JP6447298B2 - 表示素子用の硬化膜形成用組成物、表示素子用硬化膜、表示素子用硬化膜の形成方法、表示素子及び表示素子の製造方法 - Google Patents
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X−S−Y (1)
(式(1)中、X及びYは、それぞれ独立して、炭素数1〜30の1価の有機基である。但し、X及びYの少なくとも一方は、炭素数4〜30の芳香環を含む基である。)
硬化膜形成用組成物(I)は、[A]重合体、及び365nm未満の波長の光の吸収によりラジカル捕捉能を発現する化合物(以下、「[B]化合物」又は「[B]潜在的ラジカル捕捉剤」ともいう。)を含有する。
[A]重合体は、得られる硬化膜の基材となる成分である。[A]重合体としては、通常、硬化膜形成用組成物に含有される公知の重合体を一種又は二種以上混合して用いることができる。[A]重合体は、アルカリ可溶性樹脂であることが好ましい。アルカリ可溶性樹脂であることで、アルカリ現像液を用いたパターニングが可能となる。[A]重合体としては、[A1]重合性基を有する重合体、[A2]ポリシロキサン、その他ポリイミド又はポリイミド前駆体、芳香族ポリエーテル、重合性基を有さないアルカリ可溶性樹脂等を挙げることができる。[A]重合体としては、硬化性を有する樹脂が好ましく、[A1]重合性基を有する重合体、及び[A2]ポリシロキサンが好ましい。
[A]重合体として、[A1]重合性基を有する重合体を用いることで、硬化膜形成用組成物(I)の硬化性を高めることなどができる。[A1]重合体が有する重合性基としては、エポキシ基、(メタ)アクリロイル基、ビニル基又はこれらの組み合わせを挙げることができる。[A]重合体としては、重合性基を有する構造単位を含む重合体を挙げることができる。[A]重合体は、重合性基を有する構造単位以外の構造単位を含むことができる。[A]重合体は、重合性基を有する構造単位以外の構造単位として、カルボキシ基を有する構造単位を含むことが好ましい。カルボキシ基を有する構造単位を含むことによりアルカリ可溶性を良好に発現することができる。
[A1−1]エポキシ基を有する重合体は、通常、エポキシ基を有する構造単位を含む。このような[A1−1]重合体は、エポキシ基を有する構造単位を与える化合物(a1)を単独で重合させる、あるいは他の構造単位を与える化合物と共重合させることにより得ることができる。他の構造単位を与える化合物としては、カルボキシ基を有する構造単位を与える化合物(a2)、水酸基を有する構造単位を与える化合物(a3)、並びに化合物(a1)、化合物(a2)及び化合物(a3)に由来する構造単位以外の構造単位を与える化合物(a4)を挙げることができる。化合物(a2)、化合物(a3)及び化合物(a4)は、それぞれ用いないことがよい場合もある。以下、各化合物を詳述する。
化合物(a1)は、ラジカル重合性を有するエポキシ基含有不飽和化合物である。エポキシ基としては、オキシラニル基(1,2−エポキシ構造)、オキセタニル基(1,3−エポキシ構造)等が挙げられる。
化合物(a2)としては、不飽和カルボン酸及び不飽和カルボン酸無水物を挙げることができ、より具体的には、不飽和モノカルボン酸、不飽和ジカルボン酸、不飽和ジカルボン酸の無水物、多価カルボン酸のモノ〔(メタ)アクリロイルオキシアルキル〕エステル等を挙げることができる。
化合物(a3)としては、水酸基を有する(メタ)アクリル酸エステル、フェノール性水酸基を有する(メタ)アクリル酸エステル、ヒドロキシスチレン等が挙げられる。
化合物(a4)は、上記の化合物(a1)、化合物(a2)及び化合物(a3)以外の不飽和化合物であれば、特に制限されるものではない。化合物(a4)としては、例えばメタクリル酸鎖状アルキルエステル、メタクリル酸環状アルキルエステル、アクリル酸鎖状アルキルエステル、アクリル酸環状アルキルエステル、メタクリル酸アリールエステル、アクリル酸アリールエステル、不飽和ジカルボン酸ジエステル、マレイミド化合物、不飽和芳香族化合物、共役ジエン、テトラヒドロフラン骨格等を持つ不飽和化合物、及びその他の不飽和化合物が挙げられる。
[A1−1]重合体は、例えば溶媒中で重合開始剤の存在下、上記化合物(a1)並びに必要に応じて化合物(a2)、化合物(a3)及び化合物(a4)を共重合することによって製造できる。かかる合成方法によれば、少なくともエポキシ基を有する構造単位を含む重合体を合成することができる。
