるために用いたθによって、式（３）の係数α、β、γ及びδを最小二乗法で決定し、両者の距離Ｌｏの差の最大値を表したものである。
実用的には本発明の測定器の製造誤差もあるので、式（３）の各係数は、本発明の寸法測定器でゲージブロックを測った場合のデータに基づき、最小二乗法で決定することもできる。
そして、被測定物Ｗの外面寸法Ｌを測定する際には、中心位置Ａ，Ｂと第１，第２平面部５２Ａ，６２Ａ（第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂ）との距離をそれぞれｒとした場合、図７に示すように、距離Ｌｏは、被測定物Ｗの外面寸法Ｌよりも２ｒだけ長いものとなる。
このため、被測定物Ｗの外面寸法Ｌは、以下の式（４）で表すことができる。
このため、被測定物Ｗの外面寸法Ｌは、以下の式（４）で表すことができる。
〔数４〕
同様に、被測定物Ｗの内面寸法を測定する際には、図８に示すように、距離Ｌｏは、被測定物Ｗの内面寸法Ｌよりも２ｒだけ短いものとなる。
このため、被測定物Ｗの内面寸法Ｌは、以下の式（５）で表すことができる。
このため、被測定物Ｗの内面寸法Ｌは、以下の式（５）で表すことができる。
〔数５〕
そして、ＰＣ２は、被測定物Ｗの外面寸法Ｌの測定であれば式（４）を用い、被測定物Ｗの内面寸法Ｌの測定であれば式（５）を用いて、被測定物Ｗの寸法Ｌを算出する。
なお、被測定物Ｗの外面寸法Ｌの測定であるか、あるいは、内面寸法Ｌの測定であるかについては、例えば、使用者がマウスやキーボード等の入力手段を用いて外面寸法Ｌの測定または内面寸法Ｌの測定である旨の情報を入力することで、ＰＣ２が当該情報を把握する構成が例示できる。
なお、被測定物Ｗの外面寸法Ｌの測定であるか、あるいは、内面寸法Ｌの測定であるかについては、例えば、使用者がマウスやキーボード等の入力手段を用いて外面寸法Ｌの測定または内面寸法Ｌの測定である旨の情報を入力することで、ＰＣ２が当該情報を把握する構成が例示できる。
なお、距離Ｒや距離ｒの寸法には、製造誤差があり、設計値通りに仕上がっていない恐れがある。
このような場合を想定して、以下のように式（４）で算出する各寸法を校正することができる。
すなわち、予め、複数のゲージブロックを用いて外面寸法の測定を行い、複数のゲージブロックの実際の各寸法と式（４）で算出された各寸法Ｌとに基づいて、式（４）で算出された各寸法Ｌの校正値を算出しておく。
そして、ＰＣ２は、実際の測定において、校正値に基づいて、式（４）で算出した寸法Ｌを校正した状態で出力する。
なお、内面寸法Ｌの測定でも同様である。
このような場合を想定して、以下のように式（４）で算出する各寸法を校正することができる。
すなわち、予め、複数のゲージブロックを用いて外面寸法の測定を行い、複数のゲージブロックの実際の各寸法と式（４）で算出された各寸法Ｌとに基づいて、式（４）で算出された各寸法Ｌの校正値を算出しておく。
そして、ＰＣ２は、実際の測定において、校正値に基づいて、式（４）で算出した寸法Ｌを校正した状態で出力する。
なお、内面寸法Ｌの測定でも同様である。
上述した第１実施形態によれば、以下の効果がある。
本実施形態では、寸法測定器１は、第１，第２挟持体５，６及び第１の回転軸７Ａを備え、所謂「鋏」と略同様の構造を有する。
そして、寸法測定器１は、第１，第２挟持体５，６及び第１の回転軸７Ａの他、角度検出装置８及びＰＣ２を備える。
本実施形態では、寸法測定器１は、第１，第２挟持体５，６及び第１の回転軸７Ａを備え、所謂「鋏」と略同様の構造を有する。
そして、寸法測定器１は、第１，第２挟持体５，６及び第１の回転軸７Ａの他、角度検出装置８及びＰＣ２を備える。
このことにより、第１，第２挟持体５，６を相対的に回転させ、被測定物Ｗを第１，第２接触子５２，６２で挟む、あるいは、被測定物Ｗに形成された孔の内面に第１，第２接触子５２，６２を接触させれば、第１，第２挟持体５，６の相対的な回転角２θに基づいて、被測定物Ｗの寸法Ｌを演算することができる。
したがって、所謂「鋏」と同様の操作を行うことで被測定物Ｗの寸法Ｌを測定することができるので、取り扱いに不慣れな使用者であっても被測定物Ｗの寸法Ｌを容易に測定することができる。すなわち、現在のノギスやマイクロメータよりも測定時間を短縮することができ、疲れにくく、かつ使い勝手の良い寸法測定器１を実現することができる。
したがって、所謂「鋏」と同様の操作を行うことで被測定物Ｗの寸法Ｌを測定することができるので、取り扱いに不慣れな使用者であっても被測定物Ｗの寸法Ｌを容易に測定することができる。すなわち、現在のノギスやマイクロメータよりも測定時間を短縮することができ、疲れにくく、かつ使い勝手の良い寸法測定器１を実現することができる。
また、ＰＣ２は、距離Ｌｏとsinθの三次近似曲線との比例関係を用いて、被測定物Ｗの寸法Ｌを演算する。
このことにより、通常、距離Ｌｏは、回転角θに基づく正弦関数で与えられる（式（１））ところ、当該正弦関数を用いなくてもsinθの三次近似曲線で、被測定物Ｗの寸法Ｌに応じた距離Ｌｏを十分な精度で算出することができる。
したがって、ＰＣ２での処理構造を簡素化することができる。
このことにより、通常、距離Ｌｏは、回転角θに基づく正弦関数で与えられる（式（１））ところ、当該正弦関数を用いなくてもsinθの三次近似曲線で、被測定物Ｗの寸法Ｌに応じた距離Ｌｏを十分な精度で算出することができる。
