JP6354392B2 - 半導体装置 - Google Patents

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Description

本発明は、複数のパワー素子と、複数のパワー素子を電気的に接続する導電プレートと、複数のパワー素子の電流を検出する電流検出部と、を有する半導体装置に関するものである。
特許文献1に示されるように、インバータと電流センサを備えるモータ駆動装置が知られている。インバータはU相アーム、V相アーム、W相アームを含んでおり、これら3つのアームがモータジェネレータと接続される。これら3つのアームは電源ラインと接地ラインとの間で並列接続され、同等の構成となっている。
特開2006−140217号公報
特許文献1に示されるU相アームは、2つのnpn型トランジスタと、2つのスペーサと、正極電極板と、電極板と、出力電極板と、負極電極板と、導体と、電流センサと、を有する。第1のnpn型トランジスタのエミッタが正極電極板に固設され、コレクタが第1のスペーサを介して電極板に固設されている。第2のnpn型トランジスタのエミッタが出力電極板に固設され、コレクタが第2のスペーサを介して負極電極板に固設されている。そして電極板と出力電極板とが導体を介して電気的に接続され、この導体の近傍に電流センサが配設されている。
上記したU相アームの構成では、第1のnpn型トランジスタがオン状態、第2のnpn型トランジスタがオフ状態の場合、導体を介して第1のnpn型トランジスタから出力電極板へと電流が流れる。これとは異なり、第1のnpn型トランジスタがオフ状態、第2のnpn型トランジスタがオン状態の場合、導体を介さずに出力電極板から第2のnpn型トランジスタへと電流が流れる。そのため導体を流れる電流は2つのnpn型トランジスタを入出力する電流そのものではない。したがって上記したように導体の近傍に電流センサが配設された構成では、導体における電流の流動によって生じた磁界が電流センサを透過することとなり、2つのnpn型トランジスタ(パワー素子)を入出力する電流そのものを検出することができなかった。
そこで本発明は上記問題点に鑑み、2つのパワー素子を入出力する電流を検出することが可能な半導体装置を提供することを目的とする。
上記した目的を達成するための第1発明は、インバータを構成する複数のパワー素子(11,12)と、複数のパワー素子を電気的に接続する導電プレート(13)と、複数のパワー素子に入力される電流、および、複数のパワー素子から出力される電流の流動によって生じる磁界に基づいて、複数のパワー素子の電流を検出する電流検出部(50)と、を有する半導体装置であって、複数のパワー素子として、少なくとも第1パワー素子(11)と第2パワー素子(12)を有し、導電プレートは、第1パワー素子の一端が接続される第1搭載部(29)と、第2パワー素子の一端が接続される第2搭載部(30)と、第1パワー素子の他端が接続される第3搭載部(31)と、第2パワー素子の他端が接続される第4搭載部(32)と、第2搭載部と第3搭載部とを電気的に接続することで第1パワー素子と第2パワー素子とを直列接続する第1連結部(41,42,44)と、第2搭載部若しくは第3搭載部と電気的に接続された出力端子(28)と、を有し、第1搭載部が第1電源に接続され、第4搭載部が第2電源に接続されており、出力端子に電流検出部が固定され、出力端子の電流の流動によって生じる磁界が電流検出部を透過し、平行の関係にある3つの平面を第1平面(P1)、第2平面(P2)、第3平面(P3)とし、第1平面と第2平面との間に第3平面が位置する、とすると、第1搭載部と第2搭載部とが第1平面に位置し、第3搭載部と第4搭載部とが第2平面に位置し、第1パワー素子と第2パワー素子とが第3平面に位置しており、第1連結部は第3平面を横断して第2搭載部から第3搭載部へと延びた形状を成し、電流検出部は、第1平面と第2平面との間に位置し、出力端子は、電流検出部の固定される第5搭載部(45)と、第2搭載部若しくは第3搭載部と第5搭載部とを連結する第2連結部(46)と、を有し、第5搭載部は、第1搭載部と第3搭載部との対向領域、および、第2搭載部と第4搭載部との対向領域それぞれから外れた領域に位置し、第1パワー素子および第2パワー素子から出力される電磁ノイズが電流検出部を透過することを抑制するシールド(90)を有し、シールドは、第1平面に位置する平板状の第1シールド部(91)と、第2平面に位置する平板状の第2シールド部(92)と、を有し、第1シールド部と第2シールド部はそれぞれグランドに接続されており、第1シールド部の主面(91a)と第2シールド部の主面(92a)とが電流検出部および第5搭載部を介して対向していることを特徴とする。
上記した目的を達成するための第2発明は、インバータを構成する複数のパワー素子(11,12)と、複数のパワー素子を電気的に接続する導電プレート(13)と、複数のパワー素子に入力される電流、および、複数のパワー素子から出力される電流の流動によって生じる磁界に基づいて、複数のパワー素子の電流を検出する電流検出部(50)と、を有する半導体装置であって、複数のパワー素子として、少なくとも第1パワー素子(11)と第2パワー素子(12)を有し、導電プレートは、第1パワー素子の一端が接続される第1搭載部(29)と、第2パワー素子の一端が接続される第2搭載部(30)と、第1パワー素子の他端が接続される第3搭載部(31)と、第2パワー素子の他端が接続される第4搭載部(32)と、第2搭載部と第3搭載部とを電気的に接続することで第1パワー素子と第2パワー素子とを直列接続する第1連結部(41,42,44)と、第2搭載部若しくは第3搭載部と電気的に接続された出力端子(28)と、を有し、第1搭載部が第1電源に接続され、第4搭載部が第2電源に接続されており、出力端子に電流検出部が固定され、出力端子の電流の流動によって生じる磁界が電流検出部を透過し、平行の関係にある3つの平面を第1平面(P1)、第2平面(P2)、第3平面(P3)とし、第1平面と第2平面との間に第3平面が位置する、とすると、第1搭載部と第4搭載部とが第1平面に位置し、第2搭載部と第3搭載部とが第2平面に位置し、第