JP6297660B1 - 処理装置、これを備えためっき装置、搬送装置、及び処理方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】基板(被処理物)の撓みを抑制しつつ、安定して被処理物を搬送する。【解決手段】処理装置が提供される。この処理装置は、被処理物の平面が水平に対して搬送方向軸周りに傾斜した状態で被処理物を搬送する搬送部と、被処理物の平面に対して、研磨及び洗浄の少なくとも一つを実行する処理部と、を有する。搬送部は、被処理物の端部に物理的に接触して被処理物に搬送方向の力を加えるように構成される駆動部と、被処理物の平面に対向して配置される第1のベルヌーイチャックと、被処理物の上記端部とは逆側の端部の端面に対向して配置される第2のベルヌーイチャックと、を有する。【選択図】図2

Description

本発明は、処理装置、これを備えためっき装置、搬送装置、及び処理方法に関する。
従来、半導体ウェハやプリント基板等の基板の表面に配線やバンプ(突起状電極)等を形成したりすることが行われている。この配線及びバンプ等を形成する方法として、電解めっき法が知られている。
電解めっき法に用いるめっき装置では、一般的には300mmの直径を有するウェハ等の円形基板にめっき処理を行っている。しかしながら、近年では、このような円形基板に限らず、角形基板に洗浄、研磨、又はめっき等をすることが求められている。このような角形基板は、例えば、円形のウェハから作成したチップ等を、樹脂材料からなる基板の片面又は両面に貼り付けることで形成される。
ところで、基板を搬送する際に、搬送装置の設置面積を縮小するために、基板を縦型の姿勢にした状態で搬送することが知られている(例えば、特許文献1参照)。また、基板を搬送する際に、洗浄又は研磨等の液体を必要とする処理を行う場合、基板を縦型の姿勢にすることで基板表面の液切れを効率よく行うこともできる。
特許第3042598号
しかしながら、特許文献1に記載された搬送装置では、基板の上端部が自由端になる(基板の上端部が保持されない)ので、基板の剛性が低い場合は、基板を縦型の姿勢にしたときに基板が撓む可能性がある。また、基板の重さが比較的軽い場合は、搬送ローラ間の微小な段差等により、基板がガタついて搬送されて搬送ローラから断続的に離間する虞がある。この場合、基板と搬送ローラとの接触が適切に行われず、安定した速度で搬送できない場合がある。このような問題点は、角形基板に限らず、円形基板であっても同様に生じ得る。
本発明は上記問題に鑑みてなされたものである。その目的は、基板(被処理物)の撓みを抑制しつつ、安定して被処理物を搬送することである。
本発明の一形態によれば、処理装置が提供される。この処理装置は、被処理物の平面が水平に対して搬送方向軸周りに傾斜した状態で前記被処理物を搬送する搬送部と、前記被処理物の前記平面に対して、研磨及び洗浄の少なくとも一つを実行する処理部と、を有する。前記搬送部は、前記被処理物の端部に物理的に接触して前記被処理物に搬送方向の力を加えるように構成される駆動部と、前記被処理物の前記平面に対向して配置される第1のベルヌーイチャックと、前記被処理物の前記端部とは逆側の端部の端面に対向して配置される第2のベルヌーイチャックと、を有する。
本発明の一形態によれば、被処理物の平面が水平に対して搬送方向軸周りに傾斜した状態で前記被処理物を搬送する搬送装置が提供される。この搬送装置は、前記被処理物の端
部に物理的に接触して前記被処理物に搬送方向の力を加えるように構成される駆動部と、前記被処理物の前記平面に対向して配置される第1のベルヌーイチャックと、前記被処理物の前記端部とは逆側の端部の端面に対向して配置される第2のベルヌーイチャックと、を有する。
本発明の一形態によれば、処理方法が提供される。この処理方法は、被処理物の平面が水平に対して搬送方向軸周りに傾斜した状態で前記被処理物を搬送する工程と、前記被処理物の前記平面に対して、研磨及び洗浄の少なくとも一つを実行する処理工程と、を有する。前記搬送する工程は、前記被処理物の端部に搬送方向の力を物理的に加える工程と、前記被処理物の厚さ方向の移動を制限するように、前記被処理物の前記平面を第1のベルヌーイチャックで保持する工程と、前記搬送方向と直交する前記被処理物の面内方向の移動を制限するように、前記被処理物の前記端部とは逆側の端部の端面を第2のベルヌーイチャックで保持する工程と、を有する。
本実施形態に係る処理装置を備えためっき装置の全体配置図である。 洗浄装置の概略側断面図である。 搬送部の側面図である。 図3Aにおける矢視A−Aにおける搬送部の断面図である。 搬送部の別の形態を示す図である。 他の形態に係る洗浄装置の概略側断面図である。 他の形態に係る洗浄装置の概略側断面図である。 研磨装置の概略側断面図である。 研磨装置で基板を研磨する例を示す斜視図である。 研磨ヘッドで基板を研磨するときの、基板の搬送と研磨ヘッドの動きの例を示す概略図である。 研磨ヘッドで基板を研磨するときの、基板の搬送と研磨ヘッドの動きの例を示す概略図である。 他の形態に係る洗浄装置の概略側断面図である。 本実施形態に係る処理装置を備えた他のめっき装置の全体配置図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。以下で説明する図面において、同一の又は相当する構成要素には、同一の符号を付して重複した説明を省略する。図1は、本実施形態に係る処理装置を備えためっき装置の全体配置図である。本実施形態に係るめっき装置は、処理装置の一例として洗浄装置50を有する。図1に示すように、このめっき装置100は、基板ホルダに基板(被処理物の一例に相当する)をロードし、又は基板ホルダから基板をアンロードするロード/アンロード部110と、基板を処理する処理部120と、洗浄部50aとに大きく分けられる。処理部120は、さらに、基板の前処理及び後処理を行う前処理・後処理部120Aと、基板にめっき処理を行うめっき処理部120Bとを含む。めっき装置100のロード/アンロード部110と処理部120と、洗浄部50aとは、それぞれ別々のフレーム(筐体)で囲まれている。なお、このめっき装置100で処理する基板は、角形基板、円形基板を含む。また、角形基板は、角形のプリント基板や、その他のめっき対象物等を含む。
ロード/アンロード部110は、2台のカセットテーブル25と、基板脱着機構29とを有する。カセットテーブル25は、半導体ウェハやプリント基板等の基板を収納したカセット25aを搭載する。基板脱着機構29は、基板を図示しない基板ホルダに着脱するように構成される。また、基板脱着機構29の近傍(例えば下方)には基板ホルダを収容するためのストッカ30が設けられる。これらのユニット25,29,30の中央には、
これらのユニット間で基板を搬送する搬送用ロボットからなる基板搬送装置27が配置されている。基板搬送装置27は、走行機構28により走行可能に構成される。
洗浄部50aは、めっき処理後の基板を洗浄して乾燥させる洗浄装置50(処理装置の一例に相当する)を有する。基板搬送装置27は、めっき処理後の基板を洗浄装置50に搬送し、洗浄及び乾燥された基板を洗浄装置50から取り出すように構成される。洗浄装置50の詳細については、後述する図2と共に説明する。
前処理・後処理部120Aは、プリウェット槽32と、プリソーク槽33と、プリリンス槽34と、ブロー槽35と、リンス槽36と、を有する。プリウェット槽32では、基板が純水に浸漬される。プリソーク槽33では、基板の表面に形成したシード層等の導電層の表面の酸化膜がエッチング除去される。プリリンス槽34では、プリソーク後の基板が基板ホルダと共に洗浄液(純水等)で洗浄される。ブロー槽35では、洗浄後の基板の液切りが行われる。リンス槽36では、めっき後の基板が基板ホルダと共に洗浄液で洗浄される。プリウェット槽32、プリソーク槽33、プリリンス槽34、ブロー槽35、リンス槽36は、この順に配置されている。
