JP6252123B2 - 発光素子の製造方法 - Google Patents
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Description
その一例として、電極等の導電層を積層して立体的に配置させることにより、小型化を実現するとともに、実装の設計の簡略化などが図られている(例えば、特許文献1)。
しかし、電極の製造方法によっては、パターニングの際に電極の縁部にバリが発生することがあり、立体的な導電層の配置においてショートの原因となることがある。
このようなバリの発生に対して、例えば、スクラブ処理やCMP等の研磨処理、プラズマ処理、ソフトエッチング処理など、バリ除去処理を行うことが一般的である(例えば、特許文献2、段落55)。
特に、立体的な導電層の配置において、正及び負の電極がオーバーラップする積層構造では、完全な絶縁性を確保するためには、電極の縁部におけるバリ発生の防止を確保することが必要である。
n型半導体層と、該n型半導体層の一部の領域上に形成されたp型半導体層と、を有する半導体積層体を準備し、
該半導体積層体の上面側に、Ti、Zr、Nb、Ta、Alからなる群より選択された少なくとも一種の元素を含む酸化物又は窒化物によって、前記n型半導体層の他の領域上及び前記p型半導体層上でそれぞれ部分的に開口する第1絶縁層を形成し、
該第1絶縁層の一部の領域上にレジスト層を形成し、
前記レジスト層上、前記第1絶縁層の他の領域上及び前記第1絶縁層の開口内に、金属層を形成し、
前記レジスト層を除去して、n側内部電極層及びp側内部電極層を形成する工程を含む発光素子の製造方法。
発光素子において、「上面」とは、電極、例えば、n側内部電極層、p側内部電極層、n側外部電極層、p側外部電極層等が配置されている面を指し、「下面」とは、上面とは反対側の面を指す。
各層は、その表面に一部の領域を有し、この一部の領域以外の領域の全部又は一部を他の領域ということがある。
(A)n型半導体層と、p型半導体層とを有する半導体積層体を準備し、
(B)この半導体積層体の上面側に、第1絶縁層を形成し、
(C)この第1絶縁層の一部の領域上にレジスト層を形成し、
(D)このレジスト層上から第1絶縁層上にわたって金属層を形成し、
(E)レジスト層を除去して金属層をパターニングし、n側内部電極層及びp側内部電極層を形成する工程を含む。
これらの一連の工程を行うことにより、第1絶縁層を介して半導体積層体と接続された電極を形成することができる。
この場合、工程(B)によって形成する第1絶縁層にも開口を形成することが好ましい。この開口を通して、オーミック電極層を金属層に接続させることができる。
これらの一連の工程を行うことにより、第1絶縁層を介して半導体積層体と接続され、かつ、オーミック電極層と内部電極層(n側内部電極層及びp側内部電極層)とからなる電極を形成することができる。
まず、半導体積層体を準備する。
半導体積層体は、例えば、発光素子として機能し得る積層体であり、MIS接合、PIN接合、PN接合などのホモ構造、ヘテロ結合又はダブルヘテロ結合のいずれであってもよい。なかでも、半導体積層体は、n型半導体層と、このn型半導体層の一部の領域上に形成されたp型半導体層とを有することが好ましく、特に、n型半導体層と、発光層と、p型半導体層とがこの順に積層されて構成されるものが好ましい。
発光層は、活性層ともいい、量子効果が生ずる薄膜に形成された単一量子井戸構造、多重量子井戸構造のいずれでもよい。n側半導体層p側半導体層半導体層の種類、材料は特に限定されるものではなく、例えばInXAlYGa1-X-YN(0≦X、0≦Y、X+Y≦1)等の窒化ガリウム系の半導体材料が好適に用いられる。これらのn型半導体層、発光層及びp型半導体層はいずれも、単層であってもよいし、2層以上の多層又は超格子等の積層構造であってもよい。
n型半導体層、発光層及びp型半導体層ならびに半導体積層体の厚みは、特に限定されず、意図する特性、使用する材料等によって適宜調整することができる。
基板は、その表面に島状又はストライプ状の凹凸を有していてもよい(図1B参照)。