1パワー素子と第2パワー素子とが第3平面に位置しており、第1連結部(42)は第2平面に沿って第2搭載部から第3搭載部へと延びた形状を成し、電流検出部は、第1平面と第2平面との間に位置し、出力端子は、電流検出部の固定される第5搭載部(45)と、第2搭載部若しくは第3搭載部と第5搭載部とを連結する第2連結部(46)と、を有し、第5搭載部は、第1搭載部と第3搭載部との対向領域、および、第2搭載部と第4搭載部との対向領域それぞれから外れた領域に位置し、第1パワー素子および第2パワー素子から出力される電磁ノイズが電流検出部を透過することを抑制するシールド(90)を有し、シールドは、第1平面に位置する平板状の第1シールド部(91)と、第2平面に位置する平板状の第2シールド部(92)と、を有し、第1シールド部と第2シールド部はそれぞれグランドに接続されており、第1シールド部の主面(91a)と第2シールド部の主面(92a)とが電流検出部および第5搭載部を介して対向していることを特徴とする。
上記したように第1パワー素子(11)と第2パワー素子(12)とが第1連結部(41,42,44)を介して直列接続されている構成では、第1連結部(41,42,44)を介して第1パワー素子(11)から出力端子(28)へと電流が流れる。若しくは、第1連結部(41,42,44)を介さずに出力端子(28)から第2パワー素子(12)へと電流が流れる。そのため第1連結部(41,42,44)を流れる電流は2つのパワー素子(11,12)を入出力する電流そのものではない。したがって第1連結部に電流検出部が固定された構成では、第1連結部の電流の流動によって生じる磁界が電流検出部を透過することとなり、2つのパワー素子を入出力する電流を検出することができない。これに対して本発明では、出力端子(28)に電流検出部(50)が固定され、出力端子(28)の電流の流動によって生じる磁界が電流検出部(50)を透過する。これによれば、2つのパワー素子(11,12)を入出力する電流を電流検出部(50)によって検出することができる。
なお、特許請求の範囲に記載の請求項、および、課題を解決するための手段それぞれに記載の要素に括弧付きで符号をつけているが、この括弧付きの符号は実施形態に記載の各構成要素との対応関係を簡易的に示すためのものであり、実施形態に記載の要素そのものを必ずしも示しているわけではない。括弧付きの符号の記載は、いたずらに特許請求の範囲を狭めるものではない。
半導体装置の等価回路を示す回路図である。 パワーカードと電流検出部の概略構成を示す上面図である。 図2のIII−III線に沿う断面図である。 リードフレームにパワー素子と電流センサが実装された状態を示す上面図である。 第2導電プレートを示す上面図である。 第2導電プレートがパワー素子に実装された状態を示す上面図である。 半導体装置の変形例を示す上面図である。 半導体装置の変形例を示す断面図である。 半導体装置の変形例を示す上面図である。 図9のX−X線に沿う断面図である。 図9のXI−XI線に沿う断面図である。
以下、本発明の実施形態を図に基づいて説明する。
(第1実施形態)
図1〜図6に基づいて、本実施形態に係る半導体装置を説明する。図1では半導体装置100の他に3相モータ200と制御装置300を図示している。図3では後述するアーム部41〜43の接続を明示するために、その領域にハッチングを入れている。以下においては互いに直交の関係にある3方向を、x方向、y方向、z方向と示す。
図1〜図3に示すように半導体装置100は、インバータを構成するパワーカード10と、パワーカード10の電流を検出する電流検出部50と、を有する。図1に示すように半導体装置100は3つのパワーカード10を有し、これら3つのパワーカード10によってインバータが構成されている。このインバータを構成する3つのパワーカード10と3相モータ200とが電気的に接続されており、パワーカード10は制御装置300によって駆動が制御される。半導体装置100は上記した3つのパワーカード10それぞれに対応する電流検出部50を有しており、電流検出部50はパワーカード10と3相モータ200との間で流れる電流を検出する。
上記した3つのパワーカード10は同等の構成となっている。したがって図1では3つのパワーカード10の内の1つの等価回路のみを図示している。3つのパワーカード10それぞれは、パワー素子11,12と、パワー素子11,12を電気的および機械的に接続する導電プレート13と、パワー素子11,12と導電プレート13とを被覆保護する被覆部14と、を有する。図1に示すように第1パワー素子11と第2パワー素子12とが直列接続され、その中点が3相モータ200に電気的に接続されている。本実施形態に係るパワー素子11,12はIGBTであり、第1パワー素子11のコレクタ電極が電源に接続され、第1パワー素子11のエミッタ電極が第2パワー素子12のコレクタ電極に接続されている。そして第2パワー素子12のエミッタ電極がグランドに接続されている。これによってパワー素子11,12が電源からグランドに向かって順に直列接続されている。電源が特許請求の範囲に記載の第1電源に相当し、グランドが特許請求の範囲に記載の第2電源に相当する。例えば第1パワー素子11が駆動状態であり、第2パワー素子12が非駆動状態の場合、図1に実線矢印で示すように第1パワー素子11から3相モータ200へと電流が流れる。これとは異なり、第1パワー素子11が非駆動状態であり、第2パワー素子12が駆動状態の場合、図1に破線矢印で示すように3相モータ200から第2パワー素子12へと電流が流れる。このようにパワー素子11,12の駆動状態の変動に応じてパワー素子11,12から3相モータ300へ電流が流れ出たり、3相モータ300からパワー素子11,12へ電流が流れ込んだりする。なお図1に示すようにパワー素子11,12それぞれに対してダイオード15,16が逆並列接続されているが、これはパワー素子11,12の寄生ダイオードである。以下においては1つのパワーカード10とこれに対応する1つの電流検出部50を図2〜図6に基づいて詳説する。