めっき処理部120Bは、オーバーフロー槽38を備えた複数のめっき槽39を有する。各めっき槽39は、内部に一つの基板を収納し、内部に保持しためっき液中に基板を浸漬させて基板表面に銅めっき等のめっきを行う。ここで、めっき液の種類は、特に限られることはなく、用途に応じて様々なめっき液が用いられる。
めっき装置100は、これらの各機器の側方に位置して、これらの各機器の間で基板ホルダを基板とともに搬送する、例えばリニアモータ方式を採用した基板ホルダ搬送装置37を有する。この基板ホルダ搬送装置37は、基板脱着機構29、プリウェット槽32、プリソーク槽33、プリリンス槽34、ブロー槽35、リンス槽36、及びめっき槽39との間で基板ホルダを搬送するように構成される。
次に、図1に示した洗浄装置50について詳細に説明する。図2は、洗浄装置50の概略側断面図である。図2においては、説明の便宜上、図1に示したストッカ30及び基板搬送装置27が示されている。図2に示す洗浄装置50は、全体的に5つのチャンバから構成されている。具体的には、洗浄装置50は、基板W1の入口51を備える第1チャンバ53と、第2チャンバ54と、第3チャンバ55と、第4チャンバ56と、基板W1の出口52を備える第5チャンバ57と、を有する。第2チャンバ54は、第1チャンバ53及び第3チャンバ55と連通している。第1チャンバ53及び第2チャンバ54は、基板W1を水平方向に搬送するための第1搬送経路を構成する。第4チャンバ56は、第3チャンバ55及び第5チャンバ57と連通している。第4チャンバ56及び第5チャンバ57は、基板W1を、第1搬送経路とは逆方向に搬送するための第2搬送経路を構成する。第3チャンバ55は、第1搬送経路と第2搬送経路とを接続する鉛直搬送経路を構成する。本実施形態では、第1チャンバ53及び第2チャンバ54から成る第1搬送経路は、第4チャンバ56及び第5チャンバ57から成る第2搬送経路の下方に位置する。しかしながら、各チャンバの配置構成はこれに限らず、例えば、第1チャンバ53及び第2チャンバ54から成る第1搬送経路が、第4チャンバ56及び第5チャンバ57から成る第2搬送経路の下方に位置してもよい。また、洗浄装置50の設置面積に厳しい制約が無ければ、第1搬送経路と第2搬送経路を横方向に並列に配置してもよい。この場合、第3チャンバ55は、第1搬送経路と第2搬送経路とを接続する水平方向の搬送経路を構成し、経路全体が平面視略U字形になる。
以下、第1チャンバ53から第5チャンバ57の構成を説明する。第1チャンバ53の内部には、基板W1を傾斜した状態で搬送する搬送部70(搬送装置の一例に相当する)
と、基板W1に対してスクラブ洗浄をするための円盤型スクラブ装置81(処理部の一例に相当する)とが設けられる。円盤型スクラブ装置81は、円盤ヘッド(ヘッド部の一例に相当する)が回転可能に構成される。円盤ヘッドの基板W1と接触する側の面(下面)には、基板W1をスクラブするための洗浄部材が設けられている。洗浄部材として、例えば、円形又はドーナツ形のシート状部材を採用することができる。このシート状部材は、例えば、PVA(ポリビニルアルコール)から形成され、1mmから20mm程度の厚みを有する。円盤型スクラブ装置81は、例えば、図示しないリニアガイド、ボールねじ、及びサーボモータ等を有し、基板W1の表面と平行に移動することができる。
円盤型スクラブ装置81は、図示しないノズルから純水等を基板W1に供給しつつ、円盤ヘッドを回転させながら基板W1に押し付けることで、基板W1表面を傷つけることなく、基板W1表面に付着したパーティクルを除去する。円盤型スクラブ装置81は、基板W1を連続的に搬送しながら基板W1を洗浄することもできるし、洗浄時に基板W1の搬送を停止させるために基板W1を断続的に搬送してもよい。具体的には、基板W1の表面の汚染が激しい場合には、基板W1の搬送を停止させながら円盤型スクラブ装置81で洗浄することが好ましい。また、基板W1の表面の汚染の程度が比較的低い場合は、基板W1を連続的に搬送しながら円盤型スクラブ装置81で洗浄することができる。
基板W1を洗浄していない間、円盤型スクラブ装置81の洗浄部材が乾燥しないように、例えば、円盤型スクラブ装置81を基板W1の搬送経路から退避させて、図示しないスプレーノズルから純水を洗浄部材に供給する。また、図示しない純水タンクを用意し、円盤型スクラブ装置81の洗浄部材をタンク内の純水に浸漬させるようにしてもよい。この場合、タンク内の純水は、円盤型スクラブ装置81の洗浄部材が浸漬されるたびに入れ替えられることが好ましい。図示の実施形態では、2つの円盤型スクラブ装置81が、第1チャンバ53内に配置されている。
搬送部70は、具体的には、基板W1の平面(被処理面でもある)が水平に対して搬送方向軸周りで傾斜した状態で、基板W1を搬送する。搬送部70の基本的な構成を図3A及び図3Bを参照して説明する。図3Aは、搬送部70の側面図であり、図3Bは、図3Aにおける矢視A−Aにおける搬送部70の断面図である。図3A及び図3Bに示すように、搬送部70は、駆動部71と、第1のベルヌーイチャックユニット72と、第2のベルヌーイチャックユニット73と、を有する。駆動部71は、基板W1の端部に物理的に接触して基板W1に搬送方向の力を加えるように構成される。図3A及び図3Bの例においては、駆動部71は、基板W1の下側の端部に接触するローラを有する。駆動部71は、図示しない駆動源によりローラを回転させて、基板W1に搬送方向の力を加える。このローラは、基板W1と接触する部分に水膜が形成され難いテフロン(登録商標)系樹脂、ナイロン樹脂等の材料から構成され得る。また、ローラの基板W1との接触面に凹凸のローレット加工を施したり、ローラの接触面をポーラス材料で形成したりしてもよい。これにより、水膜の形成を抑制して、基板W1の搬送時のすべりを防止することができる。
図3Aに示すように、第1のベルヌーイチャックユニット72は、基板W1の平面に沿って、任意の間隔で複数設けられる。図2に示す第1チャンバ53においては、第1のベルヌーイチャックユニット72は、円盤型スクラブ装置81がその間に配置されるように、所定の間隔で離間している。また、図3A及び図3Bに示す例では、第1のベルヌーイチャックユニット72は、基板W1の両側に設けられる。しかしながら、第1のベルヌーイチャックユニット72は、基板W1の片側のみに設けられてもよい。
図3Bに示すように、第1のベルヌーイチャックユニット72は、複数の第1のベルヌーイチャック72aを有する。第1のベルヌーイチャック72aは、基板W1の平面に対向するように配置される。図3Bに示す例では、一方の側(基板W1の下面側)の第1の
ベルヌーイチャックユニット72には5つの第1のベルヌーイチャック72aが設けられ、他方の側(基板W1の上面側)の第1のベルヌーイチャックユニット72には3つの第1のベルヌーイチャック72aが設けられる。第1のベルヌーイチャックユニット72に設けられる第1のベルヌーイチャック72aの数は任意である。第1のベルヌーイチャック72aは、空圧式又は液圧式のベルヌーイチャックであり、基板W1の厚さ方向D1の移動を制限するように、基板W1を非接触式で保持することができる。言い換えれば、第1のベルヌーイチャック72aは、基板W1の面内方向D2の移動を制限することはできない。
図3A及び図3Bに示すように、第2のベルヌーイチャックユニット73は、断面が略U型であり、基板W1の搬送方向に延在する。図3Bに示すように、第2のベルヌーイチャックユニット73は、第2のベルヌーイチャック73aと、第1のベルヌーイチャック73bと、を有する。第1のベルヌーイチャック73bは、第1のベルヌーイチャック72aと同様に基板W1の平面に対向するように配置され、基板W1の厚さ方向D1の移動を制限するように基板W1の上端部近傍を保持することができる。一方で、第2のベルヌーイチャック73aは、基板W1の上端部の端面に対向して配置される。第2のベルヌーイチャック73aは、空圧式又は液圧式のベルヌーイチャックであり、基板W1の面内方向D2の移動を制限するように、基板W1の上端部の端面を非接触式で保持することができる。ここで、面内方向D2は、基板W1の搬送方向(図3Bにおいて紙面奥行方向)と直交する方向である。