したがって、ＰＣ２での処理構造を簡素化することができる。
さらに、角度検出装置８は、目盛基板８１及び検出センサ８２を備えたロータリーエンコーダで構成されている。
ところで、本実施形態の寸法測定器１は、上述したように所謂「鋏」と同様の操作を行うことで、第１，第２挟持体５，６を相対的に回転させる構成である。すなわち、第１，第２挟持体５，６の相対的な回転角２θは、使用者の手の大きさに応じた角度である。
このため、当該回転角２θを検出するための目盛パターン８１Ａとしては、第１の回転軸７Ａを中心とする回転方向に沿う全周分を必要とせず、第１の回転軸７Ａを中心とする回転方向に沿って延びる円弧状に形成することができる。
ところで、本実施形態の寸法測定器１は、上述したように所謂「鋏」と同様の操作を行うことで、第１，第２挟持体５，６を相対的に回転させる構成である。すなわち、第１，第２挟持体５，６の相対的な回転角２θは、使用者の手の大きさに応じた角度である。
このため、当該回転角２θを検出するための目盛パターン８１Ａとしては、第１の回転軸７Ａを中心とする回転方向に沿う全周分を必要とせず、第１の回転軸７Ａを中心とする回転方向に沿って延びる円弧状に形成することができる。
また、第１，第２挟持体５，６は、第１の回転軸７Ａ及び第１の軸受７Ｂを介して相対的に回転可能に接続されている。
このことにより、被測定物Ｗの寸法Ｌを測定するにあたって、第１，第２挟持体５，６をガタなく円滑に回転させることができ、安定した測定を実現することができる。
このことにより、被測定物Ｗの寸法Ｌを測定するにあたって、第１，第２挟持体５，６をガタなく円滑に回転させることができ、安定した測定を実現することができる。
さらに、第１，第２接触子５２，６２に第１，第２平面部５２Ａ，６２Ａが設けられているので、例えば、平坦状の外面や内面を有する被測定物Ｗの外面を第１，第２接触子５２，６２で安定に挟む、あるいは、当該被測定物Ｗの内面に第１，第２接触子５２，６２を安定に接触させることができ、被測定物Ｗの外面寸法Ｌや内面寸法Ｌを安定に測定することができる。
また、第１，第２接触子５２，６２に第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂが設けられているので、例えば、円筒状の被測定物Ｗの内面に対して当該円弧部５２Ｂ，６２Ｂを線接触させることが可能となり、被測定物Ｗの内径寸法Ｌを良好に測定することができる。
本実施形態では、第１，第２接触子５２，６２に第１，第２平面部５２Ａ，６２Ａ及び第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂの双方が設けられているので、種々の形状の被測定物Ｗの寸法Ｌを測定することができる。
また、第１，第２接触子５２，６２に第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂが設けられているので、例えば、円筒状の被測定物Ｗの内面に対して当該円弧部５２Ｂ，６２Ｂを線接触させることが可能となり、被測定物Ｗの内径寸法Ｌを良好に測定することができる。
本実施形態では、第１，第２接触子５２，６２に第１，第２平面部５２Ａ，６２Ａ及び第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂの双方が設けられているので、種々の形状の被測定物Ｗの寸法Ｌを測定することができる。
さらに、第１，第２接触子５２，６２が第１，第２挟持体本体５１，６１に対して回転可能に支持されているので、被測定物Ｗに対して第１，第２接触子５２，６２を安定に接触させることができ、被測定物Ｗを良好に測定することができる。
特に、本実施形態のように第１，第２接触子５２，６２に第１，第２平面部５２Ａ，６２Ａや第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂを設けた構成を採用した場合には、当該平面部５２Ａ，６２Ａや円弧部５２Ｂ，６２Ｂを被測定物Ｗに確実に接触させることができる。
特に、本実施形態のように第１，第２接触子５２，６２に第１，第２平面部５２Ａ，６２Ａや第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂを設けた構成を採用した場合には、当該平面部５２Ａ，６２Ａや円弧部５２Ｂ，６２Ｂを被測定物Ｗに確実に接触させることができる。
また、第１，第２接触子５２，６２が仮想線ＶＬ上からずれた位置に設けられているので、被測定物Ｗの寸法Ｌを測定する際に、第１，第２腕部５１１，６１１が被測定物Ｗに接触することなく、第１，第２接触子５２，６２を被測定物Ｗに接触させることができる。すなわち、測定可能とする被測定物Ｗの範囲が第１，第２腕部５１１，６１１によって制限されることがない。
さらに、測定器本体４を側面から見た場合に第１，第２接触子５２，６２の各中心軸Ｏｃ１が互いに一致するように設けられているので、第１，第２挟持体５，６を相対的に回転させ、被測定物Ｗを第１，第２接触子５２，６２で挟む等を行った際に、被測定物Ｗが第１，第２接触子５２，６２からの押圧力によって回転等することがない。
すなわち、被測定物Ｗを第１，第２接触子５２，６２で安定に挟む、あるいは、被測定物Ｗに形成された孔の内面に第１，第２接触子５２，６２を安定に接触させることができ、被測定物Ｗにおける所望の部位間の寸法を良好に測定することができる。