オーミック電極層を、半導体積層体の上面側に、つまり、n型半導体層及びp型半導体層上にそれぞれ形成する。例えば、オーミック電極層を、n型半導体層では他の領域上に、p型半導体層では一部の領域上にそれぞれ形成することが好ましい。オーミック電極層としては、特に限定されず、半導体層とオーミックコンタクトを取り得る電極材料のいずれをも用いることができる。例えば、ニッケル(Ni)、チタン(Ti)、タングステン(W)、白金(Pt)、ロジウム(Rh)、パラジウム(Pd)、バナジウム(V)、クロム(Cr)、ニオブ(Nb)、亜鉛(Zn)、タンタル(Ta)、モリブデン(Mn)、ハフニウム(Hf)、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、銅(Cu)等の金属又はこれらの合金;亜鉛、インジウム、スズ、ガリウム及びマグネシウムからなる群から選択される少なくとも1種の元素を含む導電性酸化物等が挙げられる。導電性酸化物としては、ITO、ZnO、IZO、GZO、In2O3及びSnO2等が挙げられる。
オーミック電極層の厚みは特に限定されるものではなく、意図する特性等によって適宜調整することができる。
第1絶縁層を、半導体積層体の上面側に形成する。
第1絶縁層は、例えば、基板、絶縁材料、導電材料、半導体のいずれの上に形成してもよい。特に、本発明では、少なくとも一部を、上述したオーミック電極層上に形成することが好ましい。
第1絶縁層は、Ti、Zr、Nb、Ta、Alからなる群より選択された少なくとも一種の元素を含む酸化物又は窒化物によって形成することができる。なかでも、酸化ニオブ、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム及び酸化タンタルからなる群から選択される少なくとも1種によって形成することが好ましい。
第1絶縁層は、これらの特定の材料から形成された単層構造を意味する。ただし、これらの特定の材料から形成された単層構造の層を、後述するレジスト層と接触する面に配置する限り、その下方(膜厚方向)に、これらの特定の材料からなる層及び/又はこれら特定の材料以外からなる層が単層又は積層構造で配置されていてもよい。
多層構造膜の上に金属反射層を形成する場合、金属反射層の上には、上述した最表面層(つまり、第1絶縁層8a)に、Ti、Zr、Nb、Ta、Alからなる群より選択された少なくとも一種の元素を含む酸化物又は窒化物を配置した単層構造又は多層構造の絶縁膜を配置することが好ましい。
また、多層構造膜の間に金属反射層を配置する場合、その間の2以上に配置してもよいが、最表面に近い側の間に1つのみ配置することが好ましい。
金属反射層の直下の層(例えば、高屈折率層13)は、第1絶縁層8aの最表面層と同様に、Ti、Zr、Nb、Ta、Alからなる群より選択された少なくとも一種の元素を含む酸化物又は窒化物によって形成する絶縁層20とすることが好ましい。
金属反射層を積層構造とする場合には、反射率の高い金属又は合金は、最下層に配置することが好ましい。
金属反射層は、DBR型構造の間(好ましくは、DBR型構造の最表面に近い側)に形成されるため、半導体積層体からDBRを透過した光を反射させることができる。DBRは、所定入射角の光を全反射するため反射による損失が少ないという利点があるが、光の入射角が大きい場合には光の反射率が低下するという欠点がある。一方、金属反射層は、光を反射可能な入射角度範囲及び/又は波長範囲に依存しないという利点がある。従って、DBRと金属反射層とを組み合わせることにより、入射光をより効率よく反射させることができる。
d1=λ/(4n1) (1)
d2=λ/(4n2) (2)
とすることが好ましい。よって、最表面に配置する絶縁層の厚みは、これに準じて適宜調整することが好ましい。例えば、10nm〜500nm程度が挙げられる。
金属反射層の厚みは、特に限定されるものではなく、例えば、100nm〜5μm程度が挙げられる。
開口は、n型半導体層の他の領域上及びp型半導体層の一部領域上にそれぞれ配置することが好ましい。特に、上述したように、オーミック電極層上に開口の一部が配置されていることが好ましい。これによって、後述する内部電極層をオーミック電極層と接続することができる。開口は、第1絶縁層を厚み方向に貫く貫通孔である。このような開口は、オーミック電極層上以外のところに形成してもよい。