第2のベルヌーイチャックユニット73の第2のベルヌーイチャック73aは、搬送される基板W1の上端部の端面を可能な限り広い範囲で保持するために、基板W1の搬送方向に沿って可能な限り長くなるように配置される。好ましくは、第2のベルヌーイチャック73aは、第1のベルヌーイチャックユニット72の第1のベルヌーイチャック72aに比べて、基板W1の搬送方向に沿って長くなるように配置される。これにより、第2のベルヌーイチャック73aで基板W1の上端部の端面を広い範囲で保持しつつ、第1のベルヌーイチャック72a間に研磨、洗浄、乾燥するための処理部を配置するスペースを確保することができる。
搬送部70は、駆動部71、第1のベルヌーイチャックユニット72、及び第2のベルヌーイチャックユニット73が傾斜することにより、基板W1を傾斜した姿勢で搬送するように構成される。具体的には、基板W1は、搬送方向(図3Bにおいて紙面奥行方向)軸周りに傾斜した状態で搬送される。ここで「傾斜」とは、水平に対して0°超90°以下の角度を有することをいう。図3Bに示す例では、搬送部70は、基板W1を約45°傾斜した姿勢で搬送する。これにより、基板W1が水平姿勢で搬送される場合に比べて、洗浄装置50の設置面積を低減することができるとともに、基板W1表面の液切れを効率よく行うことができる。好ましくは、搬送部70は、基板W1の平面が水平に対して5°以上85°以下の角度で傾斜した状態で、基板W1を搬送することが好ましい。図2に示す洗浄装置50において基板W1を洗浄すると、基板W1の表面に付着したパーティクルが洗浄液によって洗い流される。このとき、傾斜角度が5°未満であると、パーティクルを含む洗浄液が基板W1から落ち難くなる。また、傾斜角度が85°超であると、洗浄液が基板W1から直ちに落下するので、基板W1が乾燥する虞がある。基板W1が乾燥すると、基板W1に付着していた洗浄液に含まれるパーティクルが基板W1表面に残ってしまう。
このように、本実施形態に係る搬送部70は、基板W1の上端部の端面を保持することができるので、基板W1を傾斜した姿勢で搬送しても、基板W1が撓むことを抑制することができる。また、基板W1の面内方向D2の位置を第2のベルヌーイチャック73aにより保持することができるので、基板W1の下端部を駆動部71に安定して接触させ、安
定した速度で搬送することができる。
また、第2のベルヌーイチャック73aは、基板W1の厚さ方向D1の移動を制限することはできない。このため、基板W1が非常に柔らかい場合に、仮に基板W1の端部が湾曲して第2のベルヌーイチャック73aの対向位置からずれてしまうと、第2のベルヌーイチャック73aは基板W1の端面を適切に保持できなくなる。しかしながら、本実施形態に係る搬送部70は、断面が略U型の第2のベルヌーイチャックユニット73を有し、第1のベルヌーイチャック73bで基板W1の上端部近傍を保持しているので、基板W1の端部が湾曲することを防止することができる。このため、基板W1が非常に柔らかい場合であっても、基板W1の端部を第2のベルヌーイチャック73aの対向位置に保持することができ、その結果、第2のベルヌーイチャック73aが基板W1の上端部の端面を適切に保持することができる。
また、本実施形態に係る搬送部70は、基板W1の下端部のみが駆動部71により搬送され、上端部は第2のベルヌーイチャック73aで保持される。このため、基板W1の下端部及び上端部の両方をローラ等の駆動部71で搬送する場合に比べて、駆動部71の数を減らすことができる。駆動部71は、基板W1に物理的に接触するので、摩耗により定期的な交換が必要になる。したがって、駆動部71の数を減らすことで、交換する駆動部71の数も減ることになり、交換に要する作業コスト及び部品コストを低減することができる。また、駆動部71の数が減ることで、基板W1への物理的な接触回数を少なくして、基板W1への物理的な影響を低減することができる。なお、図3Aに示す搬送部70において、駆動部71間に第2のベルヌーイチャックユニット73を配置してもよい。その場合は、基板W1の面内方向D2(図3B参照)の位置をいっそう安定して維持することができる。
また、図3A及び図3Bに示した搬送部70の駆動部71は、一例としてローラを有するが、これに限られない。図4は、搬送部70の別の形態を示す図である。図4に示すように、搬送部70は、駆動部71として、基板W1と接触するベルトを備えたベルトコンベアを有していてもよい。
図2に戻り、洗浄装置50を説明する。図2に示すように、第1チャンバ53では、円盤型スクラブ装置81と対向する位置に、搬送部70の第1のベルヌーイチャックユニット72が設けられる。これにより、円盤型スクラブ装置81で基板W1の表面を洗浄するときに最も圧力が加わる基板W1の部分を、第1のベルヌーイチャックユニット72によって円盤型スクラブ装置81の反対側から保持することができる。したがって、円盤型スクラブ装置81を基板W1に押し付けても、基板W1が撓むことを抑制することができる。
第2チャンバ54には、第1チャンバ53の搬送部70と同様の搬送部70と、基板W1に対してジェット洗浄をするための洗浄ジェットノズル装置83(処理部の一例に相当する)とが設けられる。洗浄ジェットノズル装置83は、基板W1の幅方向に配列された複数のノズル、又は基板W1の幅方向に延在した単一のノズルを有し、基板W1の表面に純水等の洗浄液を吹き付けて、基板W1の表面を非接触で洗浄する。図示の実施形態では、2つの洗浄ジェットノズル装置83が第1チャンバ53内に配置されており、それぞれ、基板W1の両面を洗浄できるように構成されている。なお、洗浄ジェットノズル装置83の数は任意であり、基板W1の片面のみを洗浄するように構成されていてもよい。洗浄ジェットノズル装置83は、搬送部70の第1のベルヌーイチャックユニット72間に設けられる。
第3チャンバ55には、第2チャンバ54から搬送された基板W1を受け取り、基板W
1を第4チャンバ56に向かって鉛直方向に搬送する鉛直搬送機構85が設けられる。鉛直搬送機構85は、例えば、基板W1の下面を水平姿勢で保持する第3のベルヌーイチャック85aと、第3のベルヌーイチャック85aを昇降させるリフタ85bとを有する。第3チャンバ55には、第2チャンバ54から傾斜して搬送された基板W1を水平姿勢に回転する図示しない回転機構が設けられていてもよい。第3のベルヌーイチャック85aは、この回転機構から、水平姿勢の基板W1を受け取って非接触で保持する。また、第3チャンバ55には、第3のベルヌーイチャック85aから水平姿勢の基板W1を受け取り、基板W1を傾斜させる図示しない回転機構が設けられていてもよい。この回転機構は、傾斜させた基板W1を第4チャンバ56に設けられた搬送部70に受け渡す。
第4チャンバ56には、第1チャンバ53の搬送部70と同様の搬送部70と、基板W1に対してスクラブ洗浄するためのロール型スクラブ装置87(処理部の一例に相当する)が設けられる。ロール型スクラブ装置87は、基板W1の表面と接触するロールブラシを有する。ロールブラシの材料としては、例えば、ナイロンブラシ、PVAスポンジ、不織布等を使用することができる。ロールブラシは、基板W1の表面と平行に配置され、基板W1の洗浄時には、所定の圧力で基板W1に押し付けられるようにバネ等により押付圧力が制御されたり、基板W1との距離が一定になるように位置が制御されたりする。ロール型スクラブ装置87は、図示しない純水ノズルからロールブラシに純水を供給して、ロールブラシが乾燥することを防止する。ロール型スクラブ装置87は、搬送部70の第1のベルヌーイチャックユニット72間に設けられる。図示の実施形態では、3つのロール型スクラブ装置87が、第4チャンバ56内に配置されている。