すなわち、被測定物Ｗを第１，第２接触子５２，６２で安定に挟む、あるいは、被測定物Ｗに形成された孔の内面に第１，第２接触子５２，６２を安定に接触させることができ、被測定物Ｗにおける所望の部位間の寸法を良好に測定することができる。
[第２実施形態]
次に、本発明の第２実施形態について説明する。
なお、以下では、前記第１実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、その詳細な説明については省略する。以下に記載する第３〜第５実施形態でも同様である。
図９は、第２実施形態における第１，第２接触子５２，６２の構造を示す模式図である。具体的に、図９（Ａ）は第１接触子５２の構造を示す図であり、図９（Ｂ）は第２接触子６２の構造を示す図である。
第２実施形態では、図９に示すように、前記第１実施形態に対して、第２の軸受９Ｂが省略された点、及び第１，第２接触子５２，６２の構造が異なるのみである。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
次に、本発明の第２実施形態について説明する。
なお、以下では、前記第１実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、その詳細な説明については省略する。以下に記載する第３〜第５実施形態でも同様である。
図９は、第２実施形態における第１，第２接触子５２，６２の構造を示す模式図である。具体的に、図９（Ａ）は第１接触子５２の構造を示す図であり、図９（Ｂ）は第２接触子６２の構造を示す図である。
第２実施形態では、図９に示すように、前記第１実施形態に対して、第２の軸受９Ｂが省略された点、及び第１，第２接触子５２，６２の構造が異なるのみである。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
具体的に、第２実施形態における第１，第２接触子５２，６２は、図９に示すように、前記第１実施形態で説明した第１，第２平面部５２Ａ，６２Ａが設けられておらず、略円筒状に形成されている。
また、第２実施形態における第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂは、図９に示すように、第１，第２接触子５２，６２の円周部分のうち、半円abc部分に設けられている。
すなわち、第２実施形態における第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂは、第１の回転軸７Ａに沿う方向から見て円弧状に延び、第１の回転軸７Ａに沿う方向に円弧形状を有する。
また、第２実施形態では、第１，第２接触子５２，６２は、前記第１実施形態で説明した第２の軸受９Ｂが組み込まれず、直接、第２の回転軸９Ａに固定される。この場合、第２の回転軸９Ａは、第１，第２挟持体本体５１，６１に固定されている軸であるから、単に第１，第２接触子５２，６２を固定する軸としての役割を果たす。
また、第２実施形態における第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂは、図９に示すように、第１，第２接触子５２，６２の円周部分のうち、半円abc部分に設けられている。
すなわち、第２実施形態における第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂは、第１の回転軸７Ａに沿う方向から見て円弧状に延び、第１の回転軸７Ａに沿う方向に円弧形状を有する。
また、第２実施形態では、第１，第２接触子５２，６２は、前記第１実施形態で説明した第２の軸受９Ｂが組み込まれず、直接、第２の回転軸９Ａに固定される。この場合、第２の回転軸９Ａは、第１，第２挟持体本体５１，６１に固定されている軸であるから、単に第１，第２接触子５２，６２を固定する軸としての役割を果たす。
上述した第２実施形態によれば、前記第１実施形態と同様の効果の他、以下の効果がある。
本実施形態では、第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂが第１の回転軸７Ａに沿う方向から見て円弧状に延び、第１の回転軸７Ａに沿う方向に円弧形状を有するので、例えば、円筒状の被測定物Ｗの内面に対して当該円弧部５２Ｂ，６２Ｂを点接触させることが可能となり、被測定物Ｗの内径寸法Ｌを良好に測定することができる。
本実施形態では、第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂが第１の回転軸７Ａに沿う方向から見て円弧状に延び、第１の回転軸７Ａに沿う方向に円弧形状を有するので、例えば、円筒状の被測定物Ｗの内面に対して当該円弧部５２Ｂ，６２Ｂを点接触させることが可能となり、被測定物Ｗの内径寸法Ｌを良好に測定することができる。
また、第１，第２接触子５２，６２の円周部分のうち、第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂを除く半円cda部分（図９）は、円筒の側面として構成されている。