[A1−2](メタ)アクリロイル基又はビニル基を有する重合体は、通常、(メタ)アクリロイル基を有する構造単位、及びビニル基を有する構造単位の少なくとも一方を含む。このような[A1−2]重合体は、(1)カルボキシ基を有する重合体に上記化合物(a1)(エポキシ基含有不飽和化合物)を反応させる方法、(2)エポキシ基を有する重合体に(メタ)アクリル酸を反応させる方法、(3)水酸基を有する重合体にイソシアネート基を有する(メタ)アクリル酸エステルを反応させる方法、(4)酸無水物部位を有する重合体に(メタ)アクリル酸を反応させる方法等により形成することができる。これらの中でも、(1)カルボキシ基を有する重合体に上記化合物(a1)を反応させる方法が好ましい。この方法により、(メタ)アクリロイル基又はビニル基を有する重合体を効率的に得ることができる。以下、カルボキシ基を有する重合体に上記化合物(a1)を反応させる方法による[A1−2]重合体の合成方法について説明する。
[A1−2]重合体は、カルボキシ基を有する重合体(以下、「重合体(α)」ともいう。)に上記化合物(a1)(エポキシ基含有不飽和化合物)を反応させることのより効果的に得ることができる。
[A1]重合体の重量平均分子量(Mw)の下限としては、1000が好ましく、5000がより好ましい。一方、この上限としては、30000が好ましく、20000がより好ましい。[A1]重合体のMwを上記範囲とすることで、硬化膜形成用組成物(I)の硬化性等をより良好なものとすることができる。なお、本明細書における重合体のMwは、下記の条件によるゲルパーミエーションクロマトグラフィ(GPC)により測定した値とする。
装置:昭和電工社の「GPC−101」
カラム:GPC−KF−801、GPC−KF−802、GPC−KF−803及びGPC−KF−804を結合
移動相:テトラヒドロフラン
カラム温度:40℃
流速:1.0mL/分
試料濃度:1.0質量%
試料注入量:100μL
検出器:示差屈折計
標準物質:単分散ポリスチレン
[A2]ポリシロキサンは、シロキサン結合を有する化合物のポリマーである限りは特に限定されるものではない。この[A2]ポリシロキサンは、通常、例えば後述する[C]感光剤である[C2]光酸発生剤から発生した酸や、[C3]光塩基発生剤から発生した塩基を触媒として硬化する。
4個の加水分解性基で置換されたシラン化合物として、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラブトキシシラン等;
1個の非加水分解性基と3個の加水分解性基とで置換されたシラン化合物として、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリ−i−プロポキシシラン、メチルトリブトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、エチルトリ−i−プロポキシシラン、エチルトリブトキシシラン、ブチルトリメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリ−n−プロポキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリエトキシシシラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン等;
2個の非加水分解性基と2個の加水分解性基とで置換されたシラン化合物として、ジメチルジメトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジブチルジメトキシシラン等;
3個の非加水分解性基と1個の加水分解性基とで置換されたシラン化合物として、トリブチルメトキシシラン、トリメチルメトキシシラン、トリメチルエトキシシラン、トリブチルエトキシシラン等をそれぞれ挙げることができる。
硬化膜形成用組成物(I)における[A]重合体の含有量の下限としては特に限定されないが、固形分換算で例えば50質量%であり、60質量%が好ましい。一方、この上限としては、99質量%が好ましく、95質量%がより好ましい。
[B]潜在的ラジカル捕捉剤は、365nm未満の波長の光(通常紫外線)の吸収によりラジカル捕捉能を発現する化合物である限り特に限定されない。[B]潜在的ラジカル捕捉剤としては、254nm、302nm又は313nmの波長を含む光の吸収によりラジカル捕捉能を発現する化合物が好ましい。[B]潜在的ラジカル捕捉剤は、365nm未満の波長の光(例えば254nm、302nm又は313nmの波長を含む光)の吸収により解離し、ラジカルを形成する化合物が好ましい。[B]潜在的ラジカル捕捉剤は、365nm以上の光の照射では、実質的に分解しない(ラジカル補足能を発現しない)ことが好ましい。[B]潜在的ラジカル捕捉剤としては、例えば下記式(1)で表される化合物を好適に用いることができる。
式(1)中、X及びYは、それぞれ独立して、炭素数1〜30の1価の有機基である。但し、X及びYの少なくとも一方は、炭素数4〜30の芳香環を含む基である。
エテニル基、プロペニル基、ブテニル基等のアルケニル基;
エチニル基、プロピニル基、ブチニル基等のアルキニル基などが挙げられる。
シクロブテニル基、シクロペンテニル基、シクロヘキセニル基等の単環のシクロアルケニル基;