第5チャンバ57には、第1チャンバ53の搬送部70と同様の搬送部70と、基板W1の表面を非接触で乾燥するためのエアナイフ装置88(処理部の一例に相当する)と、基板W1表面を除電するためのイオナイザ89とが設けられる。エアナイフ装置88は、例えば、圧縮気体を薄い層状に噴出するための細長いスリットを有し、基板W1の両面又は片面に圧縮気体を吹き付けることで、基板W1に付着した洗浄液を除去又は乾燥する。エアナイフ装置88のスリットは、基板W1の幅方向と直交するように配置されていてもよいが、基板W1の下端に向けて洗浄液を拭うように、基板W1の幅方向に対して角度を有することが好ましい。イオナイザ89は、所定の極性を有するイオンを基板W1の表面に放出して、基板W1を除電することができる。エアナイフ装置88及びイオナイザ89は、搬送部70の第1のベルヌーイチャックユニット72間に設けられる。
第5チャンバ57では、基板W1の乾燥が行われるので、第5チャンバ57に設けられる搬送部70の第1のベルヌーイチャックユニット72及び第2のベルヌーイチャックユニット73には、空圧式のベルヌーイチャックが採用される。これにより、搬送部70が基板W1の乾燥を妨げることがない。
第3チャンバ55、第4チャンバ56、及び第5チャンバ57の上部には、上方から下方に向けて気体を送出するFFU(Fun Filter Unit)等の送風ユニット60が設けられる。送風ユニット60から送出される気体として、例えばクリーンドライエアや窒素を用いることができる。送風ユニット60から送風することにより、洗浄装置50内のパーティクルを下方に押さえつけることができ、第3チャンバ55、第4チャンバ56、及び第5チャンバ57内の雰囲気を清浄に保つことができる。
第1チャンバ53、第2チャンバ54、第3チャンバ55、第4チャンバ56、及び第5チャンバ57のそれぞれには、基板W1の乾燥を防止するために、基板W1に純水等の液体を供給する液体供給ノズルを適宜設けてもよい。
以上で説明した洗浄装置50を使用して基板W1を洗浄するプロセスについて説明する
。まず、図1に示しためっき装置100においてめっきされた基板W1を、基板搬送装置27が保持する。基板搬送装置27は、入口51を介して第1チャンバ53内に基板W1を投入する。投入された基板W1は、第1チャンバ53において、傾斜した状態で搬送部70によって搬送されつつ、円盤型スクラブ装置81により洗浄される。円盤型スクラブ装置81による洗浄においては、基板W1を搬送しながら洗浄してもよいし、基板W1の搬送を断続的に行いながら洗浄してもよい。
第1チャンバ53にて洗浄された基板W1は、第2チャンバ54に投入される。第2チャンバ54では、基板W1は、傾斜した状態で搬送部70によって搬送されつつ、洗浄ジェットノズル装置83により非接触で洗浄される。第2チャンバ54にて洗浄された基板W1は、第3チャンバ55に投入される。第3チャンバ55では、図示しない回転機構により、第2チャンバ54から受け取った基板W1が傾斜した姿勢から水平姿勢にされ、鉛直搬送機構85の第3のベルヌーイチャック85aに受け渡される。基板W1は、第3のベルヌーイチャック85aで保持されながら、リフタ85bにより鉛直方向へ搬送される。鉛直方向に搬送された基板W1は、図示しない回転機構により、水平姿勢から傾斜した姿勢にされ、第4チャンバ56の搬送部70へ受け渡される。
第4チャンバ56では、基板W1は、傾斜した状態で搬送部70によって搬送されつつ、ロール型スクラブ装置87により洗浄される。第4チャンバ56で洗浄された基板W1は、第5チャンバに投入される。第5チャンバ57では、基板W1は、傾斜した状態で搬送部70によって搬送されつつ、エアナイフ装置88により基板W1表面の洗浄液が除去又は乾燥される。続いて、基板W1は、イオナイザ89により除電された後、基板搬送装置27により出口52から取り出される。基板搬送装置27は、洗浄及び乾燥された基板W1を図1に示したカセットテーブル25内の25aに収納する。
続いて、洗浄装置50の他の構成例について説明する。図5は、他の形態に係る洗浄装置50の概略側断面図である。図5に示す洗浄装置50は、図2に示した洗浄装置50と同様に、第1チャンバ53、第2チャンバ54、第3チャンバ55、第4チャンバ56、及び第5チャンバ57を有する。図2に示した洗浄装置50と類似の構成を有しているので、異なる部分を中心に説明する。
第1チャンバ53には、搬送部70と、円盤型スクラブ装置81と、洗浄ジェットノズル装置83とが設けられる。第1チャンバ53では、基板W1は、搬送部70により傾斜した状態で搬送されつつ、円盤型スクラブ装置81で洗浄され、続いて洗浄ジェットノズル装置83で洗浄される。第2チャンバ54には、搬送部70と、ロール型スクラブ装置87とが設けられる。第1チャンバ53では、第1チャンバ53で洗浄された基板W1が、搬送部70により傾斜した状態で搬送されつつ、ロール型スクラブ装置87で洗浄される。
第3チャンバ55には、第2チャンバ54から搬送された基板W1を受け取り、基板W1を第4チャンバ56に向かって鉛直方向に搬送する鉛直搬送機構86が設けられる。図5に示す鉛直搬送機構86は、第3のベルヌーイチャック86aと、アーム部86bと、支柱86cと、スライダ86dと、を有する。第3のベルヌーイチャック86aは、基板W1の上面を水平姿勢で保持するように構成される。アーム部86bは、支柱86cから略水平に延在し、第3のベルヌーイチャック86aを保持する。支柱86cは、アーム部86bを支持している。スライダ86dは、アーム部86bを支柱86cに沿って昇降させるように構成される。
第2チャンバ54から搬送された基板W1は、図示しない回転機構により、傾斜した姿勢から水平姿勢にされて、鉛直搬送機構86の第3のベルヌーイチャック86aに受け渡
される。スライダ86dは、アーム部86bを支柱86cに沿って上昇させて、第3のベルヌーイチャック86aで保持された基板W1を鉛直方向へ搬送する。続いて、基板W1は、第4チャンバ56へ搬送される。
第4チャンバ56には、基板W1を水平搬送する水平搬送機構90が設けられる。水平搬送機構90としては、例えば、図3A及び図3Bに示した搬送部70を採用することができる。この場合の搬送部70は、基板W1を水平に搬送することができるように、駆動部71、第1のベルヌーイチャックユニット72、及び第2のベルヌーイチャックユニット73の設置角度が調整される。若しくは、水平搬送機構90は、例えば、基板W1の裏面の幅方向中央部と両エッジ部のみに接触するように配置されたローラを有してもよい。第4チャンバ56に搬送された基板W1は、水平搬送機構90により、第5チャンバ57へ搬送される。第5チャンバ57には、図2に示した第5チャンバ57と同様に、搬送部70と、エアナイフ装置88と、イオナイザ89とが設けられる。
図6は、他の形態に係る洗浄装置50の概略側断面図である。図6に示す洗浄装置50は、図2及び図5に示した洗浄装置50と同様に、第1チャンバ53、第2チャンバ54、第3チャンバ55、第4チャンバ56、及び第5チャンバ57を有する。図6に示す洗浄装置50は、図2及び図5に示した洗浄装置50と類似の構成を有しているので、異なる部分を中心に説明する。
第1チャンバ53には、基板W1を傾斜した状態で搬送する搬送部70と、基板W1に対して研磨をするための研磨装置91(処理部の一例に相当する)とが設けられる。第1チャンバ53においては、第1のベルヌーイチャックユニット72は、研磨装置91がその間に配置されるように、所定の間隔で離間している。
研磨装置91の具体的な構成について説明する。図7は、図6に示す研磨装置91の概略側断面図である。図7に示すように、研磨装置91は、回転モータ92と、研磨ヘッド93(ヘッド部の一例に相当する)と、アーム94と、昇降モータ95と、並進プレート96と、並進モータ97と、固定プレート98と、を有する。