このことにより、例えば、平坦状の外面や内面を有する被測定物Ｗの外面を第１，第２接触子５２，６２の半円cda部分で安定に挟む、あるいは、当該被測定物Ｗの内面に第１，第２接触子５２，６２の半円cda部分を安定に接触させることができ、被測定物Ｗの外面寸法や内面寸法を安定に測定することができる。
このことにより、例えば、平坦状の外面や内面を有する被測定物Ｗの外面を第１，第２接触子５２，６２の半円cda部分で安定に挟む、あるいは、当該被測定物Ｗの内面に第１，第２接触子５２，６２の半円cda部分を安定に接触させることができ、被測定物Ｗの外面寸法や内面寸法を安定に測定することができる。
さらに、前記第１実施形態で説明した第１，第２平面部５２Ａ，６２Ａを設ける必要がない。また、第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂを前記第１実施形態で説明した第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂのように第１の回転軸７Ａに沿う方向から見て直線状に延びるように形成する必要もない。さらに、第２の軸受９Ｂを設ける必要もない。
このため、製造コストを低減することができる。
このため、製造コストを低減することができる。
[第３実施形態]
次に、本発明の第３実施形態について説明する。
図１０は、第３実施形態における第１，第２接触子５２，６２の構造を示す模式図である。具体的に、図１０（Ａ）は第１接触子５２の構造を示す図であり、図１０（Ｂ）は第２接触子６２の構造を示す図である。
第３実施形態では、図１０に示すように、前記第１実施形態に対して、前記第２実施形態と同様に第２の軸受９Ｂが省略された点、及び第１，第２接触子５２，６２の構造が異なるのみである。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
次に、本発明の第３実施形態について説明する。
図１０は、第３実施形態における第１，第２接触子５２，６２の構造を示す模式図である。具体的に、図１０（Ａ）は第１接触子５２の構造を示す図であり、図１０（Ｂ）は第２接触子６２の構造を示す図である。
第３実施形態では、図１０に示すように、前記第１実施形態に対して、前記第２実施形態と同様に第２の軸受９Ｂが省略された点、及び第１，第２接触子５２，６２の構造が異なるのみである。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
具体的に、第３実施形態における第１，第２接触子５２，６２は、図１０に示すように、前記第１実施形態で説明した第１，第２平面部５２Ａ，６２Ａが設けられておらず、略円筒状に形成されている。
撚り具体的に、第１，第２接触子５２，６２は、外周に向うにしたがって断面積が小さくなるテーパ形状を有する算盤珠状に形成されている。
すなわち、第２実施形態における第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂは、第１，第２接触子５２，６２の円周部分の全体に亘って形成されている。
撚り具体的に、第１，第２接触子５２，６２は、外周に向うにしたがって断面積が小さくなるテーパ形状を有する算盤珠状に形成されている。
すなわち、第２実施形態における第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂは、第１，第２接触子５２，６２の円周部分の全体に亘って形成されている。
上述した第３実施形態によれば、前記第１実施形態と同様の効果の他、以下の効果がある。
本実施形態では、第１，第２接触子５２，６２に上述した第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂが設けられているので、第１，第２接触子５２，６２を被測定物Ｗに接触させることで、例えば、テーパ加工された被測定物における軸方向の所定の場所での外面寸法や外径寸法、あるいは内面寸法や内径寸法を良好に測定することができる。
本実施形態では、第１，第２接触子５２，６２に上述した第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂが設けられているので、第１，第２接触子５２，６２を被測定物Ｗに接触させることで、例えば、テーパ加工された被測定物における軸方向の所定の場所での外面寸法や外径寸法、あるいは内面寸法や内径寸法を良好に測定することができる。
[第４実施形態]
次に、本発明の第４実施形態について説明する。
前記第１実施形態では、ＰＣ２は、式（４）または式（５）により、すなわち、距離Ｌｏとsinθの三次近似曲線との比例関係（式（３））を用いて、被測定物Ｗの外面寸法Ｌまたは内面寸法Ｌを演算していた。
これに対して、第４実施形態では、ＰＣ２は、回転角θに基づく正弦関数（式（１））を用いて、被測定物Ｗの外面寸法Ｌまたは内面寸法Ｌを演算する。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
すなわち、第４実施形態におけるＰＣ２は、式（１）を用いて、被測定物Ｗの外面寸法Ｌの測定の場合には以下の式（６）により、被測定物Ｗの内面寸法Ｌの測定の場合には以下の式（７）により、被測定物Ｗの寸法Ｌを演算する。
次に、本発明の第４実施形態について説明する。
前記第１実施形態では、ＰＣ２は、式（４）または式（５）により、すなわち、距離Ｌｏとsinθの三次近似曲線との比例関係（式（３））を用いて、被測定物Ｗの外面寸法Ｌまたは内面寸法Ｌを演算していた。