開口の形状は、例えば、平面形状を円形、楕円形、多角形等とすることができ、その大きさ、数、レイアウト等は適宜設定することができる。例えば、1つのみ、複数例で及び/又は複数行で、あるいは複数列及び複数行で規則的に又はランダムに配置することができる。複数の開口を形成する場合には、例えば、開口の平均直径は、5μm〜15μm程度が好ましい。開口の平面形状が、例えば、楕円である場合には長径と短径の平均値、正方形である場合には、正方形の面積と同じ面積を有する円の直径を指す。開口の間隔は、例えば、開口の平均直径の2〜8倍程度が好ましい。
第1絶縁膜の開口は、例えば、フォトリソグラフィ及びドライエッチング又はウェットエッチング工程等の公知の方法によって形成することができる。
レジスト層を第1絶縁層上に形成する。
ここでのレジスト層は、当該分野で通常使用されているフォトレジスト組成物からなる層を指す。具体的には、ノボラック−ジアゾナフトキノン(DNQ)系フォトレジスト、ポジ型フォトレジスト、ネガ型フォトレジスト、化学増幅型フォトレジスト、光架橋型フォトレジスト、光重合型フォトレジスト等に分類される、種々の材料からなるフォトレジスト組成物から形成することができる。これらのフォトレジスト組成物は、市販品のいずれをも用いることができる。レジスト層は、スクリーン塗布法、スピン塗布法、ロールコーティング法、ラミネーター法、ディップコーティング法、スプレーコーティング法等の種々の方法によって積層することができる。
レジスト層の厚みは特に限定されるものではなく、パターン形成する部材の膜厚以上である必要があり、好ましくはパターン形成する部材の膜厚の2倍以上、例えば、0.5μm〜10μm程度が好ましく、1μm〜5μm程度がより好ましい。
例えば、レジスト層に、所定の形状に開口を有したマスク又は所定の形状を被覆するマスクを利用して露光を行う。この際の露光量は、10mJ〜50mJ程度の範囲から適宜設定することが好ましい。露光前後に、任意の温度及び時間でベークを行ってもよい。
このような特定材料からなる第1絶縁層上における、レジスト層の開口側面のオーバーハングは、後述する内部電極層を形成する際に、つまり、金属層(内部電極層の材料)を形成した後にリフトオフ法を用いてパターニングすることによって、開口内に配置した金属層と、レジスト層上に配置した金属層とを確実に分離する。言い換えると、レジスト層の開口側面への金属層の付着を極力抑えることができる。特に、レジスト層の開口下方において、開口内から開口側面への金属層の繋がりを防止する。これによって、レジスト層と一緒に、その上に存在する金属層を確実に除去することができる。その結果、内部電極層によって形成された電極の縁部に発生しやすいバリを確実に防止することができる。また、バリを除去するエッチング、研磨等の煩雑な工程を省略することができ、製造工程を簡便なものとすることができる。さらに、バリを除去することなく、その上方に絶縁膜を介して、後述する外部電極層とは絶縁されるべき導電層等を配置しても、バリに起因する短絡を確実に防止することが可能となる。
工程(C)で得られた半導体積層体の上に、金属層を形成する。
金属層は、レジスト層上から第1絶縁膜上にわたって形成する。また、レジスト層が上述したように開口を有する場合、レジスト層の開口内(つまり、第1絶縁膜上の一部の領域上)に、金属層(内部電極層の材料)を形成する。従って、金属層を、レジスト層上及びレジスト層の開口内に加えて、レジスト層から露出した領域(第1絶縁層上の他の領域)及び第1絶縁層の開口内に形成することになる。金属層は、上述したオーミック電極層の材料と同様のものを用いて形成することができる。なかでも、金属又は合金の単層又は積層構造が好ましい。
金属層は、オーミック電極層において例示した成膜方法と同様の方法によって形成することができる。なかでも、スパッタ法、蒸着法を利用することが好ましい。
金属層の厚みは特に限定されるものではなく、求められる特性等によって適宜調整することができる。例えば、レジスト層の厚みが3μm〜4μm程度の場合、50nm〜1μm程度が好ましく、0.1μm〜0.5μm程度がより好ましい。
金属層が、p型半導体層に接続されるp側内部電極層を構成する場合、p型半導体層の略全面に形成されたオーミック電極層側から、Ti/Rh/Ti、Ti/Pt/Au、Ti/Rh/Au等からなる多層膜によって形成することが好ましい。