固定プレート98は、第1チャンバ53内に固定される。並進プレート96は、並進モータ97によって、固定プレート98の面に対して並行移動するように構成される。アーム94は、並進プレート96に取り付けられ、昇降モータ95によって、並進プレート96の並進方向と直交する向きに昇降するように構成される。また、アーム94は、研磨ヘッド93を回転可能に保持する。研磨ヘッド93は、回転モータ92によって回転するように構成される。
研磨装置91は、傾斜して搬送された基板W1を研磨するために、傾斜するように第1チャンバ53内に設置される。並進プレート96は、固定プレート98に対して並進することにより、研磨ヘッド93を基板W1の表面と平行に移動させることができる。また、アーム94は、並進プレート96の並進方向と直交する向きに移動することにより、基板W1に近接又は離間するように研磨ヘッド93を移動させることができる。基板W1を研磨するときは、回転している研磨ヘッド93を基板W1に近接させて、基板W1の平面を研磨ヘッド93で押圧する。また、研磨の間、研磨ヘッド93を基板W1の表面と平行に移動させることで、基板W1の全面を研磨することができる。
研磨ヘッド93は、基板W1に対向する研磨面93dと、研磨面93dから露出するように設けられる研磨テープ93aと、研磨テープ93aを巻き出す巻出ローラ93bと、研磨テープ93aを巻き取る巻取ローラ93cと、を有する。研磨テープ93aは、例えば、幅約10mmから60mm、長さ約20mから100mのベースフィルムの片面に、
ダイヤモンド粒子やSiC粒子等の砥粒を接着して構成される。研磨テープ93aに使用される砥粒は、基板W1の種類や、要求される研磨条件に応じて適宜選択され、例えば、平均粒径0.1μmから5.0μmの範囲のダイヤモンド粒子やSiC粒子等である。また、研磨テープ93aは、砥粒を接着させていない帯状の研磨布であってもよい。ベースフィルムとしては、例えば、ポリエステル、ポリウレタン、ポリエチレンテレフタラート等の可撓性を有する材料を使用することができる。
研磨テープ93aは、基板W1の研磨の進行に伴い、徐々に又は段階的に、所定速度で巻出ローラ93bから巻取ローラ93cに向かって一方向に送られる。これにより、研磨テープ93aの研磨面93dから露出する部分が未使用部分になるので、常に正常な研磨テープ93aを基板W1に接触させることができる。図7に示す例では、研磨ヘッド93は、一組の研磨テープ93a、巻出ローラ93b、及び巻取ローラ93cを有しているが、これらを複数組有していてもよい。
図8は、研磨装置91で基板W1を研磨する例を示す斜視図である。図8に示すように、研磨装置91の研磨ヘッド93に対向する位置には、第1のベルヌーイチャックユニット72を備えた多孔質プラテン99が配置される。多孔質プラテン99は、ポーラスセラミックやポーラスカーボンから形成され、基板W1の幅方向両端部に対向する位置に吸引孔99aを有する。図示しない真空源によって吸引孔99aから空気を吸引することにより、多孔質プラテン99上を搬送されている基板W1の端部が、吸引孔99aに吸着される。これにより、研磨ヘッド93が基板W1を研磨しているときに生じる摩擦により、基板W1が第1のベルヌーイチャックユニット72からずれることを抑制することができる。
図9及び図10は、研磨ヘッド93で基板W1を研磨するときの、基板W1の搬送と研磨ヘッド93の動きの例を示す概略図である。図9及び図10に示す例では、2つの研磨装置91が準備され、搬送方向の上流側に位置する研磨装置91は粗い研磨を行い、搬送方向の下流側に位置する研磨装置は細かい研磨(仕上げ研磨)を行う。図9に示す例では、基板W1は間欠的に搬送される。即ち、所定距離の基板W1の搬送と、所定時間の搬送停止とが繰り返される。この場合、研磨装置91の研磨ヘッド93は、基板W1の搬送が停止している間に基板W1の幅方向に移動し、基板W1は、研磨ヘッド93の移動が停止している間に所定距離だけ搬送される。図10に示す例では、基板W1は連続的に搬送され、研磨ヘッド93は連続的に往復移動する。この場合、基板W1の搬送と、研磨ヘッド93の移動とが同時に行われる。
図6に戻り、洗浄装置50の説明をする。第2チャンバ54には、図5に示した第1チャンバ53と同様に、搬送部70と、円盤型スクラブ装置81と、洗浄ジェットノズル装置83とが設けられる。第2チャンバ54では、基板W1は、搬送部70により傾斜した状態で搬送されつつ、円盤型スクラブ装置81で洗浄され、続いて洗浄ジェットノズル装置83で洗浄される。
第3チャンバ55には、図2に示した第3チャンバ55と同様に、第3のベルヌーイチャック85aとリフタ85bとを備えた鉛直搬送機構85が設けられる。第4チャンバ56には、図2に示した第4チャンバ56及び図5に示した第2チャンバ54と同様に、搬送部70と、ロール型スクラブ装置87が設けられる。第5チャンバ57には、図2及び図5に示した第5チャンバ57と同様に、搬送部70と、エアナイフ装置88と、イオナイザ89とが設けられる。
図11は、他の形態に係る洗浄装置50の概略側断面図である。図11に示す洗浄装置50は、第1チャンバ53、第2チャンバ54、第3チャンバ55、第4チャンバ56、
第5チャンバ57、第6チャンバ58、及び第7チャンバ59を有する。図11に示す洗浄装置50は、図2及び図5に示した洗浄装置50と類似の構成を有しているので、異なる部分を中心に説明する。
第1チャンバ53には、図6に示した第1チャンバ53と同様に、基板W1を傾斜した状態で搬送する搬送部70と、基板W1に対して研磨をするための研磨装置91とが設けられる。第1チャンバ53の研磨装置91は、基板W1の上面を研磨する。第2チャンバ54に、第1チャンバ53から搬送された基板W1を表裏反転する反転機構84が設けられる。反転機構84は、図3A及び図3Bに示した搬送部70を有する。反転機構84は、第1チャンバ53から受け取った基板W1を、搬送部70の駆動部71、第1のベルヌーイチャックユニット72、及び第2のベルヌーイチャックユニット73(図3A及び図3B参照)により保持し、表裏反転させる。反転された基板W1は、搬送部70によって第3チャンバ55に搬送される。
第3チャンバ55には、図6に示した第1チャンバ53と同様に、基板W1を傾斜した状態で搬送する搬送部70と、基板W1に対して研磨をするための研磨装置91とが設けられる。第3チャンバ55の研磨装置91は、反転された基板W1の上面を研磨する。したがって、第1チャンバ53の研磨装置91と、第3チャンバ55の研磨装置91により、基板W1の両面が研磨される。
第4チャンバ56には、図2及び図6に示した第3チャンバ55と同様に、第3のベルヌーイチャック85aとリフタ85bとを備えた鉛直搬送機構85が設けられる。第5チャンバ57には、図2及び図6に示した第4チャンバ56及び図5に示した第2チャンバ54と同様に、搬送部70と、ロール型スクラブ装置87が設けられる。第6チャンバ58には、図5に示した第1チャンバ53及び図6に示した第2チャンバ54と同様に、搬送部70と、円盤型スクラブ装置81と、洗浄ジェットノズル装置83とが設けられる。第7チャンバ59には、図2、図5、及び図6に示した第5チャンバ57と同様に、搬送部70と、エアナイフ装置88と、イオナイザ89とが設けられる。
以上で説明したように、本実施形態に係る洗浄装置50によれば、搬送部70が基板W1の上端部の端面を保持しながら基板W1を搬送するので、基板W1を傾斜した姿勢で搬送しても、基板W1が撓むことを抑制することができる。また、図2、図5、図6、図11に示すように、洗浄処理、研磨処理、乾燥処理を含む様々な処理部を有する処理装置においても、搬送部70により、基板W1が撓むことを抑制しつつ、適切に搬送することができる。