導電プレート13は下プレート17と上プレート18を有する。下プレート17はパワー素子11,12および電流検出部50を搭載する搭載部19、および、被覆部14から外部に露出され、上記した3相モータ200や制御装置300と電気的に接続される端子部20を有する。下プレート17は図4および図6に示すリードフレーム21から搭載部19と端子部20を連結する連結部22が除去されることで成るが、それは以下に示す工程を経ることで成される。先ず、図4に示すように後述するブロック33,34とともにパワー素子11,12と電流検出部50それぞれをリードフレーム21に固定し、ワイヤ23を介して後述する第1端子24と電気的に接続する。その後、図6に示すように上プレート18をブロック33,34に固定する。そして図3に示すようにブロック33,34、パワー素子11,12、電流検出部50が搭載されたリードフレーム21、および、後述するシールド90を被覆部14によって被覆して一体的に連結する。その後に連結部22を除去して搭載部19と端子部20とを切り離す。以上の工程を経ることで図2および図3に示す下プレート17が形成されるとともにパワーカード10が製造される。搭載部19と上プレート18の詳細な構造については後述する。
端子部20は、制御装置300と電気的に接続される複数の第1端子24と、第1端子24よりも面積が大きく抵抗の小さい複数の第2端子25と、を有する。図2に示すように第1端子24におけるパワー素子11,12側の端部にワイヤ23が接続されて被覆部14によって被覆されるとともに、その反対側の端部が被覆部14から外部に露出されている。この第1端子24における外部に露出された端部が制御装置300と電気的に接続される。
第2端子25は電源に接続される電源端子26と、グランドに接続される接地端子27と、3相モータ200に接続される出力端子28と、を有する。図4に示すように電源端子26は後述する第1搭載部29と一体的に連結され、図6に示すように接地端子27は後述する第4搭載部32と導電部材(図示略)を介して電気的に接続されている。本実施形態に係る接地端子27はグランドと電気的に接続される外部端子27aと、外部端子27aから電流検出部50に向かって延びたL字形状の延設部27bと、を有する。図2に示すように延設部27bと後述するシールド90とがワイヤ93を介して電気的に接続され、シールド90がグランドに接続されている。なお図4に示すように出力端子28は後述する第2搭載部30と一体的に連結されているが、その詳細については後述する。
電流検出部50は、パワーカード10(パワー素子11,12)に入力される電流、および、パワーカード10から出力される電流の流動によって生じる磁界に基づいて、パワーカード10を入出力する電流(出力端子28の電流)を検出するものである。電流検出部50は、磁界を電気信号に変換する磁電変換部51と、磁電変換部51から出力される電気信号に基づいてパワーカード10の電流を算出する算出部52と、を有する。本実施形態では磁電変換部51と算出部52とが配線基板53に実装され、この配線基板53を介して互いに電気的に接続されている。図3に示すように出力端子28に電流検出部50が固定され、出力端子28の電流の流動によって生じる磁界が電流検出部50を透過するようになっている。図示しないが、本実施形態に係る磁電変換部51は複数の磁気抵抗効果素子によってブリッジ回路が組まれて成る。磁気抵抗効果素子としては巨大磁気抵抗効果素子やトンネル磁気抵抗効果素子を採用することができ、z方向に対して直交する方向に沿う磁界(後述するx−y平面に沿う磁界)を検出し、z方向に沿う磁界を検出しない性質を有する。本実施形態に係る電流検出部50は上記した磁気抵抗効果素子の初期値を定めるためのバイアス磁界を印加するバイアス磁石54を有する。このバイアス磁石54は図3に示すように出力端子28における配線基板53の搭載面の裏面に設けられている。
本実施形態に係る半導体装置100は上記したパワーカード10と電流検出部50の他に、パワー素子11,12から出力される電磁ノイズが電流検出部50を透過することを抑制するシールド90を有する。シールド90は、平板状のシールド部91,92を有し、シールド部91,92はそれぞれグランドに接続されている。図3に示すようにシールド部91,92それぞれの主面(最も面積の大きい面)はz方向に直交しており、シールド部91,92の間に電流検出部50とともに出力端子28の一部が設けられている。これらシールド部91,92は図6に示すリードフレーム21とともに被覆部14を形成するための金型内に配置され、被覆部14を構成する樹脂材料によって被覆される。なお、もちろんではあるが、上記した樹脂材料によって被覆される前に、シールド部91,92と接地端子27とはワイヤ93を介して電気的に接続される。シールド部91,92と接地端子27との相対位置は図示しない治具などによって固定され、この固定状態においてワイヤ93が接続される。シールド部91,92と出力端子28に設けられた電流検出部50の構成については後述する。
次に、搭載部19と上プレート18の詳細な構造について説明する。以下においてはx方向とy方向とによって規定される平面をx−y平面、y方向とz方向とによって規定される平面をy−z平面、z方向とx方向とによって規定される平面をz−x平面と示す。そして、x−y平面に沿う3つの平行な平面を第1〜第3平面P1〜P3とする。これら第1〜第3平面P1〜P3はz方向の位置が異なっており、第3平面P3は第1平面P1と第2平面P2との間に位置している。図3において第1平面P1を破線で示し、第2平面P2を一点鎖線で示し、第3平面P3を二点鎖線で示す。z方向における第1平面P1と第2平面P2との離間距離が本実施形態に係るパワーカード10(半導体装置100)のz方向の長さ(厚さ)に相当する。
図3に示すように搭載部19は、第1パワー素子11のコレクタ電極が電気的および機械的に接続される第1搭載部29と、第2パワー素子12のコレクタ電極が電気的および機械的に接続される第2搭載部30と、を有する。そして上プレート18は第1パワー素子11のエミッタ電極が電気的および機械的に接続される第3搭載部31と、第2パワー素子12のエミッタ電極が電気的および機械的に接続される第4搭載部32と、を有する。上記した第1平面P1に搭載部29,30が位置し、第2平面P2に搭載部31,32が位置している。そしてパワー素子11,12が第3平面P3に位置している。なお、kを1〜3の自然数とすると、第k平面Pkに位置するとは、第k平面Pkを物体の重心が通る、若しくは、第k平面Pkに物体の一面が沿うことを意味している。