さらに、金属層の表面(オーミック電極とは反対側の面)には、後述する第2絶縁層と同じ材質からなる絶縁膜を連続して形成することが好ましい。これによって、後述する工程において金属層に積層される第2絶縁層との密着性を高めることができる。また、金属層の表面に異物が付着するのを軽減することができる。なお、連続して形成とは、金属層と第2絶縁層とを同じ成膜装置内で形成することを意味する。例えば、後述する第2絶縁層にSiO2を用いる場合、金属層及び絶縁膜は、スパッタ装置を利用して、オーミック電極層側からTi/Rh/Ti/SiO2、Ti/Pt/Au/SiO2、Ti/Rh/Au/SiO2等からなる多層膜として形成することができる。
上述したように形成した金属層を、レジスト層を除去することによってパターニングする。この場合、リフトオフ法を利用することができる。リフトオフ法とは、金属層の一部であって、レジスト層上に配置された金属層を、レジスト層を溶解し得る現像液によって、レジスト層とともに除去し、同時に、レジスト層の開口内にのみ金属層のパターンを残す方法を指す。従って、このパターニングによって、所定形状のn側内部電極層及びp側内部電極層を形成することができる。
このような金属層のパターニングによって、オーミック電極層及び内部電極層からなる電極を形成することができる。
第2絶縁層は、絶縁膜によって形成されていればよく、例えば、酸化膜、窒化膜、酸化窒化膜からなるものが挙げられる。なかでも、Nb2O5、TiO2、SiO2、Al2O3、ZrO2等の単層又は積層膜とすることができる。また、上述したDBR型構造を有するものでもよい。このような第2絶縁層は、上述した第1絶縁層と同様に形成することができる。
また、このような第2絶縁層によって、外部電極層の表面を、略平坦又は略面一とすることができる。そのために、第2絶縁層の厚みは、例えば、0.1μm〜20μm程度が好ましく、0.5μm〜10μm程度がより好ましい。
外部電極層は、上述したn側内部電極層及びp側内部電極層を構成する材料と同様の材料を用いて形成することができる。例えば、外部電極層は、半導体層側から順にTi、Pt、Au又はTi、Ni、Au膜が積層した積層膜で形成することができる。
例えば、n側外部電極層は、n型半導体層と電気的に接続されたn側内部電極層の上面の一部と接続し、さらに、第2絶縁層を介して、p側内部電極層上の一部を被覆している。
また、p側外部電極層は、p型半導体層と電気的に接続されたp側内部電極層の上面に接続され、第2絶縁層を介して、n側内部電極層上の一部を被覆している。
しかし、上述したように、内部電極層のバリの発生を確実に防止することができる場合には、内部電極層上に異なる極性の外部電極層が配置されても、バリに起因する短絡及びリーク電流の発生を確実に回避することができる。その結果、信頼性の高い発光素子を製造することができる。
<実施の形態1>
この実施の形態で製造される発光素子は、半導体積層体と、後述するn側電極及びp側電極と、これらn側電極及びp側電極とそれぞれ接続されたn側外部電極層及びp側外部電極層とを備える。
このような発光素子は、通常、平面視が矩形又は略矩形である。ここで略矩形とは、四隅の角が90±10度程度の角度の変動が許容されることを意味する。
半導体積層体6の上面、つまりp型半導体層5の上面で、p型半導体層5に接続されたp側電極と、
半導体積層体6の上面のp側半導体層5の一部が、半導体積層体6の内側において溝状に除去されて、n型半導体層3が露出し、その露出したn型半導体層3の上面で、n型半導体層3に接続されたn側電極とを有する。
なお、半導体積層体6は、通常、サファイア基板等の基板2の上に形成されている。基板2の表面には、ストライプ状の凹凸が形成されている。
p側電極は、p型半導体層5の上面にオーミックコンタクトしたp側オーミック電極層7bと、p側オーミック電極層7bの一部を被覆する絶縁性の多層構造膜8を介してp側オーミック電極層7bと電気的に接続されたp側内部電極層9bとからなる。
この絶縁性の多層構造膜8には貫通孔が複数形成されており、その貫通孔を通じて、n側オーミック電極層7aとn側内部電極層9aとが電気的に接続されており、p側オーミック電極層7bとp側内部電極層9bとが電気的に接続されている。
n側外部電極層11aは、n側内部電極層9a上から、p型半導体層5の上に配置するp側内部電極層9bの上にわたって配置している。p側外部電極層11bは、p側内部電極層9b上から、n型半導体層3の上に配置するn側内部電極層9aの上にわたって配置している。
(A)半導体積層体の準備