ノルボルニル基、アダマンチル基、トリシクロデシル基、テトラシクロドデシル基等の多環のシクロアルキル基;
ノルボルネニル基、トリシクロデセニル基、テトラシクロドデセニル基等の多環のシクロアルケニル基などが挙げられる。
式(2)中、X1は、炭素数4〜12の芳香環を含む、炭素数29以下の1価の有機基である。Yは、上記式(1)と同義である。
硬化膜形成用組成物(I)は、[A]重合体及び[B]潜在的ラジカル捕捉剤に加えて、[C]感放射線性化合物を含有することが好ましい。但し、[C]感放射線性化合物を含有しないことがよい場合もある。[C]感放射線性化合物が含有されている場合、硬化膜形成用組成物(I)は、放射線(可視光線、紫外線、遠紫外線等)の照射によりポジ型又はネガ型のパターンを形成可能な感放射線性樹脂組成物として使用することができる。[C]感放射線性化合物としては、[C1]感放射線性ラジカル重合開始剤、[C2]感放射線性酸発生剤、[C3]感放射線性塩基発生剤又はこれらの組み合わせを含有させることができる。[C]感放射線性化合物として、[C1]感放射線性ラジカル重合開始剤が含有されている場合、重合性基を有する[A]重合体や、後述する[D]重合性化合物の反応により、露光部の硬化が促進され、パターンを形成することができる。[C]感放射線性化合物として、[C2]感放射線性酸発生剤や[C3]感放射線性塩基発生剤が含有されている場合、露光部の現像液に対する溶解性が変化することによりパターンを形成することができる。また、[C]感放射線性化合物として、[C2]感放射線性酸発生剤や[C3]感放射線性塩基発生剤が含有され、[A]重合体が[A2]ポリシロキサンである場合、露光部において発生する酸や塩基が[A2]ポリシロキサンの硬化触媒となり、露光部の硬化が促進され、パターンを形成することができる。
[C1]感放射線性ラジカル重合開始剤は、放射線に感応してラジカルを発生し、重合を開始できる化合物である。[C1]感放射線性ラジカル重合開始剤としては、O−アシルオキシム化合物、アセトフェノン化合物、ビイミダゾール化合物等が挙げられる。これらの化合物は、単独で使用してもよいし、2種以上を混合して使用してもよい。
[C2]感放射線性酸発生剤は、放射線に感応して酸を発生する化合物である。[C2]感放射線性酸発生剤としては、例えばオキシムスルホネート化合物、オニウム塩、スルホンイミド化合物、スルホン酸エステル化合物、キノンジアジド化合物、ハロゲン含有化合物、ジアゾメタン化合物、カルボン酸エステル化合物などが挙げられる。これらの[C2]感放射線性酸発生剤は、単独で使用してもよいし、2種以上を混合して使用してもよい。
トリヒドロキシベンゾフェノンとして、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,4,6−トリヒドロキシベンゾフェノン等;
テトラヒドロキシベンゾフェノンとして、2,2’,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,3’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,2’−テトラヒドロキシ−4’−メチルベンゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシ−3’−メトキシベンゾフェノン等;
ペンタヒドロキシベンゾフェノンとして、2,3,4,2’,6’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン等;
ヘキサヒドロキシベンゾフェノンとして、2,4,6,3’,4’,5’−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、3,4,5,3’,4’,5’−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン等;
(ポリヒドロキシフェニル)アルカンとして、ビス(2,4−ジヒドロキシフェニル)メタン、ビス(p−ヒドロキシフェニル)メタン、トリス(p−ヒドロキシフェニル)メタン、1,1,1−トリス(p−ヒドロキシフェニル)エタン、ビス(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)メタン、2,2−ビス(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)プロパン、1,1,3−トリス(2,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)−3−フェニルプロパン、4,4’−〔1−〔4−〔1−〔4−ヒドロキシフェニル〕−1−メチルエチル〕フェニル〕エチリデン〕ビスフェノール、ビス(2,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、3,3,3’,3’−テトラメチル−1,1’−スピロビインデン−5,6,7,5’,6’,7’−ヘキサノール、2,2,4−トリメチル−7,2’,4’−トリヒドロキシフラバン等;