次に、本実施形態に係る処理装置を備えた他のめっき装置の例について説明する。図12は、本実施形態に係る処理装置を備えた他のめっき装置の全体配置図である。本実施形態に係るめっき装置は、処理装置の一例として洗浄装置50を有する。めっき装置200は、図12に示すように、基板ホルダに基板をロードするロード部210と、基板を処理する処理部220と、基板ホルダから基板をアンロードするアンロード部230と、洗浄部50aとに大きく分けられる。処理部220は、さらに、基板の前処理を行う前処理部220Aと、基板にめっき処理を行うめっき処理部220Bと、基板の後処理を行う後処理部220Cと、を含む。なお、このめっき装置200で処理する基板は、図1に示しためっき装置100と同様に、角形基板、円形基板を含む。また、角形基板は、角形のプリント基板や、その他のめっき対象物を含む。
ロード部210には、2台のカセットテーブル25と、基板脱着機構29aと、ストッカ30と、基板搬送装置27aと、基板搬送装置27aの走行機構28aと、が配置されている。ロード部210の基板脱着機構29aは、基板を図示しない基板ホルダに保持さ
せる。ロード部210の後段側には、前処理部220Aが配置される。前処理部220Aは、プリウェット槽32と、プリソーク槽33と、プリリンス槽34とを有する。プリウェット槽32、プリソーク槽33、プリリンス槽34は、この順に配置されている。
前処理部220Aの後段側には、めっき処理部220Bが配置される。めっき処理部220Bは、オーバーフロー槽38を備えた複数のめっき槽39を有する。めっき処理部220Bの後段側には、後処理部220Cが配置される。後処理部220Cは、リンス槽36と、ブロー槽35と、を有する。リンス槽36、ブロー槽35は、後段側に向かってこの順に配置されている。
後処理部220Cの後段側には、アンロード部230が配置される。アンロード部230には、2台のカセットテーブル25と、基板脱着機構29bと、基板搬送装置27bと、基板搬送装置27bの走行機構28bと、が配置されている。洗浄部50aは、図2に示した洗浄装置50を有する。基板搬送装置27bは、めっき処理後の基板を洗浄装置50に搬送し、洗浄装置50から取り出すように構成される。
めっき装置200は、これらの各機器の側方に位置して、これらの各機器の間で基板ホルダを基板とともに搬送する基板ホルダ搬送装置37a,37bを有する。基板ホルダ搬送装置37a,37bは、基板脱着機構29a,29b、プリウェット槽32、プリソーク槽33、プリリンス槽34、ブロー槽35、リンス槽36、及びめっき槽39との間で基板ホルダを搬送するように構成される。図3に示すように2つの基板ホルダ搬送装置37a,37bを設けた場合は、めっき処理前の基板を保持した基板ホルダのみを一方の基板ホルダ搬送装置が搬送し、めっき処理後の基板を保持した基板ホルダのみを他方の基板ホルダ搬送装置が搬送するようにすることで、基板ホルダの受け渡しの待機時間が発生することを抑制している。なお、基板ホルダ搬送装置37a,37bは、いずれか一方のみめっき装置200に設けられてもよい。この場合は、めっき装置のフットプリントを削減することができる。
以上で説明したように、本実施形態に係る洗浄装置50は、図12に示すようなロード部210とアンロード部230が離間して配置されるめっき装置200にも備え付けることができる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、上述した発明の実施の形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得るとともに、本発明にはその等価物が含まれることはもちろんである。また、上述した課題の少なくとも一部を解決できる範囲、または、効果の少なくとも一部を奏する範囲において、特許請求の範囲及び明細書に記載された各構成要素の任意の組み合わせ、又は省略が可能である。
以下に本明細書が開示する態様のいくつかを記載しておく。
第1態様によれば、処理装置が提供される。この処理装置は、処理物の平面が水平に対して搬送方向軸周りに傾斜した状態で前記被処理物を搬送する搬送部と、前記被処理物の前記平面に対して、研磨、洗浄、及び乾燥の少なくとも一つを実行する処理部と、を有する。前記搬送部は、前記被処理物の端部に物理的に接触して前記被処理物に搬送方向の力を加えるように構成される駆動部と、前記被処理物の前記平面に対向して配置される第1のベルヌーイチャックと、前記被処理物の前記端部とは逆側の端部の端面に対向して配置される第2のベルヌーイチャックと、を有する。
第1態様によれば、第2のベルヌーイチャックが被処理物の端面に対向して配置される
ので、被処理物の端部の端面を保持することができる。このため、被処理物を傾斜した姿勢で搬送しても、被処理物が撓むことを抑制することができる。また、被処理物の面内方向の位置を第2のベルヌーイチャックにより保持することができるので、被処理物の下端部を駆動部に安定して接触させ、安定して搬送することができる。
第2のベルヌーイチャックは、被処理物の厚さ方向の移動を制限することはできない。このため、被処理物が非常に柔らかい場合に、仮に被処理物の端部が湾曲して第2のベルヌーイチャックの対向位置からずれてしまうと、第2のベルヌーイチャックは被処理物の端面を適切に保持できなくなる。しかしながら、第1態様によれば、第1のベルヌーイチャックが被処理物の平面に対向して配置されるので、被処理物の厚さ方向の移動を制限し、被処理物の端部が湾曲することを防止することができる。このため、被処理物が非常に柔らかい場合であっても、被処理物の端部を第2のベルヌーイチャックの対向位置に保持することができ、その結果、第2のベルヌーイチャックが被処理物の端部の端面を適切に保持することができる。
また、第1態様によれば、被処理物の一端部が駆動部により搬送され、その逆側の端部は第2のベルヌーイチャックで保持される。このため、被処理物の下端部及び上端部の両方をローラ等の駆動部で搬送する場合に比べて、駆動部の数を減らすことができる。駆動部は、被処理物に物理的に接触するので、摩耗により定期的な交換が必要になる。したがって、駆動部の数を減らすことで、交換する駆動部の数も減ることになり、交換に要する作業コスト及び部品コストを低減することができる。また、駆動部の数が減ることで、被処理部への物理的な接触回数、接触時間を少なくして、被処理部への物理的な影響を低減することができる。
第2態様によれば、第1態様の処理装置において、前記搬送部は、前記被処理物の前記平面が水平に対して5°以上85°以下の角度で傾斜した状態で前記被処理物を搬送するように構成される。
処理装置において、液体を使用した処理を被処理物に実施すると、被処理物の表面に付着したパーティクルが液体によって洗い流される。このとき、被処理物の傾斜角度が5°未満であると、パーティクルを含む液体が被処理物から落ち難くなる。また、傾斜角度が85°超であると、液体が被処理物から直ちに落下するので、被処理物が乾燥する虞がある。被処理物が乾燥すると、被処理物に付着していた洗浄液に含まれるパーティクルが被処理物の表面に残ってしまう。そこで、第2態様によれば、パーティクルを含む液体を落下させつつ、被処理物の乾燥を抑制することができる。
第3態様によれば、第1又は第2態様の処理装置において、前記被処理物の両面に対向して配置される複数の前記第1のベルヌーイチャックを有する。
第3態様によれば、被処理物の両面が第1のベルヌーイチャックによって保持することができるので、被処理物の厚さ方向の移動をいっそう確実に制限することができる。
第4態様によれば、第1から第3態様のいずれかの処理装置において、前記被処理物の搬送方向に沿って配置される複数の前記第1のベルヌーイチャックを有し、前記処理部は、前記被処理物の搬送方向に沿って配置される複数の前記第1のベルヌーイチャックの間に配置される。
第4態様によれば、処理部が第1のベルヌーイチャックの間に配置されるので、被処理物の処理部によって処理されている部分の両側を第1のベルヌーイチャックで保持することができ、処理部による処理を安定して行うことができる。