これに対して、第４実施形態では、ＰＣ２は、回転角θに基づく正弦関数（式（１））を用いて、被測定物Ｗの外面寸法Ｌまたは内面寸法Ｌを演算する。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
すなわち、第４実施形態におけるＰＣ２は、式（１）を用いて、被測定物Ｗの外面寸法Ｌの測定の場合には以下の式（６）により、被測定物Ｗの内面寸法Ｌの測定の場合には以下の式（７）により、被測定物Ｗの寸法Ｌを演算する。
〔数６〕
〔数７〕
上述した第４実施形態のように回転角θに基づく正弦関数を用いて被測定物Ｗの寸法Ｌを演算する構成を採用した場合であっても、前記第１実施形態と同様の作用及び効果を享受できる。
[第５実施形態]
次に、本発明の第５実施形態について説明する。
第５実施形態では、前記第１実施形態に対して、ＰＣ２の構成が異なるのみである。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
具体的に、第５実施形態におけるＰＣ２は、外面寸法や内面寸法を測定する際、複数回の測定により演算した各寸法Ｌの最小値を保持しながら、当該最小値をディスプレイ等の表示部に表示させる。
また、第５実施形態におけるＰＣ２は、外径寸法や内径寸法を測定する際、複数回の測定により演算した各寸法Ｌの最大値を保持しながら、当該最大値をディスプレイ等の表示部に表示させる。
次に、本発明の第５実施形態について説明する。
第５実施形態では、前記第１実施形態に対して、ＰＣ２の構成が異なるのみである。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
具体的に、第５実施形態におけるＰＣ２は、外面寸法や内面寸法を測定する際、複数回の測定により演算した各寸法Ｌの最小値を保持しながら、当該最小値をディスプレイ等の表示部に表示させる。
また、第５実施形態におけるＰＣ２は、外径寸法や内径寸法を測定する際、複数回の測定により演算した各寸法Ｌの最大値を保持しながら、当該最大値をディスプレイ等の表示部に表示させる。
上述した第５実施形態によれば、前記第１実施形態と同様の効果の他、以下の効果がある。
図１１は、アライメント誤差を説明するための図である。
例えば、被測定物Ｗの外面寸法や内面寸法を測定する際、図１１に示すように、中心位置Ａ，Ｂを結ぶ直線Ｌａｂが被測定物Ｗの外面や内面に対して正しく直角を成していない場合（外面や内面の法線ｎと平行でない場合）には、演算した寸法Ｌは、誤差（アライメント誤差）を含んだ値となり、正しい寸法Ｓよりもアライメント誤差分だけ長いものとなる。
当該アライメント誤差ΔＳは、中心位置Ａ，Ｂを結ぶ直線Ｌａｂと被測定物Ｗの外面や内面の法線ｎとの成す角度をΔθとした場合、以下の式（８）で表される。
図１１は、アライメント誤差を説明するための図である。
例えば、被測定物Ｗの外面寸法や内面寸法を測定する際、図１１に示すように、中心位置Ａ，Ｂを結ぶ直線Ｌａｂが被測定物Ｗの外面や内面に対して正しく直角を成していない場合（外面や内面の法線ｎと平行でない場合）には、演算した寸法Ｌは、誤差（アライメント誤差）を含んだ値となり、正しい寸法Ｓよりもアライメント誤差分だけ長いものとなる。
当該アライメント誤差ΔＳは、中心位置Ａ，Ｂを結ぶ直線Ｌａｂと被測定物Ｗの外面や内面の法線ｎとの成す角度をΔθとした場合、以下の式（８）で表される。
〔数８〕
例えば、Ｓ＝５０ｍｍで、ΔＳ＝１０×１０−３ｍｍ以下にするためには、式（８）により、Δθは、１．１４°以下に抑えなければならない。
また、Ｓ＝５０ｍｍで、ΔＳ＝１×１０−３ｍｍ以下にするためには、式（８）により、Δθは、０．３６°以下に抑えなければならない。
したがって、Ｓ＝５０ｍｍの寸法測定では、Δθが０．３６°〜１．１４°の範囲にあれば、１０μｍ以下のアライメント誤差で測定できる。
例えば、Ｓ＝２５ｍｍで、ΔＳ＝１０×１０−３ｍｍ以下にするためには、式（８）により、Δθは、１．６２°以下に抑えなければならない。
また、Ｓ＝２５ｍｍで、ΔＳ＝１×１０−３ｍｍ以下にするためには、式（８）により、Δθは、０．５８°以下に抑えなければならない。
したがって、Ｓ＝２５ｍｍの寸法測定では、Δθが０．５８°〜１．６２°の範囲にあれば、１０μｍ以下のアライメント誤差で測定できる。
また、Ｓ＝５０ｍｍで、ΔＳ＝１×１０−３ｍｍ以下にするためには、式（８）により、Δθは、０．３６°以下に抑えなければならない。
したがって、Ｓ＝５０ｍｍの寸法測定では、Δθが０．３６°〜１．１４°の範囲にあれば、１０μｍ以下のアライメント誤差で測定できる。
例えば、Ｓ＝２５ｍｍで、ΔＳ＝１０×１０−３ｍｍ以下にするためには、式（８）により、Δθは、１．６２°以下に抑えなければならない。
また、Ｓ＝２５ｍｍで、ΔＳ＝１×１０−３ｍｍ以下にするためには、式（８）により、Δθは、０．５８°以下に抑えなければならない。
したがって、Ｓ＝２５ｍｍの寸法測定では、Δθが０．５８°〜１．６２°の範囲にあれば、１０μｍ以下のアライメント誤差で測定できる。