を挙げることができる。
[C3]感放射線性酸発生剤は、放射線に感応して塩基を発生する化合物である。[C3]光塩基発生剤としては、例えば[〔(2,6−ジニトロベンジル)オキシ〕カルボニル]シクロヘキシルアミン、2−ニトロベンジルシクロヘキシルカルバメート、N−(2−ニトロベンジルオキシカルボニル)ピロリジン、ビス[〔(2−ニトロベンジル)オキシ〕カルボニル]ヘキサン−1,6−ジアミン、トリフェニルメタノール、O−カルバモイルヒドロキシアミド、O−カルバモイルオキシム、4−(メチルチオベンゾイル)−1−メチル−1−モルホリノエタン、(4−モルホリノベンゾイル)−1−ベンジル−1−ジメチルアミノプロパン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン、ヘキサアンミンコバルト(III)トリス(トリフェニルメチルボレート)等が挙げられる。
硬化膜形成用組成物(I)は、さらに[D]重合性化合物を含有することが好ましい。但し、[D]重合性化合物を含有しない場合もある。[D]重合性化合物は、[C1]感放射線性ラジカル重合開始剤等の存在下において放射線を照射することにより重合する化合物である。このような化合物としては、重合性が良好であり、得られる硬化膜の強度が向上するという観点から、単官能、2官能及び3官能以上の(メタ)アクリル酸エステルが好ましい。硬化膜形成用組成物(I)がこれらの化合物を含有することにより、透明性と表面硬度が高度にバランスされた硬化膜を形成することができる。
硬化膜形成用組成物(I)は、本発明の効果を損なわない範囲で必要に応じてさらに他の成分を含有させることができる。この他の成分としては、界面活性剤、密着助剤、塩基性化合物、有機物粒子、無機物粒子、保存安定剤等を挙げることができる。他の成分は、単独又は2種類以上を組み合わせて用いることができる。これらの各他の成分は、含有しない場合もある。
硬化膜形成用組成物(I)は、[A]重合体及び[B]化合物並びにその他の成分を均一に混合することによって調製される。通常、硬化膜形成用組成物(I)は、適当な溶媒に溶解又は分散させた状態に調製され使用される。
メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、オクタノール等のアルコール類;
酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸エチル、γ−ブチロラクトン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、2−エトキシプロピオン酸エチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸エチル等のエステル類;
エチレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル等のエーテル類;
ジメチルフォルムアミド、N,N−ジメチルアセトアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミド類;
アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類;
ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン等の芳香族炭化水素類
等を用いることができる。
これらの溶媒は、一種のみを単独で使用してもよいし、二種以上を混合して使用してもよい。
硬化膜形成用組成物(I)から形成された硬化膜は、短波長の光照射によってもガスの発生が抑制され、耐光性や透明性に優れる。従って、この硬化膜は、表示素子用の硬化膜、特にPSA技術によって製造される液晶表示素子の層間絶縁膜、保護膜、平坦化膜等として好適に用いることができる。
表示素子用硬化膜は、以下の工程を以下の記載順で備える形成方法により効果的に形成することができる。なお、工程(3)は、パターン形成が必要な場合において行うものであり、工程(3)は省略することもできる。
(1)基板の一方の面側に塗膜を形成する工程、
(2)この塗膜の少なくとも一部に放射線を照射する工程、
(3)上記放射線が照射された塗膜を現像する工程、及び
(4)上記現像された塗膜を加熱する工程
を備え、
上記塗膜の形成に硬化膜形成用組成物(I)を用いる。以下、これらの各工程について順次説明する。