導電プレート13は上記したプレート17,18の他に、z方向においてパワー素子11,12と搭載部31,32とを離間することでパワー素子11,12にワイヤ23を接続するための導電性のブロック33,34を有する。図3に示すように、はんだなどの第1導電部材35を介して第1パワー素子11のコレクタ電極が第1搭載部29に接続され、第2導電部材36を介して第1ブロック33が第1パワー素子11のエミッタ電極に接続されている。また第3導電部材37を介して第1ブロック33が第3搭載部31に接続されている。これにより、第1搭載部29が第1パワー素子11のコレクタ電極と同電位とされ、第3搭載部31が第1パワー素子11のエミッタ電極と同電位とされている。なお、第1搭載部29における第1パワー素子11が第1導電部材35を介して搭載される搭載面29aは被覆部14によって被覆されているが、その裏面29bは被覆部14から露出されている。同様にして、第3搭載部31における第1パワー素子11が導電部材36,37および第1ブロック33を介して搭載される搭載面31aは被覆部14によって被覆されているが、その裏面31bは被覆部14から露出されている。このように第1パワー素子11のコレクタ電極およびエミッタ電極と電気的に接続された搭載部29,31の裏面29b、31bが被覆部14から露出され、両面放熱の構成となっている。裏面29bは第1平面P1に沿い、裏面31bは第3平面P3に沿っている。
第2パワー素子12は第1パワー素子11と同等の構成となっている。すなわち、第4導電部材38を介して第2パワー素子12のコレクタ電極が第2搭載部30に接続され、第5導電部材39を介して第2ブロック34が第2パワー素子12のエミッタ電極に接続されている。また第6導電部材40を介して第2ブロック34が第4搭載部32に接続されている。これにより、第2搭載部30が第2パワー素子12のコレクタ電極と同電位とされ、第4搭載部32が第2パワー素子12のエミッタ電極と同電位とされている。なお、第2搭載部30における第2パワー素子12が第4導電部材38を介して搭載される搭載面30aは被覆部14によって被覆されているが、その裏面30bは被覆部14から露出されている。同様にして、第4搭載部32における第2パワー素子12が導電部材39,40および第2ブロック34を介して搭載される搭載面32aは被覆部14によって被覆されているが、その裏面32bは被覆部14から露出されている。このように第2パワー素子12のコレクタ電極およびエミッタ電極と電気的に接続された搭載部30,32の裏面30b、32bが被覆部14から露出され、両面放熱の構成となっている。裏面30bは第1平面P1に沿い、裏面32bは第3平面P3に沿っている。
図4に示すように搭載部19は、上記した搭載部29,30の他に、第2搭載部30と第3搭載部31とを電気的に接続するための第1下アーム部41を有する。そして図5に示すように上プレート18は、上記した搭載部31,32の他に、第2搭載部30と第3搭載部31とを電気的に接続するための第1上アーム部42と、第4搭載部32と接地端子27とを電気的に接続するための第2上アーム部43と、を有する。図3に示すように第1下アーム部41は第3平面P3を横断して第2搭載部30から第3搭載部31へと延びた形状を成し、第7導電部材44を介して第1上アーム部42と電気的に接続されている。これによって第1パワー素子11と第2パワー素子12とが直列接続されている。上記した第1下アーム部41、第1上アーム部42、および、第7導電部材44によって特許請求の範囲に記載の第1連結部が構成されている。また第2上アーム部43は第3平面P3を横断して第4搭載部32から接地端子27へと延びた形状を成し、導電部材(図示略)を介して接地端子27と電気的に接続されている。これによって第2パワー素子12のエミッタ電極がグランドに接続されている。
次に、出力端子28について説明する。図2および図3に示すように、搭載部29,31に固定された第1パワー素子11、搭載部30,32に固定された第2パワー素子12、および、出力端子28はx方向に沿って順に並んでいる。そして出力端子28は、電流検出部50の搭載される第5搭載部45と、第5搭載部45と第2搭載部30とを連結する第2下アーム部46と、を有する。第5搭載部45は図2および図4に示すようにx−y平面においてL字状を成し、その一端が第2下アーム部46を介して第2搭載部30と連結され、その他端が被覆部14から外部に露出されている。そして図3に示すように電流検出部50を搭載した第5搭載部45は第1平面P1と第2平面P2との間に位置している。第2下アーム部46は第2搭載部30から第5搭載部45へと向かって延びた形状を成し、搭載部30,45を一体的に連結している。第2下アーム部46が特許請求の範囲に記載の第2連結部に相当する。
次に、シールド部91,92と出力端子28に設けられた電流検出部50の構成について説明する。図3に示すように第1シールド部91は搭載部29,30とともに第1平面P1に位置し、第2シールド部92は搭載部31,32とともに第2平面P2に位置している。そして主面91aと主面92aとが被覆部14、電流検出部50、および、第5搭載部45を介してz方向で対向している。これにより出力端子28(第5搭載部45)のy方向への電流の流動によってz−x平面にて生じる磁界を電流検出部50に透過させつつ、シールド部91,92の間の領域へとx−y平面に沿って進む外部磁界をシールド部91,92へと曲げることができる。これによってx−y平面に沿って進む外部磁界がシールド部91,92の間の領域に位置する電流検出部50を透過することが抑制される。ただし、シールド部91,92の間の領域へとz方向に沿って進む外部磁界はシールド部91,92によってその軌跡が曲げられない。そのためz方向に沿って進む外部磁界は電流検出部50を透過する。しかしながら上記したように電流検出部50はx−y平面に沿う磁界を検出するが、z方向に沿う磁界を検出しない性質を有する。そのため、z方向に沿う外部磁界がシールド部91,92を介して電流検出部50を透過したとしても、出力端子28を流れる電流の検出精度の低下が抑制される。なおx−y平面に対して斜めに進む外部磁界がシールド部91,92に進んだ場合、その外部磁界のz方向に沿う成分はシールド部91,92によってその軌跡が曲げられないが、x−y平面に沿う成分はシールド部91,92によってその軌跡が曲げられる。また図3に示すように、シールド部91,92の主面91a,92aの裏面91b,92bそれぞれは被覆部14から外部に露出されている。したがってシールド部91,92はパワー素子11,12にて生じた熱を放熱する機能も果たしている。裏面91bは第1平面P1に沿い、裏面92bは第3平面P3に沿っている。