そして、使用者は、被測定物Ｗの外面寸法や内面寸法を測定する際には、第１，第２保持部５３，６３を把持しながら、測定器本体４を回転微動させる。その間、複数回の測定により演算した各寸法Ｌの最小値を保持しながら、当該最小値をディスプレイ等の表示部に表示させるようにＰＣ２を構成すれば、使用者は、複数回測定した際の寸法Ｌの最小値を認識できるため、当該最小値を認識しながら上記回転微動を行うことで、アライメント誤差の少ない測定を行うことができる。
なお、外径寸法や内径寸法を測定する際、演算した寸法Ｌにアライメント誤差が含まれている場合には、演算した寸法Ｌは、上記とは逆に、正しい寸法よりも短いものとなる。
したがって、ＰＣ２は、外径寸法や内径寸法を測定する際には、複数回の測定により演算した各寸法Ｌの最大値を保持しながら、当該最大値をディスプレイ等の表示部に表示させる。
したがって、ＰＣ２は、外径寸法や内径寸法を測定する際には、複数回の測定により演算した各寸法Ｌの最大値を保持しながら、当該最大値をディスプレイ等の表示部に表示させる。
[第６実施形態]
次に、本発明の第６実施形態について説明する。
図１２及び図１３は、第６実施形態における測定器本体４の構造を示す模式図である。具体的に、図１２は測定器本体４の平面図であり、図１３は測定器本体４の一部を破断した側面図である。
第６実施形態では、前記第１実施形態に対して、図１２または図１３に示すように、第１，第２挟持体５，６に付勢部材としての引っ張りバネ１０が取り付けられている点が異なるのみである。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
具体的に、引っ張りバネ１０は、第１，第２保持部５３，６３間に取り付けられるとともに、測定器本体４を側面から見た場合に、第１，第２保持部５３，６３における第１の回転軸７Ａに沿う方向の各中心軸Ｏｃ２（図１３）上に位置付けられる。
そして、引っ張りバネ１０は、第１，第２保持部５３，６３が互いに近接するように付勢し、第１，第２接触子５２，６２間を常時、閉じた状態に設定する。
次に、本発明の第６実施形態について説明する。
図１２及び図１３は、第６実施形態における測定器本体４の構造を示す模式図である。具体的に、図１２は測定器本体４の平面図であり、図１３は測定器本体４の一部を破断した側面図である。
第６実施形態では、前記第１実施形態に対して、図１２または図１３に示すように、第１，第２挟持体５，６に付勢部材としての引っ張りバネ１０が取り付けられている点が異なるのみである。その他の構成は、前記第１実施形態と同様である。
具体的に、引っ張りバネ１０は、第１，第２保持部５３，６３間に取り付けられるとともに、測定器本体４を側面から見た場合に、第１，第２保持部５３，６３における第１の回転軸７Ａに沿う方向の各中心軸Ｏｃ２（図１３）上に位置付けられる。
そして、引っ張りバネ１０は、第１，第２保持部５３，６３が互いに近接するように付勢し、第１，第２接触子５２，６２間を常時、閉じた状態に設定する。
上述した第６実施形態のように引っ張りバネ１０を採用すれば、前記第１実施形態と同様の効果の他、以下の効果がある。
すなわち、使用者は、被測定物Ｗの外面寸法や外径寸法を測定する際、引っ張りバネ１０の付勢力に抗して、第１，第２保持部５３，６３が離間する（第１，第２接触子５２，６２が離間する）ように操作して第１，第２挟持体５，６を相対的に回転させる。
そして、使用者は、第１，第２接触子５２，６２間に被測定物Ｗを挿入し、上記操作を止める。第１，第２挟持体５，６は引っ張りバネ１０にて上述したように付勢されているため、上記操作を止めることで、第１，第２接触子５２，６２にて被測定物Ｗが挟まれる。
この状態で、被測定物Ｗに対して測定器本体４を移動させれば（第１，第２接触子５２，６２が被測定物Ｗの外面上を摺動するように測定器本体４を移動させれば）、第１，第２挟持体５，６が引っ張りバネ１０にて上述したように付勢されているため、第１，第２接触子５２，６２は、被測定物Ｗの外面に倣うように近接隔離する。
したがって、被測定物Ｗにおける種々の場所での外面寸法や外径寸法を測定する際に、第１，第２保持部５３，６３を近接隔離させる操作を不要し、操作性を向上させることができる。
すなわち、使用者は、被測定物Ｗの外面寸法や外径寸法を測定する際、引っ張りバネ１０の付勢力に抗して、第１，第２保持部５３，６３が離間する（第１，第２接触子５２，６２が離間する）ように操作して第１，第２挟持体５，６を相対的に回転させる。
そして、使用者は、第１，第２接触子５２，６２間に被測定物Ｗを挿入し、上記操作を止める。第１，第２挟持体５，６は引っ張りバネ１０にて上述したように付勢されているため、上記操作を止めることで、第１，第２接触子５２，６２にて被測定物Ｗが挟まれる。
この状態で、被測定物Ｗに対して測定器本体４を移動させれば（第１，第２接触子５２，６２が被測定物Ｗの外面上を摺動するように測定器本体４を移動させれば）、第１，第２挟持体５，６が引っ張りバネ１０にて上述したように付勢されているため、第１，第２接触子５２，６２は、被測定物Ｗの外面に倣うように近接隔離する。
したがって、被測定物Ｗにおける種々の場所での外面寸法や外径寸法を測定する際に、第１，第２保持部５３，６３を近接隔離させる操作を不要し、操作性を向上させることができる。
特に、前記第５実施形態の構成に本実施形態の構成を採用すれば、以下の効果がある。