ここで用いられる基板としては特に限定されず、透明基板や金属基板等が挙げられる。この透明基板としては、例えばガラス基板、樹脂基板等を挙げることができ、その具体例としては、ソーダライムガラス、無アルカリガラス等のガラス基板;ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエーテルスルホン、ポリカーボネート、ポリイミド等のプラスチックからなる樹脂基板を挙げることができる。このような透明基板の片面に透明導電膜を形成し、この透明導電膜の上に硬化膜形成用組成物(I)の塗膜を形成することができる。
次いで、形成された塗膜の少なくとも一部に放射線を照射する。このとき、塗膜の一部にのみ照射する際には、例えば所定のパターンを有するフォトマスクを介して照射する方法によることができる。
次に露光後の塗膜を現像することにより、不要な部分を除去して所定のパターンを形成する。現像工程に使用される現像液としては、アルカリ性の水溶液が好ましい。アルカリとしては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア等の無機アルカリ;テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド等の4級アンモニウム塩等が挙げられる。
上記現像処理の後、パターニングされた塗膜に対して、好ましくは流水洗浄を30秒以上90秒以下程度行った後、圧縮空気や圧縮窒素で風乾することができる。次いで、得られたパターン状の塗膜を、ホットプレート、オーブン等の適当な加熱装置により、所定温度、例えば100℃以上250℃以下で、所定時間、例えばホットプレート上では5分以上30分以下、オーブン中では30分以上180分以下、加熱(ポストベーク)することにより、高い表面硬度を有する硬化膜を得ることができる。
本発明の表示素子は、当該硬化膜(表示素子用硬化膜)を、例えば層間絶縁膜、保護膜、平坦化膜等として備える。当該表示素子は、例えば対向配置された2枚の基板、この基板の少なくともいずれかの内面側に積層された層間絶縁膜(表示素子用硬化膜)、及び上記基板間に配設された液晶層を備えており、これが液晶セルとなる。この液晶セルの両面、即ち両基板の外側には通常、偏光板が備えられる。なお、2枚の偏光板のうち、1枚を反射板に置き換えることもできる。また、当該表示素子は、その他の構成要素として、例えばマイクロカラーフィルター等をさらに備えていてもよい。
当該表示素子の製造方法としては、例えばPSA技術を用いた液晶表示素子の公知の製造方法を用いることができる。すなわち、当該表示素子は、
(a)第1基板の一方の面側に層間絶縁膜を形成する工程、
(b)上記層間絶縁膜の外面側及び第2基板の一方の面側に液晶配向膜を形成する工程、
(c)上記液晶配向膜が形成された面同士を対向配置した状態で、上記第1基板と第2基板との間に重合性液晶組成物を充填する工程、及び
(d)上記重合性液晶組成物に対する光照射により液晶層を形成する工程
を備え、
上記層間絶縁膜の形成に硬化膜形成用組成物(I)を用いる方法により好適に製造することができる。なお、一方の面側又は外面側に形成するとは、その面に直接接した状態で形成することのみならず、他の層を介して形成する場合も含む意味である。
硬化膜形成用組成物(II)は、[A]重合体、及び下記式(1)で表される化合物(以下、「[B’]潜在的ラジカル捕捉剤」という。)を含有する。
式(1)中、X及びYは、それぞれ独立して、炭素数1〜30の1価の有機基である。但し、X及びYの少なくとも一方は、炭素数4〜30の芳香環を含む基である。
重合体のMwは、下記条件下、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定した。
装置:昭和電工社の「GPC−101」
カラム:GPC−KF−801、GPC−KF−802、GPC−KF−803及びGPC−KF−804を結合
移動相:テトラヒドロフラン
カラム温度:40℃
流速:1.0mL/分
試料濃度:1.0質量%
試料注入量:100μL
検出器:示差屈折計
標準物質:単分散ポリスチレン
[合成例1]化合物(B−1)の合成
攪拌機及び滴下ロートを設置した20L反応器内に、1,3−ベンゾチアゾール−2−チオール167g(1mol)、2−(ブロモメチル)ナフタレン223g(1.01mol)、及びTHF(テトラヒドロフラン)2.5Lを仕込み、炭酸カリウム691g(5mol)を加えた後、室温で1時間撹拌下に反応させた。その後、水10Lを加えた後、沈殿した固体をろ過によりろ別し、得られた固体を水、メタノールで順次洗浄することにより下記式(RT−1)で表される化合物(B−1)286gを得た(収率93%)。
1H−NMR(DMSO)δ:4.82(br、2H)、7.22−7.38(m、1H)、7.23−7.53(m、3H)、7.54−7.68(m、1H)、7.79−8.12(m、6H)