第5態様によれば、第1から第4態様のいずれかの処理装置において、前記第2のベルヌーイチャックは、前記被処理物の搬送方向において、前記第1のベルヌーイチャックよりも長い。
第5態様によれば、第2のベルヌーイチャックで被処理物の端面を広い範囲で保持しつつ、第1のベルヌーイチャック間に研磨、洗浄、乾燥するための処理部を配置するスペースを確保することができる。
第6態様によれば、第1から第5態様のいずれかの処理装置において、前記第1のベルヌーイチャックは、前記被処理物を挟んで前記処理部と対向する位置に配置される。
第6形態によれば、処理部で基板W1の表面を処理するときに最も圧力が加わる被処理物の部分を、第1のベルヌーイチャックによって処理部の反対側から保持することができる。したがって、処理部を被処理物に押し付けても、被処理物が撓むことを抑制することができる。
第7態様によれば、第1から第6態様のいずれかの処理装置において、被処理物の入口と、前記被処理物の出口と、前記入口から投入された前記被処理物が搬送される第1搬送経路と、前記第1搬送経路において前記被処理物が搬送される方向とは逆方向に前記被処理物が搬送され、前記第1搬送経路及び前記出口につながる第2搬送経路と、前記第1搬送経路と前記第2搬送経路とを接続する鉛直搬送経路と、前記鉛直搬送経路において、前記第1搬送経路から前記第2搬送経路に向かって鉛直方向に前記被処理物を搬送する鉛直搬送機構を有する。
第7態様によれば、第1搬送経路と第2搬送経路において逆方向に被処理物が搬送されるので、第1搬送経路と第2搬送経路とによって往復経路が形成され、洗浄装置全体の長さを低減しつつ、十分な経路長を確保することができる。また、第1搬送経路と第2搬送経路とによって往復経路が形成されるので、入口と出口とを近接して配置することができる。これにより、1台の被処理物搬送装置が大きな移動をすることなく、入口への被処理物の投入、出口からの被処理物の取り出しを行うことができる。
第8態様によれば、第7態様の処理装置において、前記鉛直搬送機構は、前記被処理物を非接触で保持するように構成された第3のベルヌーイチャックを有する。第8態様によれば、被処理物を非接触で鉛直搬送することができる。
第9態様によれば、第1から第7態様の処理装置を備えためっき装置が提供される。このめっき装置は、めっき処理部と、基板搬送部と、を備える。前記基板搬送部は、前記めっき処理部でめっき処理された前記被処理物を前記処理装置の入口に投入し、前記処理装置で処理された前記被処理物を前記出口から取り出すように構成される。
第10態様によれば、処理方法が提供される。この処理方法は、被処理物の平面が水平に対して搬送方向軸周りに傾斜した状態で前記被処理物を搬送する工程と、前記被処理物の前記平面に対して、研磨、洗浄、及び乾燥の少なくとも一つを実行する処理工程と、を有する。前記搬送する工程は、前記被処理物の端部に搬送方向の力を物理的に加える工程と、前記被処理物の厚さ方向の移動を制限するように、前記被処理物の前記平面を第1のベルヌーイチャックで保持する工程と、前記搬送方向と直交する前記被処理物の面内方向の移動を制限するように、前記被処理物の前記端部とは逆側の端部の端面を第2のベルヌーイチャックで保持する工程と、を有する。
第10態様によれば、第2のベルヌーイチャックが被処理物の端部の端面を保持することができる。このため、被処理物を傾斜した姿勢で搬送しても、被処理物が撓むことを抑制することができる。また、被処理物の面内方向の位置を第2のベルヌーイチャックにより保持することができるので、被処理物の下端部を駆動部に安定して接触させ、安定して搬送することができる。
第2のベルヌーイチャックは、被処理物の厚さ方向の移動を制限することはできない。このため、被処理物が非常に柔らかい場合に、仮に被処理物の端部が湾曲して第2のベルヌーイチャックの対向位置からずれてしまうと、第2のベルヌーイチャックは被処理物の端面を適切に保持できなくなる。しかしながら、第10態様によれば、第1のベルヌーイチャックが被処理物の平面を保持するので、被処理物の厚さ方向の移動を制限し、被処理物の端部が湾曲することを防止することができる。このため、被処理物が非常に柔らかい場合であっても、被処理物の端部を第2のベルヌーイチャックの対向位置に保持することができ、その結果、第2のベルヌーイチャックが被処理物の端部の端面を適切に保持することができる。
また、第10態様によれば、被処理物の一端部に搬送方向の力が物理的に加えられ、その逆側の端部は第2のベルヌーイチャックで保持される。このため、被処理物の下端部及び上端部の両方に物理的な力が加えられる場合に比べて、被処理部への物理的な接触回数、接触時間を少なくして、被処理部への物理的な影響を低減することができる。
第11態様によれば、第10態様の処理方法において、前記搬送する工程は、前記被処理物の前記平面が水平に対して5°以上85°以下の角度で傾斜した状態で前記被処理物を搬送する工程を含む。
液体を使用した処理を被処理物に実施すると、被処理物の表面に付着していたパーティクルが液体によって洗い流される。このとき、被処理物の傾斜角度が5°未満であると、パーティクルを含む液体が被処理物から落ち難くなる。また、傾斜角度が85°超であると、液体が被処理物から直ちに落下するので、被処理物が乾燥する虞がある。被処理物が乾燥すると、被処理物に付着していた洗浄液に含まれるパーティクルが被処理物の表面に残ってしまう。そこで、第11態様によれば、パーティクルを含む液体を落下させつつ、被処理物の乾燥を抑制することができる。
第12態様によれば、第10又は第11態様の処理方法において、前記第1のベルヌーイチャックで保持する工程は、前記被処理物の両面を複数の前記第1のベルヌーイチャックで保持する工程を有する。
第12態様によれば、被処理物の両面が第1のベルヌーイチャックによって保持することができるので、被処理物の厚さ方向の移動をいっそう確実に制限することができる。
第13態様によれば、第10から第12態様のいずれかの処理方法において、前記搬送する工程は、第1搬送経路を通じて前記被処理物を搬送する工程と、前記第1搬送経路から第2搬送経路に向かって鉛直方向に前記被処理物を搬送する鉛直搬送工程と、前記第2搬送経路を通じて前記被処理物を搬送する工程と、を有する。前記鉛直搬送工程は、第3のベルヌーイチャックを用いて前記被処理物を非接触で保持しながら搬送する。第13態様によれば、第1搬送経路から第2搬送経路に向かう鉛直搬送経路において、被処理物を非接触で鉛直方向に搬送することができる。
第14態様によれば、第10から第13態様のいずれかの処理方法において、研磨、洗浄、及び乾燥の少なくとも一つを実行する前記処理工程は、ヘッド部に保持され、所定速
度で一方向に送られるテープ部材を前記被処理物の前記平面に押圧させて行う工程を含む。
第15態様によれば、第10から第14態様のいずれかの処理方法において、研磨、洗浄、及び乾燥の少なくとも一つを実行する前記処理工程は、ヘッド部に保持されたシート状部材を前記被処理物の前記平面に押圧させて行う工程を含む。
第16態様によれば、被処理物の平面が水平に対して搬送方向軸周りに傾斜した状態で前記被処理物を搬送する搬送装置が提供される。この搬送装置は、前記被処理物の端部に物理的に接触して前記被処理物に搬送方向の力を加えるように構成される駆動部と、前記被処理物の前記平面に対向して配置される第1のベルヌーイチャックと、前記被処理物の前記端部とは逆側の端部の端面に対向して配置される第2のベルヌーイチャックと、を有する。
第16態様によれば、第2のベルヌーイチャックが被処理物の端面に対向して配置されるので、被処理物の端部の端面を保持することができる。このため、被処理物を傾斜した姿勢で搬送しても、被処理物が撓むことを抑制することができる。また、被処理物の面内方向の位置を第2のベルヌーイチャックにより保持することができるので、被処理物の下端部を駆動部に安定して接触させ、安定して搬送することができる。