表面に凹凸を有するサファイア基板2上に、例えば、InXAlYGa1-X-YN(0≦X、0≦Y、X+Y≦1)からなるn型半導体層3、発光層4及びp型半導体層5を積層する。1つの発光素子を構成する半導体積層体の内側において、一部領域のp型半導体層5と発光層4とを除去し、n型半導体層3を露出させる。
半導体積層体6の上面側において、n型半導体層3及びp型半導体層5とそれぞれオーミック接続されるn側オーミック電極層7a及びp側オーミック電極層7bを形成する。ここでは、例えば、ITO(厚み:約0.1μm)をスパッタ法によって成膜する。
n側オーミック電極層7a及びp側オーミック電極層7bが形成されたサファイア基板2の上に、絶縁性の多層構造膜8を形成する。
絶縁性の多層構造膜8として、例えば、図2に示したように、n側オーミック電極層7a又はp側オーミック電極層7bの上に、SiO2膜からなる絶縁層20(厚み:約0.5μm)を介して、低屈折率層12と高屈折率層13とが1組となって交互に積層された誘電体((Nb2O5/SiO2)n、nは1〜20の整数、厚み:約50nm/約90nm)からなるDBR構造14、所定形状にパターニングされた金属反射層15であるアルミニウム膜(厚み:約0.2μm)とを形成する。これらの上には、第1絶縁層8aとして、これらの全面を被覆するNb2O5膜(厚み:約50nm)を形成する。なお、アルミニウム膜は、上下面及び側面の全面が絶縁体又は誘電体で被覆されており、後述するn側内部電極層及びp側内部電極層に対して絶縁性が確保された形態で配置されている。
これらの膜は、例えば、スパッタ法によって公知の条件を組み合わせて成膜することができる。
第1絶縁層8aが最表面層に形成された絶縁性の多層構造膜8は、n側オーミック電極層7a上に1つの貫通孔が形成されており、p側オーミック電極層7b上に、複数の貫通孔が形成されている。貫通孔は、フォトレジスト及びエッチング工程によって形成することができる。
まず、図3(a)に示したように、得られた第1絶縁層8a上にノボラック系樹脂を主成分とするレジスト層を約4μm積層する。
次いで、図3(b)に示すように、レジスト層17に対して、フォトリソグラフィ法及びエッチング法を利用して、所定の形状に、つまり、後述する内部電極層との接続のための開口17aを有する形状に、形成する。具体的には、レジスト層に、所定の形状に開口を有したマスクを利用して、プロキシミティー・アライナーを用いて露光を行う。この際の露光量を約30mJとした。露光後に、約100℃で数分間ベークを行う。その後、全面に露光を行う。この際の露光量は約200mJとした。
その後、レジスト層の露光部又は非露光部に存在するレジストを溶解する現像液TMAHを用いた浸漬現像を行う。
なお、レジスト層17の開口17aの全周にわたって第1絶縁層8aが露出しており、開口17a内には、第1絶縁層8aに形成された貫通孔を含んでいる(図示せず)。
図3(c)に示したように、レジスト層17の開口17a内及びレジスト層17上に内部電極層9を形成する。内部電極層9は、例えば、スパッタ法によって、オーミック電極層側からTi/Rh/Ti(厚み:約1.5nm/約500nm/約10nm)によって形成する。
この際、上述したようなオーバーハングを有するレジスト層17の開口内では、開口側面の下方におけるレジスト層側面の急峻な入り込みによって、金属層(内部電極層の材料)が適度にその側面側に入り込む。加えて、開口側面の中央から上方において、適度な傾斜によって、金属層の積層を抑制して、レジスト層17上に積層された金属層と確実に分離することができる。つまり、レジスト層17の開口17a側面への金属層の付着を極力抑えることができる。
図3(d)に示したように、リフトオフ法を用いて金属層をパターニングすることによって、内部金属層を形成する。ここでリフトオフ法に用いる溶剤は、例えば、剥離液などを用い、超音波洗浄を行うことによってレジスト層及びその上の金属層を共に除去する。このような現像によって、金属層のパターニングを行い、所定形状の内部電極層9を形成する。
このようなリフトオフ法では、レジスト層上に配置された金属層を確実に除去することができる。特に、レジスト層17の開口17a下方において、開口内から開口側面への金属層の繋がりに起因する内部電極層の残存を発生させることを防止する。これによって、レジスト層と一緒に、その上に存在する金属層を確実に除去することができ、内部電極層の縁部に発生しやすいバリを確実に防止することができる。その結果、バリを除去するエッチング、研磨等の煩雑な工程を省略することができ、製造工程を簡便なものとすることができる。