攪拌機及び滴下ロートを設置した20L反応器内に、1,3−ベンズオキザゾール−2−チオール151g(1mol)、2−(ブロモメチル)ナフタレン223g(1.01mol)及びTHF2.5Lを仕込み、炭酸カリウム691g(5mol)を加えた後、室温で1時間撹拌下に反応させた。その後、水10Lを加えた後、沈殿した固体をろ過によりろ別し、得られた固体を水、メタノールで順次洗浄することにより下記式(RT−2)で表される化合物(B−2)265gを得た(収率91%)
1H−NMR(DMSO)δ:4.79(br、2H)、7.26−7.39(m、2H)、7.43−7.54(m、2H)、7.59−7.71(m、3H)、7.80−7.95(m、3H) 、8.02(s、1H)
攪拌機及び滴下ロートを設置した20L反応器内に、4−(ブロモメチル)−7−メトキシ−クロメン−2−オン269g(1mol)、1,3−ベンゾチアゾール−2−チオール167g(1mol)、及びTHF2.5Lを仕込み、炭酸カリウム691g(5mol)を加えた後、室温で1時間撹拌下に反応させた。その後、水10Lを加えた後、沈殿した固体をろ過によりろ別し、得られた固体を水、メタノールで順次洗浄することにより下記式(RT−3)で表される化合物(B−3)305gを得た(収率85%)
1H−NMR(DMSO)δ:3.01(s、3H)、4.01(s、2H)、5.61(s、2H)、6.11−6.17(m、2H)、6.48−6.56(m、1H)、6.58−6.66(m、1H)、6.99−7.08(m、2H)、7.13−7.18(m、1H)
攪拌機及び滴下ロートを設置した20L反応器内に、2−ブロモ−1−(4−ピロリジン−1−イルフェニル)エタノン268g(1mol)、1,3−ベンゾチアゾール−2−チオール167g(1mol)、及びTHF2.5Lを仕込み、炭酸カリウム691g(5mol)を加えた後、室温で1時間撹拌下に反応させた。その後、水10Lを加えた後、沈殿した固体をろ過によりろ別し、得られた固体を水、メタノールで順次洗浄することにより下記式(RT−4)で表される化合物(B−4)308gを得た(収率87%)。
1H−NMR(DMSO)δ:1.09−1.14(m、4H)2.46−2.67(m、4H)、4.18(s、2H)、5.73−5.82(m、2H)、6.48−6.56(m、1H)、6.49−6.68(m、1H)、6.93−7.02(m、1H)、7.03−7.1.4(m、2H)、7.14−7.24(m、1H)
攪拌機及び滴下ロートを設置した20L反応器内に、シクロヘキサンチオール167g(1mol)、4−(ブロモメチル)−7−メトキシ−クロメン−2−オン269g(1mol)、及びTHF2.5Lを仕込み、炭酸カリウム691g(5mol)を加えた後、室温で1時間撹拌下に反応させた。その後、水10Lを加えた後、沈殿した固体をろ過によりろ別し、得られた固体を水、メタノールで順次洗浄することにより下記式(RT−5)で表される化合物(B−5)252gを得た(収率83%)
1H−NMR(DMSO)δ:1.31−2.01(m、10H)、2.31−2.44(m、1H)、3.02(s、3H)、3.13(s、2H)、5.60(s、1H)、6.47−6.57(m、1H)、6.60−6.67(m、1H)、7.12−7.19(m、1H)
[合成例6]重合体(A−1)の合成
スチレン63.1g(70モル%)及びメタクリル酸グリシジル36.9g(30モル%)を105gの3−メトキシプロピオン酸メチルに溶解し、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)15.0gを添加して単量体溶液を調製した。次に、45gの3−メトキシプロピオン酸メチルを入れた500mLの三口フラスコを30分窒素パージした後、撹拌しながら70℃に加熱し、上記調製した単量体溶液を滴下漏斗にて2時間かけて滴下した。滴下開始を重合反応の開始時間とし、重合反応を4時間実施することで重合体(A−1)を含む重合体溶液を得た。重合体(A−1)のMwは10,000であった。
スチレン26.1g(30モル%)、メタクリル酸グリシジル59.5g(50モル%)及びメタクリル酸14.4g(20モル%)を105gの3−メトキシプロピオン酸メチルに溶解し、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)14.5gを添加して単量体溶液を調製した。次に、45gの3−メトキシプロピオン酸メチルを入れた500mLの三口フラスコを30分窒素パージした後、撹拌しながら70℃に加熱し、上記調製した単量体溶液を滴下漏斗にて2時間かけて滴下した。滴下開始を重合反応の開始時間とし、重合反応を4時間実施することで重合体(A−2)を含む重合体溶液を得た。重合体(A−2)のMwは11,000であった。