第2のベルヌーイチャックは、被処理物の厚さ方向の移動を制限することはできない。このため、被処理物が非常に柔らかい場合に、仮に被処理物の端部が湾曲して第2のベルヌーイチャックの対向位置からずれてしまうと、第2のベルヌーイチャックは被処理物の端面を適切に保持できなくなる。しかしながら、第16態様によれば、第1のベルヌーイチャックが被処理物の平面に対向して配置されるので、被処理物の厚さ方向の移動を制限し、被処理物の端部が湾曲することを防止することができる。このため、被処理物が非常に柔らかい場合であっても、被処理物の端部を第2のベルヌーイチャックの対向位置に保持することができ、その結果、第2のベルヌーイチャックが被処理物の端部の端面を適切に保持することができる。
また、第16態様によれば、被処理物の一端部が駆動部により搬送され、その逆側の端部は第2のベルヌーイチャックで保持される。このため、被処理物の下端部及び上端部の両方をローラ等の駆動部で搬送する場合に比べて、駆動部の数を減らすことができる。駆動部は、被処理物に物理的に接触して摩耗するので、定期的な交換が必要になる。したがって、駆動部の数を減らすことで、交換する駆動部の数も減ることになり、交換に要する作業コスト及び部品コストを低減することができる。また、駆動部の数が減ることで、被処理部への物理的な接触回数、接触時間を少なくして、被処理部への物理的な影響を低減することができる。
27,27a,27b…基板搬送装置
50…洗浄装置
51…入口
52…出口
70…搬送部
71…駆動部
72a…第1のベルヌーイチャック
73a…第2のベルヌーイチャック
73b…第1のベルヌーイチャック
81…円盤型スクラブ装置
83…洗浄ジェットノズル装置
85…鉛直搬送機構
85a,86a…第3のベルヌーイチャック
86…鉛直搬送機構
87…ロール型スクラブ装置
88…エアナイフ装置
89…イオナイザ
90…水平搬送機構
91…研磨装置
93…研磨ヘッド
93a…研磨テープ
100,200…めっき装置
120B,220B…めっき処理部

Claims (16)

  1. 被処理物の平面が水平に対して搬送方向軸周りに傾斜した状態で前記被処理物を搬送する搬送部と、
    前記被処理物の前記平面に対して、研磨、洗浄、及び乾燥の少なくとも一つを実行する処理部と、を有し、
    前記搬送部は、
    前記被処理物の端部に物理的に接触して前記被処理物に搬送方向の力を加えるように構成される駆動部と、
    前記被処理物の前記平面に対向して配置される第1のベルヌーイチャックと、
    前記被処理物の前記端部とは逆側の端部の端面に対向して配置される第2のベルヌーイチャックと、を有する、処理装置。
  2. 請求項1に記載された処理装置において、
    前記搬送部は、前記被処理物の前記平面が水平に対して5°以上85°以下の角度で傾斜した状態で前記被処理物を搬送するように構成される、処理装置。
  3. 請求項1又は2に記載された処理装置において、
    前記被処理物の両面に対向して配置される複数の前記第1のベルヌーイチャックを有する、処理装置。
  4. 請求項1から3のいずれか一項に記載された処理装置において、
    前記被処理物の搬送方向に沿って配置される複数の前記第1のベルヌーイチャックを有し、
    前記処理部は、前記被処理物の搬送方向に沿って配置される複数の前記第1のベルヌーイチャックの間に配置される、処理装置。
  5. 請求項1から4のいずれか一項に記載された処理装置において、
    前記第2のベルヌーイチャックは、前記被処理物の搬送方向において、前記第1のベルヌーイチャックよりも長い、処理装置。
  6. 請求項1から5のいずれか一項に記載された処理装置において、
    前記第1のベルヌーイチャックは、前記被処理物を挟んで前記処理部と対向する位置に配置される、処理装置。
  7. 請求項1から6のいずれか一項に記載された処理装置において、
    被処理物の入口と、
    前記被処理物の出口と、
    前記入口から投入された前記被処理物が搬送される第1搬送経路と、
    前記第1搬送経路において前記被処理物が搬送される方向とは逆方向に前記被処理物が搬送され、前記第1搬送経路及び前記出口につながる第2搬送経路と、
    前記第1搬送経路と前記第2搬送経路とを接続する鉛直搬送経路と、
    前記鉛直搬送経路において、前記第1搬送経路から前記第2搬送経路に向かって鉛直方向に前記被処理物を搬送する鉛直搬送機構を有する、処理装置。
  8. 請求項7に記載された処理装置において、
    前記鉛直搬送機構は、前記被処理物を非接触で保持するように構成された第3のベルヌーイチャックを有する、処理装置
  9. 請求項1から8のいずれか一項に記載された処理装置を備えためっき装置であって、
    めっき処理部と、
    基板搬送部と、を備え、
    前記基板搬送部は、前記めっき処理部でめっき処理された前記被処理物を前記処理装置の入口に投入し、前記処理装置で処理された前記被処理物を前記処理装置の出口から取り出すように構成される、めっき装置。
  10. 被処理物の平面が水平に対して搬送方向軸周りに傾斜した状態で前記被処理物を搬送する工程と、
    前記被処理物の前記平面に対して、研磨、洗浄、及び乾燥の少なくとも一つを実行する処理工程と、を有し、
    前記搬送する工程は、
    前記被処理物の端部に搬送方向の力を物理的に加える工程と、
    前記被処理物の厚さ方向の移動を制限するように、前記被処理物の前記平面を第1のベルヌーイチャックで保持する工程と、
    前記搬送方向と直交する前記被処理物の面内方向の移動を制限するように、前記被処理物の前記端部とは逆側の端部の端面を第2のベルヌーイチャックで保持する工程と、を有する、処理方法。
  11. 請求項10に記載された処理方法において、
    前記搬送する工程は、前記被処理物の前記平面が水平に対して5°以上85°以下の角度で傾斜した状態で前記被処理物を搬送する工程を含む、処理方法。
  12. 請求項10又は11に記載された処理方法において、
    前記第1のベルヌーイチャックで保持する工程は、前記被処理物の両面を複数の前記第1のベルヌーイチャックで保持する工程を有する、処理方法。
  13. 請求項10から12のいずれか一項に記載された処理方法において、
    前記搬送する工程は、
    第1搬送経路を通じて前記被処理物を搬送する工程と、
    前記第1搬送経路から第2搬送経路に向かって鉛直方向に前記被処理物を搬送する鉛直搬送工程と、
    前記第2搬送経路を通じて前記被処理物を搬送する工程と、を有し、
    前記鉛直搬送工程は、第3のベルヌーイチャックを用いて前記被処理物を非接触で保持しながら搬送する、処理方法。
  14. 請求項10から13のいずれか一項に記載された処理方法において、
    研磨、洗浄、及び乾燥の少なくとも一つを実行する前記処理工程は、ヘッド部に保持され、所定速度で一方向に送られるテープ部材を前記被処理物の前記平面に押圧させて行う工程を含む、処理方法。
  15. 請求項10から14のいずれか一項に記載された処理方法において、
    研磨、洗浄、及び乾燥の少なくとも一つを実行する前記処理工程は、ヘッド部に保持されたシート状部材を前記被処理物の前記平面に押圧させて行う工程を含む、処理方法。
  16. 被処理物の平面が水平に対して搬送方向軸周りに傾斜した状態で前記被処理物を搬送する搬送装置であって、
    前記被処理物の端部に物理的に接触して前記被処理物に搬送方向の力を加えるように構成される駆動部と、
    前記被処理物の前記平面に対向して配置される第1のベルヌーイチャックと、
    前記被処理物の前記端部とは逆側の端部の端面に対向して配置される第2のベルヌーイチャックと、を有する、搬送装置。
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