次に、本実施形態に係る半導体装置100の作用効果を説明する。上記したように、第1パワー素子11が駆動状態であり、第2パワー素子12が非駆動状態の場合、図1に実線矢印で示すように第1パワー素子11から3相モータ200へと電流が流れる。これとは異なり、第1パワー素子11が非駆動状態であり、第2パワー素子12が駆動状態の場合、図1に破線矢印で示すように3相モータ200から第2パワー素子12へと電流が流れる。したがって上記したように第1パワー素子11と第2パワー素子12とがアーム部41,42および第7導電部材44を介して直列接続されている構成では、パワー素子11,12の駆動状態に応じて以下のように電流が流れる。すなわち、第1パワー素子11が駆動状態であり、第2パワー素子12が非駆動状態の場合、アーム部41,42および第7導電部材44を介して第1パワー素子11から第2パワー素子12のコレクタ電極に接続された出力端子28へと電流が流れる。これとは異なり、第1パワー素子11が非駆動状態であり、第2パワー素子12が駆動状態の場合、アーム部41,42および第7導電部材44を介さずに出力端子28から第2パワー素子12へと電流が流れる。そのためアーム部41,42および第7導電部材44を流れる電流は2つのパワー素子11,12を入出力する電流(パワーカード10を入出力する電流)そのものではない。したがって2つのパワー素子を直列接続するアーム部に電流検出部が固定された構成では、アーム部41,42の電流の流動によって生じる磁界が電流検出部50を透過することとなり、パワーカード10を入出力する電流を検出することができない。これに対して本発明に係る半導体装置100では、上記したように出力端子28に電流検出部50が固定され、出力端子28の電流の流動によって生じる磁界が電流検出部50を透過する。これによれば、パワーカード10を入出力する電流を電流検出部50によって検出することができる。
電流検出部50は、第1平面P1と第2平面P2との間に位置している。これによれば、電流検出部が第1平面と第2平面との間の空間よりも外に位置する構成と比べて、半導体装置100の体格の増大が抑制される。
搭載部29,31の固定された第1パワー素子11、搭載部30,32の固定された第2パワー素子12、および、出力端子28がx方向に沿って順に並んでいる。これにより電流検出部50の固定された出力端子28が、第1搭載部29と第3搭載部31との対向領域、および、第2搭載部30と第4搭載部32との対向領域それぞれから外れた領域に位置している。したがって電流検出部の固定された出力端子が第1搭載部と第3搭載部との間や第2搭載部や第4搭載部との間に設けられる構成とは異なり、搭載部29,31の間、および、搭載部30,32の間それぞれの距離(半導体装置100の厚さ)が電流検出部50や出力端子28に依存しなくなる。したがって半導体装置100の厚さの増大が抑制される。
第1シールド部91は搭載部29,30とともに第1平面P1に位置し、第2シールド部92は搭載部31,32とともに第2平面P2に位置している。これによれば、シールド部が第1平面と第2平面との間の空間よりも外に位置する構成と比べて、半導体装置100の体格の増大が抑制される。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は上記した実施形態になんら制限されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々変形して実施することが可能である。
本実施形態に係る半導体装置100は3つのパワーカード10を有する例を示した。しかしながら半導体装置100はインバータを構成する3つのパワーカード10の内の少なくとも1つを有すれば良い。すなわち、半導体装置100単体によってインバータを構成する必要はなく、そのインバータの少なくとも一部を構成すればよい。
本実施形態では1つのパワーカード10が2つのパワー素子11,12を有する例を示した。しかしながらパワーカード10が2つのパワー素子11,12を3組有する構成を採用することもできる。この構成の場合、3組のパワー素子11,12、および、3組のパワー素子11,12それぞれに対応する導電プレート13が共通の1つの被覆部14によって一体的に連結される。
本実施形態ではパワー素子11,12がIGBTである例を示した。しかしながらパワー素子11,12としては上記例に限定されず、例えばMOSFETを採用することもできる。
本実施形態では接地端子27が外部端子27aと延設部27bを有する例を示した。しかしながら図7に示すように接地端子27は延設部27bを有さなくともよい。この場合、シールド90は複数の第1端子24の内、グランド電位に固定される第1端子24にワイヤ93を介して電気的に接続される。若しくは、図示しないが、例えば第2シールド部92の一部が複数の第1端子24の1つを成し、それがグランドに接続される構成を採用することもできる。この場合、第1シールド部91と第2シールド部92とが一体的に連結された構成を採用することができる。ただし、シールド部91,92は銅などの熱伝導性の高い金属材料から成るリードフレーム21とは磁性の異なる材料(例えば鉄やパーマロイ)から成る。