また、バリを除去することなく、後述するように、その上方に第2絶縁層を介して、後述する内部電極層とは絶縁されるべき外部電極層等を配置しても、バリに起因する短絡を確実に回避することができる。
得られた内部電極層上に、第2絶縁膜を介して外部電極層をさらに形成する。
第2絶縁膜は、例えば、SiO2(厚み:約1μm)によって、n側内部電極層上及びp側内部電極層上にそれぞれ貫通孔を有して形成する。ここでの貫通孔は、n側内部電極層及び/又はp側内部電極層と外部電極層との電気的な接続を可能とする程度の大きさ及び数とする。
この実施の形態で製造される発光素子は、図4に示すように、絶縁性の多層構造膜18として、低屈折率層と高屈折率層とが交互に積層された1組の誘電体(Nb2O5/SiO2)n、厚み:約50nm/約90nm、図2参照)を含み、これらの最表面に第1絶縁層18aとしてNb2O5膜(厚み:約50nm)を配置すること、n側オーミック電極層7aとn側内部電極層9aとの間及びp側オーミック電極層7bとp側内部電極層9bとの間にバリアとしてRhからなる厚み約50nmのバリア層19を配置すること以外は実施の形態1における発光素子と同様の構造を有し、同様の製造方法によって製造することができる。
3 n型半導体層
4 発光層
5 p型半導体層
6 半導体積層体
7a n側オーミック電極層
7b p側オーミック電極層
8a 第1絶縁層
8、18 多層構造膜
9a n側内部電極層
9b p側内部電極層
9 内部電極層
10 第2絶縁層
11a n側外部電極層
11b p側外部電極層
12 低屈折率層
13 高屈折率層
14 DBR構造
15 金属反射層
17 レジスト層
17a 開口
19 バリア層
20 絶縁層
Claims (9)
- n型半導体層と、該n型半導体層の一部の領域上に形成されたp型半導体層と、を有する半導体積層体を準備し、
該半導体積層体の上面側に、Ti、Zr、Nb、Ta、Alからなる群より選択された少なくとも一種の元素を含む酸化物又は窒化物によって、前記n型半導体層の他の領域上及び前記p型半導体層上でそれぞれ部分的に開口する第1絶縁層を形成し、
該第1絶縁層の上面のうち一部の領域に接するように、高さ方向において上面と底面との中間に位置する中央部から前記上面までの間に位置する第1側面と、前記中央部から前記底面までの間に位置する第2側面を有し、前記底面に対する前記第2側面の傾斜は前記底面に対する前記第1側面の傾斜より小さいレジスト層を形成し、
前記レジスト層上、前記第1絶縁層の他の領域上及び前記第1絶縁層の開口内に、金属層を形成し、
前記レジスト層を除去して、n側内部電極層及びp側内部電極層を形成する工程を含むことを特徴とする発光素子の製造方法。 - さらに、前記n側内部電極層上に、第2絶縁層を介して、前記p型半導体層と電気的に接続されたp側外部電極層を形成する請求項1に記載の発光素子の製造方法。
- さらに、前記p側内部電極層上に、第2絶縁層を介して、前記n型半導体層と電気的に接続されたn側外部電極層を形成する請求項1又は2に記載の発光素子の製造方法。
- 前記n側内部電極層及びp側内部電極層に接続され、かつ第2絶縁層を介して前記n型半導体層の上方から前記p型半導体層の上方に亘ってそれぞれ配置されたn側外部電極層及びp側外部電極層を形成する請求項1に記載の発光素子の製造方法。
- 前記第1絶縁層を形成する前に、前記n型半導体層の他の領域及び前記p型半導体層上に、それぞれオーミック電極層を形成し、
前記第1絶縁層の開口を通して前記金属層を前記オーミック電極層に接続させる請求項1から4のいずれか1つに記載の発光素子の製造方法。 - 前記第1絶縁層を、2種以上の誘電体を複数層積層させた多層構造膜の最表面層とする請求項1から5のいずれか1つに記載の発光素子の製造方法。
- 前記第1絶縁層を、2種以上の誘電体の複数層と金属反射膜とを積層させた多層構造膜の最表面層とする請求項1から6のいずれか1つに記載の発光素子の製造方法。
- 前記第1絶縁層を、Nb2O5によって形成する請求項6又は7に記載の発光素子の製造方法。
- 前記レジスト層は、ノボラック系樹脂を主成分として含む請求項1から8のいずれか1つに記載の発光素子の製造方法。
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