冷却管及び攪拌機を備えたフラスコに、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)7質量部及び3−メトキシプロピオン酸メチル150質量部を仕込んだ。次に、メタクリル酸40質量部及びメタクリル酸メチル60質量部を加え窒素置換した後、ゆるやかに撹拌を始めた。重合反応液の温度を70℃に上昇させ、この温度を5時間保持した後、メタクリル酸グリシジル30質量部及びテトラブチルアンモニウムブロマイド3質量部を加え、さらに90℃で10時間反応させ、重合体(A−3)を含む重合体溶液を得た。重合体(A−3)のMwは10,000であった。
撹拌機付の容器内に、プロピレングリコールモノメチルエーテル20質量部を仕込み、続いて、メチルトリメトキシシラン50質量部及びフェニルトリメトキシシラン50質量部を仕込み、溶液温度が60℃になるまで加熱した。溶液温度が60℃に到達後、リン酸0.15質量部、イオン交換水19質量部を加え、75℃になるまで加熱し、4時間保持した。さらに、溶液温度を40℃にし、この温度を保ちながらエバポレーションすることで、イオン交換水および加水分解縮合で発生したメタノールを除去した。以上により、重合体(A−4)として、加水分解縮合物であるポリシロキサンを得た。重合体(A−4)のMwは、5000であった。
[A]重合体
A−1:合成例6で合成した重合体(A−1)
A−2:合成例7で合成した重合体(A−2)
A−3:合成例8で合成した重合体(A−3)
A−4:合成例9で合成した重合体(A−4)
[B]潜在的ラジカル捕捉剤
B−1:合成例1で合成した化合物(B−1)
B−2:合成例2で合成した化合物(B−2)
B−3:合成例3で合成した化合物(B−3)
B−4:合成例4で合成した化合物(B−4)
B−5:合成例5で合成した化合物(B−5)
b−1:1,3−ベンゾチアゾール−2−チオール
b−2:テトラキス−〔メチレン−(3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロシンナメート)〕メタン(BASF社の「IRGANOX1010」)
[C]感放射線性化合物
C−1:2−メチル−1−(4−メチルチオフェニル)−2−モルフォリノプロパン−1−オン(BASF社の「イルガキュア907」:感放射線性ラジカル重合開始剤)
C−2:4,4’−[1−[4−[1−[4−ヒドロキシフェニル]−1−メチルエチル]フェニル]エチリデン]ビスフェノール(1.0モル)と、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド(2.0モル)との縮合物(感放射線性酸発生剤)
[D]重合性化合物
D−1:ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートとの混合物(日本化薬社の「KAYARAD DPHA」)
[A]重合体としての重合体(A−1)100質量部と3−メトキシプロピオン酸メチル150質量部とを含む溶液、3−メトキシプロピオン酸メチル200質量部、及び[B]潜在的ラジカル捕捉剤としての化合物(B−1)5質量部を混合し、孔径0.2μmのメンブランフィルタで濾過することにより硬化膜形成用組成物(RJ−1)を調製した。
下記表1に示す種類及び含有量の各成分を含有するように各成分を混合した以外は、実施例1と同様に操作し、実施例2〜12の硬化膜形成用組成物(RJ−2)〜(RJ−12)、及び比較例1〜4の硬化膜形成用組成物(RCJ−2)〜(RCJ−4)を調製した。表の各成分中の「−」は、該当する成分を用いなかったことを示す。
実施例1〜12及び比較例1〜4の硬化膜形成用組成物を用いて、放射線感度、透過率(透明性)、耐光性、及び保存安定性の評価を実施した。評価結果を表1に示す。なお、表の評価中の「−」は、該当する評価を行わなかったことを示す。
ガラス基板上に、硬化膜形成用組成物をスピンナを用いて塗布した後、90℃にて2分間ホットプレート上でプレベークして膜厚3.0μmの塗膜を形成した。続いて、露光機(キヤノン社の「MPA−600FA(ghi線混合)」)を用い、10μmのライン・アンド・スペース(1対1)のパターンを有するマスクを介して、塗膜に対し露光量を変量として放射線を照射した。その後、2.38質量%のテトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液にて25℃において80秒間液盛り法で現像した。次いで、超純水で1分間流水洗浄を行い、その後乾燥することにより、ガラス基板上にパターンを形成した。このとき、10μmのスペース・パターンが形成するために必要な露光量を調べた。この露光量の値が500(J/m2)以下の場合、感度は良好と判断できる。
上記放射線感度の評価と同様に、硬化膜形成用組成物を用いてシリコン基板上に塗膜を形成した。その後、感放射線性ラジカル重合開始剤(C−1)を含有する組成物には、露光機(キヤノン社の「MPA−600FA」)を用い、積算照射量が500J/m2となるように塗膜を露光し、感放射線性酸発生剤(C−2)を含有する組成物には、露光機(キヤノン社の「MPA−600FA」)を用い、積算照射量が3,000J/m2となるように塗膜を露光した。このシリコン基板をクリーンオーブン内にて220℃で30分加熱して硬化膜を形成した。この硬化膜について、波長400nmにおける透過率を、分光光度計(日立製作所社の「150−20型ダブルビーム」)を用いて測定して評価した。このとき、透過率が90%未満の場合に透明性が不良と言える。