本実施形態では第2搭載部30に第2パワー素子12のコレクタ電極が接続され、第4搭載部32に第2パワー素子12のエミッタ電極が接続される例を示した。そして第1下アーム部41が第3平面P3を横断して第2搭載部30から第3搭載部31へと延び、第7導電部材44を介して第1上アーム部42と電気的に接続される例を示した。しかしながら第2搭載部30に第2パワー素子12のエミッタ電極が接続され、第4搭載部に第2パワー素子12のコレクタ電極が接続される構成の場合、図8に示す構成を採用することもできる。すなわち、第3搭載部31と第4搭載部32とが第2平面P2に沿って延びた第1上アーム部42を介して一体的に連結されることで、第1パワー素子11と第2パワー素子12とが直列接続される構成を採用することもできる。この変形例の場合、第1下アーム部41と第7導電部材44が不要となる。第1上アーム部42が特許請求の範囲に記載の第1連結部に相当する。そして図8に示す第2搭載部30が特許請求の範囲に記載の第4搭載部に相当し、第3搭載部31が特許請求の範囲に記載の第2搭載部に相当する。また第4搭載部32が特許請求の範囲に記載の第3搭載部に相当する。なお、図8では構成を明瞭とするために、搭載部30,32と第1上アーム部42との境界を破線で示している。
本実施形態では磁電変換部51が複数の磁気抵抗効果素子によってブリッジ回路が組まれて成る例を示した。しかしながら磁電変換部51としては上記例に限定されず、例えばホール素子を採用することもできる。この場合、図9〜図11に示すように電流検出部50は、出力端子28の電流の流動によって生じた磁界を集磁して、磁電変換部51(ホール素子)に透過させる集磁コア55を有し、磁電変換部51は複数ある第1端子24の内の1つに搭載される。集磁コア55はギャップを有する環状を成して出力端子28を囲み、そのギャップを構成する2つの端部55a,55b間に磁電変換部51が設けられる。これによって出力端子28の電流の流動によって生じる磁界が集磁コア55によって集磁され、その集磁された磁界が磁電変換部51を透過する。なお、端部55a,55bとは、集磁コア55における出力端子28から第1端子24側の部位であり、その他の部位は環状を構成して出力端子28を囲む本体部55cである。端部55a,55bと本体部55cとの境界を図11において破線で示す。
図9〜図11では算出部52を図示しないが、磁電変換部51は算出部52を有しても有さなくとも良い。さらに言えば、図9〜図11ではシールド90を図示しないが、半導体装置100はシールド90を有しても有さなくとも良い。この半導体装置100がシールド90を有する場合、シールド部91,92の間に磁電変換部51とともに集磁コア55が設けられる。
本実施形態では半導体装置100がシールド90を有する例を示した。しかしながら半導体装置100はシールド90を有さなくともよい。
本実施形態ではシールド90は、平板状のシールド部91,92を有する例を示した。しかしながらシールド部91,92の形状としては上記例に限定されず、例えば出力端子28の周囲を囲む形状を採用することもできる。この場合、シールド90はシールド部91,92の内の少なくとも一方を有すればよく、その形状としては例えばギャップを有する環状を採用することができる。
本実施形態ではシールド部91,92の裏面91b,92bそれぞれが被覆部14から外部に露出された構成を示した。しかしながらシールド部91,92の全面が被覆部14によって被覆された構成を採用することもできる。
11・・・第1パワー素子、12・・・第2パワー素子、13・・・導電プレート、28・・・出力端子、29・・・第1搭載部、30・・・第2搭載部、31・・・第3搭載部、32・・・第4搭載部、41・・・第1下アーム部、42・・・第1上アーム部、44・・・第7導電部材、50・・・電流検出部、100・・・半導体装置

Claims (4)

  1. インバータを構成する複数のパワー素子(11,12)と、
    複数の前記パワー素子を電気的に接続する導電プレート(13)と、
    複数の前記パワー素子に入力される電流、および、複数の前記パワー素子から出力される電流の流動によって生じる磁界に基づいて、複数の前記パワー素子の電流を検出する電流検出部(50)と、を有する半導体装置であって、
    複数の前記パワー素子として、少なくとも第1パワー素子(11)と第2パワー素子(12)を有し、
    前記導電プレートは、
    前記第1パワー素子の一端が接続される第1搭載部(29)と、
    前記第2パワー素子の一端が接続される第2搭載部(30)と、
    前記第1パワー素子の他端が接続される第3搭載部(31)と、
    前記第2パワー素子の他端が接続される第4搭載部(32)と、
    前記第2搭載部と前記第3搭載部とを電気的に接続することで前記第1パワー素子と前記第2パワー素子とを直列接続する第1連結部(41,42,44)と、
    前記第2搭載部若しくは前記第3搭載部と電気的に接続された出力端子(28)と、を有し、
    前記第1搭載部が第1電源に接続され、前記第4搭載部が第2電源に接続されており、
    前記出力端子に前記電流検出部が固定され、前記出力端子の電流の流動によって生じる磁界が前記電流検出部を透過し、
    平行の関係にある3つの平面を第1平面(P1)、第2平面(P2)、第3平面(P3)とし、前記第1平面と前記第2平面との間に前記第3平面が位置する、とすると、
    前記第1搭載部と前記第2搭載部とが前記第1平面に位置し、
    前記第3搭載部と前記第4搭載部とが前記第2平面に位置し、
    前記第1パワー素子と前記第2パワー素子とが前記第3平面に位置しており、
    前記第1連結部は前記第3平面を横断して前記第2搭載部から前記第3搭載部へと延びた形状を成し、
    前記電流検出部は、前記第1平面と前記第2平面との間に位置し、
    前記出力端子は、前記電流検出部の固定される第5搭載部(45)と、前記第2搭載部若しくは前記第3搭載部と前記第5搭載部とを連結する第2連結部(46)と、を有し、
    前記第5搭載部は、前記第1搭載部と前記第3搭載部との対向領域、および、前記第2搭載部と前記第4搭載部との対向領域それぞれから外れた領域に位置し、
