JP6191627B2 - 画像生成装置、欠陥検査装置および欠陥検査方法 - Google Patents
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Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013015641 | 2013-01-30 | ||
JP2013015641 | 2013-01-30 | ||
PCT/JP2014/052371 WO2014119772A1 (ja) | 2013-01-30 | 2014-01-28 | 画像生成装置、欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2014119772A1 JPWO2014119772A1 (ja) | 2017-01-26 |
JP6191627B2 true JP6191627B2 (ja) | 2017-09-06 |
Family
ID=51262469
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014559794A Active JP6191627B2 (ja) | 2013-01-30 | 2014-01-28 | 画像生成装置、欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6191627B2 (ko) |
KR (1) | KR102168143B1 (ko) |
CN (1) | CN104956210B (ko) |
TW (1) | TWI608230B (ko) |
WO (1) | WO2014119772A1 (ko) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017049974A (ja) * | 2015-09-04 | 2017-03-09 | キヤノン株式会社 | 識別器生成装置、良否判定方法、およびプログラム |
WO2017043270A1 (ja) * | 2015-09-09 | 2017-03-16 | 住友電装株式会社 | 端子付電線の検査方法及び端子付電線検査装置 |
JP2017215277A (ja) * | 2016-06-02 | 2017-12-07 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム、フィルム製造装置及び欠陥検査方法 |
JP6358351B1 (ja) * | 2017-03-21 | 2018-07-18 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置 |
JP6676573B2 (ja) * | 2017-03-29 | 2020-04-08 | Ckd株式会社 | 検査装置及び巻回装置 |
JP6970549B2 (ja) * | 2017-07-24 | 2021-11-24 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム及び欠陥検査方法 |
JP6970550B2 (ja) * | 2017-07-24 | 2021-11-24 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム及び欠陥検査方法 |
JP6828652B2 (ja) * | 2017-10-13 | 2021-02-10 | 王子ホールディングス株式会社 | 衛生用紙の製造方法及び欠陥検査装置 |
JP7067321B2 (ja) * | 2018-06-29 | 2022-05-16 | オムロン株式会社 | 検査結果提示装置、検査結果提示方法及び検査結果提示プログラム |
CN109030499B (zh) * | 2018-07-27 | 2021-08-24 | 江苏理工学院 | 一种适用于目标缺陷连续在线检测防止缺陷数目重复计数的装置及方法 |
JP7007324B2 (ja) * | 2019-04-25 | 2022-01-24 | ファナック株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、及びロボットシステム |
CN111047561A (zh) * | 2019-11-22 | 2020-04-21 | 国网江西省电力有限公司电力科学研究院 | 一种复合绝缘子伞裙龟裂纹的识别方法 |
CN111044522B (zh) * | 2019-12-14 | 2022-03-11 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 缺陷检测方法、装置及终端设备 |
CN111692998B (zh) * | 2020-06-11 | 2022-02-11 | 西格迈股份有限公司 | 一种活塞杆表面粗糙度检测系统 |
JP7141772B1 (ja) | 2021-12-02 | 2022-09-26 | 株式会社岩崎電機製作所 | 画像検査装置、画像検査方法、および、画像検査プログラム |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3247823B2 (ja) * | 1995-06-26 | 2002-01-21 | 株式会社日立製作所 | 欠陥検査方法およびその装置並びに薄膜磁気ヘッド用の素子の製造方法 |
JPH09159622A (ja) * | 1995-12-05 | 1997-06-20 | Kawasaki Steel Corp | 表面欠陥検査装置 |
JP2003098106A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Dainippon Printing Co Ltd | 印刷欠陥表示方法および装置 |
JP3749726B1 (ja) * | 2005-06-01 | 2006-03-01 | 株式会社ファースト | 周期性ノイズ下での低コントラスト欠陥検査方法、繰返しパターン下での低コントラスト欠陥検査方法 |
JP5006551B2 (ja) * | 2006-02-14 | 2012-08-22 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
JP5415709B2 (ja) * | 2008-03-31 | 2014-02-12 | 住友化学株式会社 | 偏光フィルムの仕分けシステム |
JP5619348B2 (ja) * | 2008-11-21 | 2014-11-05 | 住友化学株式会社 | 成形シートの欠陥検査装置 |
JP4726983B2 (ja) * | 2009-10-30 | 2011-07-20 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム、並びに、それに用いる、欠陥検査用撮影装置、欠陥検査用画像処理装置、欠陥検査用画像処理プログラム、記録媒体、および欠陥検査用画像処理方法 |
JP2011163852A (ja) * | 2010-02-08 | 2011-08-25 | Kobe Steel Ltd | 外観検査装置 |
JP5553716B2 (ja) | 2010-09-15 | 2014-07-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 欠陥検査方法及びその装置 |
-
2014
- 2014-01-28 KR KR1020157017615A patent/KR102168143B1/ko active IP Right Grant
- 2014-01-28 TW TW103103284A patent/TWI608230B/zh active
- 2014-01-28 CN CN201480006156.9A patent/CN104956210B/zh active Active
- 2014-01-28 WO PCT/JP2014/052371 patent/WO2014119772A1/ja active Application Filing
- 2014-01-28 JP JP2014559794A patent/JP6191627B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20150114464A (ko) | 2015-10-12 |
CN104956210A (zh) | 2015-09-30 |
WO2014119772A1 (ja) | 2014-08-07 |
CN104956210B (zh) | 2017-04-19 |
JPWO2014119772A1 (ja) | 2017-01-26 |
KR102168143B1 (ko) | 2020-10-20 |
TWI608230B (zh) | 2017-12-11 |
TW201435334A (zh) | 2014-09-16 |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161216 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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