使用者は、例えば、被測定物Ｗ（球や円筒）の外径寸法を測定する際、第１保持部５３と第２保持部６３の間を少しずつ微妙に開きながら被測定物Ｗの外径の最大値を探索する必要がなくなる。つまり、被測定物Ｗを第１，第２接触子５２，６２間に押し込んで通過させるだけで外径寸法の最大値をＰＣ２に保持させ、表示させることができる。
なお、引っ張りバネ１０の代わりに圧縮バネを用いれば、第１，第２接触子５２，６２間を常時、開いた状態に設定することができる。この場合には、被測定物Ｗの内面寸法等、最小値を探索する必要がある測定の場合に役立つものである。
使用者は、例えば、被測定物Ｗ（球や円筒）の外径寸法を測定する際、第１保持部５３と第２保持部６３の間を少しずつ微妙に開きながら被測定物Ｗの外径の最大値を探索する必要がなくなる。つまり、被測定物Ｗを第１，第２接触子５２，６２間に押し込んで通過させるだけで外径寸法の最大値をＰＣ２に保持させ、表示させることができる。
なお、引っ張りバネ１０の代わりに圧縮バネを用いれば、第１，第２接触子５２，６２間を常時、開いた状態に設定することができる。この場合には、被測定物Ｗの内面寸法等、最小値を探索する必要がある測定の場合に役立つものである。
なお、本発明は、前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成することができる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
前記各実施形態では、第１，第２腕部５１１，６１１の一端側を折れ曲がった形状とすることで、第１，第２接触子５２，６２を仮想線ＶＬ上からずれた位置に位置付けていたが、これに限らない。
例えば、第１，第２腕部５１１，６１１の一端側に段差を設けた形状としたり、一端に向けて曲線状となる形状としたりすることで、第１，第２接触子５２，６２を仮想線ＶＬ上からずれた位置に位置付けても構わない。
前記各実施形態では、第１，第２腕部５１１，６１１の一端側を折れ曲がった形状とすることで、第１，第２接触子５２，６２を仮想線ＶＬ上からずれた位置に位置付けていたが、これに限らない。
例えば、第１，第２腕部５１１，６１１の一端側に段差を設けた形状としたり、一端に向けて曲線状となる形状としたりすることで、第１，第２接触子５２，６２を仮想線ＶＬ上からずれた位置に位置付けても構わない。
前記各実施形態では、第１，第２の軸受７Ｂ，９Ｂは、転がり軸受で構成されていたが、これに限らず、すべり軸受等の他の軸受で構成しても構わない。
前記各実施形態では、角度検出装置８をロータリーエンコーダで構成していたが、これに限らず、静電容量センサや電気マイクロメータ等の他の角度検出装置で構成しても構わない。
前記各実施形態では、角度検出装置８をロータリーエンコーダで構成していたが、これに限らず、静電容量センサや電気マイクロメータ等の他の角度検出装置で構成しても構わない。
前記第１実施形態では、距離Ｌｏを一定の長さまでに制限するために、回転角θをθ＝π／１２までに制限していたが、これに限らず、その他の角度までに制限しても構わない。例えば、回転角θをθ＝π／６までに制限しても構わない。その場合、式（２）で与えられる各係数を変更し、再設定することで対応する。
前記各実施形態において、第１，第２接触子５２，６２の構造については、前記各実施形態で説明した構造に限らない。
例えば、前記第２実施形態では、第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂは、第１の回転軸７Ａに沿う方向から見て円弧状に延び、第１の回転軸７Ａに沿う方向に円弧形状を有していたが、これに限らない。例えば、第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂを、第１の回転軸７Ａに沿う方向から見て円弧状に延び、第１の回転軸７Ａに沿う方向に直線状となるように形成しても構わない。すなわち、第１，第２接触子５２，６２を単純な円筒形状としても構わない。
また、例えば、第１，第２接触子５２，６２を単純な球形状としても構わない。
例えば、前記第２実施形態では、第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂは、第１の回転軸７Ａに沿う方向から見て円弧状に延び、第１の回転軸７Ａに沿う方向に円弧形状を有していたが、これに限らない。例えば、第１，第２円弧部５２Ｂ，６２Ｂを、第１の回転軸７Ａに沿う方向から見て円弧状に延び、第１の回転軸７Ａに沿う方向に直線状となるように形成しても構わない。すなわち、第１，第２接触子５２，６２を単純な円筒形状としても構わない。
また、例えば、第１，第２接触子５２，６２を単純な球形状としても構わない。
前記第５実施形態では、引っ張りバネ１０を第１，第２保持部５３，６３間に取り付けていたが、これに限らず、第１，第２挟持体本体５１，６１間であれば、その他の位置に取り付けても構わない。
本発明は、被測定物の寸法を測定する寸法測定器に利用できる。
１・・・寸法測定器
２・・・ＰＣ（演算装置）
５，６・・・第１，第２挟持体
７Ａ・・・第１の回転軸
７Ｂ・・・第１の軸受
８・・・角度検出装置
９Ａ・・・第２の回転軸
１０・・・引っ張りバネ（付勢部材）
５１，６１・・・第１，第２挟持体本体
５２，６２・・・第１，第２接触子
５３，６３・・・第１，第２保持部
８１・・・目盛基板
８１Ａ・・・目盛パターン
８２・・・検出センサ