    前記第1パワー素子および前記第2パワー素子から出力される電磁ノイズが前記電流検出部を透過することを抑制するシールド(90)を有し、
    前記シールドは、前記第1平面に位置する平板状の第1シールド部(91)と、前記第2平面に位置する平板状の第2シールド部(92)と、を有し、前記第1シールド部と前記第2シールド部はそれぞれグランドに接続されており、
    前記第1シールド部の主面(91a)と前記第2シールド部の主面(92a)とが前記電流検出部および前記第5搭載部を介して対向していることを特徴とする半導体装置。
  2. インバータを構成する複数のパワー素子(11,12)と、
    複数の前記パワー素子を電気的に接続する導電プレート(13)と、
    複数の前記パワー素子に入力される電流、および、複数の前記パワー素子から出力される電流の流動によって生じる磁界に基づいて、複数の前記パワー素子の電流を検出する電流検出部(50)と、を有する半導体装置であって、
    複数の前記パワー素子として、少なくとも第1パワー素子(11)と第2パワー素子(12)を有し、
    前記導電プレートは、
    前記第1パワー素子の一端が接続される第1搭載部(29)と、
    前記第2パワー素子の一端が接続される第2搭載部(30)と、
    前記第1パワー素子の他端が接続される第3搭載部(31)と、
    前記第2パワー素子の他端が接続される第4搭載部(32)と、
    前記第2搭載部と前記第3搭載部とを電気的に接続することで前記第1パワー素子と前記第2パワー素子とを直列接続する第1連結部(41,42,44)と、
    前記第2搭載部若しくは前記第3搭載部と電気的に接続された出力端子(28)と、を有し、
    前記第1搭載部が第1電源に接続され、前記第4搭載部が第2電源に接続されており、
    前記出力端子に前記電流検出部が固定され、前記出力端子の電流の流動によって生じる磁界が前記電流検出部を透過し、
    平行の関係にある3つの平面を第1平面(P1)、第2平面(P2)、第3平面(P3)とし、前記第1平面と前記第2平面との間に前記第3平面が位置する、とすると、
    前記第1搭載部と前記第4搭載部とが前記第1平面に位置し、
    前記第2搭載部と前記第3搭載部とが前記第2平面に位置し、
    前記第1パワー素子と前記第2パワー素子とが前記第3平面に位置しており、
    前記第1連結部(42)は前記第2平面に沿って前記第2搭載部から前記第3搭載部へと延びた形状を成し、
    前記電流検出部は、前記第1平面と前記第2平面との間に位置し、
    前記出力端子は、前記電流検出部の固定される第5搭載部(45)と、前記第2搭載部若しくは前記第3搭載部と前記第5搭載部とを連結する第2連結部(46)と、を有し、
    前記第5搭載部は、前記第1搭載部と前記第3搭載部との対向領域、および、前記第2搭載部と前記第4搭載部との対向領域それぞれから外れた領域に位置し、
    前記第1パワー素子および前記第2パワー素子から出力される電磁ノイズが前記電流検出部を透過することを抑制するシールド(90)を有し、
    前記シールドは、前記第1平面に位置する平板状の第1シールド部(91)と、前記第2平面に位置する平板状の第2シールド部(92)と、を有し、前記第1シールド部と前記第2シールド部はそれぞれグランドに接続されており、
    前記第1シールド部の主面(91a)と前記第2シールド部の主面(92a)とが前記電流検出部および前記第5搭載部を介して対向していることを特徴とする半導体装置。
  3. 前記出力端子の電流の流動によって生じる磁界を集磁する集磁コア(55)を有し、
    前記集磁コアによって集磁された前記出力端子の磁界が前記電流検出部を透過することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半導体装置。
  4. 前記電流検出部は、磁界を電気信号に変換する磁電変換部(51)と、前記磁電変換部から出力される電気信号に基づいて前記第1パワー素子および前記第2パワー素子の電流を算出する算出部(52)と、を有することを特徴とする請求項1〜いずれか1項に記載の半導体装置。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11570921B2 (en) * 2015-06-11 2023-01-31 Tesla, Inc. Semiconductor device with stacked terminals
JP6475660B2 (ja) * 2016-03-30 2019-02-27 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワー半導体装置
JP6772768B2 (ja) * 2016-11-09 2020-10-21 株式会社デンソー 半導体装置
JP7003641B2 (ja) * 2017-12-26 2022-01-20 株式会社デンソー 半導体モジュール及び電力変換装置
JP6701240B2 (ja) * 2018-02-09 2020-05-27 本田技研工業株式会社 素子ユニット
DE102019003373B4 (de) * 2019-05-14 2023-08-10 Infineon Technologies Austria Ag Leistungshalbleitervorrichtung mit integrierter Strommessung und Leistungsmodul diese aufweisend und Verfahren zum Messen eines Stroms darin
JP7463909B2 (ja) * 2020-08-25 2024-04-09 株式会社デンソー 半導体装置及びその製造方法
JP2022180876A (ja) * 2021-05-25 2022-12-07 株式会社オートネットワーク技術研究所 回路構成体
DE102022102966A1 (de) 2022-02-09 2023-08-10 Audi Aktiengesellschaft Halbleiter-Modul mit integriertem Stromsensor