上記放射線感度の評価と同様に、硬化膜形成用組成物を用いてシリコン基板上に塗膜を形成した。その後感放射線性酸発生剤(C−2)を含有する組成物にのみ、露光機(キャノン社の「MPA−600FA」)を用い、積算照射量が3,000J/m2となるように塗膜を露光した。このシリコン基板をクリーンオーブン内にて220℃で30分加熱して硬化膜を得た。この硬化膜に、露光機(トプコン社の「TME−400PRJ」)により313nmの波長を含む光を10,000J/m2照射した。照射前の透過率を比較した、照射後の透過率減少量(%)を耐光性として評価した。照射後の透過率減少量が1%以下であれば膜の耐光性が良好であると言える。
硬化膜形成用組成物を40℃のオーブン中で1週間放置し、オーブンに入れる前後での粘度を測定し、粘度変化率(%)を求めた。このとき、粘度変化率が5%以下である場合に保存安定性が良好といえ、5%を超える場合に保存安定性が不良といえる。評価結果を表1に示す。
合成例1で合成した化合物(B−1)0.5mgをアセトニトリル100gで希釈し、これを1cm角の石英セルに封入した。このセルにUVP社製の3UV波長切り替えハンディ型UVランプを用い、5cmの距離から365nm、302nm、254nmの各波長を一定時間照射した。HPLC測定により、溶液中の化合物(B−1)の残存量の経時変化を測定した。実験結果を図2に示す。
合成例1で合成した化合物(B−1)3.1mgとアクリル酸オクタデシル3.2mgとをアセトニトリル20gに溶解し、これを1cm角の石英セルに封入した。このセルにUVP社製の3UV波長切り替えハンディ型UVランプを用い、5cmの距離から302nmの波長にて600秒照射した。この後、NMR測定により下記化合物(X)の存在を観測した。一般に硫黄ラジカルはアクリルとの共存下では速やかにエン−チオール反応が進行することが知られている。このことから化合物(B−1)は、少なくとも302nm以下の波長の光(紫外線)により分解し硫黄ラジカルを発生し、この硫黄ラジカルが他の活性ラジカルを捕捉していることが確認された。
1a 第1基板
1b 第2基板
2 層間絶縁膜
3 液晶層
4 透明電極膜
5 液晶配向膜
6 シール材
7 注入孔
Claims (7)
- 重合体、及び
365nm未満の波長の光の吸収によりラジカル捕捉能を発現する化合物
を含有し、
感放射線性化合物をさらに含有し、
上記化合物が、下記式(1)で表され、
上記感放射線性化合物が、感放射線性ラジカル重合開始剤、感放射線性酸発生剤、感放射線性塩基発生剤又はこれらの組み合わせである表示素子用の硬化膜形成用組成物。
X−S−Y (1)
(式(1)中、Xは、炭素数1〜30の1価の有機基であり、Yは、炭素数4〜12の芳香族複素環基又は置換基を有していてもよい炭素数4〜12の脂環式基である。但し、Yが置換基を有していてもよい炭素数4〜12の脂環式基である場合、Xは、炭素数4〜30の芳香環を含む基である。) - 上記化合物が、下記式(2)で表される請求項1に記載の硬化膜形成用組成物。
X1−CH2−S−Y (2)
(式(2)中、X1は、炭素数4〜12の芳香環を含む、炭素数29以下の1価の有機基である。Yは、上記式(1)と同義である。) - 上記重合体が、エポキシ基、(メタ)アクリロイル基、ビニル基又はこれらの組み合わせを有する請求項1又は請求項2に記載の硬化膜形成用組成物。
- 請求項1、請求項2又は請求項3に記載の硬化膜形成用組成物から形成される表示素子用硬化膜。
- 基板の一方の面側に塗膜を形成する工程、
この塗膜の少なくとも一部に放射線を照射する工程、
上記放射線が照射された塗膜を現像する工程、及び
上記現像された塗膜を加熱する工程
を備え、
上記塗膜の形成に請求項1、請求項2又は請求項3に記載の硬化膜形成用組成物を用いる表示素子用硬化膜の形成方法。 - 請求項4に記載の表示素子用硬化膜を備える表示素子。
- 第1基板の一方の面側に層間絶縁膜を形成する工程、
上記層間絶縁膜の外面側及び第2基板の一方の面側に液晶配向膜を形成する工程、
上記液晶配向膜が形成された面同士を対向配置した状態で、上記第1基板と第2基板との間に重合性液晶組成物を充填する工程、及び
上記重合性液晶組成物に対する光照射により液晶層を形成する工程
を備え、
上記層間絶縁膜の形成に請求項1、請求項2又は請求項3に記載の硬化膜形成用組成物を用いる表示素子の製造方法。
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