５２Ａ，６２Ａ・・・第１，第２平面部
５２Ｂ，６２Ｂ・・・第１，第２円弧部
５１１，６１１・・・第１，第２腕部
２・・・ＰＣ（演算装置）
５，６・・・第１，第２挟持体
７Ａ・・・第１の回転軸
７Ｂ・・・第１の軸受
８・・・角度検出装置
９Ａ・・・第２の回転軸
１０・・・引っ張りバネ（付勢部材）
５１，６１・・・第１，第２挟持体本体
５２，６２・・・第１，第２接触子
５３，６３・・・第１，第２保持部
８１・・・目盛基板
８１Ａ・・・目盛パターン
８２・・・検出センサ
５２Ａ，６２Ａ・・・第１，第２平面部
５２Ｂ，６２Ｂ・・・第１，第２円弧部
５１１，６１１・・・第１，第２腕部
Claims (12)
- 一端側に被測定物に接触する接触子がそれぞれ設けられ、他端側に保持部がそれぞれ設けられた一対の挟持体と、
前記一対の挟持体を相対的に回転可能とする第１の回転軸と、
前記一対の挟持体の相対的な回転角を検出する角度検出装置と、
前記回転角に基づいて、前記被測定物の寸法を演算する演算装置とを備え、
前記演算装置は、
各前記接触子の中心間の長さと前記回転角に基づく正弦関数の三次近似曲線との比例関係を用いて、前記被測定物の寸法を演算する
ことを特徴とする寸法測定器。 - 一端側に被測定物に接触する接触子がそれぞれ設けられ、他端側に保持部がそれぞれ設けられた一対の挟持体と、
前記一対の挟持体を相対的に回転可能とする第１の回転軸と、
前記一対の挟持体の相対的な回転角を検出する角度検出装置と、
前記回転角に基づいて、前記被測定物の寸法を演算する演算装置とを備え、
前記演算装置は、
前記回転角に基づく正弦関数を用いて、前記被測定物の寸法を演算する
ことを特徴とする寸法測定器。 - 請求項１または請求項２に記載の寸法測定器において、
前記角度検出装置は、
前記一対の挟持体のいずれか一方に設けられ、目盛線からなる目盛パターンが形成された目盛基板と、
前記一対の挟持体のいずれか他方に設けられ、前記一対の挟持体の相対的な回転に伴う前記目盛線の変位を検出する検出センサとを備え、
前記目盛パターンは、
前記第１の回転軸を中心とする回転方向に沿って延びる円弧状に形成されている
ことを特徴とする寸法測定器。 - 請求項１から請求項３のいずれかに記載の寸法測定器において、
前記第１の回転軸は、
前記一対の挟持体のいずれか一方に取り付けられ、
前記一対の挟持体のいずれか他方には、
前記第１の回転軸を支える第１の軸受が取り付けられている
ことを特徴とする寸法測定器。 - 請求項１から請求項４のいずれかに記載の寸法測定器において、
前記接触子には、
被測定物に接触する平坦状の平面部が設けられている
ことを特徴とする寸法測定器。 - 請求項１から請求項５のいずれかに記載の寸法測定器において、
前記接触子には、
被測定物に接触する円弧部が設けられ、
前記円弧部は、
前記第１の回転軸に沿う方向から見て直線状に延び、前記第１の回転軸に沿う方向に円弧形状を有する
ことを特徴とする寸法測定器。 - 請求項１から請求項５のいずれかに記載の寸法測定器において、
前記接触子には、
被測定物に接触する円弧部が設けられ、
前記円弧部は、
前記第１の回転軸に沿う方向から見て円弧状に延び、前記第１の回転軸に沿う方向に円弧形状を有する
ことを特徴とする寸法測定器。 - 請求項１から請求項５のいずれかに記載の寸法測定器において、
前記接触子には、
被測定物に接触する円弧部が設けられ、
前記円弧部は、
前記第１の回転軸に沿う方向から見て円弧状に延び、外周に向うにしたがって断面積が小さくなるテーパ形状を有する
ことを特徴とする寸法測定器。 - 請求項１から請求項８のいずれかに記載の寸法測定器において、
前記挟持体は、
挟持体本体と、前記挟持体本体の一端及び他端にそれぞれ設けられた前記接触子及び前記保持部とを備え、
前記接触子は、
前記挟持体本体に対して前記第１の回転軸に平行する第２の回転軸を介して回転可能に支持されている
ことを特徴とする寸法測定器。 - 請求項１から請求項９のいずれかに記載の寸法測定器において、
前記挟持体は、
挟持体本体と、前記挟持体本体の一端及び他端にそれぞれ設けられた前記接触子及び前記保持部とを備え、
前記挟持体本体は、
前記他端から前記一端側に向けて直線状に延びる腕部を備え、
前記接触子は、
前記挟持体本体の一端において、前記腕部における前記直線状に延びる部位を仮想的に延長させた仮想線上からずれた位置に設けられている
ことを特徴とする寸法測定器。 - 請求項１から請求項１０のいずれかに記載の寸法測定器において、
各前記接触子は、
前記一対の挟持体を側面から見た場合に、前記第１の回転軸に沿う方向の各中心が互いに一致するように設けられている
ことを特徴とする寸法測定器。 - 請求項１から請求項１１のいずれかに記載の寸法測定器において、
前記一対の挟持体には、
各前記接触子が互いに近接する方向、または互いに離間する方向に付勢する付勢部材が取り付けられている
ことを特徴とする寸法測定器。
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-
2011
- 2011-10-03 JP JP2011219195A patent/JP2013079842A/ja active Pending
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