WO2023213346A1 (de) 2022-05-06 2023-11-09 Fachhochschule Kiel Leistungshalbleiter-modul mit steckverbindung

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3580297B2 (ja) * 2002-04-01 2004-10-20 日産自動車株式会社 電流検出機能付き半導体装置
US7859105B2 (en) * 2002-04-04 2010-12-28 Hitachi, Ltd. Power converter, power system provided with same, and mobile body
JP2006140217A (ja) * 2004-11-10 2006-06-01 Toyota Motor Corp 半導体モジュール
JP4900019B2 (ja) * 2007-04-19 2012-03-21 富士電機株式会社 絶縁トランスおよび電力変換装置
JP5051441B2 (ja) * 2007-08-13 2012-10-17 住友電気工業株式会社 パワーモジュール及びパワードライブユニット
DE102008045410B4 (de) * 2007-09-05 2019-07-11 Denso Corporation Halbleitervorrichtung mit IGBT mit eingebauter Diode und Halbleitervorrichtung mit DMOS mit eingebauter Diode
JP5380376B2 (ja) * 2010-06-21 2014-01-08 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワー半導体装置
JP5206743B2 (ja) * 2010-07-05 2013-06-12 株式会社デンソー 半導体モジュールおよびその製造方法
US8497572B2 (en) * 2010-07-05 2013-07-30 Denso Corporation Semiconductor module and method of manufacturing the same
JP5622043B2 (ja) * 2010-09-15 2014-11-12 アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 インバータ装置
CN103262238B (zh) * 2010-09-24 2016-06-22 半导体元件工业有限责任公司 电路装置
JP5947537B2 (ja) * 2011-04-19 2016-07-06 トヨタ自動車株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP5755533B2 (ja) * 2011-08-26 2015-07-29 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US9048721B2 (en) * 2011-09-27 2015-06-02 Keihin Corporation Semiconductor device
JP5729314B2 (ja) 2012-01-17 2015-06-03 株式会社デンソー 半導体装置及びその製造方法
CN104170086B (zh) * 2012-03-28 2018-01-16 富士电机株式会社 半导体装置及半导体装置的制造方法
JP5879233B2 (ja) * 2012-08-31 2016-03-08 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワー半導体モジュール
JP6130238B2 (ja) * 2013-06-14 2017-05-17 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置および電子装置
JP6221542B2 (ja) * 2013-09-16 2017-11-01 株式会社デンソー 半導体装置
JP6502263B2 (ja) * 2013-11-20 2019-04-17 ローム株式会社 スイッチングデバイスおよび電子回路
DE102014214252B3 (de) * 2014-04-24 2015-07-09 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung zum schalten eines halbleiterbasierten schalters und sensor zur erfassung einer stromänderungsgeschwindigkeit an einem halbleiterbasierten schalter
JP6269296B2 (ja) * 2014-04-25 2018-01-31 株式会社デンソー 半導体モジュール
US10217727B2 (en) * 2014-08-25 2019-02-26 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device and electronic apparatus including a first semiconductor chip including an insulated gate bipolar transistor and a second semiconductor chip including a diode
US10123443B2 (en) * 2014-12-25 2018-11-06 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor device
JP6358129B2 (ja) * 2015-02-26 2018-07-18 株式会社デンソー 電力変換装置

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